CN213275863U - 一种用于芯片检测的吸附台 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种用于芯片检测的吸附台,包括底座,所述底座的顶部设有对称设置的两个滑槽,所述滑槽内转动连接有螺杆,所述螺杆的一端贯穿滑槽的内壁并固定连接有旋钮,所述旋钮的一端滑动插设有卡杆,所述底座的外壁上环绕设有与卡杆对应的多个卡槽,所述螺杆上螺纹套接有滑块,所述滑槽内固定连接有滑杆,所述滑块上设有与滑杆对应的滑口,所述滑块的顶部固定连接有放置板,所述放置板上设有多个吸附口。本实用新型中通过调节机构的设置,使吸附机构可以进行自由调节,从而提出了芯片的检测效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及芯片检测技术领域,尤其涉及一种用于芯片检测的吸附台。
背景技术
目前,集成电路制造业飞速发展,芯片使用越来越广泛,所以对芯片性能的测试也越来越重要。
但是现有的芯片检测用吸附台组成结构较为简单,吸附台无法根据芯片的尺寸进行自由的调节,从而影响芯片的检测效率。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了解决现有技术中芯片检测用吸附台组成结构较为简单,吸附台无法根据芯片尺寸进行自由的调节的问题,而提出的一种用于芯片检测的吸附台。
为了实现上述目的,本实用新型采用了如下技术方案:
一种用于芯片检测的吸附台,包括底座,所述底座的顶部设有对称设置的两个滑槽,所述滑槽内转动连接有螺杆,所述螺杆的一端贯穿滑槽的内壁并固定连接有旋钮,所述旋钮的一端滑动插设有卡杆,所述底座的外壁上环绕设有与卡杆对应的多个卡槽,所述螺杆上螺纹套接有滑块,所述滑槽内固定连接有滑杆,所述滑块上设有与滑杆对应的滑口,所述滑块的顶部固定连接有放置板,所述放置板上设有多个吸附口。
优选地,所述底座的底部固定连接有多个锁紧块,所述锁紧块上设有锁紧口。
优选地,所述卡杆靠近底座的一端固定套接有卡套,所述卡杆远离卡套的一端固定连接有拉杆。
优选地,所述卡杆上套设有弹簧,所述弹簧的两端分别与卡套和旋钮固定连接。
优选地,所述滑口内滑动连接有多个钢珠,所述钢珠的边缘与滑杆相接触。
优选地,两个所述滑块相对的一侧均固定连接有安装板,所述安装板的顶部设有安装槽。
有益效果:
1.通过转动旋钮带动螺杆转动,通过滑块带动放置板移动,调节两个放置板之间的距离,然后利用卡杆固定住旋钮,然后通过吸附孔将芯片固定在放置板上,本实用新型中通过调节机构的设置,使吸附机构可以进行自由调节,从而提出了芯片的检测效率;
2.同时弹簧可以对卡杆起到一定的弹性支撑作用,锁紧块可以方便对底座进行固定,钢珠可以减小滑块和滑杆之间的摩擦力,同时放置板可以方便放置吸附机构。
附图说明
图1为本实用新型提出的一种用于芯片检测的吸附台的结构示意图;
图2为图1的A处结构示意图。
图中:1底座、2螺杆、3旋钮、4卡杆、5滑块、6滑杆、7放置板、8锁紧块、9卡套、10拉杆、11弹簧、12钢珠、13安装板。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。
参照图1-2,一种用于芯片检测的吸附台,包括底座1,底座1的底部固定连接有多个锁紧块8,锁紧块8上设有锁紧口,方便固定底座1,底座1的顶部设有对称设置的两个滑槽,滑槽内转动连接有螺杆2,用于带动滑块5移动,螺杆2的一端贯穿滑槽的内壁并固定连接有旋钮3,用于转动螺杆2;
本实施例中,旋钮3的一端滑动插设有卡杆4,用于固定旋钮3,底座1的外壁上环绕设有与卡杆4对应的多个卡槽,卡杆4靠近底座1的一端固定套接有卡套9,卡杆4远离卡套9的一端固定连接有拉杆10,卡杆4上套设有弹簧11,对卡杆4起到一定的弹性支撑,弹簧11的两端分别与卡套9和旋钮3固定连接;
本实施例中,螺杆2上螺纹套接有滑块5,两个滑块5相对的一侧均固定连接有安装板13,用于放置吸附机构,安装板13的顶部设有安装槽,滑槽内固定连接有滑杆6;
本实施例中,滑块5上设有与滑杆6对应的滑口,滑口内滑动连接有多个钢珠12,减小滑块5与滑杆6之间的摩擦力,钢珠12的边缘与滑杆6相接触,滑块5的顶部固定连接有放置板7,放置板7上设有多个吸附口。
本实施例中,通过转动旋钮3带动螺杆2转动,通过滑块5带动放置板7移动,调节两个放置板7之间的距离,然后利用卡杆4固定住旋钮3,然后通过吸附孔将芯片固定在放置板7上;
本实施例中,弹簧11可以对卡杆4起到一定的弹性支撑作用,锁紧块8可以方便对底座1进行固定,钢珠12可以减小滑块5和滑杆6之间的摩擦力,同时放置板7可以方便放置吸附机构。
以上所述,仅为本实用新型较佳的具体实施方式,但本实用新型的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内,根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种用于芯片检测的吸附台,包括底座(1),其特征在于:所述底座(1)的顶部设有对称设置的两个滑槽,所述滑槽内转动连接有螺杆(2),所述螺杆(2)的一端贯穿滑槽的内壁并固定连接有旋钮(3),所述旋钮(3)的一端滑动插设有卡杆(4),所述底座(1)的外壁上环绕设有与卡杆(4)对应的多个卡槽,所述螺杆(2)上螺纹套接有滑块(5),所述滑槽内固定连接有滑杆(6),所述滑块(5)上设有与滑杆(6)对应的滑口,所述滑块(5)的顶部固定连接有放置板(7),所述放置板(7)上设有多个吸附口。
2.根据权利要求1所述的一种用于芯片检测的吸附台,其特征在于:所述底座(1)的底部固定连接有多个锁紧块(8),所述锁紧块(8)上设有锁紧口。
3.根据权利要求1所述的一种用于芯片检测的吸附台,其特征在于:所述卡杆(4)靠近底座(1)的一端固定套接有卡套(9),所述卡杆(4)远离卡套(9)的一端固定连接有拉杆(10)。
4.根据权利要求1或3所述的一种用于芯片检测的吸附台,其特征在于:所述卡杆(4)上套设有弹簧(11),所述弹簧(11)的两端分别与卡套(9)和旋钮(3)固定连接。
5.根据权利要求1所述的一种用于芯片检测的吸附台,其特征在于:所述滑口内滑动连接有多个钢珠(12),所述钢珠(12)的边缘与滑杆(6)相接触。
6.根据权利要求1所述的一种用于芯片检测的吸附台,其特征在于:两个所述滑块(5)相对的一侧均固定连接有安装板(13),所述安装板(13)的顶部设有安装槽。
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- 2020-09-01 CN CN202021868138.0U patent/CN213275863U/zh active Active
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