CN213364954U - 一种小管脚间距半导体器件裸芯片老化测试插座 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种小管脚间距半导体器件裸芯片老化测试插座，包括座体，所述座体下端固定安装有多个固定块，且每个固定块上均设有伸缩槽，每个所述伸缩槽内均滑动连接有伸缩块，且每个伸缩块与对应的伸缩槽之间均安装有弹簧，每个所述伸缩块下端均固定安装有放置板，所述座体内设有容纳槽，且容纳槽内放置有控制板，所述控制板下端均匀设有多个凹槽，且每个凹槽内均滚动安装有滚珠，所述控制板与每个伸缩块之间均安装有调节机构。优点在于：本实用新型测试插座在平整度不一的放置面，可自动进行调节，保持水平状态，从而确保测试结果的准确度，且该操作无需人工操作，使用方便。

Description

一种小管脚间距半导体器件裸芯片老化测试插座

技术领域

本实用新型涉及半导体器件裸芯片老化测试技术领域，尤其涉及一种小管脚间距半导体器件裸芯片老化测试插座。

背景技术

半导体器件是由硅、锗或砷化镓为材料制成的一种电气元件，其导电性介于良导电体与绝缘体之间，可用来产生、控制、接收、变换、放大信号和进行能量转换，小管脚间距半导体器件裸芯片，即为相邻输入输出管脚引线间的距离小于0.40毫米，且未进行封装的单个半导体器件硅晶片。

为确保由其组成的芯片组件的可靠性，因此需使用老化测试插座对小管脚间距半导体器件裸芯片进行高低温老化测试，现有的老化测试插座未设有平衡装置，因此当放置面倾斜时，其也会随之倾斜，从而可能会对测试结果产生一定不利影响。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的问题，而提出的一种小管脚间距半导体器件裸芯片老化测试插座。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

一种小管脚间距半导体器件裸芯片老化测试插座，包括座体，所述座体下端固定安装有多个固定块，且每个固定块上均设有伸缩槽，每个所述伸缩槽内均滑动连接有伸缩块，且每个伸缩块与对应的伸缩槽之间均安装有弹簧，每个所述伸缩块下端均固定安装有放置板，所述座体内设有容纳槽，且容纳槽内放置有控制板，所述控制板下端均匀设有多个凹槽，且每个凹槽内均滚动安装有滚珠，所述控制板与每个伸缩块之间均安装有调节机构。

在上述的一种小管脚间距半导体器件裸芯片老化测试插座中，所述调节机构包括连接块，所述连接块固定安装在控制板的侧壁上，且连接块上固定连接有拉绳，所述容纳槽的侧壁上设有安装槽，且安装槽与伸缩槽互通，所述拉绳的另一端穿过安装槽与伸缩块固定连接，所述安装槽内通过转杆转动连接有与拉绳相配合的收卷导向轮，且收卷导向轮与安装槽之间安装有扭力弹簧。

在上述的一种小管脚间距半导体器件裸芯片老化测试插座中，所述放置板下端固定安装有橡胶垫，且橡胶垫下端固定安装有多个凸块，每个所述凸块表面均为粗糙设置。

在上述的一种小管脚间距半导体器件裸芯片老化测试插座中，所述容纳槽与控制板均为圆柱体，且容纳槽的尺寸大于控制板的尺寸。

在上述的一种小管脚间距半导体器件裸芯片老化测试插座中，所述伸缩块上固定安装有两个定位块，所述伸缩槽的侧壁上对称设有两个定位槽，且两个定位槽分别与两个定位块相配合。

与现有的技术相比，本实用新型优点在于：

1：固定块与放置板的配合，可将座体下端与放置面进行分隔，避免因放置面潮湿导致座体受潮致其内部元件损坏等问题。

2：定位块与定位槽的配合，可提高伸缩块与伸缩槽之间的摩擦力，配合上弹簧的弹力作用，可对座体起到减震作用，确保测试操作顺利进行。

3：多个调节机构的配合，可在座体因放置面不平整发生倾斜时，自动对相应放置板相对座体的间距进行调节，使得座体保持水平状态，确保测试结果的准确度，且该操作无需人工操作，使用方便。

综上所述，本实用新型测试插座在平整度不一的放置面，可自动进行调节，保持水平状态，从而确保测试结果的准确度，且该操作无需人工操作，使用方便。

附图说明

图1为本实用新型提出的一种小管脚间距半导体器件裸芯片老化测试插座的结构示意图；

图2为图1中A部分的结构放大示意图；

图3为图1中B部分的结构放大示意图。

图中：1座体、2固定块、3伸缩槽、4伸缩块、5弹簧、6放置板、7容纳槽、8控制板、9凹槽、10滚珠、11连接块、12安装槽、13转杆、14收卷导向轮、15扭力弹簧、16拉绳、17橡胶垫、18凸块。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

参照图1-3，一种小管脚间距半导体器件裸芯片老化测试插座，包括座体1，座体1下端固定安装有多个固定块2，且每个固定块2上均设有伸缩槽3，每个伸缩槽3内均滑动连接有伸缩块4，且每个伸缩块4与对应的伸缩槽3之间均安装有弹簧5，每个伸缩块4下端均固定安装有放置板6；

