CN212514710U - 一种电子元件性能测试设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种电子元件性能测试设备，包括底板、测试座、X向滑块、Y向滑块和压紧器，底板后侧依次通过Y向滑轨和X向滑轨连接到压紧器，测试座固定连接在Y向滑轨上端面前侧，底部从下到上固定连接有PCB板和限位板，限位板中部设置有放置电子元件的限位槽，PCB板通过电缆连接到性能监测设备。本实用新型将贴片式的电子元件放置到限位槽，采用压紧器压紧电子元件，启动测试性能监测设备，测量电子元件的各项参数，能够快速实现测量，省时省力，定位精确，电连接可靠，数据精确性高，提高测试可靠性，采用双向的滑轨，能够实现X向、Y向的快速移动，快速实现精确定位，提高测量精度，也便于实现不同测量器件的快速转换。

Description

一种电子元件性能测试设备

技术领域

本实用新型涉及一种电子元件性能测试设备，属于贴片式电子元件性能测试设备技术领域。

背景技术

随着我国科研人员队伍不断壮大，科研技术的不断提高和进步，随着电子技术的不断革新，电子产品可靠性要求越来越高，在结构上的小型化、性能的优越化，已成为制造业的潮流，这就要求微波磁性器件朝短、小、轻、薄、高电气性能、高可靠性方向发展。现目前对贴片式电子元件的直流电阻、电感量、S参数等性能测试，采用手工测试，效率低下，费时费力，数据不精确，数据可靠性差。

发明内容

本实用新型要解决的技术问题是：提供一种电子元件性能测试设备，以解决现有技术中存在的技术问题。

本实用新型采取的技术方案为：一种电子元件性能测试设备，包括底板、测试座、X向滑块、Y向滑块和压紧器，底板上设置有Y向滑轨，测试座固定连接在Y向滑轨上端面前侧，测试座为U型结构，底部从下到上固定连接有PCB板和限位板，限位板中部设置有放置电子元件的限位槽，电子元件嵌入限位槽后其引脚能够抵靠在PCB板上的导电接触点，PCB板通过电缆连接到性能监测设备，Y向滑块滑动连接在Y向滑轨上并采用Y向锁紧螺钉锁紧，Y向滑块为T字形结构，上侧X向设置有X向导轨，X向滑块下侧的导向槽活动卡入X向导轨并采用X向锁紧螺钉锁紧，压紧器安装在X向滑块上，且能够压紧放入限位槽内的电子元件，Y向锁紧螺钉穿过Y向滑块的通孔一和X向锁紧螺钉穿过X向滑块的通孔二均为条形通孔。

优选的，上述压紧器包括倒立的L型空腔座、伸缩杆和操作手柄板，L型空腔座竖直段下端固定连接在X向滑块上，伸缩杆竖直活动穿过L型空腔座水平段靠近端部，伸缩杆上套接复位弹簧，复位弹簧上端抵靠在L型空腔座上侧内壁，下端抵靠在定位环上，定位环可拆卸地固定连接在伸缩杆上，操作手柄板为条形结构，靠近中部铰接在L型空腔座拐角处，一端活动套入伸缩杆且上端采用限位环限位，操作手柄板套入伸缩杆处设置条形通孔，操作手柄板另一端延伸出L型空腔座。

优选的，上述操作手柄板为V型钝角板件结构，内侧朝向L型空腔座，操作手柄板另一端与L型空腔座竖直段保持夹角，铰接处设置支撑双耳，双耳夹击L型空腔座两侧后通过转轴连接到L型空腔座上，双耳一侧设置延伸片，延伸片对应的L型空腔座可拆卸地插入有定位插销。

优选的，上述伸缩杆上固定连接有耐磨导向套，耐磨导向套活动伸出L型空腔座下侧壁。

优选的，上述操作手柄板另一端与L型空腔座竖直段保持角度为40~65度。

优选的，上述测试座两侧安装有接头，接头内芯电连接到PCB板。

优选的，上述底板底部设置有方盲孔，方盲孔上侧设置圆通孔，方盲孔中安装测力计，测力计的推杆伸出圆通孔后端面与电子元件上表面所在水平面齐平，测试座可拆卸地连接在底板上，PCB板和限位板可拆卸地连接在测试座上。

本实用新型的有益效果：与现有技术相比，本实用新型的效果如下：

（1）将贴片式的电子元件放置到限位槽，采用压紧器压紧电子元件，启动测试性能监测设备，测量电子元件的各项参数，能够快速实现测量，省时省力，定位精确，电连接可靠，数据精确性高，提高测试可靠性，采用双向的滑轨，能够实现X向、Y向的快速移动，快速实现精确定位，提高测量精度，也便于实现不同测量器件的快速转换；

