CN213517379U - 一种用于测试介质滤波器的工装底座及测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种用于测试介质滤波器的工装底座，所述工装底座上设有用于容纳介质滤波器的容置槽，所述容置槽的槽口周围围设有环形槽；其中，所述环形槽内填充有导电泡棉。本实用新型还公开了采用上述工装底座的介质滤波器的测试装置。本实用新型解决了现有的介质滤波器测试装置的电磁屏蔽性能较差的问题。

Description

一种用于测试介质滤波器的工装底座及测试装置

技术领域

本实用新型涉及介质滤波器的测试技术领域，尤其涉及一种用于测试介质滤波器的工装底座及测试装置。

背景技术

介质滤波器的测试效率是提高介质滤波器产能的关键。目前常用的介质滤波器测试装置存在着电磁屏蔽性能较差的问题，导致测试介质滤波器时，难以保证介质滤波器的测试结果的准确性。

实用新型内容

针对现有技术中存在的缺陷，本实用新型为了提高介质滤波器测试装置的电磁屏蔽性能采用了如下的技术方案：

在本实用新型的一方面提供了一种用于测试介质滤波器的工装底座，所述工装底座上设有用于容纳介质滤波器的容置槽，所述容置槽的槽口周围围设有环形槽；其中，所述环形槽内填充有导电泡棉。

优选地，所述容置槽的槽底面上设有用于容纳导电胶条的凹陷部，所述工装底座还包括测试电路板，所述测试电路板盖设在所述槽底面上，所述测试电路板包括与所述凹陷部相对应的通孔，所述凹陷部通过所述通孔向外露出。

优选地，所述测试电路板上设有限位结构，所述限位结构包括用于固定介质滤波器的限位区域，所述通孔位于所述限位区域内。

优选地，所述环形槽的深度大于或等于所述容置槽的深度。

在本实用新型的另一方面提供了一种介质滤波器的测试装置，包括如上述的工装底座，所述工装底座的相对两侧分别设有气缸，所述容置槽的上方设有用于封闭所述容置槽的盖板，所述盖板的相对两端分别与所述气缸连接；其中，所述容置槽与所述盖板之间通过所述气缸的伸缩运动来实现彼此闭合或者分离。

优选地，所述盖板的面向所述容置槽的一侧上设有与所述槽口相对应的第一凸块，所述第一凸块用于塞闭所述槽口。

优选地，所述第一凸块的面向所述槽口的一侧上设有第二凸块，所述第二凸块用于压紧放置在所述容置槽内的介质滤波器。

优选地，所述第一凸块和所述第二凸块的表面上设有导电布。

本实用新型中，在用于容纳介质滤波器的容置槽的槽口周围设置了环形槽，并在该环形槽内填充了导电泡棉，以实现了电磁屏蔽结构，从而提高了工装底座的屏蔽性能。

附图说明

图1是根据本实用新型实施例的用于测试介质滤波器的工装底座的结构示意图；

图2是根据本实用新型实施例的用于测试介质滤波器的工装底座的俯视图；

图3是根据本实用新型实施例的介质滤波器的测试装置的结构示意图。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，下面结合附图对本实用新型的具体实施方式进行详细说明。这些优选实施方式的示例在附图中进行了例示。附图中所示和根据附图描述的本实用新型的实施方式仅仅是示例性的，并且本实用新型并不限于这些实施方式。

在此，还需要说明的是，为了避免因不必要的细节而模糊了本实用新型，在附图中仅仅示出了与根据本实用新型的方案密切相关的结构和/或处理步骤，而省略了与本实用新型关系不大的其他细节。

如背景技术中所述，目前常用的介质滤波器测试装置的电磁屏蔽性能较差。

针对上述问题，本实用新型提供了一种改善介质滤波器测试装置的电磁屏蔽性能的技术方案，具体内容如下实施例所示。

实施例1

本实施例提供了一种用于测试介质滤波器的工装底座1，如图1所示，所述工装底座1上设有用于容纳介质滤波器的容置槽11。在所述容置槽11的槽口周围围设有环形槽12。在本实施例中，为了改善工装底座1的电磁屏蔽性能，在所述环形槽12内填充了导电泡棉13。具体地，所述环形槽12的深度大于或等于所述容置槽11的深度，以此使填充在所述环形槽12内的导电泡棉13围绕着所述容置槽11的整个侧面，从而进一步提升所述工装底座1的电磁屏蔽性能。

