CN213482378U - 一种芯片测试平台的保护装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型属于芯片测试技术领域，尤其为一种芯片测试平台的保护装置，包括测试平台本体、连接板和保护盖，所述测试平台本体顶部固定连接有两个对称分布的滑轨，所述滑轨上开设有滑槽，所述测试平台本体顶部固定连接有芯片夹具，所述连接板位于所述测试平台本体一端顶部，所述连接板一侧底部固定连接有强力磁铁；首先将连接板与测试平台本体进行连接，然后再把保护盖与测试平台上的滑轨进行连接，推动保护盖在滑轨上滑动，使强力磁铁吸附住连接金属块，从而对保护盖进行固定，这样在测试平台本体闲置的时候，通过保护盖会对测试平台本体上的芯片夹具起到一个保护的作用，避免外部的灰尘落到芯片夹具上影响其灵敏度。
Description
技术领域
本实用新型属于芯片测试设备技术领域，具体涉及一种芯片测试平台的保护装置。
背景技术
LED芯片是一种固态的半导体器件，LED的心脏是一个半导体的晶片，晶片的一端附在一个支架上，一端是负极，另一端连接电源的正极，使整个晶片被环氧树脂封装起来，也称为led发光芯片，是led灯的核心组件，在LED芯片出厂前需要在测试台上进行检测。
芯片测试台的种类有许多，一些芯片测试台可能会闲置一段时间不用，灰尘落到其上面的芯片夹具上可能导致其灵敏度受损，导致芯片在测试的时候出现误差。
实用新型内容
为本实用新型的目的在于提供一种芯片测试平台的保护装置，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种芯片测试平台的保护装置，包括测试平台本体、连接板和保护盖，所述测试平台本体顶部固定连接有两个对称分布的滑轨，所述滑轨上开设有滑槽，所述测试平台本体顶部固定连接有芯片夹具，所述连接板位于所述测试平台本体一端顶部，所述连接板一侧底部固定连接有强力磁铁，所述强力磁铁远离所述连接板的一侧固定连接有第二卡合柱，所述保护盖两侧固定连接有滑板，所述滑板在所述滑槽内与所述滑轨滑动连接，所述保护盖靠近所述连接板的一端固定连接有连接金属块，所述连接金属块与所述强力磁铁磁性连接诶，所述连接金属块与所述第二卡合柱卡合连接，所述保护盖顶部可拆卸连接有推拉手柄。
优选的，所述连接板底部固定连接有第一卡合柱，所述第一卡合柱与所述测试平台本体卡合连接。
优选的，所述连接板一侧底部固定连接有平衡板，所述平衡板与所述测试平台本体接触。
优选的，所述强力磁铁远离所述连接板的一侧固定连接有缓冲层，所述缓冲层的材质为橡胶。
优选的，所述推拉手柄底部固定连接有固定板，所述固定板上设有固定螺栓，所述固定板通过所述固定螺栓与所述保护盖螺接固定。
优选的，所述保护盖的材质为透明塑料。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
在测试平台使用完毕的时候，首先将连接板与测试平台本体进行连接，然后再把保护盖与测试平台上的滑轨进行连接，推动保护盖在滑轨上滑动，使强力磁铁吸附住连接金属块，从而对保护盖进行固定，这样在测试平台本体闲置的时候，通过保护盖会对测试平台本体上的芯片夹具起到一个保护的作用，避免外部的灰尘落到芯片夹具上影响其灵敏度。
附图说明
附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。在附图中：
图1为本实用新型的结构示意图；
图2为本实用新型中测试平台本体、连接板和保护盖的结构示意图；
图3为本实用新型中连接板的结构示意图；
图4为本实用新型中保护盖的结构示意图。
图中：1、测试平台本体；11、滑轨；111、滑槽；12、芯片夹具；2、连接板；21、第一卡合柱；22、平衡板；23、强力磁铁；231、缓冲层；24、第二卡合柱；3、保护盖；31、滑板；32、连接金属块；33、推拉手柄；331、固定板；332、固定螺栓。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-4，本实用新型提供以下技术方案：一种芯片测试平台的保护装置，包括测试平台本体1、连接板2和保护盖3，测试平台本体1顶部固定连接有两个对称分布的滑轨11，滑轨11上开设有滑槽111，测试平台本体1顶部固定连接有芯片夹具12，连接板2位于测试平台本体1一端顶部，连接板2一侧底部固定连接有强力磁铁23，强力磁铁23远离连接板2的一侧固定连接有第二卡合柱24，保护盖3两侧固定连接有滑板31，滑板31在滑槽111内与滑轨11滑动连接，保护盖3靠近连接板2的一端固定连接有连接金属块32，连接金属块32与强力磁铁23磁性连接诶，连接金属块32与第二卡合柱24卡合连接，保护盖3顶部可拆卸连接有推拉手柄33。
本实施方案中：测试平台本体1顶部固定连接有两个对称分布的滑轨11，滑轨11上开设有滑槽111，测试平台本体1顶部固定连接有芯片夹具12，连接板2位于测试平台本体1一端顶部，连接板2一侧底部固定连接有强力磁铁23，强力磁铁23远离连接板2的一侧固定连接有第二卡合柱24，保护盖3两侧固定连接有滑板31，滑板31在滑槽111内与滑轨11滑动连接，保护盖3靠近连接板2的一端固定连接有连接金属块32，连接金属块32与强力磁铁23磁性连接诶，连接金属块32与第二卡合柱24卡合连接，保护盖3顶部可拆卸连接有推拉手柄33，在测试平台使用完毕的时候，首先将连接板2与测试平台本体1进行连接，然后再把保护盖3与测试平台本体1上的滑轨11进行连接，握住推拉手柄33推动保护盖3在滑轨11上滑动，使强力磁铁23吸附住连接金属块32，从而对保护盖3进行固定，这样在测试平台本体1闲置的时候，通过保护盖3会对测试平台本体1上的芯片夹具12起到一个保护的作用，避免外部的灰尘落到芯片夹具12上影响其灵敏度。
