CN212989577U - Pcba功能测试智能装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供一种PCBA功能测试智能装置,包括主测试板路、测试电路、负载连线和负载,所述的负载上设置负载主电路接口用于输出负载的主电路工作状态,所述的测试电路、负载均与主测试板路电性连接,所述的负载具体是通过负载连线与主测试板路电性连接,还包括用于根据测试结果信号和负载主电路信号输出优化芯片选型信号的智能运算电路、存储有多类型芯片参数数据的存储器、用于收集测试结果信号的测试收集电路、用于收集负载主电路信号的负载信号收集电路,存储器、测试收集电路、负载信号收集电路均与智能运算电路电性连接,所述的测试电路还与测试收集电路电性连接,所述的负载信号收集电路还与负载主电路接口电性连接。
Description
技术领域
本实用新型涉及PCBA功能测试智能装置。
背景技术
现有技术中,公开了一种用于测试PCBA的功能测试装置,其包括稳压电源、PC、编程器、通讯模块、方波生成模块、高精度万用表、显示器、传输板、气缸传感器、开始按键、取消按键和停止按键;传输板设有相连接的继电器控制板和模拟负载,继电器控制板根据事先设定的流程对继电器进行切换,为PCBA提供模拟负载,模拟负载用于模拟实际测试环境;编程器对PCBA的固件程序自动烧录,通讯模块用于提供控制通道,方波生成模块用于生成方波,高精度万用表用于测量PCBA的电压、电流和电阻,气缸传感器用于检测PCBA是否到位。该技术的核心是能实现自动化调试测试工作、提高测试效率,并且该技术中涉及到通过负载对PCBA模拟的测试和调试,但是随着PCBA的功能测试需求多样化发展,仅仅现有的技术不能满足新需求,比如说PCBA的功能芯片产品更换换代比较快,相应的PCBA组装及其本身也更新比较快,实际上电路工程师不能完全掌握所有的最新的芯片功能知识,如果在PCBA功能测试阶段通过计算系统可以给PCBA的功能改进提供芯片选型等方向性的建议将会大大提高工程师的工作效率。
发明内容
为了克服现有的技术存在的不足,本实用新型提供一种PCBA功能测试智能装置。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:本实用新型包括主测试板路、测试电路、负载连线和负载,所述的负载上设置负载主电路接口用于输出负载的主电路工作状态,所述的测试电路、负载均与主测试板路电性连接,所述的负载具体是通过负载连线与主测试板路电性连接,还包括用于根据测试结果信号和负载主电路信号输出优化芯片选型信号的智能运算电路、存储有多类型芯片参数数据的存储器、用于收集测试结果信号的测试收集电路、用于收集负载主电路信号的负载信号收集电路,存储器、测试收集电路、负载信号收集电路均与智能运算电路电性连接,所述的测试电路还与测试收集电路电性连接,所述的负载信号收集电路还与负载主电路接口电性连接。
所述的智能运算电路选用fpga芯片控制电路。
所述的测试电路还通过测试结果接收电路与显示电路电性连接。
所述的主测试板路采用时序管理的单片机以及与被测试pcba板对应的发出测试信号的测试功能电路。
所述的测试电路具体是连接被测pcba板的电路端口。
所述的测试结果接收电路与显示电路分别采用显示器驱动电路和显示器。
本实用新型的有益效果是,本实用新型实现了在PCBA功能测试阶段既可以通过智能运算电路给PCBA的功能改进提供芯片选型等方向性的建议可以大大提高工程师的工作效率。具体,首先存储器存储有多类型芯片参数数据,并且在物理层通过电信号被智能运算电路调用,智能运算电路通过测试收集电路收集测试结果信号,并且也通过负载信号收集电路收集负载主电路信号,上述的测试结果信号/负载主电路信号共同作为智能运算电路的参数并且由智能运算电路调用存储器内所存储的多类型芯片参数数据以获取最优化的芯片选型,所述的智能运算电路通过输出接口电路输出最优化的芯片选型信号,然后通过交互方式以信息输出给工程师。
附图说明
下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。
图1是PCBA功能测试智能装置实施例的电路连接框图。
具体实施方式
具体实施中,如图1所示的本实用新型的实施例包括主测试板路、测试电路、负载连线和负载,所述的负载上设置负载主电路接口用于输出负载的主电路工作状态,所述的测试电路、负载均与主测试板路电性连接,所述的负载具体是通过负载连线与主测试板路电性连接,还包括用于根据测试结果信号和负载主电路信号输出优化芯片选型信号的智能运算电路、存储有多类型芯片参数数据的存储器、用于收集测试结果信号的测试收集电路、用于收集负载主电路信号的负载信号收集电路,存储器、测试收集电路、负载信号收集电路均与智能运算电路电性连接,所述的测试电路还与测试收集电路电性连接,所述的负载信号收集电路还与负载主电路接口电性连接;在具体实施中,首先存储器存储有多类型芯片参数数据,并且在物理层通过电信号被智能运算电路调用,智能运算电路通过测试收集电路收集测试结果信号,并且也通过负载信号收集电路收集负载主电路信号,上述的测试结果信号/负载主电路信号共同作为智能运算电路的参数并且由智能运算电路调用存储器内所存储的多类型芯片参数数据以获取最优化的芯片选型,在实施中,所述的智能运算电路还与输出接口电路电性连接并且用于输出最优化的芯片选型信号,然后通过交互方式以信息输出给工程师,比如实施中通过将智能运算电路与PC电性连接,PC再连接显示器输出上述的信息,这实际上实现了在PCBA功能测试阶段既可以通过智能运算电路给PCBA的功能改进提供芯片选型等方向性的建议可以大大提高工程师的工作效率。
