CN212847692U - 一种用于验证eMMC和SD卡的测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种用于验证eMMC和SD卡的测试装置，包括：微控制器、过载保护电路、启断电电路和PC端，eMMC和/或SD卡连接在所述微控制器上，所述过载保护电路的输入端连接有电源，输出端与所述微控制器的供电电压端相连，所述启断电电路输入端与所述过载保护电路输出端相连，微控制器向启断电电路传输控制信号，且启断电电路的输出端与所述eMMC和/或SD卡的供电电压端连接，所述PC端与微控制器互连；本实用新型利用MCU特有SDIO接口与eMMC和SD连接，使用SDIO界面接口完成eMMC和SD的通讯协定，以实现eMMC和SD通用的测试制具，此方式统整了eMMC和SD界面，解决了测试平台复杂性也降低了测试平台成本并提供命令验证和制卡的需求。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种测量装置，具体涉及一种用于验证eMMC和SD卡的测试装置。
背景技术
在eMMC卡及SD的开发过程中需要使用各自的验证工具，如eMMC烧录器和SD 读卡机。eMMC烧录器为FPGA+USB桥接芯片，SD读卡机为，SD转USB桥接芯片。
但是，eMMC烧录器和SD读卡机，各需一条USB连接PC以操作验证，此方式占用USBPort，而且eMMC烧录器只能依烧录器提供的软件进行标准读写操作，也无法满足个种eMMC的命令组合测试，并且体积大不利携带。
SD读卡机只提供一般的磁碟机存取功能(透过标准SCSI命令格式)，无法直接测试SD命令与特殊SD命令测试，在验证上有所不足，且集成化程度不高，测试的复杂性高。
实用新型内容
实用新型目的：为了克服现有技术的不足，本实用新型提供一种用于验证eMMC 和SD卡的测试装置，解决了现有技术中测试平台集成化程度低、使用寿命短的问题。
技术方案：本实用新型所述的用于验证eMMC和SD卡的测试装置，包括：微控制器、过载保护电路、启断电电路和PC端，eMMC和/或SD卡连接在所述微控制器上，所述过载保护电路的输入端连接有电源，输出端与所述微控制器的供电电压端相连，所述启断电电路输入端与所述过载保护电路输出端相连，微控制器向启断电电路传输控制信号，且启断电电路的输出端与所述eMMC和/或SD卡的供电电压端连接，所述PC端与微控制器互连。
进一步的，包括：
所述微控制器的型号为STM32F103系列。
进一步的，包括：
所述eMMC和/或SD卡连接在所述微控制器的SDIO接口上。
进一步的，包括：
所述PC端与所述微控制器采用USB接口连接。
进一步的，包括：
所述启断电电路的控制端与微控制器的接口GPIO相连。
进一步的，包括：
所述过载保护电路包括三极管、第一电阻、第二电阻和第三电阻，所述第一电阻连接在所述三极管的发射极端，所述第二电阻连接在所述三极管的集电极和基极之间，第三电阻连接在所述三极管的基极与发射极之间。
进一步的，包括：
所述启断电电路包括第一场效应管、反相器和第二场效应管，所述第一场效应管的源极与所述微控制器的供电电压端连接，漏极与eMMC/SD卡的供电电压端连接，所述第一场效应管的栅极与第二场效应管的栅极互连后，与所述反相器相连，所述微控制器向其传输控制信号，所述第二场效应管的漏极连接到eMMC/SD卡的供电电压端，源极接地。
有益效果：本实用新型与现有技术相比，其显著优点是：1、本实用新型利用MCU 特有的SDIO接口与eMMC/SD连接，使用SDIO界面接口完成eMMC和SD的通讯协定，以实现eMMC和SD通用的测试制具，此方式统整了eMMC和SD界面，解决了测试平台复杂性也降低了测试平台成本并提供命令验证和制卡的需求；2、本实用新型的微控制器通过USB接口与PC端连接，且微控制器的控制端连接有启断电电路，通过 PC端软件中的eMMC和SD电源控制开/关按钮实现一键启动/关闭，具体的，通过场效应管实现测试装置的启动和关闭，由于场效应管的电压比较稳定，因此避免了硬件启动出现的电压差过大的问题，增加了该测试装置的寿命；3、本测试装置加入了过载保护电路，防止待测物出现短路，提高了本装置的安全性。
附图说明
图1为本实用新型的测试装置的模块框图；
图2为本实用新型的实施例测试装置电路图；
图3为本实用新型的实施例的测试命令界面图。
具体实施方式
如图1所示，本实用新型的测试装置用来验证eMMC座和SD卡的待测试项，其包括：微控制器、过载保护电路1、启断电电路2和PC端，eMMC或SD卡连接在微控制器上，过载保护电路1的输入端连接有电源，输入电源为5V，经过3.3V的低功耗 LDO转换后，输入到过载保护电路1中，启断电电路输入端与过载保护电路输出端相连，微控制器向启断电电路传输控制信号，且启断电电路的输出端与eMMC和SD卡的供电电压端VCC连接，PC端与微控制器互连。
本实用新型中的eMMC和SD卡不同时进行测试，需要逐一进行测试，但可以实现即插即用，不需要转换通讯协定，实现了eMMC和SD通用的测试制具。微控制器采用STM32F103系列，其包括控制端GPIO接口、USB接口、供电电压端VCC、GND端以及SDIO接口，采用SDIO接口与eMMC或SD卡连接，GPIO接口与启断电电路连接， USB接口连接有PC端，PC中含有用于测试的软件界面，软件界面中含有启动和关闭按钮。
如图2所示，启断电电路2由软体透过USB至MCU并由GPIO0来控制待测物的启断电，因此可以实现启断电(Power cycling)的测试项，并由过载保护电路1来提供过载保护，以防止待测物短路情况发生，本方式统整两种界面eMMC及SD在小巧的一个测试平台上，并透过PC端的软件提供验证的多样化，以完成两种协定命令验证及制卡程序。
