CN213517248U - 一种多单元电子线路测试卡结构 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种多单元电子线路测试卡结构，包括基板，设置在基板上的探针阵列，设置在基板上的测试命令与信号输入、输出接口，设置在基板上的电子信号预处理系统、测试进度显示系统以及电源转换系统；本结构为自动化电子线路参数检测与分析记录系统配套客户产品定制的测量工具，使电子线路产品的自动化测量能够顺利进行，采用探针阵列，整体结构简洁，操作方便，产品测试过程中各个工况都能给操作员提示，提高工作效率，降低了劳动强度。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子线路产品检测领域，尤其是一种多单元电子线路测试卡结构。
背景技术
电子线路产品在加工完成后需要进行功能测试，目前在进行电子线路产品检测时，主要通过多单元电子线路测试板来完成，目前的多单元电子线路测试板存在引线数量多且操作繁琐的问题，本专利基于以上的技术问题对多单元电子线路测试板结构进行改进。
发明内容
本实用新型的目的是为了解决现有技术存在的缺陷，提供一种多单元电子线路测试卡结构。
为了实现上述目的，本实用新型采用的技术方案如下：
一种多单元电子线路测试卡结构，包括基板，设置在基板上的探针阵列，设置在基板上的测试命令与信号输入、输出接口，设置在基板上的电子信号预处理系统、测试进度显示系统以及电源转换系统。
进一步，所述探针阵列设置在基板一侧的侧面上，探针阵列与被测电子产品电学接触，探针阵列包括主要探针和辅助探针，主要探针和辅助探针形成的探针阵列为矩形阵列，主要探针用于电子产品测量，辅助探针用于检验对应的主要探针与被测电子产品是否具备良好的电学接触。
进一步，所述主要探针直接与测试命令与信号输入、输出接口连接，或者通过低阻抗的继电器与测试命令与信号输入、输出接口连接，或者通过电子信号预处理系统进行电信号的放大或缩小后与信号输入输出、接口连接；辅助探针通过复用电路与测试命令与信号输入输出、接口连接。
进一步，所述测试命令与信号输入、输出接口为排针阵列，用于与测试编程处理器的上下数据通讯。
进一步，所述测试进度显示系统为LED阵列或液晶显示屏。
进一步，所述测试进度显示系统为显示接口，显示接口连接外部的显示设备。
本实用新型的有益效果为：本结构为自动化电子线路参数检测与分析记录系统配套客户产品定制的测量工具，使电子线路产品的自动化测量能够顺利进行，采用探针阵列，整体结构简洁，操作方便，产品测试过程中各个工况都能给操作员提示，提高工作效率，降低了劳动强度。
附图说明
图1为本实用新型的俯视示意图；
图2为本实用新型的侧面示意图。
具体实施方式
如图1，图2所示，一种多单元电子线路测试卡结构，包括基板1，设置在基板1上的探针阵列2，设置在基板1上的测试命令与信号输入、输出接口3，设置在基板1上的电子信号预处理系统4、测试进度显示系统5以及电源转换系统6，其中，基板1采用印刷线路板。
探针阵列2设置在基板1一侧的侧面上，探针阵列与被测电子产品电学接触，弹簧探针阵列2一般分二类，一类是主要探针，直接用于测量；另一类是用于测量接触连续性的辅助探针，仅用于检验对应的主要探针与被测电子产品是否具备良好的电学接触。如果一个被测电子产品需要X个探针，一块板上有Y行和Z列被测电子产品，那么需要XYZ根主要探针和XYZ根辅助探针。
进一步，主要探针一般直接与测试命令与信号输入、输出接口3连接，或者通过低阻抗的继电器与测试命令与信号输入、输出接口3连接，或者通过电子信号预处理系统4进行电信号的放大或缩小后与信号输入、输出接口3连接。辅助探针一般可以通过复用电路与测试命令与信号输入、输出接口3连接，复用电路带来的额外阻抗在仅用于检测探针是否具备良好的电学接触时已被程序考虑在内，不影响电子产品的参数测量。
进一步，测试命令与信号输入、输出接口3一般是普通的排针阵列，用于与测试编程处理器的上下数据通讯；电子信号预处理系统4服务于探针阵列与测试命令与信号输入、输出接口之间。由于探针数目2XYZ一般远远多于输入输出的排针数目，一般需要采用电子信号预处理系统复用选择测试通道。另外，部分被测电信号有可能太低或者太高，需要采用电子信号预处理系统4进行相应的放大或缩小，才能被标准的测试编程处理器正确采用，其中，电子信号预处理系统4为现有的电子系统，不做详细描述。
进一步，由于可能需要用到各种不同的电源供给，都由外部接入并不合适。一般仅引入一个外部电源，并在测试卡设置电源转换系统6，产生各种不同的电源供给，供电子信号预处理系统4使用。
可选配的测试进度显示系统5主要是为了方便操作员在使用过程中直观了解测试进度。可以仅仅是多颜色的LED阵列，液晶显示等，也可以是一个显示接口，连接外部的显示设备。
本结构用在被测电子线路板与测试编程处理器之间，正确注入和获取电信号，并按需求加以处理，方便被测电子线路板与测试编程处理器的合适使用。
本结构为自动化电子线路参数检测与分析记录系统配套客户产品定制的测量工具，使电子线路产品的自动化测量能够顺利进行，采用探针阵列，整体结构简洁，操作方便，产品测试过程中各个工况都能给操作员提示，提高工作效率，降低了劳动强度。
以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型的范围内。本实用新型要求的保护范围由所附的权利要求书及其等同物界定。
Claims (6)
1.一种多单元电子线路测试卡结构，其特征在于，包括基板，设置在基板上的探针阵列，设置在基板上的测试命令与信号输入、输出接口，设置在基板上的电子信号预处理系统、测试进度显示系统以及电源转换系统。
2.根据权利要求1所述的一种多单元电子线路测试卡结构，其特征在于，所述探针阵列设置在基板一侧的侧面上，探针阵列与被测电子产品电学接触，探针阵列包括主要探针和辅助探针，主要探针和辅助探针形成的探针阵列为矩形阵列，主要探针用于电子产品测量，辅助探针用于检验对应的主要探针与被测电子产品是否具备良好的电学接触。
3.根据权利要求2所述的一种多单元电子线路测试卡结构，其特征在于，所述主要探针直接与测试命令与信号输入、输出接口连接，或者通过低阻抗的继电器与测试命令与信号输入、输出接口连接，或者通过电子信号预处理系统进行电信号的放大或缩小后与信号输入输出、接口连接；辅助探针通过复用电路与测试命令与信号输入输出、接口连接。
4.根据权利要求2所述的一种多单元电子线路测试卡结构，其特征在于，所述测试命令与信号输入、输出接口为排针阵列，用于与测试编程处理器的上下数据通讯。
5.根据权利要求2所述的一种多单元电子线路测试卡结构，其特征在于，所述测试进度显示系统为LED阵列或液晶显示屏。
6.根据权利要求2所述的一种多单元电子线路测试卡结构，其特征在于，测试进度显示系统为显示接口，显示接口连接外部的显示设备。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| CN202022358332.0U CN213517248U (zh) | 2020-10-21 | 2020-10-21 | 一种多单元电子线路测试卡结构 |
Applications Claiming Priority (1)
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Publications (1)
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| CN213517248U true CN213517248U (zh) | 2021-06-22 |
Family
ID=76401890
Family Applications (1)
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| CN202022358332.0U Active CN213517248U (zh) | 2020-10-21 | 2020-10-21 | 一种多单元电子线路测试卡结构 |
Country Status (1)
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2020
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