CN212275884U - 一种半导体激光器芯片测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种半导体激光器芯片测试装置，包括装置本体，所述装置本体底端四角处固定安装有固定套筒，所述固定套筒内壁边部焊接有凸块，所述固定套筒内壁活动连接有活动套筒，所述活动套筒一端对应凸块底端边部开设有凹槽，所述活动套筒底端中部固定安装有橡胶垫，所述固定套筒外表面顶部等距开设有方孔，所述方孔内壁中部设置有T型插杆，所述活动套筒内壁边部滑动连接有活动板，通过固定套筒、凸块、活动套筒、凹槽、橡胶垫、方孔和T型插杆，能够便于调节装置本体的高度，降低了装置本体高度的调节难度，进而便于不同身高的人群使用该装置，从而增加了该装置的适用范围，并且该调节方式操作简单，使用便捷。

Description

一种半导体激光器芯片测试装置

技术领域

本实用新型涉及半导体激光器检测技术领域，具体为一种半导体激光器芯片测试装置。

背景技术

高功率半导体激光器由于其小体积、高效率、长寿命、大功率等诸多优点，被广泛应用于医疗、工业加工等许多领域。封装质量是半导体激光器质量的重要影响因素，芯片封装工艺作为激光器制作的重要工艺，是高功率半导体激光器应用的重要限制因素，其封装质量直接影响半导体激光器的功率、阈值电流、波长、和偏振态等输出特性，同时影响半导体激光器的可靠性和寿命；

为此中国专利申请号为201920204021.3公开了一种半导体激光器综合性能测试系统，该专利测试范围广泛，能够对功率、波长、或偏振态进行同时测试；

但是该专利由于装置的高度是固定的，而无法对装置的高度进行调节，导致该装置只能适用于同一身高的人群，降低了该装置的适用范围。

实用新型内容

本实用新型提供一种半导体激光器芯片测试装置，可以有效解决上述背景技术中提出的但是该专利由于装置的高度是固定的，而无法对装置的高度进行调节，导致该装置只能适用于同一身高的人群，降低了该装置的适用范围的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种半导体激光器芯片测试装置，包括装置本体，所述装置本体底端四角处固定安装有固定套筒，所述固定套筒内壁边部焊接有凸块，所述固定套筒内壁活动连接有活动套筒，所述活动套筒一端对应凸块底端边部开设有凹槽，所述活动套筒底端中部固定安装有橡胶垫，所述固定套筒外表面顶部等距开设有方孔，所述方孔内壁中部设置有T型插杆；

所述活动套筒内壁边部滑动连接有活动板，所述活动板顶端中部安装有分隔板，所述活动板底端对称焊接有连接条，所述连接条一端对称转动连接有丝杆，所述丝杆外表面对应连接条两端均套接有圆环，所述圆环外表面套接有皮带，所述丝杆一端连接有L型杆，所述L型杆一端连接有橡胶垫。

优选的，所述丝杆一端对应L型杆一端开设有螺孔，所述丝杆位于螺孔内部。

优选的，所述T型插杆一端中部开设有定位孔，所述定位孔内部中部设置有T型杆。

所述装置本体顶端边部固定安装有放置罩，所述放置罩顶端边部铰接有防护盖，所述放置罩背面边部固定安装有L型支撑杆，所述L型支撑杆顶端中部螺纹杆连接有转动块，所述螺纹杆外表面对应L型支撑杆两端边部位置处套接有螺母。

优选的，所述L型支撑杆顶端对应转动块外表面边部开设有转动槽，所述转动块位于转动槽内部。

优选的，所述转动块和L型支撑杆之间通过螺纹杆连接，所述螺纹杆和L型支撑杆之间通过螺母连接。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果：

1、通过固定套筒、凸块、活动套筒、凹槽、橡胶垫、方孔和T型插杆，能够便于调节装置本体的高度，降低了装置本体高度的调节难度，进而便于不同身高的人群使用该装置，从而增加了该装置的适用范围，并且该调节方式操作简单，使用便捷。

2、通过活动板、分隔板、连接条、丝杆、圆环、皮带、L型杆和橡胶垫，能够对活动板表面的装置进行分隔，从而降低了活动板表面装置的干扰，并且能够对活动板上的装置进行固定，从而使活动板上的装置和活动板之间连接的更加稳定。

3、通过放置罩、防护盖、L型支撑杆、转动块、螺母和螺纹杆，能够便于对放置罩进行防护，并且对防护盖进行支撑，从而便于防护盖的拿取，降低了防护盖的拿取难度。

附图说明

附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。

在附图中：

图1是本实用新型的结构示意图；

图2是本实用新型螺纹杆的安装结构示意图；

图3是本实用新型圆环的安装结构示意图；

图4是本实用新型凸块的安装结构示意图；

图中标号：1、装置本体；2、固定套筒；3、凸块；4、活动套筒；5、凹槽；6、橡胶圆垫；7、方孔；8、T型插杆；9、活动板；10、分隔板；11、连接条；12、丝杆；13、圆环；14、皮带；15、L型杆；16、橡胶垫；17、放置罩；18、防护盖；19、L型支撑杆；20、转动块；21、螺母；22、螺纹杆。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

