CN213544802U - 一种用于测试机精确度调试的辅助测试治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种用于测试机精确度调试的辅助测试治具，包括探针固定座，所述探针固定座内对称设置有测试探针。所述测试探针包括能弹性折弯的连接悬臂，所述连接悬臂的一端固定在所述探针固定座内，另一端设有与之形成“L”型结构的针体。所述探针固定座内设有用于安装所述连接悬臂的悬臂槽，所述悬臂槽的下端设有供所述连接悬臂弹性折弯的折弯槽，上端设有供所述针体上下移动的针槽。当所述连接悬臂处于自然状态时，所述针体的顶端凸出所述探针固定座的上端面。本实用新型的辅助测试治具通过改进探针结构，提高了扎痕质量的稳定性，便于调试机械手走位精度。

Description

一种用于测试机精确度调试的辅助测试治具

技术领域

本实用新型涉及芯片测试机辅助设备技术领域，尤其涉及一种用于测试机精确度调试的辅助测试治具。

背景技术

目前，在调试多工位芯片测试机(STRIP测试)的测试精度时，通常采用两种方式，一种是通过视觉定位进行测试机测试精度的调整，另一种是通过观察探针在芯片上留下的扎痕来判断测试机中装有测试夹具的机械手的走位是否正确。采用第二种调试方法时，现有的测试夹具的探针结构设计不合理，在测试时留下的扎痕时深时浅，导致调机精确度较低。

调机较为困难。

发明内容

为克服上述缺点，本实用新型的目的在于提供一种用于测试机精度调试的辅助测试治具，通过改进探针结构，提高了扎痕质量的稳定性，便于调试机械手走位精度。

为了达到以上目的，本实用新型采用的技术方案是：一种用于测试机精确度调试的辅助测试治具，包括探针固定座，所述探针固定座内对称设置有测试探针。所述测试探针包括能弹性折弯的连接悬臂，所述连接悬臂的一端固定在所述探针固定座内，另一端设有与之形成“L”型结构的针体。所述探针固定座内设有用于安装所述连接悬臂的悬臂槽，所述悬臂槽的下端设有供所述连接悬臂弹性折弯的折弯槽，上端设有供所述针体上下移动的针槽。当所述连接悬臂处于自然状态时，所述针体的顶端凸出所述探针固定座的上端面。

使用时，将测试芯片放置到芯片焊盘上，将探针固定座安装到测试机的机械手中；启动测试机，使机械手臂带动探针固定座完成一套测试动作，此时，随着机械手的运动，针体能触碰到测试芯片并在上面留下扎点；当针体过载时，针体将压力转移到连接悬臂上，连接悬臂受力向折弯槽的方向进行弹性折弯，此时，针体能随之沿针槽下移；当针体移动至下一位置时，连接悬臂回弹使得针体回复到初始的测试位置；当测试动作全部结束后，针体能在测试芯片上留下扎痕，操作人员即可根据扎痕位置调整机械手的走位。

本实用新型的有益效果在于：通过探针固定座将该辅助测试治具安装到测试机的机械手中，通过连接悬臂的设置使得针体在过载时能利用连接悬臂的弹性折弯进行回缩以对针体进行保护，防止针体过压损坏，同时利用连接悬臂的回弹力使针体在过载后仍能回复到原来的测试位置；通过连接悬臂与针体的配合使得测试探针能在测试芯片上留下清晰的扎痕，以保证扎痕质量的稳定性，便于调试机械手走位精度。

进一步来说，所述探针固定座包括固定连接的上座体、下座体，所述上座体、下座体之间共同设有所述悬臂槽。所述上座体上设有上下连通且与所述悬臂槽连通的所述针槽，所述下座体上设有位于所述针槽正下方且与所述悬臂槽连通的所述折弯槽。通过悬臂槽的设置实现了对连接悬臂的固定安装，通过针槽的设置为针体的上下移动提供了空间，通过折弯槽的设置为连接悬臂的折弯提供了折弯空间。

进一步来说，所述针槽靠近所述悬臂槽的一端还设有回弹缓冲区。通过回弹缓冲区的设置为连接悬臂的回弹提供了缓冲，防止连接悬臂回弹时直接撞击到上座体的下端面。

进一步来说，所述上座体的两端对称设有与之一体成型的连接座，所述连接座上穿设有用于将其安装到测试机上的安装螺丝。

进一步来说，所述连接座上还穿设有定位销钉。

进一步来说，所述上座体、下座体上还共同设有多个螺栓孔，任一相邻两个所述螺栓孔之间设有对位销孔。

进一步来说，所述针体的顶端设有与之一体成型的针尖。

附图说明

图1为本实用新型实施例的立体结构示意图；

图2为本实用新型实施例的爆炸视图；

图3为本实用新型实施例的剖切示意图；

图4为图3中A部位的局部放大图。

图中：

1-探针固定座；11-悬臂槽；12-折弯槽；13-针槽；131-回弹缓冲区；14-上座体；141-连接座；15-下座体；16-螺栓孔；17-对位销孔；2-测试探针；21-连接悬臂；22-针体；221-针尖；3-安装螺丝；4-定位销钉。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型的较佳实施例进行详细阐述，以使本实用新型的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本实用新型的保护范围做出更为清楚明确的界定。

