CN212514685U - 一种电子产品性能测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种电子产品性能测试装置，包括装置体，所述装置体上设置有测试架，且测试架上设置有安装架，所述装置体上表面设置有限位杆，且限位杆设置在测试架内侧，所述装置体的上滑动连接有置物台，且置物台下端与传动轴相连接，所述传动轴下端贯穿装置体的上表面，且传动轴之间通过同步带相连接，左侧的所述传动轴与电动机相连接，且电动机设置在装置体内。该电子产品性能测试装置，测试探头和外界测试设备之间电连接，将电子产品安装在安放架上，通过第二电动伸缩杆推动安装架，在定位孔和限位杆的作用下，使得测试探头和电子产品接触，通过外界测试设备对电子产品进行性能测试，避免人工手动接线，提高测试效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子产品相关技术领域，具体为一种电子产品性能测试装置。
背景技术
传统的电子产品的性能测试，主要是手动将电子产品通过导线和测试设备电连接，通过测试设备检测电子产品的性能及显示电子产品性能结果，测试结束后，将电子产品与导线分离，接着对另一个待测试电子产品进行导线电连接，进行性能测试，测试效率低。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种电子产品性能测试装置，以解决上述背景技术中提出的手动将电子产品通过导线和测试设备电连接，通过测试设备检测电子产品的性能及显示电子产品性能结果，测试结束后，将电子产品与导线分离，接着对另一个待测试电子产品进行导线电连接，进行性能测试，测试效率低的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种电子产品性能测试装置，包括装置体，所述装置体上设置有测试架，且测试架上设置有安装架，所述装置体上表面设置有限位杆，且限位杆设置在测试架内侧，所述装置体的上滑动连接有置物台，且置物台下端与传动轴相连接，所述传动轴下端贯穿装置体的上表面，且传动轴之间通过同步带相连接，左侧的所述传动轴与电动机相连接，且电动机设置在装置体内。
优选的，所述装置体包括有辅助支架和摆放盘，且辅助支架设置在装置体的侧面，同时装置体上设置有摆放盘。
优选的，所述测试架包括有支板、滑杆、限位板、移动架、第一电动伸缩杆和第二电动伸缩杆，且支板之间通过滑杆相连接，滑杆上设置有限位板和移动架，且移动架设置在限位板之间，移动架左侧与第一电动伸缩杆相连接，且移动架下端设置有第二电动伸缩杆。
优选的，所述安装架包括有定位孔和测试探头，安装架上设置有定位孔，且安装架下端设置有测试探头。
优选的，所述置物台包括有放置槽、载物台和安放架，且置物台上设置有放置槽，放置槽内设置有载物台，且载物台上端设置有安放架。
优选的，所述电动机、传动轴、同步带和置物台组成转动机构，且置物台设置有两个。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：该电子产品性能测试装置，
(1)测试探头和外界测试设备之间电连接，将电子产品安装在安放架上，通过第二电动伸缩杆推动安装架，在定位孔和限位杆的作用下，使得测试探头和电子产品接触，通过外界测试设备对电子产品进行性能测试，避免人工手动接线，提高测试效率；
(2)载物台上环形分布着安放架，当一个电子产品测试完成后，在电动机的作用下带动载物台转动，可对下一个电子产品进行测试，当左侧的载物台上的电子产品测试完后，在第一电动伸缩杆的作用下将测试探头移动到右侧，对右侧的载物台上的电子产品进行测试，与此同时，加工左侧的载物台从放置槽中取出，取下安放架上的电子产品，进行下一批电子产品的安放，提高电子产品测试的连续性。
附图说明
图1为本实用新型正视剖面结构示意图；
图2为本实用新型左侧视剖面结构示意图；
图3为本实用新型俯视剖面结构示意图。
图中：1、装置体，101、辅助支架，102、摆放盘，2、测试架，201、支板，202、滑杆，203、限位板，204、移动架，205、第一电动伸缩杆，206、第二电动伸缩杆，3、安装架，301、定位孔，302、测试探头，4、限位杆，5、置物台，501、放置槽，502、载物台，503、安放架，6、传动轴，7、同步带，8、电动机。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-3，本实用新型提供一种技术方案：一种电子产品性能测试装置，如图1、图2和图3所示，装置体1上设置有测试架2，且测试架2上设置有安装架3，装置体1包括有辅助支架101和摆放盘102，且辅助支架101设置在装置体1的侧面，同时装置体1上设置有摆放盘102，左侧的摆放盘102可用于存放未测试的电子产品，右侧的摆放盘102用于摆放测试后的电子产品，测试架2包括有支板201、滑杆202、限位板203、移动架204、第一电动伸缩杆205和第二电动伸缩杆206，且支板201之间通过滑杆202相连接，滑杆202上设置有限位板203和移动架204，且移动架204设置在限位板203之间，移动架204左侧与第一电动伸缩杆205相连接，且移动架204下端设置有第二电动伸缩杆206，在第一电动伸缩杆205的作用下对测试探头302的位置调节，第一电动伸缩杆205设置在右侧的支板201上，安装架3包括有定位孔301和测试探头302，安装架3上设置有定位孔301，且安装架3下端设置有测试探头302，安装架3设置在第二电动伸缩杆206下端，测试探头302与外界测试设备电连接，装置体1上表面设置有限位杆4，且限位杆4设置在测试架2内侧，装置体1的上滑动连接有置物台5，且置物台5下端与传动轴6相连接，置物台5包括有放置槽501、载物台502和安放架503，且置物台5上设置有放置槽501，放置槽501内设置有载物台502，且载物台502上端设置有安放架503，载物台502上呈环形阵列分布着安放架503，可对电子产品连续测试，传动轴6下端贯穿装置体1的上表面，且传动轴6之间通过同步带7相连接，左侧的传动轴6与电动机8相连接，且电动机8设置在装置体1内，电动机8、传动轴6、同步带7和置物台5组成转动机构，且置物台5设置有两个，在电动机8、传动轴6和同步带7作用下带动置物台5转动，便于对摆放的未测试电子产品进行测试。
