CN213398880U - 一种电子元件导通测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型属于电子元件检测技术领域，尤其涉及一种电子元件导通测试装置，包括定位块、探针组件、探针固定板、驱动组件和测试设备；定位块，用于固定电子元件；探针组件设置于所述定位块上方，用于连接所述电子元件的两端；所述探针组件安装于所述探针固定板；所述探针固定板与所述驱动组件的输出端连接；所述探针组件与所述测试设备导电连接。本实用新型既提高了测试效率，又避免漏检。

Description

一种电子元件导通测试装置

技术领域

本实用新型属于电子元件检测技术领域，尤其涉及一种电子元件导通测试装置。

背景技术

电子元件(electronic component)，是电子电路中的基本元素，通常是个别封装，并具有两个或以上的引线或金属接点。电子元件可以是单独的封装，例如电阻器、电容器、电感器、晶体管、二极管、过流保护器、温度保护器和复合保护器等。

电子元件通常安装于电路中，以起到特定的作用。而要确保电子元件在电路中能起作用，首先要确保的是该电子元件内部是否导通。因此，在电子元件制备完成后，通常会对电子元件进行导通测试。现有技术多通过人工方式对电子元件进行一一测试，即通过测试件接通电子元件的两个引线或金属接电，判断其是否形成通路。而电子元件通常较小，人工测试效率低，而且容易漏检。

实用新型内容

本实用新型的目的在于：针对现有技术的不足，而提供一种电子元件导通测试装置，提高测试效率，避免漏检。

为了实现上述目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种电子元件导通测试装置，包括

定位块，用于固定电子元件；

探针组件，设置于所述定位块上方，用于连接所述电子元件的两端；

探针固定板，所述探针组件安装于所述探针固定板；

驱动组件，所述探针固定板与所述驱动组件的输出端连接；

测试设备，所述探针组件与所述测试设备导电连接。

作为本实用新型所述的电子元件导通测试装置的一种改进，所述定位块设置有主体槽、第一引线槽和第二引线槽，所述第一引线槽设置于所述主体槽的一侧，所述第二引线槽设置于所述主体槽的另一侧，所述第一引线槽和所述第二引线槽均设置有若干个，所述第一引线槽和所述第二引线槽一一对应设置。作为本实用新型所述的电子元件导通测试装置的一种改进，所述探针组件设置有若干组，每组所述探针组件包括两个导电连接的探针，其中一个所述探针对应设置于所述第一引线槽，另一个所述探针对应设置于相对应的所述第二引线槽。

作为本实用新型所述的电子元件导通测试装置的一种改进，还包括底座、底板和竖板，所述底板的一侧通过合页与所述底座连接，所述底板的另一侧通过锁扣组件与所述底座连接，所述竖板垂直安装于所述底板上。

作为本实用新型所述的电子元件导通测试装置的一种改进，所述定位块可拆卸地安装于所述底板。

作为本实用新型所述的电子元件导通测试装置的一种改进，所述驱动组件包括气缸和调压阀，所述气缸固定安装于所述竖板的一面，所述调压阀安装于所述竖板的另一面，所述气缸与所述调压阀连接，所述气缸的输出端与所述探针固定板连接。

作为本实用新型所述的电子元件导通测试装置的一种改进，还包括滑动组件，所述滑动组件包括滑轨以及滑动安装于所述滑轨上的滑块，所述滑轨安装于所述竖板，且与所述气缸位于所述竖板的同一面，所述滑块与所述探针固定板固定连接。

作为本实用新型所述的电子元件导通测试装置的一种改进，所述滑动组件设置有两组，两组所述滑动组件分别安装于所述气缸的两侧。

作为本实用新型所述的电子元件导通测试装置的一种改进，还包括PLC控制器和触动开关，所述触动开关、所述驱动组件和所述测试设备均所述PLC控制器连接，按压或松开所述触动开关以控制所述驱动组件和所述测试设备的运作。

作为本实用新型所述的电子元件导通测试装置的一种改进，还包括指示灯和蜂鸣警报装置，所述指示灯和所述警报装置均与所述测试设备连接，当测试设备检测到有电子元件未导通时，指示灯亮且蜂鸣警报装置发出蜂鸣。

相比于现有技术，本实用新型的有益效果在于：本实用新型提供一种电子元件导通测试装置，包括定位块、探针组件、探针固定板、驱动组件和测试设备；定位块，用于固定电子元件；探针组件设置于所述定位块上方，用于连接所述电子元件的两端；所述探针组件安装于所述探针固定板；所述探针固定板与所述驱动组件的输出端连接；所述探针组件与所述测试设备导电连接。本实用新型通过驱动组件驱动探针固定板移动，以实现探针固定板上的探针组件与位于定位块上的电子元件的连接，并通过与探针组件导电连接的测试设备判断测试设备、探针组件和电子元件之间是否形成导通回路，以此来判断电子元件内部是否导通，实现一次性对多个电子元件进行测试的功能，而且该装置是自动化装置，无需人工进行一个个测试，既提高了测试效率，又避免漏检。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图之一。

