CN212482376U - 一种平面平整度检测装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型的目的在于提供一种平面平整度检测装置,用于对产品的平整度进行检测;包括检测平台,活动盘,千分表,垫块;所述检测平台设置有上、下两个固定台,上、下固定台通过垂直于上下固定台的支架固定连接,上固定台与下固定台相互平行;所述活动盘固定在所述上固定台上;所述垫块4设置在所述下固定台上;所述千分表固定在所述活动盘上;本实用新型的有益效果为:检测方便,主要是适用于产品大批量快速生产过程中质量抽检;缺陷位置易查,可检测范围广;可用于中凸或者中凹工件检测边缘平整,也可用于检测有相互位置平行度要求的工件,通用性强。
Description
技术领域
本实用新型涉及检测设备技术领域,尤其涉及一种平面平整度检测装置。
背景技术
现阶段针对产品工件平面平整度检测,正常产品检测是用三坐标检测设备进行数据采集,具体数据也是用平面度进行评判,在实际批量生产应用中,三坐标不能满足实际测量需求(主要是测量效率),另外三坐标设备作为精密仪器,直接用于工件批量生产检测,在成本和仪器设备中都不是最优化,所以需要进行设备简化。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种平面平整度检测装置,用于对产品的平整度进行检测。
本实用新型提供一种平面平整度检测装置,包括检测平台1,活动盘2,千分表3,垫块4;
所述检测平台1设置有上、下两个固定台,上、下固定台通过垂直于上下固定台的支架固定连接,上固定台与下固定台相互平行;所述活动盘2固定在所述上固定台上;所述垫块4设置在所述下固定台上;所述千分表3固定在所述活动盘2上。
优选的,所述垫块4设置在所述活动盘2的正下方。
优选的,所述活动盘2均分为三等份,每份为一扇形支架,所述千分表3分别固定在所述扇形支架的外侧端部。
优选的,所述千分表3的一侧端头与所述活动盘2轴连接。
优选的,所述活动盘2上设置有凹槽与所述千分表3上的凸块配合。
本实用新型的有益效果为:检测方便,主要是适用于产品大批量快速生产过程中质量抽检;缺陷位置易查,根据三个示值的相互差就可判定缺陷位置或者是缺陷趋势,以及生产中不稳定因素的排查;活动盘上有优化设计,可检测范围广;可用于中凸或者中凹工件检测边缘平整,也可用于检测有相互位置平行度要求的工件,通用性强。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图;
图2为活动盘结构示意图;
图3为千分表结构示意图;
图4为活动盘与千分表连接结构示意图;
图中,
1、检测平台;2、活动盘;3、千分表;4、垫块。
具体实施方式
下面结合附图对本实用进行详细描述,本部分的描述仅是示范性和解释性,不应对本实用新型的保护范围有任何的限制作用。
本实用新型提供一种平面平整度检测装置,包括检测平台1,活动盘2,千分表3,垫块4;
所述检测平台1设置有上、下两个固定台,上、下固定台通过垂直于上下固定台的支架固定连接,上固定台与下固定台相互平行;所述活动盘2固定在所述上固定台上;所述垫块4设置在所述下固定台上;所述千分表3固定在所述活动盘2上。
本实施例中优选的,所述垫块4设置在所述活动盘2的正下方。
本实施例中优选的,所述活动盘2均分为三等份,每份为一扇形支架,所述千分表3分别固定在所述扇形支架的外侧端部。
如图3所示,千分表3的一侧端头与所述活动盘2轴连接;以连接处为圆心水平转动进行测量。
如图4所示,所述活动盘2上设置有凹槽与所述千分表3上的凸块配合。
检测平台1主要用于放置垫块4和支撑活动盘2;
垫块4主要是对检测平面1进行支撑,要有一定的平整度;
活动盘2安装在检测平台支架上,活动盘有3个安装千分表的位置,用于检测工件,针对检测范围以及表头安装进行了扩展范围设计;
千分表(或百分表)主要是根据工件精度要求确定测量表分度值;
检测方式:
预估工件尺寸,确定垫块;根据工艺要求确定千分表(或百分表);把垫块跟待测工件放置在检测平台上,活动盘安装在检测平台支架上,调整检测高度;把千分表安装在检测支架上,用样块进行校准;
开始测量:
同时检测工件一个表面三个点,根据千分表示值相互差值,确定工件不平度,查找工件尺寸加工过程中表面缺陷,评判缺陷位置都是比较容易实现。
需要说明的是,术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。此外,术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
以上所述的本实用新型实施方式,并不构成对本实用新型保护范围的限定。任何在本实用新型的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等,均应包含在本实用新型的权利要求保护范围之内。
Claims (5)
1.一种平面平整度检测装置,包括检测平台(1),活动盘(2),千分表(3),垫块(4);
其特征在于,
所述检测平台(1)设置有上、下两个固定台,上、下固定台通过垂直于上下固定台的支架固定连接,上固定台与下固定台相互平行;所述活动盘(2)固定在所述上固定台上;所述垫块(4)设置在所述下固定台上;所述千分表(3)固定在所述活动盘(2)上。
2.根据权利要求1所述的一种平面平整度检测装置,其特征在于,所述垫块(4)设置在所述活动盘(2)的正下方。
3.根据权利要求2所述的一种平面平整度检测装置,其特征在于,所述活动盘(2)均分为三等份,每份为一扇形支架,所述千分表(3)分别固定在所述扇形支架的外侧端部。
4.根据权利要求3所述的一种平面平整度检测装置,其特征在于,所述千分表(3)的一侧端头与所述活动盘(2)轴连接。
5.根据权利要求4所述的一种平面平整度检测装置,其特征在于,所述活动盘(2)上设置有凹槽与所述千分表(3)上的凸块配合。
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CN202020856883.7U CN212482376U (zh) | 2020-05-20 | 2020-05-20 | 一种平面平整度检测装置 |
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CN202020856883.7U Active CN212482376U (zh) | 2020-05-20 | 2020-05-20 | 一种平面平整度检测装置 |
Country Status (1)
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- 2020-05-20 CN CN202020856883.7U patent/CN212482376U/zh active Active
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