工作原理：在使用该电子产品性能测试装置时，接通电源，将左侧的摆放盘102中的未测试电子产品安装在两侧的置物台5上，测试探头302与测试设备电连接，在第二电动伸缩杆206作用下推动安装架3，安装架3通过定位孔301与限位杆4配合下移，测试探头302与安放架503上电子产品接触，通过测试设备对电子产品进行测试，当一个电子测试完后，第二电动伸缩杆206将测试探头302拉升，电动机8带动左侧的传动轴6转动，左侧的传动轴6带动左侧的置物台5转动，对上方的电子产品位置调节，方便对下一个电子产品进行测试，当左侧的置物台5上的电子产品测试完后，将测试探头302拉升，在第一电动伸缩杆205左右下，将测试探头302移动到右侧，对右侧的置物台5上的电子产品进行测试，与此同时，将左侧的载物台502从放置槽501中取出，将测试后的电子产品放入到右侧的摆放盘102中存放，重新安装一批未测试的电子产品摆放在置物台5上，电动机8带动左侧的传动轴6转动，左侧的传动轴6通过同步带7带动右侧的传动轴6转动，右侧的传动轴6带动右侧的置物台5转动，便于电子产品的位置变动进行测试，本说明书中未作详细描述的内容属于本领域专业技术人员公知的现有技术。
术语“中心”、“纵向”、“横向”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为便于描述本实用新型的简化描述，而不是指示或暗指所指的装置或元件必须具有特定的方位、为特定的方位构造和操作，因而不能理解为对本实用新型保护内容的限制。
尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种电子产品性能测试装置，包括装置体(1)，其特征在于：所述装置体(1)上设置有测试架(2)，且测试架(2)上设置有安装架(3)，所述装置体(1)上表面设置有限位杆(4)，且限位杆(4)设置在测试架(2)内侧，所述装置体(1)的上滑动连接有置物台(5)，且置物台(5)下端与传动轴(6)相连接，所述传动轴(6)下端贯穿装置体(1)的上表面，且传动轴(6)之间通过同步带(7)相连接，左侧的所述传动轴(6)与电动机(8)相连接，且电动机(8)设置在装置体(1)内。
2.根据权利要求1所述的一种电子产品性能测试装置，其特征在于：所述装置体(1)包括有辅助支架(101)和摆放盘(102)，且辅助支架(101)设置在装置体(1)的侧面，同时装置体(1)上设置有摆放盘(102)。
3.根据权利要求1所述的一种电子产品性能测试装置，其特征在于：所述测试架(2)包括有支板(201)、滑杆(202)、限位板(203)、移动架(204)、第一电动伸缩杆(205)和第二电动伸缩杆(206)，且支板(201)之间通过滑杆(202)相连接，滑杆(202)上设置有限位板(203)和移动架(204)，且移动架(204)设置在限位板(203)之间，移动架(204)左侧与第一电动伸缩杆(205)相连接，且移动架(204)下端设置有第二电动伸缩杆(206)。
4.根据权利要求1所述的一种电子产品性能测试装置，其特征在于：所述安装架(3)包括有定位孔(301)和测试探头(302)，安装架(3)上设置有定位孔(301)，且安装架(3)下端设置有测试探头(302)。
5.根据权利要求1所述的一种电子产品性能测试装置，其特征在于：所述置物台(5)包括有放置槽(501)、载物台(502)和安放架(503)，且置物台(5)上设置有放置槽(501)，放置槽(501)内设置有载物台(502)，且载物台(502)上端设置有安放架(503)。
6.根据权利要求1所述的一种电子产品性能测试装置，其特征在于：所述电动机(8)、传动轴(6)、同步带(7)和置物台(5)组成转动机构，且置物台(5)设置有两个。
Priority Applications (1)
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| CN202020973492.3U CN212514685U (zh) | 2020-06-02 | 2020-06-02 | 一种电子产品性能测试装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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| CN212514685U true CN212514685U (zh) | 2021-02-09 |
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Country Status (1)
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| CN (1) | CN212514685U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113376458A (zh) * | 2021-05-12 | 2021-09-10 | 魏冉冉 | —种多工位晶体振荡器智能测试分类系统 |
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2020
- 2020-06-02 CN CN202020973492.3U patent/CN212514685U/zh active Active
Cited By (2)
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| CN113376458A (zh) * | 2021-05-12 | 2021-09-10 | 魏冉冉 | —种多工位晶体振荡器智能测试分类系统 |
| CN113376458B (zh) * | 2021-05-12 | 2023-12-01 | 魏冉冉 | 一种多工位晶体振荡器智能测试分类系统 |
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