CN213209886U - 光学检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种光学检测装置，包括测试平台、划痕检测组件、logo检测组件以及银环检测组件，测试平台上转动连接有转动盘，且转动盘上设置有进出料工位、划痕检测工位、logo检测工位以及银环检测工位，进出料工位上设置有夹持待测物的治具，划痕检测组件装设于测试平台并位于划痕检测工位的正上方，logo检测组件装设于测试平台并位于logo检测工位的正上方，银环检测组件装设于测试平台并位于银环检测工位的正上方。即通过将待测物夹持在治具上，并通过转动盘带动待测物依次转动至划痕检测工位、logo检测工位以及银环检测工位，以依次对待测物的划痕、logo或银环等缺陷进行检测，从而提高检测精度以及检测效率。

Description

光学检测装置

技术领域

本实用新型涉及光学检测领域，特别涉及一种光学检测装置。

背景技术

随着光电子、通信、计算机、机械、材料等行业的飞速发展，电子产品迅速发展起来，但对于产品的检测，例如：检测电子部件的直线度、平面度、线轮廓度、表面微缺陷等，一般采用全自动光学检测设备(简称AOI)进行检测，具体在计算机程序驱动下，透过摄像镜头对检测物进行自动扫描且采集图像，并将图像与数据库中的合格参数进行比较分析，经过图样处理后，检测出检测物上的缺陷，并通过显示器或者自动标志把缺陷显示或者标示出来，区别出良品与NG产品，以供维修人员修整。

然而，现有的全自动光学检测设备的功能单一，即只能针对单一、简单的产品进行检测处理，其检测精度差，且检测效率低。

实用新型内容

本实用新型的主要目的是提供一种光学检测装置，旨在提高检测精度以及检测效率。

为实现上述目的，本实用新型提出了一种光学检测装置，所述光学检测装置包括：

测试平台，所述测试平台上转动连接有转动盘，且所述转动盘上设置有进出料工位、划痕检测工位、logo检测工位以及银环检测工位，其中，所述进出料工位上设置有治具，所述治具用于夹持待测物；

