CN212932368U - 用于增强荧光光谱仪灵敏度的试样池 - Google Patents

用于增强荧光光谱仪灵敏度的试样池 Download PDF

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康超
梁艳梅
周波
宾俊
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Abstract

本实用新型提供一种用于增强荧光光谱仪灵敏度的试样池,包括试样架,试样架内设有比色皿,比色皿用于装溶液样本,比色皿四个相互垂直的侧面依次分别为第一侧面、第二侧面、第三侧面和第四侧面,比色皿第一侧面垂直于激发光单色器产生的单色激发光,单色激发光从第一侧面入射,在比色皿的第二侧面上射出的发射光投射到检测器;还包括反光镜系统,第三侧面或/和第四侧面上射出的发射光通过反光镜系统与第二侧面上射出的发射光一起投射到检测器。在检测与激发光呈90度的发射光之外,本实用新型同时检测与激发光呈270度的发射光,从而充分挖掘利用荧光的发射光,增强仪器的灵敏度。

Description

用于增强荧光光谱仪灵敏度的试样池
技术领域
本实用新型属于荧光光谱仪技术领域,具体涉及一种用于增强荧光光谱仪灵敏度的试样池。
背景技术
荧光光谱仪在化学、生物、医学分析中有重要并且广泛的应用。从结构上看,主要包括光源、激发光单色器、试样池、发射光单色器、检测器、计算机控制与显示系统。高灵敏度是荧光仪器的主要优势之一,也是主要发展方向之一。
目前,在荧光光谱仪的试样池中,来自光源、经过激发光单色器产生的单色激发光,照射盛在比色皿中的溶液样本,溶液样本吸收激发光而产生不同波长的发射光。在与激发光呈90度的方向,依次检测不同波长的发射光,得到荧光光谱。
该装置只检测与激发光呈90度的发射光,荧光发光的灵敏度未充分利用。
实用新型内容
本实用新型提出一种用于增强荧光光谱仪灵敏度的试样池,通过改造荧光试样池,在检测与激发光呈90度的发射光的基础上,还同时检测与激发光呈270度或/和180度的发射光,增强仪器的灵敏度。
具体的技术方案为:
用于增强荧光光谱仪灵敏度的试样池,包括试样架,试样架内设有比色皿,比色皿用于装溶液样本,比色皿四个相互垂直的侧面依次分别为第一侧面、第二侧面、第三侧面和第四侧面,比色皿第一侧面垂直于过激发光单色器产生的单色激发光。一方面,单色激发光从第一侧面入射,在比色皿的第二侧面上射出的发射光投射到检测器;
另一方面,还包括反光镜系统,第三侧面或/和第四侧面上射出的发射光通过反光镜系统与第二侧面上射出的发射光一起投射到检测器。
优选的、所述的反光镜系统,包括四个反光镜,第一反光镜、第二反光镜、第三反光镜、第四透射反光镜依次设在第四侧面上射出的发射光的光路上,将第四侧面上射出的发射光与第二侧面上射出的发射光一起投射到检测器。
本实用新型的装置具有以下特点:
通过改造荧光光谱仪的试样池,在目前检测与激发光呈90度的发射光的基础上,还同时检测与激发光呈270度的发射光,从而充分挖掘利用荧光的发射光,增强仪器的灵敏度。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
下面结合具体实施案例对本实用新型做进一步说明。
如图1所示,用于增强荧光光谱仪灵敏度的试样池,包括试样架1,试样架1内设有比色皿2,比色皿2用于装溶液样本,比色皿2四个相互垂直的侧面依次分别为第一侧面21、第二侧面22、第三侧面23和第四侧面24,比色皿2第一侧面21垂直于过激发光单色器产生的单色激发光,单色激发光从第一侧面21入射,在比色皿2的第二侧面22上射出的发射光投射到检测器;
还包括反光镜系统,第三侧面23或/和第四侧面24上射出的发射光通过反光镜系统与第二侧面22上射出的发射光一起投射到检测器的接受器。
本实施例优选的,将与激发光呈270度方向的发射光投射到90度的发射光光路上,所述的反光镜系统,包括四个反光镜,第一反光镜31、第二反光镜32、第三反光镜33、第四反光镜34依次设在第四侧面24上射出的发射光的光路上,将第四侧面24上射出的发射光与第二侧面22上射出的发射光一起投射到检测器。
将与激发光呈270度的发射光投射到呈90度的发射光光路上,使其也进入检测光路,使进入检测器的发射光加倍,从而使荧光光谱仪的灵敏度加倍。

Claims (2)

1.用于增强荧光光谱仪灵敏度的试样池,包括试样架,试样架内设有比色皿,比色皿用于装溶液样本,比色皿四个相互垂直的侧面依次分别为第一侧面、第二侧面、第三侧面和第四侧面,比色皿第一侧面垂直于过激发光单色器产生的单色激发光,单色激发光从第一侧面入射,在比色皿的第二侧面上射出的发射光投射到检测器;
其特征在于:还包括反光镜系统,第三侧面或/和第四侧面上射出的发射光通过反光镜系统与第二侧面上射出的发射光一起投射到检测器。
2.根据权利要求1所述的用于增强荧光光谱仪灵敏度的试样池,其特征在于:所述的反光镜系统,包括四个反光镜,第一反光镜、第二反光镜、第三反光镜、第四透射反光镜依次设在第四侧面上射出的发射光的光路上,将第四侧面上射出的发射光与第二侧面上射出的发射光一起投射到检测器。
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