CN212256070U - 料理机电路及料理机 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种料理机电路及料理机。该料理机电路包括杯盖开关、杯盖触发件、控制芯片和过零及杯盖开关检测电路。在杯盖组件盖合于杯体组件上时，杯盖触发件触发杯盖开关闭合。过零及杯盖开关检测电路连接到火线并具有用于输出过零检测信号的过零检测输出端，过零检测输出端连接到控制芯片的信号复用端口。在杯盖组件未盖合时，过零及杯盖开关检测电路输出第一过零检测波形信号；在杯盖组件盖合时，过零及杯盖开关检测电路输出第二过零检测波形信号，控制芯片通过信号复用端口来接收第一过零检测波形信号和第二过零检测波形信号并检测杯盖开关的开合状态及电源的过零点。本实用新型能够减小控制芯片的端口数量、简化电路。

Description

料理机电路及料理机

技术领域

本实用新型涉及家用电器技术领域，尤其涉及一种料理机电路及料理机。

背景技术

随着人们生活水平的日益提高，市场上出现了许多不同类型的料理机。料理机的功能主要可以包括，但不限于，打豆浆、磨干粉、榨果汁、打肉馅、刨冰、制咖啡、为女性调配美容面膜等等功能。料理机可以包括豆浆机、搅拌机或破壁机等。不同种类的功能丰富了人们的生活。

料理机的主机包括料理机电路。如图1所示，现有的料理机电路100通常包括控制芯片101、供电开关电路102、杯盖开关检测电路103及过零检测电路 104。控制芯片101具有控制端口KEY1、杯盖开关检测端口KEY2、过零检测端口ZERO及电压检测端口V-AD。当杯盖开关合上时，杯盖开关检测电路103 中的端子AGND与端子KEYOFF接通，光耦合器U5工作，通过电阻R301、电阻R302和电阻R303的分压，控制芯片101的杯盖开关检测端口KEY2接收到高电平，此时，将杯盖开关检测端口KEY2接收到的高电平反馈给控制芯片101。控制芯片101通过控制端口KEY1输出低电平，使得供电开关电路102中的光耦合器U4工作，三极管Q201导通，继而继电器RLY201吸合导通。此时，电源的火线端L1与连接到负载的公共端COM_L的线L2连通，电源的电压经过过零检测电路104中的二极管D401以及电阻R401、电阻R402和电阻R403的分压，控制芯片101的过零检测端口ZERO检测到过零信号。

在该料理机电路中，杯盖开关检测端口为KEY2,过零检测端口为ZERO，两路信号检测需要使用控制芯片的两个端口，占用芯片硬件资源。而且，两路信号检测软件变量定义多，占用芯片软件资源。

另外，杯盖开关和过零两路信号检测使用器件多，成本高，PCB布局难。而且，由于器件多，导致问题检修困难，维护成本高。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种料理机电路及料理机，能够减小控制芯片的端口数量、简化电路。

本实用新型的一个方面提供一种料理机电路。所述料理机电路包括杯盖开关、杯盖触发件、控制芯片及过零及杯盖开关检测电路。所述杯盖开关设置于料理机的杯体组件上，所述杯盖开关连接在电源的火线与所述料理机的负载的一端之间。所述杯盖触发件设置于所述料理机的杯盖组件上，其中，在所述杯盖组件盖合于所述杯体组件上时，所述杯盖触发件触发所述杯盖开关闭合。所述控制芯片具有信号复用端口。所述过零及杯盖开关检测电路连接到所述火线并具有用于输出过零检测信号的过零检测输出端，所述过零及杯盖开关检测电路的所述过零检测输出端连接到所述控制芯片的所述信号复用端口。其中，在所述杯盖组件未盖合时，所述过零及杯盖开关检测电路输出第一过零检测波形信号；在所述杯盖组件盖合于所述杯体组件上时，所述过零及杯盖开关检测电路输出第二过零检测波形信号，所述控制芯片通过所述信号复用端口来接收所述第一过零检测波形信号和所述第二过零检测波形信号并根据接收到的所述第一过零检测波形信号和所述第二过零检测波形信号来检测所述杯盖开关的开合状态及所述电源的过零点。