划痕检测组件，所述划痕检测组件装设于所述测试平台，并位于所述划痕检测工位的正上方；

logo检测组件，所述logo检测组件装设于所述测试平台，并位于所述logo检测工位的正上方；

银环检测组件，所述银环检测组件装设于所述测试平台，并位于所述银环检测工位的正上方。

在一可选实施例中，所述划痕检测组件包括：

第一固定件，所述第一固定件装设于所述测试平台；

第一XY轴移动机构，所述第一XY轴移动机构连接于所述第一固定件上；

第一采集件，所述第一采集件装设于所述第一XY轴移动机构上，以使所述第一采集件沿X轴方向或Y轴方向移动；

第一光源件，所述第一光源件设于所述第一采集件与所述转动盘之间。

在一可选实施例中，所述划痕检测组件还包括：

Z轴移动机构，所述Z轴移动机构装设于所述第一固定件，且所述第一光源件装设于所述Z轴移动机构上，以使所述第一光源件沿Z轴方向移动。

在一可选实施例中，所述Z轴移动机构包括：

传动件，所述传动件装设于所述第一固定件；

滑动件，所述滑动件与所述传动件的输出端连接，且所述第一光源件连接于所述滑动件上。

在一可选实施例中，所述第一光源件为无影光源。

在一可选实施例中，所述logo检测组件包括：

第二固定件，所述第二固定件装设于所述测试平台；

第二XY轴移动机构，所述第二XY轴移动机构连接于所述第二固定件上；

第二采集件，所述第二采集件装设于所述第二XY轴移动机构上，以使所述第二采集件沿X轴方向或Y轴方向移动；

第二光源件，所述第二光源件装设于所述第二固定件，且位于所述第二采集件与所述转动盘之间。

在一可选实施例中，所述第二光源件为环形光源。

在一可选实施例中，所述银环检测组件包括：

第三固定件，所述第三固定件装设于所述测试平台；

第三XY轴移动机构，所述第三XY轴移动机构连接于所述第三固定件上；

第三采集件，所述第三采集件装设于所述第三XY轴移动机构上，以使所述第三采集件沿X轴方向或Y轴方向移动；

第三光源件，所述第三光源件装设于所述第三固定件，且位于所述第三采集件与所述转动盘之间。

在一可选实施例中，所述第三光源件与所述第三采集件同轴设置。

在一可选实施例中，所述光学检测装置还包括：

转动组件，所述转动组件位于所述测试平台背离所述转动盘的一侧，且所述转动组件的转动轴穿过所述测试平台并与所述转动盘转动连接；

背光组件，所述背光组件装设于所述转动盘面向所述测试平台的一侧，并位于所述治具的位置对应。

本实用新型提供了一种光学检测装置，包括测试平台、划痕检测组件、logo检测组件以及银环检测组件，所述测试平台上转动连接有转动盘，且所述转动盘上设置有进出料工位、划痕检测工位、logo检测工位以及银环检测工位，其中，所述进出料工位上设置有治具，所述治具用于夹持待测物，所述划痕检测组件装设于所述测试平台，并位于所述划痕检测工位的正上方，所述logo检测组件装设于所述测试平台，并位于所述logo检测工位的正上方，所述银环检测组件装设于所述测试平台，并位于所述银环检测工位的正上方。即本实施例的光学检测装置可将所述待测物夹持在所述治具上，并通过所述转动盘带动所述待测物依次转动至划痕检测工位、logo检测工位以及银环检测工位，以依次对所述待测物的划痕、logo或银环等缺陷进行检测，从而提高检测精度以及检测效率。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或示例性中的技术方案，下面将对实施例或示例性描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的获得其他的附图。

图1为本实用新型实施例光学检测装置的结构示意图；

图2为本实用新型实施例转动盘的结构示意图；

图3为本实用新型实施例划痕检测组件的结构示意图；

图4为本实用新型实施例第一光源件以及Z轴移动机构的安装示意图；

图5为本实用新型实施例logo检测组件的结构示意图；

图6为本实用新型实施例银环检测组件的结构示意图；

图7为本实用新型实施例光学检测装置的侧面示意图。

本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

需要说明，本实用新型实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本实用新型要求的保护范围之内。

如图1～7所示，本实用新型提供了一种光学检测装置。

在一实施例中，如图1和2所示，所述光学检测装置包括测试平台10、划痕检测组件20、logo检测组件30以及银环检测组件40，所述测试平台10上转动连接有转动盘50，且所述转动盘50上设置有进出料工位A、划痕检测工位B、logo检测工位C以及银环检测工位D，其中，所述进出料工位A上设置有治具60，所述治具60用于夹持待测物，所述划痕检测组件20装设于所述测试平台10，并位于所述划痕检测工位B的正上方，所述logo检测组件30装设于所述测试平台10，并位于所述logo检测工位C的正上方，所述银环检测组件40装设于所述测试平台10，并位于所述银环检测工位D的正上方。即本实施例的光学检测装置可将所述待测物夹持在所述治具60上，并通过所述转动盘50带动所述待测物依次转动至划痕检测工位B、logo检测工位C以及银环检测工位D，以依次对所述待测物的划痕、logo或银环等缺陷进行检测，从而提高检测精度以及检测效率。

可选地，本实施例中可通过机械手等传动机构将所述待测物放置至所述治具60上，以通过所述治具60夹持所述待测物，在此并不进行限定。

进一步地，本实施例中所述光学检测装置还包括图像处理系统(图未示)，所述图像处理系统由图像处理计算机、图像专用数据线和图像处理软件组成，用于对划痕检测组件20、logo检测组件30以及银环检测组件40检测到的数据进行综合处理，并与数据库中合格参数进行对比分析，从而迅速判断出产品的缺陷。

在一实施例中，所述待测物上料完成并通过所述治具60夹持好后，通过所述转动盘50将所述待测物转动至所述划痕检测工位B，以通过所述划痕检测组件20进行检测，其中，所述划痕检测组件20用于但不限于检测所述待测物外壳的划痕、脏污、微小异物等。

具体地，如图3所示，所述划痕检测组件20包括第一固定件21、第一XY轴移动机构22、第一采集件23以及第一光源件24，所述第一固定件21装设于所述测试平台10，所述第一XY轴移动机构22连接于所述第一固定件21上，所述第一采集件23装设于所述第一XY轴移动机构22上，以使所述第一采集件23沿X轴方向或Y轴方向移动，所述第一光源件24设于所述第一采集件23与所述转动盘50之间。

