CN213422079U - 一种翘曲度测量装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种翘曲度测量装置。所述翘曲度测量装置包括基座、承载机构及测量机构。所述承载机构包括第一支架及测量平台。所述测量平台上形成有第一通孔。所述第一支架的两端分别与所述测量平台及所述基座螺纹连接，并在所述测量平台与所述基座之间形成一安装区域。所述测量机构包括测量部和从所述测量部伸出的探针，所述测量部架设于所述安装区域内，且使得所述探针的第一端伸出所述第一通孔。如此，无需将待测模块倒置，即可实现低成本且简易测量的目的。本实用新型测量稳定、成本较低且操作简单。

Description

一种翘曲度测量装置

技术领域

本实用新型涉及一种翘曲度测量装置。

背景技术

翘曲度是指制品相对于设计尺寸形状所产生的翘曲形变量。在半导体功率模块封装技术领域中，由于焊接、键合等封装工艺的影响会使模块DBC产生变形，DBC的变形翘曲对后续模块的可靠性会产生很大的影响。因此，需要对功率模块封装后的DBC翘曲度进行检测。

现有封装厂对翘曲度的检测方法有两种。一种激光测位设备进行翘曲度量测，但此设备成本较贵，不适合实验室的日常使用。另一种方法是用校准过的大理石进行测量，将DBC放置在平整的大理石上检测平整度，但此方法无法精确测量各个点的翘曲值。另外，当前方案多是自上而下进行测量，需要将功率模块倒置。但是，成品功率模块含有pin针，倒置摆放不可避免会使pin针接触下面物品，可能会使功率模块静电击穿。

实用新型内容

鉴于此，有必要提供一种无需将待测模块倒置的低成本的翘曲度测量装置。

本实用新型为达上述目的所提出的技术方案如下：

一种翘曲度测量装置，所述翘曲度测量装置包括：

基座；

承载机构，包括第一支架及测量平台，所述测量平台上形成有第一通孔，所述第一支架的两端分别与所述测量平台及所述基座螺纹连接，并在所述测量平台与所述基座之间形成一安装区域；

测量机构，包括测量部和从所述测量部伸出的探针，所述测量部架设于所述安装区域内，且使得所述探针的第一端伸出所述第一通孔。

进一步地，所述翘曲度测量装置还包括第二支架，所述第二支架在所述安装区域内固定于所述基座上，所述第二支架用于固定或放置所述测量部，以能够抵持所述测量部。

进一步地，所述第二支架包括支撑杆及夹持件，所述支撑杆固定于所述基座上，所述夹持件包括两个夹板，这两个夹板相对设置，并通过第一紧固件将其一端夹紧于所述支撑杆上，两个夹板的另一端通过第二紧固件夹持所述测量部。

进一步地，所述夹持件的数量为两个，分别用于夹持所述测量部的两端。

进一步地，所述第一紧固件及所述第二紧固件均为螺丝。

进一步地，所述第二支架包括支撑部及与所述支撑部固定连接的抵持部，所述支撑部固定于所述基座上，所述抵持部上设有第二通孔，所述抵持部用于放置所述测量部，并使得所述探针的第二端可自由伸出所述第二通孔。

进一步地，所述抵持部的形状与所述测量部的外廓部分对应，以使得所述抵持部与所述测量部充分接触。

进一步地，所述测量机构可为千分表。

上述翘曲度测量装置通过设置基座及承载机构，以提供翘曲度测量平台；又通过设置第二支架，以将测量机构倒置固定。如此，无需将待测模块倒置，即可满足了实验室内低成本且简易测量的目的。本实用新型测量稳定、成本较低且操作简单。

附图说明

图1是第一实施例提供的翘曲度测量装置的正面结构示意图。

图2是第一实施例提供的翘曲度测量装置的侧面结构示意图。

图3是第一实施例提供的翘曲度测量装置的应用示意图。

图4是第二实施例提供的翘曲度测量装置的结构示意图。

主要元件符号说明

翘曲度测量装置 100

基座 10

承载机构 20

第一支架 21

安装区域 211

测量平台 22

第一通孔 221

测量机构 30

测量部 31

探针 32

第二支架 40

支撑杆 41

夹持件 42

夹板 421

第一紧固件 422

第二紧固件 423

支撑部 43

抵持部 44

第二通孔 441

待测模块 200

如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本实用新型。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，下面结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

第一实施例

本实施例提供一种翘曲度测量装置100。请参考图1，所述翘曲度测量装置100包括基座10、承载机构20及测量机构30。所述承载机构20包括第一支架21及测量平台22。所述测量平台22上形成有第一通孔221。所述第一支架21的两端分别与所述测量平台22及所述基座10螺纹连接，并在所述测量平台22与所述基座10之间形成一安装区域211。所述测量机构30包括测量部31和从所述测量部伸出的探针32，所述测量部31架设于所述安装区域211内，且使得所述探针32的第一端伸出所述第一通孔221。

