CN213750212U - 一种通用型芯片测试板 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种通用型芯片测试板,包括测试底板、两个卡接机构、芯片本体以及两个弹起机构,两个卡接机构分别固定连接在测试底板顶部的左右两侧,芯片本体设置在测试底板的上方且位于两个卡接机构之间的位置,两个弹起机构对称设置的在测试底板的顶部且对应芯片本体的位置,卡接机构包括支撑杆、卡接弹簧、连接块、卡块以及两个限位滑杆,连接块通过接弹簧固定连接在支撑杆侧面的顶部。本实用新型通过测试底板、卡接机构、芯片本体以及弹起机构之间的相互配合,实现了一种通用型芯片测试板,方便对待检测的芯片进行固定,使芯片定位更精确更快速,从而方便对芯片进行测试,进而提升了芯片检测的效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及芯片测试技术领域,具体为一种通用型芯片测试板。
背景技术
芯片在出厂交予客户前需要进行一系列严格的芯片测试,目前传统的芯片测试方法是,针对待测芯片的种类和样式定制一块芯片测试板,待测芯片可以固定安装在芯片测试板的测试位上,芯片测试板则作为芯片测试机对待测芯片进行测试的一个载台,但是常见的测试板不方便对待检测芯片进行固定,从而降低了测试的工作效率。
实用新型内容
为解决上述问题本实用新型提供了一种通用型芯片测试板。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种通用型芯片测试板,包括测试底板、两个卡接机构、芯片本体以及两个弹起机构,两个所述卡接机构分别固定连接在所述测试底板顶部的左右两侧,所述芯片本体设置在所述测试底板的上方且位于两个所述卡接机构之间的位置,两个所述弹起机构对称设置的在所述测试底板的顶部且对应芯片本体的位置;
所述卡接机构包括支撑杆、卡接弹簧、连接块、卡块以及两个限位滑杆,所述连接块靠近所述支撑杆的一侧通过所述卡接弹簧固定连接在所述支撑杆侧面的顶部,所述卡块固定连接在所述连接块远离所述卡接弹簧的一侧,两个所述限位滑杆对称固定连接在所述连接块靠近所述支撑杆的一侧;
所述弹起机构包括安装槽、弹起弹簧、弹杆、弹块以及橡胶垫,所述测试底板的顶部对称开设有安装槽,所述弹起弹簧固定连接在所述安装槽内壁的底部,所述弹杆固定连接在所述弹起弹簧的顶部,所述弹块固定连接在所述弹杆的顶部,所述橡胶垫固定连接在所述弹块的上方。
优选的,所述支撑杆固定安装在所述测试底板的顶部。
优选的,所述卡块靠近所述芯片本体的一侧与所述芯片本体相互接触。
优选的,所述限位滑杆靠近所述支撑杆的一侧活动贯穿所述支撑杆设置,两个所述限位滑杆的侧面通过操作把手固定连接。
优选的,所述弹杆的顶部活动贯穿所述安装槽且延伸至所述测试底板的外部。
优选的,所述橡胶垫靠近所述芯片本体的一侧与所述芯片本体相互接触。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果如下:
1、本实用新型通过测试底板、卡接机构、芯片本体以及弹起机构之间的相互配合,实现了一种通用型芯片测试板,方便对待检测的芯片进行固定,使芯片定位更精确更快速,从而方便对芯片进行测试,进而提升了芯片检测的效率。
2、本实用新型通过设置操作把手方便工作人员对检测完成后的芯片进行取下。
附图说明
图1为本实用新型正视图的结构剖面图;
图2为本实用新型卡接机构正视图的结构剖面图;
图3为本实用新型图1中A-A的局部放大图。
图中:1测试底板、2卡接机构、3芯片本体、4弹起机构、201支撑杆、202卡接弹簧、203连接块、204卡块、205限位滑杆、401安装槽、402弹起弹簧、403弹杆、404弹块、405橡胶垫、5操作把手。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-3,一种通用型芯片测试板,包括测试底板1、两个卡接机构2、芯片本体3以及两个弹起机构4,两个卡接机构2分别固定连接在测试底板1顶部的左右两侧,芯片本体3设置在测试底板1的上方且位于两个卡接机构2之间的位置,两个弹起机构4对称设置的在测试底板1的顶部且对应芯片本体3的位置。
请参阅图1-3,卡接机构2包括支撑杆201、卡接弹簧202、连接块203、卡块204以及两个限位滑杆205,支撑杆201固定安装在测试底板1的顶部,连接块203靠近支撑杆201的一侧通过卡接弹簧202固定连接在支撑杆201侧面的顶部,卡块204固定连接在连接块203远离卡接弹簧202的一侧,卡块204靠近芯片本体3的一侧与芯片本体3相互接触,两个限位滑杆205对称固定连接在连接块203靠近支撑杆201的一侧,限位滑杆205靠近支撑杆201的一侧活动贯穿支撑杆201设置,两个限位滑杆205的侧面通过操作把手5固定连接,通过设置操作把手5方便工作人员对检测完成后的芯片进行取下。