更具体的一个或多个实施例中,所述的智能运算电路选用fpga芯片控制电路,FPGA是在PAL、GAL等可编程器件的基础上进一步发展的,FPGA的优点很多,比如FPGA由逻辑单元、RAM、乘法器等硬件资源组成,通过将这些硬件资源合理组织,可实现乘法器、寄存器、地址发生器等硬件电路。可通过使用框图或者Verilog HDL来设计,从简单的门电路到FIR或者FFT电路。可无限地重新编程,加载一个新的设计方案只需几百毫秒,利用重配置可以减少硬件的开销。FPGA的工作频率由FPGA芯片以及设计决定,可以通过修改设计或者更换更快的芯片来达到某些苛刻的要求;所述的测试电路还通过测试结果接收电路与显示电路电性连接;所述的主测试板路采用时序管理的单片机以及与被测试pcba板对应的发出测试信号的测试功能电路;所述的测试电路具体是连接被测pcba板的电路端口;所述的测试结果接收电路与显示电路分别采用显示器驱动电路和显示器;测试电路通过测试结果接收电路与显示电路电性连接则可以通过显示电路直接显示测试的结果,并且测试结果接收电路与显示电路分别采用显示器驱动电路和显示器,具体通过显示器输出测试的结果,测试电路连接被测pcba板的电路端口用于直接采集测试的电信号。
在具体实施中,首先存储器存储有多类型芯片参数数据,并且在物理层通过电信号被fpga芯片控制电路调用,fpga芯片控制电路通过测试收集电路收集测试结果信号,并且也通过负载信号收集电路收集负载主电路信号,上述的测试结果信号/负载主电路信号共同作为fpga芯片控制电路的参数并且由fpga芯片控制电路调用存储器内所存储的多类型芯片参数数据以获取最优化的芯片选型,在实施中,所述的fpga芯片控制电路还与输出接口电路电性连接并且用于输出最优化的芯片选型信号,然后通过交互方式以信息输出给工程师,比如实施中通过将fpga芯片控制电路与PC电性连接,PC再连接显示器输出上述的信息,这实际上实现了在PCBA功能测试阶段既可以通过fpga芯片控制电路给PCBA的功能改进提供芯片选型等方向性的建议可以大大提高工程师的工作效率。
由技术常识可知,本实用新型可以通过其它的不脱离其精神实质或必要特征的实施方案来实现。上述公开的实施方案,就各方面而言,都只是举例说明,并不是仅有的。所有在本实用新型范围内或在等同于本实用新型的范围内的改变均被本实用新型包含。
Claims (6)
1.一种PCBA功能测试智能装置,其特征是:包括主测试板路、测试电路、负载连线和负载,所述的负载上设置负载主电路接口用于输出负载的主电路工作状态,所述的测试电路、负载均与主测试板路电性连接,所述的负载具体是通过负载连线与主测试板路电性连接,还包括用于根据测试结果信号和负载主电路信号输出优化芯片选型信号的智能运算电路、存储有多类型芯片参数数据的存储器、用于收集测试结果信号的测试收集电路、用于收集负载主电路信号的负载信号收集电路,存储器、测试收集电路、负载信号收集电路均与智能运算电路电性连接,所述的测试电路还与测试收集电路电性连接,所述的负载信号收集电路还与负载主电路接口电性连接。
2.根据权利要求1所述的一种PCBA功能测试智能装置,其特征是:所述的智能运算电路选用fpga芯片控制电路。
3.根据权利要求1所述的一种PCBA功能测试智能装置,其特征是:所述的测试电路还通过测试结果接收电路与显示电路电性连接。
4.根据权利要求1所述的一种PCBA功能测试智能装置,其特征是:所述的主测试板路采用时序管理的单片机以及与被测试pcba板对应的发出测试信号的测试功能电路。
5.根据权利要求1所述的一种PCBA功能测试智能装置,其特征是:所述的测试电路具体是连接被测pcba板的电路端口。
6.根据权利要求1所述的一种PCBA功能测试智能装置,其特征是:所述的测试结果接收电路与显示电路分别采用显示器驱动电路和显示器。
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- 2020-09-04 CN CN202021915556.0U patent/CN212989577U/zh active Active
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