CN212674417U - 一种反射法测量切割凹透镜光轴位置度装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种反射法测量切割凹透镜光轴位置度装置，该测量装置包括光源、平行光管、CCD、样品台、设备平台。本实用新型提供了一种利用切割凹透镜的反射焦点位置偏离量从而测量光轴位置度装置，本实用新型同时具有结构简单，测试精准，操作方便的特点。
Description
技术领域
本实用新型属于光学测试领域，更具体地说，它涉及一种反射法测量切割凹透镜光轴位置度装置。
背景技术
光学透镜使用领域非常广泛。在制造生产过程中传统圆形透镜只需控制透镜偏心即可保证光轴位置度，而切割透镜则需根据需求控制光轴与切割底边的位置度，此位置度偏差量就格外重要，利用本实用新型一种反射法测量切割凹透镜光轴位置度装置，则可准确测试出切割凹透镜光轴位置度。
发明内容
本实用新型所要解决的技术问题在于提供一种可准确测试出切割凹透镜光轴位置度的装置。
一种反射法测量切割凹透镜光轴位置度装置，包括光源（1）、平行光管（2）、CCD（3）、样品台（4）、设备平台（6）、其特征在于，所述平行光管（2）、CCD（3）、样品台（4）固定于设备平台（6）之上，所述光源（1）固定于平行光管（2）末端，所述样品台（4）固定于平行光管（2）前端，所述CCD（3）放置于样品台（4）侧方45°方向上。
所述平行光管（2）、CCD（3）、样品台（4）处于同一水平面上；所述光源（1）是可调节LED白光光源；所述CCD（3）为黑白摄像机。
本实用新型优点在于：通过平行光管出射平行光照射于凹透镜上、凹透镜反射焦点汇聚于CCD靶面上，通过CCD采集反射焦点的位置从而计算切割凹透镜光轴位置度，结构简单，测试精准，操作方便。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的方案进行清楚、完整的描述。
如图1所示，一种反射法测量切割凹透镜光轴位置度装置，包括光源（1）、平行光管（2）、CCD（3）、样品台（4）、设备平台（6）、所构成。
所述平行光管（2）、CCD（3）、样品台（4）固定于设备平台（6）之上，所述光源（1）固定于平行光管（2）末端，所述样品台（4）固定于平行光管（2）前端，所述CCD（3）放置于样品台（4）侧方45°方向上。
所述平行光管（2）、CCD（3）、样品台（4）处于同一水平面上；所述光源（1）是可调节LED白光光源；所述CCD（3）为黑白摄像机。
采用如上所述装置时，先将待测切割凹透镜标片（5）放置于样品台（4）上，调整CCD（3）与待测切割凹透镜标片（5）距离和角度直至CCD（3）成像上出现清晰的焦点像，此时再调节光源（1）亮度，使焦点像更加清晰，即可开始测量焦点像的位置，将此位置定为零点位置，取下待测切割凹透镜标片（5），将待测切割凹透镜放置于待测切割凹透镜标片（5）的位置，测量CCD（3）成像上的十字焦点像的偏离量既是切割透镜光轴位置度。
Claims (4)
1.一种反射法测量切割凹透镜光轴位置度装置，包括光源（1）、平行光管（2）、CCD（3）、样品台（4）、设备平台（6）、其特征在于，所述平行光管（2）、CCD（3）、样品台（4）固定于设备平台（6）之上，所述光源（1）固定于平行光管（2）末端，所述样品台（4）固定于平行光管（2）前端，所述CCD（3）放置于样品台（4）侧方45°方向上。
2.如权利要求1所述的一种反射法测量切割凹透镜光轴位置度装置，其特征在于所述平行光管（2）、CCD（3）、样品台（4）处于同一水平面上。
3.如权利要求1所述的一种反射法测量切割凹透镜光轴位置度装置，其特征在于所述光源（1）是可调节LED白光光源。
4.如权利要求1所述的一种反射法测量切割凹透镜光轴位置度装置，其特征在于所述CCD（3）为黑白摄像机。
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Publications (1)
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Country Status (1)
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2020
- 2020-07-28 CN CN202021514453.3U patent/CN212674417U/zh active Active
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