实施例：如图1-4所示，本实用新型提供一种技术方案，一种半导体激光器芯片测试装置，包括装置本体1，装置本体1底端四角处固定安装有固定套筒2，固定套筒2内壁边部焊接有凸块3，固定套筒2内壁活动连接有活动套筒4，活动套筒4一端对应凸块3底端边部开设有凹槽5，活动套筒4底端中部固定安装有橡胶圆垫6，固定套筒2外表面顶部等距开设有方孔7，方孔7内壁中部设置有T型插杆8，T型插杆8一端中部开设有定位孔，定位孔内部中部设置有T型杆，能够便于对T型插杆8进行固定，降低了T型插杆8的固定难度。

活动套筒4内壁边部滑动连接有活动板9，活动板9顶端中部安装有分隔板10，活动板9底端对称焊接有连接条11，连接条11一端对称转动连接有丝杆12，丝杆12一端对应L型杆15一端开设有螺孔，丝杆12位于螺孔内部，能够便于L型杆15的移动，降低了L型杆15的移动难度，丝杆12外表面对应连接条11两端均套接有圆环13，圆环13外表面套接有皮带14，丝杆12一端连接有L型杆15，L型杆15一端连接有橡胶垫16。

装置本体1顶端边部固定安装有放置罩17，放置罩17顶端边部铰接有防护盖18，放置罩17背面边部固定安装有L型支撑杆19，L型支撑杆19顶端对应转动块20外表面边部开设有转动槽，转动块20位于转动槽内部，能够便于转动块20的转动，降低了转动块20的转动难度，L型支撑杆19顶端中部螺纹杆22连接有转动块20，转动块20和L型支撑杆19之间通过螺纹杆22连接，螺纹杆22和L型支撑杆19之间通过螺母21连接，能够便于转动块20的安装，降低了转动块20的安装难度，螺纹杆22外表面对应L型支撑杆19两端边部位置处套接有螺母21。

本实用新型的工作原理及使用流程：激光器芯片测试装置在实际使用过程中，先将T型插杆8沿着方孔7内部放入，然后将活动板9和活动套筒4之间进行安装，接着将活动套筒4的凹槽5和凸块3外表面贴合，接着将活动套筒4沿着固定套筒2内部移动，并且和T型插杆8之间贴合，能够便于调节装置本体1的高度，降低了装置本体1高度的调节难度，进而便于不同身高的人群使用该装置，从而增加了该装置的适用范围，并且该调节方式操作简单，使用便捷；

接着将装置本体1的测试元件放入到活动板9外表面，然后使用人员拉动皮带14，皮带14带动圆环13转动并且带动丝杆12转动，而丝杆12转动时带动L型杆15移动，并且使L型杆15一端的橡胶垫16和活动板9上的元件贴合，并且带动活动板9的元件和分隔板10贴合，能够对活动板9表面的装置进行分隔，从而降低了活动板9表面装置的干扰，并且能够对活动板9上的装置进行固定，从而使活动板9上的装置和活动板9之间连接的更加稳定；

最后打开防护盖18，防护盖18沿着放置罩17外表面转动，并且使得防护盖18一端边部与转动块20贴合，而通过螺母21和螺纹杆22，能够便于对转动块20角度进行调节，并且对转动块20进行固定，能够便于对放置罩17进行防护，并且对防护盖18进行支撑，从而便于防护盖18的拿取，降低了防护盖18的拿取难度。

最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种半导体激光器芯片测试装置，包括装置本体(1)，其特征在于：所述装置本体(1)底端四角处固定安装有固定套筒(2)，所述固定套筒(2)内壁边部焊接有凸块(3)，所述固定套筒(2)内壁活动连接有活动套筒(4)，所述活动套筒(4)一端对应凸块(3)底端边部开设有凹槽(5)，所述活动套筒(4)底端中部固定安装有橡胶圆垫(6)，所述固定套筒(2)外表面顶部等距开设有方孔(7)，所述方孔(7)内壁中部设置有T型插杆(8)；

所述活动套筒(4)内壁边部滑动连接有活动板(9)，所述活动板(9)顶端中部安装有分隔板(10)，所述活动板(9)底端对称焊接有连接条(11)，所述连接条(11)一端对称转动连接有丝杆(12)，所述丝杆(12)外表面对应连接条(11)两端均套接有圆环(13)，所述圆环(13)外表面套接有皮带(14)，所述丝杆(12)一端连接有L型杆(15)，所述L型杆(15)一端连接有橡胶垫(16)。

2.根据权利要求1所述的一种半导体激光器芯片测试装置，其特征在于：所述丝杆(12)一端对应L型杆(15)一端开设有螺孔，所述丝杆(12)位于螺孔内部。

3.根据权利要求1所述的一种半导体激光器芯片测试装置，其特征在于：所述T型插杆(8)一端中部开设有定位孔，所述定位孔内部中部设置有T型杆。

4.根据权利要求1所述的一种半导体激光器芯片测试装置，其特征在于：所述装置本体(1)顶端边部固定安装有放置罩(17)，所述放置罩(17)顶端边部铰接有防护盖(18)，所述放置罩(17)背面边部固定安装有L型支撑杆(19)，所述L型支撑杆(19)顶端中部螺纹杆(22)连接有转动块(20)，所述螺纹杆(22)外表面对应L型支撑杆(19)两端边部位置处套接有螺母(21)。

5.根据权利要求4所述的一种半导体激光器芯片测试装置，其特征在于：所述L型支撑杆(19)顶端对应转动块(20)外表面边部开设有转动槽，所述转动块(20)位于转动槽内部。

6.根据权利要求4所述的一种半导体激光器芯片测试装置，其特征在于：所述转动块(20)和L型支撑杆(19)之间通过螺纹杆(22)连接，所述螺纹杆(22)和L型支撑杆(19)之间通过螺母(21)连接。

Images