CN213213920U - 一种用于aoi自动光学检测设备的除静电装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种用于AOI自动光学检测设备的除静电装置,包括固定基座、滑动基座、安装架、连接架及离子风机,所述固定基座上设有滑动槽,所述固定基座两侧设有卡块,所述卡块设有L型卡槽,所述滑动槽和L型卡槽配合行成用于供所述滑动基座前后移动的滑动空间,所述滑动基座上设有锁槽,所述锁槽上设有用于将滑动基座锁紧在所述固定基座上的滑动锁件,所述滑动基座的一端连接有所述安装架,所述安装架两侧设有所述连接架,所述离子风机的两侧设有连接臂,所述连接臂铰接在所述连接架上。本实用新型提供一种用于AOI自动光学检测设备的除静电装置,对检测前的液晶屏去除表面静电,去除静电对检测结果的影响,同时防止静电在液晶屏表面放电,损坏电路。
Description
技术领域
本实用新型涉及AOI检测设备的配套装置领域,具体涉及一种用于AOI自动光学检测设备的除静电装置。
背景技术
AOI的全称是自动光学检测,其基于光学原理对TFT-CELL及Module裸露电极区域线路异常(因制程和不当操作导致的划伤而引起的线路open或short等缺陷)。
AOI检测过程需要去除液晶屏表面的静电膜,暴露在空气中的液晶屏会产生静电,静电放电会引起突发性失效和潜在性失效,两种失效带来带来的危害大,会导致电路的抗电过应力能力减弱,使用寿命大大缩短。
现提出一种用于AOI的除静电装置,对去除AOI检测前液晶屏的表面静电。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种用于AOI自动光学检测设备的除静电装置,对检测前的液晶屏去除表面静电,去除静电对检测结果的影响,同时防止静电在液晶屏表面放电,损坏电路。
为实现上述目的,本实用新型采用以下技术方案:
一种用于AOI自动光学检测设备的除静电装置,包括固定基座、滑动基座、安装架、连接架及离子风机,所述固定基座上设有滑动槽,所述固定基座两侧设有卡块,所述卡块设有L型卡槽,所述滑动槽和L型卡槽配合行成用于供所述滑动基座前后移动的滑动空间,所述滑动基座上设有锁槽,所述锁槽上设有用于将滑动基座锁紧在所述固定基座上的滑动锁件,所述滑动基座的一端连接有所述安装架,所述安装架两侧设有所述连接架,所述离子风机的两侧设有连接臂,所述连接臂铰接在所述连接架上。
优选地,所述连接架上设有旋转口,所述连接臂上设有用于转动连接在所述旋转口上的旋转柱,所述旋转柱的顶端设有卡板。
优选地,所述离子风机上设有多个出风口。
优选地,所述连接臂上设有安装口,所述安装口上设有连接所述离子风机的进风管。
优选地,所述滑动锁件包括连接柱、锁块及按压件,所述连接柱穿过所述锁槽,且底端固定连接在所述固定基座上,所述锁块活动套设在所述连接柱上且位于所述锁槽上方,所述按压件用于固定所述锁块位置。
采用上述技术方案后,本实用新型与背景技术相比,具有如下优点:
1、本实用新型一种用于AOI自动光学检测设备的除静电装置,可直接设置在AOI的上料装置上,对检测前的液晶屏去除表面静电,去除静电对检测结果的影响,同时防止静电在液晶屏表面放电,损坏电路,降低静电危害对产品使用寿命的影响。
2、本实用新型一种用于AOI自动光学检测设备的除静电装置,离子风机可根据实际使用需求通过滑动基座调节距离,通过连接臂调整角度,使用范围广。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图;
图2为本实用新型另一视角结构示意图。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。
在本实用新型中需要说明的是,术语“上”“下”“左”“右”“竖直”“水平”“内”“外”等均为基于附图所示的方位或位置关系,仅仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示本实用新型的装置或元件必须具有特定的方位,因此不能理解为对本实用新型的限制。
实施例
配合图1、图2所示,本实用新型公开了一种用于AOI自动光学检测设备的除静电装置,包括固定基座1、滑动基座2、安装架3、连接架4及离子风机5,固定基座上1设有滑动槽11,固定基座1两侧设有卡块6,卡块6设有L型卡槽61,滑动槽11和L型卡槽61配合行成用于供滑动基座2前后移动的滑动空间,滑动基座2上设有锁槽21,锁槽21上设有用于将滑动基座锁紧在固定基座上的滑动锁件7,滑动基座2的一端连接有安装架3,安装架3两侧设有连接架4,离子风机5的两侧设有连接臂8,连接臂8铰接在连接架4上。
连接架4上设有旋转口41,连接臂8上设有用于转动连接在旋转口41上的旋转柱81,旋转柱81的顶端设有卡板82。
离子风机5上设有多个出风口51。连接臂8上设有安装口82,安装口82上设有连接离子风机5的进风管52。
滑动锁件7包括连接柱71、锁块72及按压件73,连接柱71穿过锁槽21,且底端固定连接在固定基座1上,锁块72活动套设在连接柱71上且位于锁槽上21方,按压件73用于固定锁块72位置,当滑动基座2滑动到指定位置时。按下按压件73,按压件73将锁块72固定在锁槽21上侧从而固定滑动基座2的位置不动。
以上所述,仅为本实用新型较佳的具体实施方式,但本实用新型的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内,可轻易想到的变化或替换,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此,本实用新型的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。
Claims (5)
1.一种用于AOI自动光学检测设备的除静电装置,包括固定基座、滑动基座、安装架、连接架及离子风机,其特征在于:所述固定基座上设有滑动槽,所述固定基座两侧设有卡块,所述卡块设有L型卡槽,所述滑动槽和L型卡槽配合行成用于供所述滑动基座前后移动的滑动空间,所述滑动基座上设有锁槽,所述锁槽上设有用于将滑动基座锁紧在所述固定基座上的滑动锁件,所述滑动基座的一端连接有所述安装架,所述安装架两侧设有所述连接架,所述离子风机的两侧设有连接臂,所述连接臂铰接在所述连接架上。
2.如权利要求1所述的一种用于AOI自动光学检测设备的除静电装置,其特征在于:所述连接架上设有旋转口,所述连接臂上设有用于转动连接在所述旋转口上的旋转柱,所述旋转柱的顶端设有卡板。
3.如权利要求1所述的一种用于AOI自动光学检测设备的除静电装置,其特征在于:所述离子风机上设有多个出风口。
4.如权利要求1所述的一种用于AOI自动光学检测设备的除静电装置,其特征在于:所述连接臂上设有安装口,所述安装口上设有连接所述离子风机的进风管。
5.如权利要求1所述的一种用于AOI自动光学检测设备的除静电装置,其特征在于:所述滑动锁件包括连接柱、锁块及按压件,所述连接柱穿过所述锁槽,且底端固定连接在所述固定基座上,所述锁块活动套设在所述连接柱上且位于所述锁槽上方,所述按压件用于固定所述锁块位置。
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