CN213337902U - 一种芯片测试设备的驱动机构 - Google Patents
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Abstract
本实用新型属于降温机构技术领域，尤其是一种芯片测试设备的驱动机构，针对现有的芯片测试设备的驱动机构，在对芯片逐一检测的时候，会出现发热发烫的现象问题，现提出如下方案，其包括检测箱，所述检测箱内固定安装有隔板，隔板设有开设有通气孔，隔板的底部连通由回流管，所述检测箱的两侧内壁上固定安装有支杆，支杆的一端固定连接有检测器，所述隔板上固定安装有大功率电源，隔板上转动连接有第一转动杆，第一转动杆上固定连接有第一锥齿轮，第一转动杆的一端固定连接有圆盘，圆盘上固定安装有液压泵。本实用新型结构简单，在对芯片进行检测的同时可对驱动机构进行降温，方便人们使用。
Description
技术领域
本实用新型涉及降温机构技术领域，尤其涉及一种芯片测试设备的驱动机构。
背景技术
芯片测试的过程是将封装后的芯片置于各种环境下测试其电气特性，如消耗功率、运行速度、耐压度等。经测试后的芯片，依其电气特性划分为不同等级。经测试合格的产品贴上规格、型号及出厂日期等标识的标签并加以包装后即可出厂。
现有的芯片测试设备的驱动机构，在对芯片逐一检测的时候，会出现发热发烫的现象。
发明内容
本实用新型的目的是为了解决现有的芯片测试设备的驱动机构，在对芯片逐一检测的时候，会出现发热发烫的现象缺点，而提出的一种芯片测试设备的驱动机构。
为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：
一种芯片测试设备的驱动机构，包括检测箱，所述检测箱内固定安装有隔板，隔板设有开设有通气孔，隔板的底部连通由回流管，所述检测箱的两侧内壁上固定安装有支杆，支杆的一端固定连接有检测器，所述隔板上固定安装有大功率电源，隔板上转动连接有第一转动杆，第一转动杆上固定连接有第一锥齿轮，第一转动杆的一端固定连接有圆盘，圆盘上固定安装有液压泵，液压泵的顶部设有液压推杆，液压推杆的一端固定连接有检测卡座。
优选的，所述隔板的顶部固定安装有框架，框架位于第一转动杆外，框架的一侧转动连接有第二转动杆，第二转动杆的一端固定连接有第二锥齿轮，第二锥齿轮与第一锥齿轮相啮合，隔板上固定安装有第一电机，第一电机的输出轴与第二转动杆固定连接。
优选的，所述检测箱的底部内壁上固定安装有制冷框，回流管的一端与制冷框连通，制冷框内转动连接有第三转动杆，第三转动杆上固定连接有第三锥齿轮，第三转动杆上固定连接有扇叶。
优选的，所述制冷框的一侧转动连接有第四转动杆，第四转动杆的一端固定连接有第四锥齿轮，第四锥齿轮与第三锥齿轮相啮合，制冷框的一侧固定安装有托板，托板上固定安装有第二电机，第二电机的输出轴与第四转动杆固定连接。
优选的，所述检测箱的底部内壁上固定安装有制冷箱，制冷箱的一侧连通有冷气管，冷气管的一端与制冷框连通，冷气管上设有阀门，检测箱的顶部一端设有铰接座，铰接座上设有盖子。
与现有技术相比，本实用新型的优点在于：
（1）本方案由于设置了第一转动杆、第一锥齿轮、圆盘、液压泵、液压推杆、检测卡座、第二转动杆、第二锥齿轮和第一电机，第一电机的输出轴带动第二转动杆转动，第二转动杆通过第二锥齿轮带动第一锥齿轮转动，第一锥齿轮通过第一转动杆带动圆盘旋转，液压泵通过液压推杆带动检测卡座上下移动，实现了对芯片全方位检测和便于对芯片取放的目的。
（2）本方案由于设置了第三转动杆、第三锥齿轮、扇叶、第四转动杆、第四锥齿轮、第二电机、制冷框、制冷箱、冷气管和阀门，打开阀门将制冷箱内的冷气通过冷气管放入制冷框内，启动第二电机，第二电机的输出轴带动第四转动杆转动，第四转动杆带动第四锥齿轮带动第三锥齿轮转动，第三锥齿轮带动第三转动杆转动，第三转动杆带动扇叶旋转将制冷框内的冷气通过通气孔吹向驱动机构进行降温，实现了对驱动机构的降温的目的。
本实用新型结构简单，使用方便，在对芯片进行检测的同时可对驱动机构进行降温，方便人们使用。
附图说明
图1为本实用新型提出的一种芯片测试设备的驱动机构的结构示意图；
图2为本实用新型提出的一种芯片测试设备的驱动机构的圆盘的立体结构示意图；
