CN212275850U

CN212275850U - 一种天线测试装置

Info

Publication number: CN212275850U
Application number: CN201922066656.4U
Authority: CN
Inventors: 王纵; 陈艳丽; 霍勇; 谢强强
Original assignee: Huizhou BYD Industrial Co Ltd
Current assignee: Huizhou BYD Industrial Co Ltd
Priority date: 2019-11-26
Filing date: 2019-11-26
Publication date: 2021-01-01
Anticipated expiration: 2029-11-26

Abstract

本实用新型公开一种天线测试装置，包括：天线通路、接地线、花式焊盘，所述花式焊盘包括测试端和接地端，所述测试端设置在天线通路上，所述接地端设置在接地线上。通过上述方式，设置花式焊盘代替射频同轴测试座，让夹具顶针和花式焊盘直接接触实现信号的传输，解决了现有的天线测试装置设置射频同轴测试座造成成本浪费的问题和夹具顶针不稳定造成接触不良的问题。

Description

一种天线测试装置

技术领域

本实用新型涉及测试领域，特别涉及一种天线测试装置。

背景技术

在具有射频模块的电子产品的生产过程中，产线上的射频校准和综测环节必不可少。目前产线的校准和综测，需要将夹具的顶针准确地接触到PCBA上的射频同轴测试座，以实现信号的准确传输，完成校准和综测。但是，射频同轴测试座只在校准和综测的时候起到传输信号的作用，对产品的正常使用和性能没有任何影响，也就是说PCBA上的射频同轴测试座是非必须的，会造成成本的浪费。另外，夹具顶针需要穿过射频同轴测试座中间的圆孔，连接到测试座内部的导体，实现信号传输，因为测试座的尺寸限制，夹具的顶针必须很细才能通过测试座中间的圆孔连接到测试座内部的导体，这种夹具设计会导致夹具顶针不稳定，在夹具压合时与PCBA上的射频同轴测试座接触不良。

实用新型内容

本实用新型的目的旨在提供一种天线测试装置，以解决现有的天线测试装置设置射频同轴测试座造成成本浪费的问题和夹具顶针不稳定造成接触不良的问题。

为达到上述目的，本实用新型提供了一种天线测试装置，包括：天线通路、接地线、花式焊盘，所述花式焊盘包括测试端和接地端，所述测试端设置在天线通路上，所述接地端设置在接地线上。

根据本实用新型的天线测试装置，设置花式焊盘代替射频同轴测试座，让夹具顶针和花式焊盘直接接触实现信号的传输，解决了现有的天线测试装置设置射频同轴测试座造成成本浪费的问题和夹具顶针不稳定造成接触不良的问题。

进一步地，所述天线通路、接地线和花式焊盘设置在PCB板上。

进一步地，所述天线通路包括第一线路和第二线路，所述第一线路和第二线路对称设置在接地线两边。

进一步地，花式焊盘的接地端为圆形焊盘，所述圆形焊盘设置在接地线上且不与天线通路接触。

进一步地，花式焊盘的测试端包括第一测试端和第二测试端，所述第一测试端设置在第一线路上，所述第二测试端设置在第二线路上，所述第一测试端不与接地线接触，所述第二测试端不与接地线接触。

进一步地，所述第一测试端和第二测试端以接地端为中心对称设置。

进一步地，所述第一测试端和第二测试端都为扇环形。

进一步地，所述花式焊盘表面镀金。

进一步地，PCB板上还设置有天线焊盘，所述天线焊盘分别设置在第一线路、第二线路和接地线的端部，所述天线焊盘连接天线。

进一步地，所述花式焊盘连接测试仪器。

附图说明

本实用新型上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1为本实用新型一实施例的天线测试装置的示意图。

说明书中的附图标记如下：

10、PCB板；20、花式焊盘；21、第一测试端；22、第二测试端；23、接地端；30、天线通路；31、第一线路；32、第二线路；40、接地线；50、天线焊盘。

具体实施方式

下面详细描述本实用新型的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本实用新型，而不能解释为对本实用新型的限制。