具体的，所述第一固定件21为龙门固定支架，所述第一XY轴移动机构22包括第一X轴移动机构221以及第一Y轴移动机构222，所述龙门固定支架固定在所述测试平台10上，所述第一Y轴移动机构222固定在所述龙门固定支架背离所述测试平台10的一侧，所述第一X轴移动机构221活动连接于所述第一Y轴移动机构222上，所述第一采集件23活动连接于所述第一X轴移动机构221上，即所述第一采集件23可在所述第一X轴移动机构221沿着X轴方向移动；由于所述第一X轴移动机构221活动连接在所述第一Y轴移动机构222上，即所述第一X轴移动机构221可在所述第一Y轴移动机构222的作用下沿着Y轴方向移动，此时，所述第一采集件23随着所述第一X轴移动机构221沿着Y轴方向移动，即实现了所述第一采集件23可沿着X轴方向或Y轴方向移动。

可选地，所述第一采集件23为黑白相机。为了提高拍摄精度，上述黑白相机采用高精度的镜头，且镜头的拍摄方向指向所述待测物。

进一步地，所述划痕检测组件还包括Z轴移动机构25，所述Z轴移动机构25装设于所述第一固定件21，且所述第一光源件24装设于所述Z轴移动机构25上，以使所述第一光源件24沿Z轴方向移动。

具体地，本实施例中通过设置所述Z轴移动机构25带动所述第一光源件24沿Z轴方向运动，以使所述第一光源件24的高度可调。比如，在所述光学检测装置待机时，所述第一光源件24处于设定高度，此时，在将所述待测物夹持在所述治具60后，所述转动盘50转动，以带动所述待测物运动至所述划痕检测工位B，此时，所述Z轴移动机构25带动所述第一光源件24下降至接近所述待测物的表面(0mm～5mm)处，以对所述待测物进行补光，便于所述第一采集件23采集所述待测物的数据，且能够提高采集数据的准确度。

具体地，如图4所示，所述Z轴移动机构25包括传动件251以及滑动件252，所述传动件251装设于所述第一固定件21，所述滑动件252与所述传动件251的输出端连接，且所述第一光源件24连接于所述滑动件252上。

可选地，所述传动件251为传动马达，所述滑动件252为丝杆滑动件。即所述第一光源件24固定在上述丝杆滑动件上，此时，上述传动马达的输出端通过轴联器与上述丝杆滑动件连接，以驱动所述第一光源件24沿着丝杆滑动件内的导轨移动。

可选地，所述第一光源件24为无影光源。当然，在其他实施例中，所述第一光源件24还可以为其他光源，在此并不进行限定。

在一实施例中，在所述待测物通过所述划痕检测组件20检测完成后，通过所述转动盘50将所述待测物转动至所述logo检测工位C，以通过所述logo检测组件30进行检测，其中，所述logo检测组件30用于但不限于检测所述待测物外壳logo的缺失或logo图文的断裂等。

具体地，如图5所示，所述logo检测组件30包括第二固定件31、第二XY轴移动机构32、第二采集件33以及第二光源件34，所述第二固定件31装设于所述测试平台10，所述第二XY轴移动机构32连接于所述第二固定件31上，所述第二采集件33装设于所述第二XY轴移动机构32上，以使所述第二采集件33沿X轴方向或Y轴方向移动，所述第二光源件34装设于所述第二固定件31，且位于所述第二采集件33与所述转动盘50之间。

具体的，所述第二固定件31为龙门固定支架，所述第二XY轴移动机构32包括第二X轴移动机构321以及第二Y轴移动机构322，所述龙门固定支架固定在所述测试平台10上，所述第二Y轴移动机构322固定在所述龙门固定支架背离所述测试平台10的一侧，所述第二X轴移动机构321活动连接于所述第二Y轴移动机构322上，所述第二采集件33活动连接于所述第二X轴移动机构321上，即所述第二采集件33可在所述第二X轴移动机构321沿着X轴方向移动；由于所述第二X轴移动机构321活动连接在所述第二Y轴移动机构322上，即所述第二X轴移动机构321可在所述第二Y轴移动机构322的作用下沿着Y轴方向移动，此时，所述第二采集件33随着所述第二X轴移动机构321沿着Y轴方向移动，即实现了所述第二采集件33可沿着X轴方向或Y轴方向移动。

