CN212364491U - 一种基于pcb损耗测试的可升降装置 - Google Patents

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姚文博
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Abstract

本实用新型提供一种基于PCB损耗测试的可升降装置,包括:主体和升降装置;所述主体的一侧设置穿管,探头通过穿管与本装置连接;所述升降装置有四个,四个所述的升降装置分别设置于主体的底部四角。本实用新型通过设置升降装置,无需额外垫coupon,测试过程中,只需升降本装置,即可与探头进行接触,对探头起到保护作用,保证了测试的准确性。

Description

一种基于PCB损耗测试的可升降装置
技术领域
本实用新型属于信号测试技术领域,具体涉及一种基于PCB损耗测试的可升降装置。
背景技术
随着高速互联链路信号传输速率的不断提高,作为器件和信号传输的载体,PCB的信号完整性对通信系统的电气性能影响越来越突出。目前对于PCB的管控,信号完整性方面主要检测阻抗及损耗两方面:损耗测试方面大多采用DeltaL法,其原理是采用PNA及厘科探头来检测具体插损值;阻抗测试方面大多采用阻抗测试条coupon。
目前对于PCB性能检测方面,coupon是由板厂提供,在其上做探头测试接口,使用者需调整coupon位置,对于较窄小的coupon,厘科探头需要用其他coupon等垫着做好平衡,并且在探头上加压砝码,达到探头与coupon的良好接触,做到既不会损毁探头,又能稳定准确输出测试信号,保证测试的准确性。
但是这种方式存在以下不足:对于探头与coupon的良好连接和更好的保护探头,经常需要对探头支垫,耗费太多时间和人力,而且并不能保证探头与coupon的良好接触,不能很好地保护探头。
实用新型内容
针对现有技术的上述不足,本实用新型提供一种基于PCB损耗测试的可升降装置,以解决上述技术问题。
本实用新型提供一种基于PCB损耗测试的可升降装置,包括:主体和升降装置;所述主体的一侧设置穿管,探头通过穿管与本装置连接;所述升降装置有四个,四个所述的升降装置分别设置于主体的底部四角。
进一步的,所述升降装置包括条形槽、升降体、基座、第一弹簧、卡动装置和拨动手柄;所述基座、第一弹簧、升降体均设置于条形槽的槽内;所述基座固定于条形槽的底部,所述第一弹簧固定于基座上;所述升降体位于第一弹簧上方且与第一弹簧连接;所述拨动手柄固定在升降体上;所述卡动装置设置于条形槽的槽内侧面。
进一步的,所述升降体与卡动装置相对的一面设置一排等距的挡片,所述挡片斜向上固定。
进一步的,所述卡动装置包括卡角和第二弹簧,所述第二弹簧横向固定于条形槽的内壁,所述卡角与第二弹簧连接,所述卡角上设置有卡动手柄;所述卡动装置与挡片配合,确定升降体的位置。
进一步的,所述条形槽的高度应大于升降体长度、基座长度和第一弹簧最长长度之和。
进一步的,所述主体顶部设置用于放置coupon的垫板,所述垫板有多个,多个所述的垫板为条形,所述垫板可架空coupon,防止coupon的零件在测试过程中被破坏。
本实用新型的有益效果在于,
本实用新型提供的一种基于PCB损耗测试的可升降装置,将coupon置于在本装置后,使用者只需将本装置进行升降,而无需额外垫coupon,本装置内设有专门的升降装置,使得coupon与探头之间的距离可以随着升降装置进行细调;同时,本装置贯穿于探头的把柄上,测试过程中,只需升降本装置,即可与探头进行接触,对探头起到保护作用;有利于PCB测试时稳定准确输出测试信号,保证测试的准确性。
此外,本实用新型设计原理可靠,结构简单,具有非常广泛的应用前景。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,对于本领域普通技术人员而言,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本申请一个实施例的系统的结构示意图;
图2是本申请一个实施例1的升降装置的结构示意图;
其中,1、主体;2、升降装置;3、探头;4、穿管;5、条形槽;6、升降体;7、升降体;8、第一弹簧;9、卡动装置;10、拨动手柄;11、挡片;12、卡角;13、第二弹簧;14、卡动手柄;15、垫板。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本实用新型中的技术方案,下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都应当属于本实用新型保护的范围。
需要说明的是,在不冲突的情况下,本实用新型中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
在本实用新型的描述中,需要理解的是,术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。此外,术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”等的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多该特征。在本实用新型的描述中,除非另有说明,“多个”的含义是两个或两个以上。
下面将参考附图并结合实施例来详细说明本实用新型。
实施例1
本实施例提供一种基于PCB损耗测试的可升降装置,包括:主体1和升降装置2;所述主体1的一侧设置穿管4,探头3通过穿管4与本装置连接;所述升降装置2有四个,四个所述的升降装置2分别设置于主体1的底部四角。
所述升降装置2包括条形槽5、升降体6、基座7、第一弹簧8、卡动装置9和拨动手柄10;所述基座7、第一弹簧8、升降体6均设置于条形槽5的槽内;所述基座7固定于条形槽5的底部,所述第一弹簧8固定于基座7上;所述升降体6位于第一弹簧8上方且与第一弹簧8连接;所述拨动手柄10固定在升降体6上;所述卡动装置9设置于条形槽5的槽内侧面;所述升降体6与卡动装置9相对的一面设置一排等距的挡片11,所述挡片11斜向上固定。
所述卡动装置9包括卡角12和第二弹簧13,所述第二弹簧13横向固定于条形槽5的内壁,所述卡角12与第二弹簧13连接,所述卡角12上设置有卡动手柄14。所述条形槽5的高度应大于升降体6长度、基座7长度和第一弹簧8最长长度之和。
测试过程中,将探头3穿过穿管4,将coupon放在主体1顶部,上下移动拨动手柄10,找到适合coupon与探头接触的高度后,拨动卡动装置固定升降装置的高度,参考图2向右拨动卡动手柄,确定好升降装置2的高度后,松开卡动手柄14,使卡角12卡在挡片11之间;所述四个升降装置2卡角的位置应保持一致,以此保证所有升降装置的高度相同,使得主体与探针可以更好地接触。
实施例2
本实施例在实施例1的基础上增加了垫板,所述垫板15通过螺丝固定于主体上,所述垫板15有多个,多个所述的垫板15为条形。
测试过程中,将coupon放置于垫板15上,所述垫板可架空coupon,防止coupon的零件在测试过程中被破坏。
尽管通过参考附图并结合优选实施例的方式对本实用新型进行了详细描述,但本实用新型并不限于此。在不脱离本实用新型的精神和实质的前提下,本领域普通技术人员可以对本实用新型的实施例进行各种等效的修改或替换,而这些修改或替换都应在本实用新型的涵盖范围内/任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此,本实用新型的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。