实施例

参见附图1-3所示，本实用新型的一种用于测试机精确度调试的辅助测试治具，包括探针固定座1，所述探针固定座1内对称设置有测试探针2。所述测试探针2包括能弹性折弯的连接悬臂21，所述连接悬臂21的一端固定在所述探针固定座1内，另一端设有与之形成“L”型结构的针体22。所述探针固定座1内设有用于安装所述连接悬臂的悬臂槽11，所述悬臂槽11的下端设有供所述连接悬臂21弹性折弯的折弯槽12，上端设有供所述针体22上下移动的针槽13。当所述连接悬臂21处于自然状态时，所述针体22的顶端凸出所述探针固定座1的上端面。

使用时，将测试芯片放置到芯片焊盘上，将探针固定座1安装到测试机的机械手中；启动测试机，使机械手臂带动探针固定座1完成一套测试动作，此时，随着机械手的运动，针体22能触碰到测试芯片并在上面留下扎点；当针体22过载时，针体22将压力转移到连接悬臂21上，连接悬臂21受力向折弯槽12的方向进行弹性折弯，此时，针体22能随之沿针槽13下移；当针体22移动至下一位置时，连接悬臂21回弹使得针体22回复到初始的测试位置；当测试动作全部结束后，针体22能在测试芯片上留下扎痕，操作人员即可根据扎痕位置调整机械手的走位。

通过探针固定座1将该辅助测试治具安装到测试机的机械手中，通过连接悬臂21的设置使得针体22在过载时能利用连接悬臂21的弹性折弯进行回缩以对针体22进行保护，防止针体22过压损坏，同时利用连接悬臂21的回弹力使针体22在过载后仍能回复到原来的测试位置；通过连接悬臂21与针体22的配合使得测试探针能在测试芯片上留下清晰的扎痕，以保证扎痕质量的稳定性，便于调试机械手走位精度。

在本实施例中，参见附图3-4所示，所述探针固定座1包括固定连接的上座体14、下座体15，所述上座体14、下座体15之间共同设有所述悬臂槽11。所述上座体14上设有上下连通且与所述悬臂槽11连通的所述针槽13，所述下座体15上设有位于所述针槽13正下方且与所述悬臂槽11连通的所述折弯槽12。通过悬臂槽11的设置实现了对连接悬臂21的固定安装，通过针槽13的设置为针体22的上下移动提供了空间，通过折弯槽12的设置为连接悬臂21的折弯提供了折弯空间。

优选地，所述针槽13靠近所述悬臂槽11的一端还设有回弹缓冲区131。通过回弹缓冲区131的设置为连接悬臂21的回弹提供了缓冲，防止连接悬臂21回弹时直接撞击到上座体14的下端面。

在本实施例中，所述上座体14的两端对称设有与之一体成型的连接座141，所述连接座141上穿设有用于将其安装到测试机上的安装螺丝3。通过连接座141的设置实现了上座体14与测试机机械手的固接。

为了提高上座体14与测试机机械手连接时的对位精度，所述连接座141上还穿设有定位销钉4。

在本实施例中，所述上座体14、下座体15上还共同设有多个螺栓孔16，任一相邻两个所述螺栓孔16之间设有对位销孔17。

在本实施例中，所述针体22与所述连接悬臂21一体成型，其顶端还设有与之一体成型的针尖221，所述针体22与针尖221均采用钨钢材质。

以上实施方式只为说明本实用新型的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人了解本实用新型的内容并加以实施，并不能以此限制本实用新型的保护范围，凡根据本实用新型精神实质所做的等效变化或修饰，都应涵盖在本实用新型的保护范围内。

Claims (7)

1.一种用于测试机精确度调试的辅助测试治具，包括探针固定座，所述探针固定座内对称设置有测试探针；其特征在于：所述测试探针包括能弹性折弯的连接悬臂，所述连接悬臂的一端固定在所述探针固定座内，另一端设有与之形成“L”型结构的针体；所述探针固定座内设有用于安装所述连接悬臂的悬臂槽，所述悬臂槽的下端设有供所述连接悬臂弹性折弯的折弯槽，上端设有供所述针体上下移动的针槽；当所述连接悬臂处于自然状态时，所述针体的顶端凸出所述探针固定座的上端面。

2.根据权利要求1所述的辅助测试治具，其特征在于：所述探针固定座包括固定连接的上座体、下座体，所述上座体、下座体之间共同设有所述悬臂槽；所述上座体上设有上下连通且与所述悬臂槽连通的所述针槽，所述下座体上设有位于所述针槽正下方且与所述悬臂槽连通的所述折弯槽。

3.根据权利要求2所述的辅助测试治具，其特征在于：所述针槽靠近所述悬臂槽的一端还设有回弹缓冲区。

4.根据权利要求2所述的辅助测试治具，其特征在于：所述上座体的两端对称设有与之一体成型的连接座，所述连接座上穿设有用于将其安装到测试机上的安装螺丝。

5.根据权利要求4所述的辅助测试治具，其特征在于：所述连接座上还穿设有定位销钉。

6.根据权利要求2-5任一所述的辅助测试治具，其特征在于：所述上座体、下座体上还共同设有多个螺栓孔，任一相邻两个所述螺栓孔之间设有对位销孔。

7.根据权利要求6所述的辅助测试治具，其特征在于：所述针体的顶端设有与之一体成型的针尖。

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