CN212905036U - 一种晶体振荡器老化测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种晶体振荡器老化测试装置，包括支撑座，所述支撑座的上表面靠近一侧位置固定安装有控制箱，所述控制箱的前表面靠近顶部位置嵌设有显示屏，且控制箱的前表面靠近底部位置设有操作按钮，所述控制箱的后表面设置有后盖板，所述后盖板通过螺纹销与控制箱可拆卸连接，所述控制箱的一侧外表面连接有电源线，所述电源线的端头位置连接有电源接头，所述支撑座的上表面靠近中间位置连接有束线机构，且支撑座的上表面靠近另一侧位置固定安装有测试架。本实用新型所述的一种晶体振荡器老化测试装置，属于测试装置领域，能够对测试装置的传输线进行束紧，且能够将晶体振荡器与测试组件进行抵紧。

Description

一种晶体振荡器老化测试装置

技术领域

本实用新型涉及测试装置领域，特别涉及一种晶体振荡器老化测试装置。

背景技术

晶体振荡器是利用石英晶体的压电效应，用来产生高精度振荡频率的一种电子元件，属于被动元件，该元件主要由石英晶片、基座、外壳、银胶、银等成分组成，本方案具体涉及一种晶体振荡器老化测试装置；现有的晶体振荡器老化测试装置在使用时不能够对测试装置的传输线进行束紧，测试装置的传输线容易脱落出现损坏，不能够将晶体振荡器与测试组件进行抵紧，晶体振荡器测试时连接的相对稳定性较差。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于提供一种晶体振荡器老化测试装置，可以有效解决背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型采取的技术方案为：

一种晶体振荡器老化测试装置，包括支撑座，所述支撑座的上表面靠近一侧位置固定安装有控制箱，所述控制箱的前表面靠近顶部位置嵌设有显示屏，且控制箱的前表面靠近底部位置设有操作按钮，所述控制箱的后表面设置有后盖板，所述后盖板通过螺纹销与控制箱可拆卸连接，所述控制箱的一侧外表面连接有电源线，所述电源线的端头位置连接有电源接头，所述支撑座的上表面靠近中间位置连接有束线机构，且支撑座的上表面靠近另一侧位置固定安装有测试架，所述测试架的内侧固定安装有测试板，所述测试板的上表面支撑有测试座，所述测试座的内侧设置有晶振节点，且测试座与测试架之间连接有抵紧机构。

优选的，所述束线机构由支撑杆、一号卡块、二号卡块和卡合柱组成，所述支撑杆固定于支撑座的上表面，所述一号卡块固定于支撑杆的顶端，所述二号卡块设置在一号卡块的顶部，所述卡合柱固定于一号卡块的外表面，且卡合柱嵌入至二号卡块的内部，束线机构能够对测试装置的传输线进行束紧，从而能够防止测试装置的传输线脱落出现损坏。

优选的，所述二号卡块通过卡合柱与一号卡块固定连接。

优选的，所述抵紧机构由固定柱、抵紧柱、限位块和伸缩弹簧组成，所述固定柱固定于测试架的内侧，所述抵紧柱的一端固定于测试座的外表面，且抵紧柱的另一端延伸至固定柱的内部，所述限位块固定于抵紧柱的另一端，所述伸缩弹簧的一端固定于限位块的外表面，且伸缩弹簧的另一端固定于固定柱的内表面，抵紧机构能够将晶体振荡器与测试组件进行抵紧，从而能够提高晶体振荡器测试时连接的相对稳定性。

优选的，所述抵紧柱通过限位块和伸缩弹簧与固定柱活动连接。

与现有技术相比，本实用新型具有如下有益效果：该晶体振荡器老化测试装置，通过设置的束线机构，能够对测试装置的传输线进行束紧，从而能够防止测试装置的传输线脱落出现损坏，通过设置的抵紧机构，能够将晶体振荡器与测试组件进行抵紧，从而能够提高晶体振荡器测试时连接的相对稳定性。

附图说明

图1为本实用新型一种晶体振荡器老化测试装置的整体结构示意图；

图2为本实用新型一种晶体振荡器老化测试装置的控制箱的后视图；

图3为本实用新型一种晶体振荡器老化测试装置的束线机构的结构示意图；

图4为本实用新型一种晶体振荡器老化测试装置的抵紧机构的结构示意图。

图中：1、支撑座；2、控制箱；3、显示屏；4、操作按钮；5、后盖板；6、螺纹销；7、电源线；8、电源接头；9、束线机构；901、支撑杆；902、一号卡块；903、二号卡块；904、卡合柱；10、测试架；11、测试板；12、测试座；13、晶振节点；14、抵紧机构；1401、固定柱；1402、抵紧柱；1403、限位块；1404、伸缩弹簧。

具体实施方式

为使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本实用新型。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“内”、“外”“前端”、“后端”、“两端”、“一端”、“另一端”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“设置有”、“连接”等，应做广义理解，例如“连接”，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

如图1-4所示，一种晶体振荡器老化测试装置，包括支撑座1，支撑座1的上表面靠近一侧位置固定安装有控制箱2，控制箱2的前表面靠近顶部位置嵌设有显示屏3，且控制箱2的前表面靠近底部位置设有操作按钮4，控制箱2的后表面设置有后盖板5，后盖板5通过螺纹销6与控制箱2可拆卸连接，控制箱2的一侧外表面连接有电源线7，电源线7的端头位置连接有电源接头8，支撑座1的上表面靠近中间位置连接有束线机构9，且支撑座1的上表面靠近另一侧位置固定安装有测试架10，测试架10的内侧固定安装有测试板11，测试板11的上表面支撑有测试座12，测试座12的内侧设置有晶振节点13，且测试座12与测试架10之间连接有抵紧机构14；