过载保护电路1包括三极管Q1、第一电阻R、第二电阻R1和第三电阻R2，第一电阻R连接在三极管的发射极，第二电阻R1连接在三极管Q1的集电极和基极之间，第三电阻R2连接在三极管Q1的基极与发射极之间，并最终连接到微控制器的供电电压端VCC，防止待测物出现短路，提高了本装置使用时的安全性，当没有出现过载，三极管正常导通，当出现过载，三极管截止，R1和R2所在线路导通。
启断电电路2包括第一场效应管P1、反相器和第二场效应管N1，第一场效应管21的源极与微控制器供电电压端VCC连接，漏极与eMMC或SD卡的供电电压端VCC 连接，第一场效应管P1的栅极与第二场效应管N1的栅极互连后，与反相器相连，微控制器向启断电电路2传输控制信号，第二场效应管N1的漏极连接到eMMC/SD卡的供电电压端VCC，源极接地。
启断电电路2的工作原理是：当工作人员电机启动按钮，微控制器的GPIO端口置1，即高电平，第一场效应管P1导通，eMMC或SD卡得电，由于连接反相器，第二场效应管截止，避免了电源与地短接；当工作人员点击关闭按钮，微控制器的GPIO端口置0，即低电平，第一场效应管P1截止，eMMC或SD卡不得电，由于存在反相器，第二场效应管N1导通。
如图3所示，本实用新型的工作过程包括：
1.决定测试目标为eMMC或SD，选用对应的转接座；
2.连接USB至PC端；
3.启动PC端测试软件，并下达各式测试组合命令、启断电测试或执行制卡流程。
进一步说明，PC端软件可直接下达对应eMMC/SD测试平台上的对应命令，并回报执行结果，以得知测试结果，并可组合不同的命令顺序，以测试是否符合eMMC/SD的协定规范。
进一步说明，接收和回应PC方的动作，由测试装置中的微控制器作为实际执行者，依PC软件指示，切换eMMC或SD命令，并执行和回报结果。
进一步说明，由外部电路提供启断电功能并经由软件控制实现启断电测试项，其测试过程由过载保护电路进行MCU的保护。
Claims (7)
1.一种用于验证eMMC和SD卡的测试装置，其特征在于，包括：微控制器、过载保护电路、启断电电路和PC端，eMMC和/或SD卡连接在所述微控制器上，所述过载保护电路的输入端连接有电源，输出端与所述微控制器的供电电压端相连，所述启断电电路输入端与所述过载保护电路输出端相连，微控制器向启断电电路传输控制信号，且启断电电路的输出端与所述eMMC和/或SD卡的供电电压端连接，所述PC端与微控制器互连。
2.根据权利要求1所述的用于验证eMMC和SD卡的测试装置，其特征在于，所述微控制器的型号为STM32F103系列。
3.根据权利要求2所述的用于验证eMMC和SD卡的测试装置，其特征在于，所述eMMC和/或SD卡连接在所述微控制器的SDIO接口上。
4.根据权利要求2所述的用于验证eMMC和SD卡的测试装置，其特征在于，所述PC端与所述微控制器采用USB接口连接。
5.根据权利要求2所述的用于验证eMMC和SD卡的测试装置，其特征在于，所述启断电电路的控制端与微控制器的接口GPIO相连。
6.根据权利要求1或2所述的用于验证eMMC和SD卡的测试装置，其特征在于，所述过载保护电路包括三极管、第一电阻、第二电阻和第三电阻，所述第一电阻连接在所述三极管的发射极端，所述第二电阻连接在所述三极管的集电极和基极之间，第三电阻连接在所述三极管的基极与发射极之间。
7.根据权利要求1或2所述的用于验证eMMC和SD卡的测试装置，其特征在于，所述启断电电路包括第一场效应管、反相器和第二场效应管，所述第一场效应管的源极与所述微控制器的供电电压端连接，漏极与eMMC或SD卡的供电电压端连接，所述第一场效应管的栅极与第二场效应管的栅极互连后，与所述反相器相连，所述微控制器向其传输控制信号，所述第二场效应管的漏极连接到eMMC或SD卡的供电电压端，源极接地。
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| CN202020960842.2U CN212847692U (zh) | 2020-05-29 | 2020-05-29 | 一种用于验证eMMC和SD卡的测试装置 |
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| CN202020960842.2U CN212847692U (zh) | 2020-05-29 | 2020-05-29 | 一种用于验证eMMC和SD卡的测试装置 |
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Country Status (1)
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| CN (1) | CN212847692U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114546904A (zh) * | 2021-12-27 | 2022-05-27 | 南京微智新科技有限公司 | 一种通过USB转eMMC拓屏内存容量的电路 |
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2020
- 2020-05-29 CN CN202020960842.2U patent/CN212847692U/zh active Active
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| CN114546904A (zh) * | 2021-12-27 | 2022-05-27 | 南京微智新科技有限公司 | 一种通过USB转eMMC拓屏内存容量的电路 |
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