（2）按压操作手柄尾端，在铰接轴的作用下发生旋转，从而带动伸缩杆上台，实现伸缩杆下端按压部快速脱离限位槽，更好电子元件或安装电子元件，压紧操作简单，靠复位弹簧的弹力压紧，压紧可靠稳定，而且弹簧具有缓冲作用，避免损坏电子元件，L型的空腔座，支撑稳定可靠，导向性好，可拆卸的定位环结构，便于实现在伸缩杆上上下位置移动，从而实现压力可调；

（3）采用定位插销将旋转后的操作手柄进行限位，从而实现抬起的伸缩杆定位，方便进行电子元件的安装和更换，便于试验操作和提高试验效率；

（4）采用耐磨导套进行导向伸缩，提高伸缩杆的伸缩定位精度，提高测试稳定性；

（5）安装测力计进行测量，方便了解伸缩杆的压力大小，避免过大造成电子元件损坏，或过小导致导电可靠性差，测量方便快捷，测力计的推杆伸出圆通孔后端面与电子元件上表面所在水平面齐平，便于实现精确测量，从而及时调节伸缩杆的压力大小。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图；

图2是Y向滑块俯视连接结构示意图；

图3是操作手柄旋转定位后连接结构示意图；

图4是测力结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图及具体的实施例对本实用新型进行进一步介绍。

实施例1：如图1-图4所示，一种电子元件性能测试设备，包括底板1、测试座2、X向滑块3、Y向滑块4和压紧器5，底板1上设置有Y向滑轨6，测试座2固定连接在Y向滑轨6上端面前侧，测试座2为U型结构，底部从下到上固定连接有PCB板7和限位板8，限位板8中部设置有放置电子元件的限位槽9，电子元件嵌入限位槽9后其引脚能够抵靠在PCB板7上的导电接触点，PCB板7通过电缆连接到性能监测设备，Y向滑块4滑动连接在Y向滑轨6上并采用Y向锁紧螺钉10锁紧，Y向滑块4为T字形结构，上侧X向设置有X向导轨11，X向滑块3下侧的导向槽活动卡入X向导轨11并采用X向锁紧螺钉12锁紧，压紧器5安装在X向滑块3上，且能够压紧放入限位槽9内的电子元件，Y向锁紧螺钉10穿过Y向滑块4的通孔一13和X向锁紧螺钉12穿过X向滑块3的通孔二14均为条形通孔，限位槽9四侧设置弧形缺口，方便镊子取出电子元件，测试座2采用铜材料制作，提高测试精确性。

优选的，上述压紧器包括倒立的L型空腔座15、伸缩杆16和操作手柄板17，L型空腔座15竖直段下端固定连接在X向滑块3上，伸缩杆16竖直活动穿过L型空腔座15水平段靠近端部，伸缩杆16上套接复位弹簧18，复位弹簧18上端抵靠在L型空腔座15上侧内壁，下端抵靠在定位环19上，定位环19可拆卸地固定连接在伸缩杆16上，操作手柄板17为条形结构，靠近中部铰接在L型空腔座15拐角处，一端活动套入伸缩杆16且上端采用限位环20限位，限位环20套入伸缩杆16后上方安装有横穿伸缩杆16的定位销（开口插销），插入定位销的通孔设置多个，沿着伸缩杆长度方向布置，操作手柄板17套入伸缩杆16处设置条形通孔21，操作手柄板17另一端延伸出L型空腔座15。

优选的，上述操作手柄板17为V型钝角板件结构，内侧朝向L型空腔座15，操作手柄板17另一端与L型空腔座15竖直段保持夹角，铰接处设置支撑双耳22，双耳22夹击L型空腔座15两侧后通过转轴23连接到L型空腔座15上，双耳22一侧设置延伸片24，延伸片24对应的L型空腔座15可拆卸地插入有定位插销25。

优选的，上述伸缩杆16上固定连接有耐磨导向套26，耐磨导向套26活动伸出L型空腔座15下侧壁。

优选的，上述操作手柄板17另一端与L型空腔座15竖直段保持角度为40~65度。

优选的，上述测试座2两侧安装有接头27，接头27内芯电连接到PCB板7。

优选的，上述底板1底部设置有方盲孔28，方盲孔28上侧设置圆通孔29，方盲孔28中安装测力计30，测力计30的推杆伸出圆通孔29后端面与电子元件上表面所在水平面齐平，测试座2可拆卸地连接在底板上，PCB板7和限位板8可拆卸地连接在测试座2上。