图2是本实用新型的结构示意图之二。

图3是本实用新型中定位块的结构示意图。

其中：1-定位块，2-探针组件，3-探针固定板，4-驱动组件，5-底座，6-底板，7-竖板，8-滑动组件，9-触动开关，11-主体槽，12-第一引线槽，13-第二引线槽，41-调压阀，42-气缸，61-合页，62-锁扣组件，81-滑轨，82-滑块。

具体实施方式

如在说明书及权利要求当中使用了某些词汇来指称特定组件。本领域技术人员应可理解，硬件制造商可能会用不同名词来称呼同一个组件。本说明书及权利要求并不以名称的差异来作为区分组件的方式，而是以组件在功能上的差异来作为区分的准则。如在通篇说明书及权利要求当中所提及的“包含”为一开放式用语，故应解释成“包含但不限定于”。“大致”是指在可接受的误差范围内，本领域技术人员能够在一定误差范围内解决所述技术问题，基本达到所述技术效果。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、水平”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

以下结合附图对本实用新型作进一步详细说明，但不作为对本实用新型的限定。

参考图1～3，本实用新型提供一种电子元件导通测试装置，包括定位块1、探针组件2、探针固定板3、驱动组件4和测试设备，定位块1用于固定电子元件；探针组件2设置于定位块1上方，用于连接电子元件的两端；探针组件2安装于探针固定板3；探针固定板3与驱动组件4的输出端连接；探针组件2与测试设备导电连接。优选的，探针固定板3的材质为防静电有机玻璃。

在本实用新型的电子元件导通测试装置的一实施方式中，定位块1设置有主体槽11、第一引线槽12和第二引线槽13，第一引线槽12设置于主体槽11的一侧，第二引线槽13设置于主体槽11的另一侧，第一引线槽12和第二引线槽13均设置有若干个，第一引线槽12和第二引线槽13一一对应设置。主体槽11、第一引线槽12和第二引线槽13的设置对电子元件起到限位作用，确保探针组件2与电子元件实现精准连接，提高测试准确度。

在本实用新型的电子元件导通测试装置的一实施方式中，探针组件2设置有若干组，每组探针组件2包括两个导电连接的探针，其中一个探针对应设置于第一引线槽12，另一个探针对应设置于相对应的第二引线槽13。如此设置，实现每组探针组件2与一个电子元件形成一一对应连接关系。

进一步地，本实用新型的电子元件导通测试装置还包括底座5、底板6和竖板7，底板6的一侧通过合页61与底座5连接，底板6的另一侧通过锁扣组件62与底座5连接，竖板7垂直安装于底板6上。优选的，底座5的两侧设置有拉手。通过合页61安装的一端实现固定连接，但又能实现翻转，而通过锁扣组件62连接的一端则实现活动连接，打开锁扣组件62则可掀开底板6。优选的，锁扣组件62包括安装于底板6的扣接件和安装于底座5的扣接环，扣接件设置有与扣接环相配合的扣接位。

在本实用新型的电子元件导通测试装置的一实施方式中，定位块1可拆卸地安装于底板6。打开底板6则可实现定位块1的拆卸更换。

在本实用新型的电子元件导通测试装置的一实施方式中，驱动组件4包括气缸42和调压阀41，气缸42固定安装于竖板7的一面，调压阀41安装于竖板7的另一面，气缸42与调压阀41连接，气缸42的输出端与探针固定板3连接。通过调压阀41调节气缸42的输出力，而气缸42则驱动探针固定板3移动，从而带动探针固定板3上的探针组件2移动，以实现探针组件2与电子元件的连接。

进一步地，本实用新型的电子元件导通测试装置还包括滑动组件8，滑动组件8包括滑轨81以及滑动安装于滑轨81上的滑块82，滑轨81安装于竖板7，且与气缸42位于竖板7的同一面，滑块82与探针固定板3固定连接。滑块组件8的设置使得探针固定板3的移动更加平稳，确保探针固定板3上的探针组件2均能与电子元件实现一一连接，避免漏检，提高测试可靠性。