Claims (5)

1.一种基于PCB损耗测试的可升降装置,其特征在于,包括:主体和升降装置;所述主体的一侧设置穿管,探头通过穿管与本装置连接;所述升降装置有四个,四个所述的升降装置分别设置于主体的底部四角;所述升降装置包括条形槽、升降体、基座、第一弹簧、卡动装置和拨动手柄;所述基座、第一弹簧、升降体均设置于条形槽的槽内;所述基座固定于条形槽的底部,所述第一弹簧固定于基座上;所述升降体位于第一弹簧上方且与第一弹簧连接;所述拨动手柄固定在升降体上;所述卡动装置设置于条形槽的槽内侧面。
2.根据权利要求1所述的一种基于PCB损耗测试的可升降装置,其特征在于,所述升降体与卡动装置相对的一面设置一排等距的挡片,所述挡片斜向上固定。
3.根据权利要求1所述的一种基于PCB损耗测试的可升降装置,其特征在于,所述卡动装置包括卡角和第二弹簧,所述第二弹簧横向固定于条形槽的内壁,所述卡角与第二弹簧连接,所述卡角上设置有卡动手柄。
4.根据权利要求1所述的一种基于PCB损耗测试的可升降装置,其特征在于,所述条形槽的高度应大于升降体长度、基座长度和第一弹簧最长长度之和。
5.根据权利要求1所述的一种基于PCB损耗测试的可升降装置,其特征在于,所述主体顶部设置用于放置coupon的垫板,所述垫板有多个,多个所述的垫板为条形。
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