可选地，所述第二采集件33为彩色相机。上述彩色相机的拍摄方向指向所述待测物，且可对所述待测物上的logo划伤、异物以及彩色logo的色差进行检测判断。

可选地，所述第二光源件34为环形光源。当然，在本实施例中，上述环形光源的位置可根据所述待测物的位置进行调整，且环形光源的尺寸可设置为大于所述待测物的尺寸，以覆盖所述待测物。

当然，在其他实施例中，所述第二光源件34还可以为其他光源，在此并不进行限定。

在一实施例中，在所述待测物通过所述logo检测组件30检测完成后，通过所述转动盘50将所述待测物转动至所述银环检测工位D，以通过所述银环检测组件40进行检测，其中，所述银环检测组件40用于但不限于所述待测物按键处银环的漏镀以及透明度情况。

具体地，如图6所示，所述银环检测组件40包括第三固定件41、第三XY轴移动机构42、第三采集件43以及第三光源件44，所述第三固定件41装设于所述测试平台10，所述第三XY轴移动机构42连接于所述第三固定件41上，所述第三采集件43装设于所述第三XY轴移动机构42上，以使所述第三采集件43沿X轴方向或Y轴方向移动，所述第三光源件44装设于所述第三固定件41，且位于所述第三采集件43与所述转动盘50之间。

具体的，所述第三固定件41为龙门固定支架，所述第三XY轴移动机构42包括第三X轴移动机构421以及第三Y轴移动机构422，所述龙门固定支架固定在所述测试平台10上，所述第三Y轴移动机构422固定在所述龙门固定支架背离所述测试平台10的一侧，所述第三X轴移动机构421活动连接于所述第三Y轴移动机构422上，所述第三采集件43活动连接于所述第三X轴移动机构421上，即所述第三采集件43可在所述第三X轴移动机构421沿着X轴方向移动；由于所述第三X轴移动机构421活动连接在所述第三Y轴移动机构422上，即所述第三X轴移动机构421可在所述第三Y轴移动机构422的作用下沿着Y轴方向移动，此时，所述第三采集件43随着所述第三X轴移动机构421沿着Y轴方向移动，即实现了所述第三采集件43可沿着X轴方向或Y轴方向移动。

可选地，所述第三采集件43为黑白相机。为了提高拍摄精度，上述黑白相机采用高精度的镜头，且镜头的拍摄方向指向所述待测物。

可选地，所述第三光源件44为同轴光源，即所述第三光源件44与所述第三采集件43同轴设置。当然，在其他实施例中，所述第三光源件44还可以为其他光源，在此并不进行限定。

本实施例中的所述划痕检测组件20、所述logo检测组件30以及所述银环检测组件40相互独立、协同工作，结构紧凑，易于安装维修，成本低效率高；并通过图像处理系统配合使用，以便于所述待测物在不同光源下各项缺陷的呈现的不同图像，从而迅速并有效检测出产品的缺陷，精确可靠且综合能力强。

在一实施例中，如图7所示，所述光学检测装置还包括转动组件70，所述转动组件70位于所述测试平台10背离所述转动盘50的一侧，且所述转动组件70的转动轴穿过所述测试平台10并与所述转动盘50转动连接，以带动所述转动盘50沿着顺时针或逆时针的方向转动。

可选地，所述转动组件70为齿轮分割器。且上述齿轮分割器安装在所述测试平台10的底部，并通过连接器与所述转动盘50连接，以驱动所述转动盘50实现间歇性地往复转动。

可选地，参照图2所示，所述治具60包括限位气缸61、拖座62以及位置传感器(图未示)，其中，所述限位气缸61用于夹持并固定所述待测物，避免所述待测物的转动传送的过程出现滑动现象，所述托座用于承托所述待测物，所述位置传感器用于检测所述待测物的位置，待所述待测物到位后，所述限位气缸61运动，并对所述待测物进行夹持。

进一步地，所述光学检测装置还包括背光组件(图为示)，所述背光组件装设于所述转动盘50面向所述测试平台10的一侧，并位于所述治具60的位置对应，用于对所述待测物背面的贴装辅料进行位置等进行检测。