X向滑块和Y向滑块可以根据不同尺寸产品和产品在测试座里面不同位置灵活地实现X向和Y向移动，调整伸缩杆位置，确保伸缩杆（压杆）端头能正确顶在待测试元件的表面受力位置，另外，定位环可以用来调整伸缩杆（压杆）产生的压力（弹簧产生压力），调整方式是定位环上压弹簧调整在伸缩杆上的位置，产生不同的压力效果，本实用新型的测试装置实际不仅可以用来测试电阻，还可以测试电感、电容、S参数等，只要接上不同功能的测试仪器设备，就可以实现不同性能指标的测量。

以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内，因此，本实用新型的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (7)

1.一种电子元件性能测试设备，其特征在于：包括底板（1）、测试座（2）、X向滑块（3）、Y向滑块（4）和压紧器（5），底板（1）上设置有Y向滑轨（6），测试座（2）固定连接在Y向滑轨（6）上端面前侧，测试座（2）为U型结构，底部从下到上固定连接有PCB板（7）和限位板（8），限位板（8）中部设置有放置电子元件的限位槽（9），电子元件嵌入限位槽（9）后其引脚能够抵靠在PCB板（7）上的导电接触点，PCB板（7）通过电缆连接到性能监测设备，Y向滑块（4）滑动连接在Y向滑轨（6）上并采用Y向锁紧螺钉（10）锁紧，Y向滑块（4）为T字形结构，上侧X向设置有X向导轨（11），X向滑块（3）下侧的导向槽活动卡入X向导轨（11）并采用X向锁紧螺钉（12）锁紧，压紧器（5）安装在X向滑块（3）上，且能够压紧放入限位槽（9）内的电子元件，Y向锁紧螺钉（10）穿过Y向滑块（4）的通孔一（13）和X向锁紧螺钉（12）穿过X向滑块（3）的通孔二（14）均为条形通孔。

2.根据权利要求1所述的一种电子元件性能测试设备，其特征在于：压紧器包括倒立的L型空腔座（15）、伸缩杆（16）和操作手柄板（17），L型空腔座（15）竖直段下端固定连接在X向滑块（3）上，伸缩杆（16）竖直活动穿过L型空腔座（15）水平段靠近端部，伸缩杆（16）上套接复位弹簧（18），复位弹簧（18）上端抵靠在L型空腔座（15）上侧内壁，下端抵靠在定位环（19）上，定位环（19）可拆卸地固定连接在伸缩杆（16）上，操作手柄板（17）为条形结构，靠近中部铰接在L型空腔座（15）拐角处，一端活动套入伸缩杆（16）且上端采用限位环（20）限位，操作手柄板（17）套入伸缩杆（16）处设置条形通孔（21），操作手柄板（17）另一端延伸出L型空腔座（15）。

3.根据权利要求2所述的一种电子元件性能测试设备，其特征在于：操作手柄板（17）为V型钝角板件结构，内侧朝向L型空腔座（15），操作手柄板（17）另一端与L型空腔座（15）竖直段保持夹角，铰接处设置支撑双耳（22），双耳（22）夹击L型空腔座（15）两侧后通过转轴（23）连接到L型空腔座（15）上，双耳（22）一侧设置延伸片（24），延伸片（24）对应的L型空腔座（15）可拆卸地插入有定位插销（25）。

4.根据权利要求2所述的一种电子元件性能测试设备，其特征在于：伸缩杆（16）上固定连接有耐磨导向套（26），耐磨导向套（26）活动伸出L型空腔座（15）下侧壁。

5.根据权利要求2所述的一种电子元件性能测试设备，其特征在于：操作手柄板（17）另一端与L型空腔座（15）竖直段保持角度为40~65度。

6.根据权利要求1所述的一种电子元件性能测试设备，其特征在于：测试座（2）两侧安装有接头（27），接头（27）内芯电连接到PCB板（7）。

7.根据权利要求1所述的一种电子元件性能测试设备，其特征在于：底板（1）底部设置有方盲孔（28），方盲孔（28）上侧设置圆通孔（29），方盲孔（28）中安装测力计（30），测力计（30）的推杆伸出圆通孔（29）后端面与电子元件上表面所在水平面齐平，测试座（2）可拆卸地连接在底板上，PCB板（7）和限位板（8）可拆卸地连接在测试座（2）上。

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