下文的公开提供了许多不同的实施例或例子用来实现本实用新型的不同结构。为了简化本实用新型的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然，它们仅仅为示例，并且目的不在于限制本实用新型。此外，本实用新型可以在不同例子中重复参考数字和/或字母。这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施例和/或设置之间的关系。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“接”应做广义理解，例如，可以是机械连接或电连接，也可以是两个元件内部的连通，可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语的具体含义。

参照下面的描述和附图，将清楚本实用新型的实施例的这些和其他方面。在这些描述和附图中，具体公开了本实用新型的实施例中的一些特定实施方式，来表示实施本实用新型的实施例的原理的一些方式，但是应当理解，本实用新型的实施例的范围不受此限制。相反，本实用新型的实施例包括落入所附加权利要求书的精神和内涵范围内的所有变化、修改和等同物。

如图1所示，本实用新型提供一种天线测试装置，包括：天线通路30、接地线40、花式焊盘20，所述花式焊盘20包括测试端和接地端23，所述测试端设置在天线通路30上，所述接地端23设置在接地线40上。在本实用新型的一实施例中，所述天线通路30、接地线40和花式焊盘20设置在PCB板10上。

优选地，所述天线通路30包括第一线路31和第二线路32，所述第一线路31和第二线路32对称设置在接地线40两边。花式焊盘20的接地端23为圆形焊盘，所述圆形焊盘设置在接地线40上且不与天线通路30接触。所述花式焊盘20的测试端包括第一测试端21和第二测试端22，所述第一测试端21设置在第一线路31上，所述第二测试端22设置在第二线路32上，所述第一测试端21不与接地线40接触也不与接地端23接触，所述第二测试端22不与接地线40接触也不与接地端23接触。所述第一测试端21和第二测试端22以接地端23为中心对称设置。在本实用新型的一实施例中，所述第一测试端21和第二测试端22都为扇环形。所述花式焊盘30表面镀金。

PCB板10上还设置有天线焊盘50，所述天线焊盘50分别设置在第一线路31、第二线路32和接地线40的端部，所述天线焊盘50连接天线。

在测试时，将测试仪器连接到花式焊盘20上

通过上述方式，设置花式焊盘20代替射频同轴测试座，让夹具顶针和花式焊盘20直接接触实现信号的传输，解决了现有的天线测试装置设置射频同轴测试座造成成本浪费的问题和夹具顶针不稳定造成接触不良的问题。

在本实用新型中未提到的部分均为现有技术，本领域的技术人员应当能够根据本实用新型公开的内容实现本方案，在此不做赘述。

以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其它相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同限定。

Claims

1.一种天线测试装置，其特征在于，包括：天线通路、接地线、花式焊盘，所述花式焊盘包括测试端和接地端，所述测试端设置在天线通路上，所述接地端设置在接地线上；所述天线通路、接地线和花式焊盘设置在PCB板上。

2.根据权利要求1所述的天线测试装置，其特征在于，所述天线通路包括第一线路和第二线路，所述第一线路和第二线路对称设置在接地线两边。

3.根据权利要求2所述的天线测试装置，其特征在于，花式焊盘的接地端为圆形焊盘，所述圆形焊盘设置在接地线上且不与天线通路接触。

4.根据权利要求3所述的天线测试装置，其特征在于，花式焊盘的测试端包括第一测试端和第二测试端，所述第一测试端设置在第一线路上，所述第二测试端设置在第二线路上，所述第一测试端不与接地线接触，所述第二测试端不与接地线接触。

5.根据权利要求4所述的天线测试装置，其特征在于，所述第一测试端和第二测试端以接地端为中心对称设置。

6.根据权利要求5所述的天线测试装置，其特征在于，所述第一测试端和第二测试端都为扇环形。

7.根据权利要求6所述的天线测试装置，其特征在于，所述花式焊盘表面镀金。

8.根据权利要求2所述的天线测试装置，其特征在于，PCB板上还设置有天线焊盘，所述天线焊盘分别设置在第一线路、第二线路和接地线的端部，所述天线焊盘连接天线。

9.根据权利要求1所述的天线测试装置，其特征在于，所述花式焊盘连接测试仪器。