在本实施例中，为了方便对测试装置的传输线进行束紧设置了束线机构9，束线机构9由支撑杆901、一号卡块902、二号卡块903和卡合柱904组成，支撑杆901固定于支撑座1的上表面，一号卡块902固定于支撑杆901的顶端，二号卡块903设置在一号卡块902的顶部，卡合柱904固定于一号卡块902的外表面，且卡合柱904嵌入至二号卡块903的内部，束线机构9能够对测试装置的传输线进行束紧，从而能够防止测试装置的传输线脱落出现损坏；

在本实施例中，为了方便二号卡块903与一号卡块902进行卡紧，二号卡块903通过卡合柱904与一号卡块902固定连接，一号卡块902和二号卡块903配合使用能够对测试装置的传输线进行卡紧；

此外，抵紧机构14由固定柱1401、抵紧柱1402、限位块1403和伸缩弹簧1404组成，固定柱1401固定于测试架10的内侧，抵紧柱1402的一端固定于测试座12的外表面，且抵紧柱1402的另一端延伸至固定柱1401的内部，限位块1403固定于抵紧柱1402的另一端，伸缩弹簧1404的一端固定于限位块1403的外表面，且伸缩弹簧1404的另一端固定于固定柱1401的内表面，抵紧机构14能够将晶体振荡器与测试组件进行抵紧，从而能够提高晶体振荡器测试时连接的相对稳定性；

在本实施例中，为了方便抵紧柱1402进行抵紧，抵紧柱1402通过限位块1403和伸缩弹簧1404与固定柱1401活动连接。

需要说明的是，本实用新型为一种晶体振荡器老化测试装置，在使用时，支撑座1、控制箱2和测试架10构成了整个晶体振荡器老化测试装置的主体部分，通过电源线7和电源接头8对测试装置进行通电，通过螺纹销6可以将后盖板5打开，从而能够方便对控制箱2的内部进行检测，将晶体振荡器放到测试板11上，抵紧柱1402通过限位块1403和伸缩弹簧1404与固定柱1401相对活动，可以带动测试座12对晶体振荡器进行抵紧，使晶振节点13与晶体振荡器接触的更充分，能够提高晶体振荡器测试时连接的相对稳定性，测试板11和测试座12配合使用对晶体振荡器进行老化测试，测试的相关数据在显示屏3上显示，二号卡块903通过卡合柱904与一号卡块902固定连接，一号卡块902和二号卡块903配合使用能够对测试装置的传输线进行卡紧，从而能够防止测试装置的传输线脱落出现损坏。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理和主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

Claims (5)

1.一种晶体振荡器老化测试装置，其特征在于：包括支撑座(1)，所述支撑座(1)的上表面靠近一侧位置固定安装有控制箱(2)，所述控制箱(2)的前表面靠近顶部位置嵌设有显示屏(3)，且控制箱(2)的前表面靠近底部位置设有操作按钮(4)，所述控制箱(2)的后表面设置有后盖板(5)，所述后盖板(5)通过螺纹销(6)与控制箱(2)可拆卸连接，所述控制箱(2)的一侧外表面连接有电源线(7)，所述电源线(7)的端头位置连接有电源接头(8)，所述支撑座(1)的上表面靠近中间位置连接有束线机构(9)，且支撑座(1)的上表面靠近另一侧位置固定安装有测试架(10)，所述测试架(10)的内侧固定安装有测试板(11)，所述测试板(11)的上表面支撑有测试座(12)，所述测试座(12)的内侧设置有晶振节点(13)，且测试座(12)与测试架(10)之间连接有抵紧机构(14)。

2.根据权利要求1所述的一种晶体振荡器老化测试装置，其特征在于：所述束线机构(9)由支撑杆(901)、一号卡块(902)、二号卡块(903)和卡合柱(904)组成，所述支撑杆(901)固定于支撑座(1)的上表面，所述一号卡块(902)固定于支撑杆(901)的顶端，所述二号卡块(903)设置在一号卡块(902)的顶部，所述卡合柱(904)固定于一号卡块(902)的外表面，且卡合柱(904)嵌入至二号卡块(903)的内部。

3.根据权利要求2所述的一种晶体振荡器老化测试装置，其特征在于：所述二号卡块(903)通过卡合柱(904)与一号卡块(902)固定连接。

4.根据权利要求1所述的一种晶体振荡器老化测试装置，其特征在于：所述抵紧机构(14)由固定柱(1401)、抵紧柱(1402)、限位块(1403)和伸缩弹簧(1404)组成，所述固定柱(1401)固定于测试架(10)的内侧，所述抵紧柱(1402)的一端固定于测试座(12)的外表面，且抵紧柱(1402)的另一端延伸至固定柱(1401)的内部，所述限位块(1403)固定于抵紧柱(1402)的另一端，所述伸缩弹簧(1404)的一端固定于限位块(1403)的外表面，且伸缩弹簧(1404)的另一端固定于固定柱(1401)的内表面。

5.根据权利要求4所述的一种晶体振荡器老化测试装置，其特征在于：所述抵紧柱(1402)通过限位块(1403)和伸缩弹簧(1404)与固定柱(1401)活动连接。

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