优选地，如图2所示，本实施例的所述容置槽11的槽底面上设有用于容纳导电胶条的凹陷部11a，所述工装底座1还包括测试电路板14，所述测试电路板14盖设在所述槽底面上。其中，所述测试电路板14包括与所述凹陷部11a相对应的通孔14a，所述凹陷部11a通过所述通孔14a向外露出。本实施例中，在所述容置槽11内放置要测试的介质滤波器之前，可以通过所述通孔14a在所述凹陷部11a内设置导电胶条(图中未示出)，从而使放置在所述容置槽11内的介质滤波器(图中未示出)被所述导电胶条粘住，从而更紧密地贴在所述测试电路板14上。这样有利于提高测试准确度。而且设置在所述容置槽11底部的所述导电胶条还可以起到一定的电磁屏蔽作用。

进一步地，如图2所示，为了防止介质滤波器的晃动，所述测试电路板14上还设有限位结构15。所述限位结构15包括用于固定介质滤波器的限位区域15a，所述通孔14a位于所述限位区域15a内。

实施例2

本实施例提供了一种介质滤波器的测试装置，如图3所示，所述测试装置包括实施例1提供的工装底座1。所述工装底座1的相对两侧分别设有气缸2，所述容置槽11的上方设有用于封闭所述容置槽11的盖板3，所述盖板3的相对两端分别与所述气缸2连接。在本实施例中，控制所述气缸2的伸缩即可实现所述容置槽11与所述盖板3之间的闭合或分离，从而方便了介质滤波器的测试过程。

较佳地，如图3所示，所述盖板3的面向所述容置槽11的一侧上设有与所述槽口相对应的第一凸块31。所述第一凸块31用于塞闭所述槽口，从而进一步提高了所述测试装置屏蔽效果。

进一步地，所述第一凸块31的面向所述槽口的一侧上设有第二凸块32，所述第二凸块32用于压紧放置在所述容置槽11内的介质滤波器，从而使介质滤波器更加紧密地贴在所述测试电路板14上，从而有利于提高测试准确度。

此外，为了进一步提高所述测试装置的屏蔽效果，所述第一凸块31和所述第二凸块32的表面上还可以设置导电布(图中未示出)。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (8)

1.一种用于测试介质滤波器的工装底座，其特征在于，所述工装底座上设有用于容纳介质滤波器的容置槽，所述容置槽的槽口周围围设有环形槽；其中，所述环形槽内填充有导电泡棉。

2.根据权利要求1所述的工装底座，其特征在于，所述容置槽的槽底面上设有用于容纳导电胶条的凹陷部，所述工装底座还包括测试电路板，所述测试电路板盖设在所述槽底面上；其中，所述测试电路板包括与所述凹陷部相对应的通孔，所述凹陷部通过所述通孔向外露出。

3.根据权利要求2所述的工装底座，其特征在于，所述测试电路板上设有限位结构，所述限位结构包括用于固定介质滤波器的限位区域，所述通孔位于所述限位区域内。

4.根据权利要求1所述的工装底座，其特征在于，所述环形槽的深度大于或等于所述容置槽的深度。

5.一种介质滤波器的测试装置，其特征在于，包括如权利要求1至4任一所述的工装底座，所述工装底座的相对两侧分别设有气缸，所述容置槽的上方设有用于封闭所述容置槽的盖板，所述盖板的相对两端分别与所述气缸连接；其中，所述容置槽与所述盖板之间通过所述气缸的伸缩运动来实现彼此闭合或者分离。

6.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述盖板的面向所述容置槽的一侧上设有与所述槽口相对应的第一凸块，所述第一凸块用于塞闭所述槽口。

7.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述第一凸块的面向所述槽口的一侧上设有第二凸块，所述第二凸块用于压紧放置在所述容置槽内的介质滤波器。

8.根据权利要求7所述的测试装置，其特征在于，所述第一凸块和所述第二凸块的表面上设有导电布。

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