具体的，连接板2底部固定连接有第一卡合柱21，第一卡合柱21与测试平台本体1卡合连接；连接板2能够通过第一卡合柱21来与测试平台本体1进行连接。
具体的，连接板2一侧底部固定连接有平衡板22，平衡板22与测试平台本体1接触；通过平衡板22可以增大连接板2与测试平台本体1的接触面积，增加连接板2与测试平台本体1安装时的稳定性。
具体的，强力磁铁23远离连接板2的一侧固定连接有缓冲层231，缓冲层231的材质为橡胶；通过缓冲层231能够起到在强力磁铁23与连接金属块32之间起到一个缓冲和密封的作用。
具体的，推拉手柄33底部固定连接有固定板331，固定板331上设有固定螺栓332，固定板331通过固定螺栓332与保护盖3螺接固定；在使用的时候将固定螺栓332贯穿固定板331旋入到保护盖3的内部，拆卸的时候将固定螺栓332旋出，从而实现推拉手柄33与保护盖3之间的安装和拆卸。
具体的，保护盖3的材质为透明塑料；塑料的材质较轻，而且透明塑料具有良好的透光性，便于人们观察保护盖3内部的情况。
本实用新型的工作原理及使用流程：在测试平台使用完毕的时候，首先将连接板2与测试平台本体1进行连接，将连接板2上的第一卡合柱21插入到测试平台本体1内，通过平衡板22可以增大连接板2与测试平台本体1的接触面积，增加连接板2与测试平台本体1安装时的稳定性，然后再把保护盖3与测试平台本体1上的滑轨11进行连接，握住推拉手柄33推动保护盖3在滑轨11上滑动，使强力磁铁23吸附住连接金属块32，通过缓冲层231能够起到在强力磁铁23与连接金属块32之间起到一个缓冲和密封的作用，从而对保护盖3进行固定，这样在测试平台本体1闲置的时候，通过保护盖3会对测试平台本体1上的芯片夹具12起到一个保护的作用，避免外部的灰尘落到芯片夹具12上影响其灵敏度，方便操作人员的使用。
最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种芯片测试平台的保护装置，包括测试平台本体（1）、连接板（2）和保护盖（3），其特征在于：所述测试平台本体（1）顶部固定连接有两个对称分布的滑轨（11），所述滑轨（11）上开设有滑槽（111），所述测试平台本体（1）顶部固定连接有芯片夹具（12）；
所述连接板（2）位于所述测试平台本体（1）一端顶部，所述连接板（2）一侧底部固定连接有强力磁铁（23），所述强力磁铁（23）远离所述连接板（2）的一侧固定连接有第二卡合柱（24），所述保护盖（3）两侧固定连接有滑板（31），所述滑板（31）在所述滑槽（111）内与所述滑轨（11）滑动连接，所述保护盖（3）靠近所述连接板（2）的一端固定连接有连接金属块（32），所述连接金属块（32）与所述强力磁铁（23）磁性连接，所述连接金属块（32）与所述第二卡合柱（24）卡合连接，所述保护盖（3）顶部可拆卸连接有推拉手柄（33）。
2.根据权利要求1所述的一种芯片测试平台的保护装置，其特征在于：所述连接板（2）底部固定连接有第一卡合柱（21），所述第一卡合柱（21）与所述测试平台本体（1）卡合连接。
3.根据权利要求1所述的一种芯片测试平台的保护装置，其特征在于：所述连接板（2）一侧底部固定连接有平衡板（22），所述平衡板（22）与所述测试平台本体（1）接触。
4.根据权利要求1所述的一种芯片测试平台的保护装置，其特征在于：所述强力磁铁（23）远离所述连接板（2）的一侧固定连接有缓冲层（231），所述缓冲层（231）的材质为橡胶。
5.根据权利要求1所述的一种芯片测试平台的保护装置，其特征在于：所述推拉手柄（33）底部固定连接有固定板（331），所述固定板（331）上设有固定螺栓（332），所述固定板（331）通过所述固定螺栓（332）与所述保护盖（3）螺接固定。
6.根据权利要求1所述的一种芯片测试平台的保护装置，其特征在于：所述保护盖（3）的材质为透明塑料。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202021794339.0U CN213482378U (zh) | 2020-08-25 | 2020-08-25 | 一种芯片测试平台的保护装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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Publications (1)
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| CN213482378U true CN213482378U (zh) | 2021-06-18 |
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Family Applications (1)
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| CN202021794339.0U Active CN213482378U (zh) | 2020-08-25 | 2020-08-25 | 一种芯片测试平台的保护装置 |
Country Status (1)
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-
2020
- 2020-08-25 CN CN202021794339.0U patent/CN213482378U/zh active Active
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