在本实施例中，可通过调节所述第一支架21与所述测量平台22及所述基座10之间的螺纹连接深度，可对应调节所述测量平台22的高度，以保证所述测量平台22处于水平状态，同时还能调节所述安装区域211的大小，以适应不同尺寸的测量机构30。

所述翘曲度测量装置100还包括第二支架40。所述第二支架40在所述安装区域211内固定于所述基座10上，所述第二支架40用于固定或放置所述测量部31，以能够抵持所述测量部31。

在本实施例中，所述第二支架40包括支撑杆41及夹持件42。所述支撑杆41固定于所述基座10上。所述夹持件42包括两个夹板421，请同时参考图2。这两个夹板421相对设置，并通过第一紧固件422将其一端夹紧于所述支撑杆41上。两个夹板421的另一端通过第二紧固件423夹持所述测量部31，且保证所述测量机构30工作时所述探针32的第二端不会与所述基座10相接触。在本实施例中，所述夹持件42的数量为两个，分别用于夹持所述测量部31的两端。

请同时参考图3，测量时，只需将待测模块200的测量面放置在所述测量平台22不同的位置上，使得所述探针32与测量面上不同位置进行接触，待测模块200在重力作用下将抵压所述探针32的第一端，由于所述第二支架40对所述测量部31进行抵持，从而能够稳定地进行多点测试，得出待测模块200的翘曲值。本实用新型无需将待测模块200倒置，很好的满足了实验室内实现低成本且简易测量的目的。

在本实施例中，所述第一紧固件422及所述第二紧固件423均为螺丝。

在本实施例中，所述测量机构30可为千分表。

第二实施例

请参考图4，本实施例与第一实施例的不同之处在于，所述第二支架40包括支撑部43及与所述支撑部43固定连接的抵持部44。所述支撑部43固定于所述基座10上。所述抵持部44上设有第二通孔441。所述抵持部44用于放置所述测量部31，并使得所述探针32的第二端可自由伸出所述第二通孔441。

在本实施例中，所述抵持部44的形状与所述测量部31的外廓部分对应，以使得所述抵持部44与所述测量部31充分接触。

上述翘曲度测量装置100通过设置基座10及承载机构20，以提供翘曲度测量平台；又通过设置第二支架40，以将测量机构30倒置固定。如此，无需将待测模块倒置，即可满足了实验室内低成本且简易测量的目的。本实用新型测量稳定、成本较低且操作简单。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种翘曲度测量装置，其特征在于，所述翘曲度测量装置包括：

基座；

承载机构，包括第一支架及测量平台，所述测量平台上形成有第一通孔，所述第一支架的两端分别与所述测量平台及所述基座螺纹连接，并在所述测量平台与所述基座之间形成一安装区域；

测量机构，包括测量部和从所述测量部伸出的探针，所述测量部架设于所述安装区域内，且使得所述探针的第一端伸出所述第一通孔。

2.根据权利要求1所述的翘曲度测量装置，其特征在于，所述翘曲度测量装置还包括第二支架，所述第二支架在所述安装区域内固定于所述基座上，所述第二支架用于固定或放置所述测量部，以能够抵持所述测量部。

3.根据权利要求2所述的翘曲度测量装置，其特征在于，所述第二支架包括支撑杆及夹持件，所述支撑杆固定于所述基座上，所述夹持件包括两个夹板，这两个夹板相对设置，并通过第一紧固件将其一端夹紧于所述支撑杆上，两个夹板的另一端通过第二紧固件夹持所述测量部。

4.根据权利要求3所述的翘曲度测量装置，其特征在于，所述夹持件的数量为两个，分别用于夹持所述测量部的两端。

5.根据权利要求3所述的翘曲度测量装置，其特征在于，所述第一紧固件及所述第二紧固件均为螺丝。

6.根据权利要求2所述的翘曲度测量装置，其特征在于，所述第二支架包括支撑部及与所述支撑部固定连接的抵持部，所述支撑部固定于所述基座上，所述抵持部上设有第二通孔，所述抵持部用于放置所述测量部，并使得所述探针的第二端可自由伸出所述第二通孔。

7.根据权利要求6所述的翘曲度测量装置，其特征在于，所述抵持部的形状与所述测量部的外廓部分对应，以使得所述抵持部与所述测量部充分接触。

8.根据权利要求1所述的翘曲度测量装置，其特征在于，所述测量机构可为千分表。

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