上述值得注意的是：

1、多个放置板6可对伸缩块4进行支撑，从而对座体1进行支撑，且可将其与放置面隔开，避免放置面潮湿导致座体1受潮损坏等问题。

2、伸缩块4可在伸缩槽3内进行滑动，伸缩块4上固定安装有两个定位块，伸缩槽3的侧壁上对称设有两个定位槽，且两个定位槽分别与两个定位块相配合，定位槽与定位块均未在图中示出，定位块与定位槽的配合，可提高伸缩块4与伸缩槽3之间的摩擦力，从而配合上弹簧5的弹力作用，可对座体1起到减震作用。

3、放置板6下端固定安装有橡胶垫17，且橡胶垫17下端固定安装有多个凸块18，每个凸块18表面均为粗糙设置，凸块18的设计，可提高放置板6与放置面之间的摩擦力，从而避免座体1在放置面出现滑动的问题。

座体1内设有容纳槽7，且容纳槽7内放置有控制板8，控制板8下端均匀设有多个凹槽9，且每个凹槽9内均滚动安装有滚珠10，控制板8与每个伸缩块4之间均安装有调节机构；

上述值得注意的是：

1、滚珠10的设计，可使控制板8在容纳槽7内进行滑动，从而可根据座体1的倾斜程度处于容纳槽7内的不同位置。

2、调节机构包括连接块11，连接块11固定安装在控制板8的侧壁上，且连接块11上固定连接有拉绳16，容纳槽7的侧壁上设有安装槽12，且安装槽12与伸缩槽3互通，拉绳16的另一端穿过安装槽12与伸缩块4固定连接，安装槽12内通过转杆13转动连接有与拉绳16相配合的收卷导向轮14，收卷导向轮14可使拉绳16始终对伸缩块4施加垂直向上的拉力，且收卷导向轮14与安装槽12之间安装有扭力弹簧15，当控制板8在容纳槽7内滑动时，其上的连接块11会随之同时滑动，进而通过拉绳16对伸缩块4进行滑动，从而对相应的放置板6相对座体1的间距进行调节，进而使得座体1趋于水平状态，确保测试结果的准确度，该操作无需人工操作，使用方便。

3、容纳槽7与控制板8均为圆柱体，此处形状设计的好处在于，避免控制板8边角与容纳槽7碰撞导致内部出现磨损的问题，且容纳槽7的尺寸大于控制板8的尺寸，此处尺寸设计的好处在于，可提高该装置的自动调节范围。

进一步说明，上述固定连接，除非另有明确的规定和限定，否则应做广义理解，例如，可以是焊接，也可以是胶合，或者一体成型设置等本领域技术人员熟知的惯用手段。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

Claims (5)

1.一种小管脚间距半导体器件裸芯片老化测试插座，包括座体（1），其特征在于，所述座体（1）下端固定安装有多个固定块（2），且每个固定块（2）上均设有伸缩槽（3），每个所述伸缩槽（3）内均滑动连接有伸缩块（4），且每个伸缩块（4）与对应的伸缩槽（3）之间均安装有弹簧（5），每个所述伸缩块（4）下端均固定安装有放置板（6），所述座体（1）内设有容纳槽（7），且容纳槽（7）内放置有控制板（8），所述控制板（8）下端均匀设有多个凹槽（9），且每个凹槽（9）内均滚动安装有滚珠（10），所述控制板（8）与每个伸缩块（4）之间均安装有调节机构。

2.根据权利要求1所述的一种小管脚间距半导体器件裸芯片老化测试插座，其特征在于，所述调节机构包括连接块（11），所述连接块（11）固定安装在控制板（8）的侧壁上，且连接块（11）上固定连接有拉绳（16），所述容纳槽（7）的侧壁上设有安装槽（12），且安装槽（12）与伸缩槽（3）互通，所述拉绳（16）的另一端穿过安装槽（12）与伸缩块（4）固定连接，所述安装槽（12）内通过转杆（13）转动连接有与拉绳（16）相配合的收卷导向轮（14），且收卷导向轮（14）与安装槽（12）之间安装有扭力弹簧（15）。

3.根据权利要求1所述的一种小管脚间距半导体器件裸芯片老化测试插座，其特征在于，所述放置板（6）下端固定安装有橡胶垫（17），且橡胶垫（17）下端固定安装有多个凸块（18），每个所述凸块（18）表面均为粗糙设置。

4.根据权利要求1所述的一种小管脚间距半导体器件裸芯片老化测试插座，其特征在于，所述容纳槽（7）与控制板（8）均为圆柱体，且容纳槽（7）的尺寸大于控制板（8）的尺寸。

5.根据权利要求1所述的一种小管脚间距半导体器件裸芯片老化测试插座，其特征在于，所述伸缩块（4）上固定安装有两个定位块，所述伸缩槽（3）的侧壁上对称设有两个定位槽，且两个定位槽分别与两个定位块相配合。

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