在本实用新型的实施例中，所述光学检测装置包括测试平台10、划痕检测组件20、logo检测组件30以及银环检测组件40，所述测试平台10上转动连接有转动盘50，且所述转动盘50上设置有进出料工位A、划痕检测工位B、logo检测工位C以及银环检测工位D，其中，所述进出料工位A上设置有治具60，所述治具60用于夹持待测物，所述划痕检测组件20装设于所述测试平台10，并位于所述划痕检测工位B的正上方，所述logo检测组件30装设于所述测试平台10，并位于所述logo检测工位C的正上方，所述银环检测组件40装设于所述测试平台10，并位于所述银环检测工位D的正上方。即本实施例的光学检测装置可将所述待测物夹持在所述治具60上，并通过所述转动盘50带动所述待测物依次转动至划痕检测工位B、logo检测工位C以及银环检测工位D，以依次对所述待测物的划痕、logo或银环等缺陷进行检测，从而提高检测精度以及检测效率。

以上所述仅为本实用新型的可选实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是在本实用新型的构思下，利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种光学检测装置，其特征在于，所述光学检测装置包括：

测试平台，所述测试平台上转动连接有转动盘，且所述转动盘上设置有进出料工位、划痕检测工位、logo检测工位以及银环检测工位，其中，所述进出料工位上设置有治具，所述治具用于夹持待测物；

划痕检测组件，所述划痕检测组件装设于所述测试平台，并位于所述划痕检测工位的正上方；

logo检测组件，所述logo检测组件装设于所述测试平台，并位于所述logo检测工位的正上方；

银环检测组件，所述银环检测组件装设于所述测试平台，并位于所述银环检测工位的正上方。

2.如权利要求1所述的光学检测装置，其特征在于，所述划痕检测组件包括：

第一固定件，所述第一固定件装设于所述测试平台；

第一XY轴移动机构，所述第一XY轴移动机构连接于所述第一固定件上；

第一采集件，所述第一采集件装设于所述第一XY轴移动机构上，以使所述第一采集件沿X轴方向或Y轴方向移动；

第一光源件，所述第一光源件设于所述第一采集件与所述转动盘之间。

3.如权利要求2所述的光学检测装置，其特征在于，所述划痕检测组件还包括：

Z轴移动机构，所述Z轴移动机构装设于所述第一固定件，且所述第一光源件装设于所述Z轴移动机构上，以使所述第一光源件沿Z轴方向移动。

4.如权利要求3所述的光学检测装置，其特征在于，所述Z轴移动机构包括：

传动件，所述传动件装设于所述第一固定件；

滑动件，所述滑动件与所述传动件的输出端连接，且所述第一光源件连接于所述滑动件上。

5.如权利要求2～4任一项所述的光学检测装置，其特征在于，所述第一光源件为无影光源。

6.如权利要求1所述的光学检测装置，其特征在于，所述logo检测组件包括：

第二固定件，所述第二固定件装设于所述测试平台；

第二XY轴移动机构，所述第二XY轴移动机构连接于所述第二固定件上；

第二采集件，所述第二采集件装设于所述第二XY轴移动机构上，以使所述第二采集件沿X轴方向或Y轴方向移动；

第二光源件，所述第二光源件装设于所述第二固定件，且位于所述第二采集件与所述转动盘之间。

7.如权利要求6所述的光学检测装置，其特征在于，所述第二光源件为环形光源。

8.如权利要求1所述的光学检测装置，其特征在于，所述银环检测组件包括：

第三固定件，所述第三固定件装设于所述测试平台；

第三XY轴移动机构，所述第三XY轴移动机构连接于所述第三固定件上；

第三采集件，所述第三采集件装设于所述第三XY轴移动机构上，以使所述第三采集件沿X轴方向或Y轴方向移动；

第三光源件，所述第三光源件装设于所述第三固定件，且位于所述第三采集件与所述转动盘之间。

9.如权利要求8所述的光学检测装置，其特征在于，所述第三光源件与所述第三采集件同轴设置。

10.如权利要求1所述的光学检测装置，其特征在于，所述光学检测装置还包括：

转动组件，所述转动组件位于所述测试平台背离所述转动盘的一侧，且所述转动组件的转动轴穿过所述测试平台并与所述转动盘转动连接；

背光组件，所述背光组件装设于所述转动盘面向所述测试平台的一侧，并位于所述治具的位置对应。

Images