在本实用新型的电子元件导通测试装置的一实施方式中，滑动组件8设置有两组，两组滑动组件8分别安装于气缸42的两侧。如此设置，使得探针固定板3的移动更加平稳。

进一步地，本实用新型的电子元件导通测试装置还包括PLC控制器和触动开关9，触动开关9、驱动组件4和测试设备均PLC控制器连接，按压或松开触动开关9以控制驱动组件4和测试设备的运作。触动开关9将信号传递给PLC控制器，PLC控制器再将信号传递给驱动组件4和测试设备，从而实现探针组件2与电子元件的连接，当测设设备、探针组件2和电子元件之间形成导通回路时，判定电子元件导通，而当没有形成回路时，则判定为电子元件未导通，进而实现导通测试。

进一步地，本实用新型的电子元件导通测试装置还包括指示灯和蜂鸣警报装置，指示灯和警报装置均与测试设备连接，当测试设备检测到有电子元件未导通时，指示灯亮且蜂鸣警报装置发出蜂鸣。

本实用新型的电子元件导通测试装置的工作过程为：

将编带好的若干个电子元件放置于定位块1上，使得每个电子元件的两引线分别位于对应的第一引线槽12和第二引线槽13内，按压触动开关9，在气缸42的作用下，探针固定板3向下移动，位于探针固定板3上的探针组件2向下移动，其接触到电子元件两端的引线形成连接，测试设备同时对多个电子元件进行测试，当测试到有电子元件不导通时，指示灯亮且蜂鸣警报装置发出蜂鸣；松开触动开关9，取走测试完的电子元件，更换另一组编带好的电子元件，重复以上操作。需要说明的是，可通过调节调压阀41以调节气缸42输出力。除此之外，还可以打开锁扣组件62，打开底板6，对定位块1进行更换，以适应不同规格的电子元件。

上述说明示出并描述了本实用新型的若干优选实施方式，但如前所述，应当理解本实用新型并非局限于本文所披露的形式，不应看作是对其他实施方式的排除，而可用于各种其他组合、修改和环境，并能够在本文所述实用新型构想范围内，通过上述教导或相关领域的技术或知识进行改动。而本领域人员所进行的改动和变化不脱离本实用新型的精神和范围，则都应在本实用新型所附权利要求的保护范围内。

Claims (10)

1.一种电子元件导通测试装置，其特征在于，包括

定位块，用于固定电子元件；

探针组件，设置于所述定位块上方，用于连接所述电子元件的两端；

探针固定板，所述探针组件安装于所述探针固定板；

驱动组件，所述探针固定板与所述驱动组件的输出端连接；

测试设备，所述探针组件与所述测试设备导电连接。

2.根据权利要求1所述的电子元件导通测试装置，其特征在于，所述定位块设置有主体槽、第一引线槽和第二引线槽，所述第一引线槽设置于所述主体槽的一侧，所述第二引线槽设置于所述主体槽的另一侧，所述第一引线槽和所述第二引线槽均设置有若干个，所述第一引线槽和所述第二引线槽一一对应设置。

3.根据权利要求2所述的电子元件导通测试装置，其特征在于，所述探针组件设置有若干组，每组所述探针组件包括两个导电连接的探针，其中一个所述探针对应设置于所述第一引线槽，另一个所述探针对应设置于相对应的所述第二引线槽。

4.根据权利要求1所述的电子元件导通测试装置，其特征在于，还包括底座、底板和竖板，所述底板的一侧通过合页与所述底座连接，所述底板的另一侧通过锁扣组件与所述底座连接，所述竖板垂直安装于所述底板上。

5.根据权利要求4所述的电子元件导通测试装置，其特征在于，所述定位块可拆卸地安装于所述底板。

6.根据权利要求4所述的电子元件导通测试装置，其特征在于，所述驱动组件包括气缸和调压阀，所述气缸固定安装于所述竖板的一面，所述调压阀安装于所述竖板的另一面，所述气缸与所述调压阀连接，所述气缸的输出端与所述探针固定板连接。

7.根据权利要求6所述的电子元件导通测试装置，其特征在于，还包括滑动组件，所述滑动组件包括滑轨以及滑动安装于所述滑轨上的滑块，所述滑轨安装于所述竖板，且与所述气缸位于所述竖板的同一面，所述滑块与所述探针固定板固定连接。

8.根据权利要求7所述的电子元件导通测试装置，其特征在于，所述滑动组件设置有两组，两组所述滑动组件分别安装于所述气缸的两侧。

9.根据权利要求1所述的电子元件导通测试装置，其特征在于，还包括PLC控制器和触动开关，所述触动开关、所述驱动组件和所述测试设备均所述PLC控制器连接，按压或松开所述触动开关以控制所述驱动组件和所述测试设备的运作。

10.根据权利要求1所述的电子元件导通测试装置，其特征在于，还包括指示灯和蜂鸣警报装置，所述指示灯和所述警报装置均与所述测试设备连接，当测试设备检测到有电子元件未导通时，指示灯亮且蜂鸣警报装置发出蜂鸣。

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