图3为本实用新型提出的一种芯片测试设备的驱动机构的A部分结构示意图。
图中：1、检测箱；2、隔板；3、支杆；4、检测器；5、大功率电源；6、第一转动杆；7、第一锥齿轮；8、圆盘；9、液压泵；10、液压推杆；11、检测卡座；12、第二转动杆；13、第二锥齿轮；14、第一电机；15、制冷框；16、第三转动杆；17、第三锥齿轮；18、扇叶；19、第四转动杆；20、第四锥齿轮；21、第二电机；22、制冷箱；23、冷气管；24、阀门；25、铰接座。
具体实施方式
下面将结合本实施例中的附图，对本实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实施例一部分实施例，而不是全部的实施例。
实施例一
参照图1-3，一种芯片测试设备的驱动机构，包括检测箱1，检测箱1内固定安装有隔板2，隔板2设有开设有通气孔，隔板2的底部连通由回流管，检测箱1的两侧内壁上固定安装有支杆3，支杆3的一端固定连接有检测器4，隔板2上固定安装有大功率电源5，隔板2上转动连接有第一转动杆6，第一转动杆6上固定连接有第一锥齿轮7，第一转动杆6的一端固定连接有圆盘8，圆盘8上固定安装有液压泵9，液压泵9的顶部设有液压推杆10，液压推杆10的一端固定连接有检测卡座11。
本实施例中，隔板2的顶部固定安装有框架，框架位于第一转动杆6外，框架的一侧转动连接有第二转动杆12，第二转动杆12的一端固定连接有第二锥齿轮13，第二锥齿轮13与第一锥齿轮7相啮合，隔板2上固定安装有第一电机14，第一电机14的输出轴与第二转动杆12固定连接。
本实施例中，检测箱1的底部内壁上固定安装有制冷框15，回流管的一端与制冷框15连通，制冷框15内转动连接有第三转动杆16，第三转动杆16上固定连接有第三锥齿轮17，第三转动杆16上固定连接有扇叶18。
本实施例中，制冷框15的一侧转动连接有第四转动杆19，第四转动杆19的一端固定连接有第四锥齿轮20，第四锥齿轮20与第三锥齿轮17相啮合，制冷框15的一侧固定安装有托板，托板上固定安装有第二电机21，第二电机21的输出轴与第四转动杆19固定连接。
本实施例中，检测箱1的底部内壁上固定安装有制冷箱22，制冷箱22的一侧连通有冷气管23，冷气管23的一端与制冷框15连通，冷气管23上设有阀门24，检测箱1的顶部一端设有铰接座25，铰接座25上设有盖子。
实施例二
参照图1-3，一种芯片测试设备的驱动机构，包括检测箱1，检测箱1内焊接安装有隔板2，隔板2设有开设有通气孔，隔板2的底部连通由回流管，检测箱1的两侧内壁上焊接安装有支杆3，支杆3的一端焊接连接有检测器4，隔板2上焊接安装有大功率电源5，隔板2上转动连接有第一转动杆6，第一转动杆6上焊接连接有第一锥齿轮7，第一转动杆6的一端焊接连接有圆盘8，圆盘8上焊接安装有液压泵9，液压泵9的顶部设有液压推杆10，液压推杆10的一端焊接连接有检测卡座11。
本实施例中，隔板2的顶部焊接安装有框架，框架位于第一转动杆6外，框架的一侧转动连接有第二转动杆12，第二转动杆12的一端焊接连接有第二锥齿轮13，第二锥齿轮13与第一锥齿轮7相啮合，隔板2上焊接安装有第一电机14，第一电机14的输出轴与第二转动杆12焊接连接，第一电机14的输出轴可带动第二转动杆12转动。
本实施例中，检测箱1的底部内壁上焊接安装有制冷框15，回流管的一端与制冷框15连通，制冷框15内转动连接有第三转动杆16，第三转动杆16上焊接连接有第三锥齿轮17，第三转动杆16上焊接连接有扇叶18，第三转动杆16可带动扇叶18旋转。
本实施例中，制冷框15的一侧转动连接有第四转动杆19，第四转动杆19的一端焊接连接有第四锥齿轮20，第四锥齿轮20与第三锥齿轮17相啮合，制冷框15的一侧焊接安装有托板，托板上焊接安装有第二电机21，第二电机21的输出轴与第四转动杆19焊接连接，第二电机21的输出轴可带动第四转动杆19转动。
本实施例中，检测箱1的底部内壁上焊接安装有制冷箱22，制冷箱22的一侧连通有冷气管23，冷气管23的一端与制冷框15连通，冷气管23上设有阀门24，检测箱1的顶部一端设有铰接座25，铰接座25上设有盖子，打开阀门24将制冷箱22内的冷气通过冷气管23放入制冷框15内。