请参阅图1-3,弹起机构4包括安装槽401、弹起弹簧402、弹杆403、弹块404以及橡胶垫405,测试底板1的顶部对称开设有安装槽401,弹起弹簧402固定连接在安装槽401内壁的底部,弹杆403固定连接在弹起弹簧402的顶部,弹杆403的顶部活动贯穿安装槽401且延伸至测试底板1的外部,弹块404固定连接在弹杆403的顶部,橡胶垫405固定连接在弹块404的上方,橡胶垫405靠近芯片本体3的一侧与芯片本体3相互接触,通过测试底板1、卡接机构2、芯片本体3以及弹起机构4之间的相互配合,实现了一种通用型芯片测试板,方便对待检测的芯片进行固定,使芯片定位更精确更快速,从而方便对芯片进行测试,进而提升了芯片检测的效率。
使用时,将待检测芯片本体3放置在两个卡接机构2之间,并向下按压芯片本体3,使得芯片本体3对卡块204的斜面进行挤压,因此使得卡块204向远离芯片本体3的一侧移动并挤压卡接弹簧202,当芯片本体3移动至卡块204下方时,由于卡接弹簧202自身的弹力作用下,带动卡块204回弹并卡住芯片本体3,从而实现对芯片本体3的固定,当芯片本体3测试完成后,只需要通过操作把手5拉动限位滑杆205,因此通过连接块203带动卡块204脱离芯片本体3,进而在弹起弹簧402的作用下,将检测完的芯片本体3弹起,从而方便了工作人员对芯片本体3的取放。
综上所述:该通用型芯片测试板,通过设置测试底板1、卡接机构2、芯片本体3以及弹起机构4,解决了背景技术所提到的问题。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (6)
1.一种通用型芯片测试板,包括测试底板(1)、两个卡接机构(2)、芯片本体(3)以及两个弹起机构(4),其特征在于:两个所述卡接机构(2)分别固定连接在所述测试底板(1)顶部的左右两侧,所述芯片本体(3)设置在所述测试底板(1)的上方且位于两个所述卡接机构(2)之间的位置,两个所述弹起机构(4)对称设置的在所述测试底板(1)的顶部且对应芯片本体(3)的位置;
所述卡接机构(2)包括支撑杆(201)、卡接弹簧(202)、连接块(203)、卡块(204)以及两个限位滑杆(205),所述连接块(203)靠近所述支撑杆(201)的一侧通过所述卡接弹簧(202)固定连接在所述支撑杆(201)侧面的顶部,所述卡块(204)固定连接在所述连接块(203)远离所述卡接弹簧(202)的一侧,两个所述限位滑杆(205)对称固定连接在所述连接块(203)靠近所述支撑杆(201)的一侧;
所述弹起机构(4)包括安装槽(401)、弹起弹簧(402)、弹杆(403)、弹块(404)以及橡胶垫(405),所述测试底板(1)的顶部对称开设有安装槽(401),所述弹起弹簧(402)固定连接在所述安装槽(401)内壁的底部,所述弹杆(403)固定连接在所述弹起弹簧(402)的顶部,所述弹块(404)固定连接在所述弹杆(403)的顶部,所述橡胶垫(405)固定连接在所述弹块(404)的上方。
2.根据权利要求1所述的一种通用型芯片测试板,其特征在于:所述支撑杆(201)固定安装在所述测试底板(1)的顶部。
3.根据权利要求2所述的一种通用型芯片测试板,其特征在于:所述卡块(204)靠近所述芯片本体(3)的一侧与所述芯片本体(3)相互接触。
4.根据权利要求3所述的一种通用型芯片测试板,其特征在于:所述限位滑杆(205)靠近所述支撑杆(201)的一侧活动贯穿所述支撑杆(201)设置,两个所述限位滑杆(205)的侧面通过操作把手(5)固定连接。
5.根据权利要求4所述的一种通用型芯片测试板,其特征在于:所述弹杆(403)的顶部活动贯穿所述安装槽(401)且延伸至所述测试底板(1)的外部。
6.根据权利要求5所述的一种通用型芯片测试板,其特征在于:所述橡胶垫(405)靠近所述芯片本体(3)的一侧与所述芯片本体(3)相互接触。
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2020
- 2020-12-23 CN CN202023149181.4U patent/CN213750212U/zh active Active
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