本实施例中，在使用此装置时，打开盖子，液压泵9通过液压推杆10带动检测卡座11向上移动，将芯片放入检测卡座11上，再通过液压泵9通过液压推杆10带动检测卡座11向下移动，同时两个检测器4通过大功率电源5带动进行工作，启动第一电机14，第一电机14的输出轴带动第二转动杆12转动，第二转动杆12通过第二锥齿轮13带动第一锥齿轮7转动，第一锥齿轮7通过第一转动杆6带动圆盘8旋转，再打开阀门24将制冷箱22内的冷气通过冷气管23放入制冷框15内，启动第二电机21，第二电机21的输出轴带动第四转动杆19转动，第四转动杆19带动第四锥齿轮20带动第三锥齿轮17转动，第三锥齿轮17带动第三转动杆16转动，第三转动杆16带动扇叶18旋转将制冷框15内的冷气通过通气孔吹向驱动机构进行降温。
以上所述，仅为本实施例较佳的具体实施方式，但本实施例的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实施例揭露的技术范围内，根据本实施例的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实施例的保护范围之内。
Claims (5)
1.一种芯片测试设备的驱动机构，包括检测箱（1），其特征在于，所述检测箱（1）内固定安装有隔板（2），隔板（2）设有开设有通气孔，隔板（2）的底部连通由回流管，所述检测箱（1）的两侧内壁上固定安装有支杆（3），支杆（3）的一端固定连接有检测器（4），所述隔板（2）上固定安装有大功率电源（5），隔板（2）上转动连接有第一转动杆（6），第一转动杆（6）上固定连接有第一锥齿轮（7），第一转动杆（6）的一端固定连接有圆盘（8），圆盘（8）上固定安装有液压泵（9），液压泵（9）的顶部设有液压推杆（10），液压推杆（10）的一端固定连接有检测卡座（11）。
2.根据权利要求1所述的一种芯片测试设备的驱动机构，其特征在于，所述隔板（2）的顶部固定安装有框架，框架位于第一转动杆（6）外，框架的一侧转动连接有第二转动杆（12），第二转动杆（12）的一端固定连接有第二锥齿轮（13），第二锥齿轮（13）与第一锥齿轮（7）相啮合，隔板（2）上固定安装有第一电机（14），第一电机（14）的输出轴与第二转动杆（12）固定连接。
3.根据权利要求1所述的一种芯片测试设备的驱动机构，其特征在于，所述检测箱（1）的底部内壁上固定安装有制冷框（15），回流管的一端与制冷框（15）连通，制冷框（15）内转动连接有第三转动杆（16），第三转动杆（16）上固定连接有第三锥齿轮（17），第三转动杆（16）上固定连接有扇叶（18）。
4.根据权利要求3所述的一种芯片测试设备的驱动机构，其特征在于，所述制冷框（15）的一侧转动连接有第四转动杆（19），第四转动杆（19）的一端固定连接有第四锥齿轮（20），第四锥齿轮（20）与第三锥齿轮（17）相啮合，制冷框（15）的一侧固定安装有托板，托板上固定安装有第二电机（21），第二电机（21）的输出轴与第四转动杆（19）固定连接。
5.根据权利要求1所述的一种芯片测试设备的驱动机构，其特征在于，所述检测箱（1）的底部内壁上固定安装有制冷箱（22），制冷箱（22）的一侧连通有冷气管（23），冷气管（23）的一端与制冷框（15）连通，冷气管（23）上设有阀门（24），检测箱（1）的顶部一端设有铰接座（25），铰接座（25）上设有盖子。
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Cited By (1)
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|---|---|---|---|---|
| CN115575801A (zh) * | 2022-12-07 | 2023-01-06 | 无锡昌鼎电子有限公司 | 一种基于温度变化的芯片检测装置 |
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2020
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