进一步地，所述过零及杯盖开关检测电路包括串联连接在所述火线与地之间的第一电阻、整流二极管、第二电阻及第三电阻，所述第一电阻并联于所述杯盖开关，所述第二电阻和第三电阻的连接点作为所述过零检测输出端连接到所述控制芯片的所述信号复用端口，从而可以同时实现过零检测和杯盖开关检测。

进一步地，所述整流二极管连接于所述第一电阻与所述第二电阻之间，所述第三电阻接地。

进一步地，所述第二电阻包括串联的一个或多个电阻，从而可以提高第二电阻的耐压能力。

进一步地，所述信号复用端口包括所述控制芯片的过零检测端口，所述控制芯片包括比较器，所述比较器耦合到所述过零检测端口，所述控制芯片根据所述比较器翻转的时间来检测所述杯盖开关的开合状态。从而，通过控制芯片的过零检测端口不仅实现过零检测，而且还可以实现对杯盖开关的开合状态的检测，省去了原来控制芯片的杯盖开关检测端口。

进一步地，在所述杯盖组件未盖合时，所述比较器具有第一翻转时间；在所述杯盖组件盖合时，所述比较器具有第二翻转时间，其中，所述第二翻转时间大于所述第一翻转时间。从而，可以根据第二翻转时间来判断杯盖组件已盖合。

进一步地，所述信号复用端口包括所述控制芯片的电压检测端口，所述控制芯片根据所述电压检测端口采集到的所述第一过零检测波形信号和所述第二过零检测波形信号的峰值电压来检测所述杯盖开关的开合状态。从而，通过控制芯片的电压检测端口可以实现过零检测及对杯盖开关的开合状态的检测，省去了原来控制芯片的过零检测端口和杯盖开关检测端口。

进一步地，在所述杯盖组件未盖合时，所述电压检测端口采集到所述第一过零检测波形信号具有第一峰值电压；在所述杯盖组件盖合时，所述电压检测端口采集到第二过零检测波形信号具有第二峰值电压，其中，所述第二峰值电压大于所述第一峰值电压。从而，可以根据采集到的第二峰值电压来判断杯盖组件已盖合。

进一步地，所述过零及杯盖开关检测电路还用作为电压检测电路，所述控制芯片还基于所述电压检测端口采集到的所述第一过零检测波形信号和所述第二过零检测波形信号的电压大小来确定所述电源的频率及电源电压。从而，将电压检测电路的功能合并到过零及杯盖开关检测电路中，通过一个过零及杯盖开关检测电路即可实现过零检测、杯盖开关检测及电压检测三大功能，进一步简化电路。

本实用新型的一个方面提供一种料理机。所述料理机包括主机、组装于所述主机上的杯体组件、以及可盖合于所述杯体组件上的杯盖组件。所述主机包括如上所述的料理机电路。

本实用新型的料理机电路及具有该料理机电路的料理机将原来的过零检测电路及杯盖开关检测电路巧妙地合并成一个过零及杯盖开关检测电路，并且，通过控制芯片的信号复用端口的信号复用，从而，通过控制芯片的一个信号复用端口即可实现过零检测和杯盖开关检测两大功能，因此，可以减少控制芯片的端口数量，优化芯片资源，而且，可以减少控制芯片的外围电路，方便PCB布局，节省成本，检修方便，维护成本低。

附图说明

图1为现有的一种料理机电路的电路示意图；

图2为本实用新型一个实施例的料理机的立体示意图；

图3为本实用新型一个实施例的料理机电路的示意性框图；

图4为本实用新型一个实施例的控制芯片的示意图；

图5为本实用新型一个实施例的杯盖开关电路的电路示意图；

图6为本实用新型一个实施例的过零及杯盖开关检测电路的电路示意图；

图7为图4所示的控制芯片的过零检测端口检测到的第一过零检测波形信号和第二过零检测波形信号；

图8为本实用新型另一个实施例的控制芯片的示意图；

图9为图8所示的控制芯片的电压检测端口检测到的第一过零检测波形信号和第二过零检测波形信号。

具体实施方式

这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施例并不代表与本实用新型相一致的所有实施例。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本实用新型的一些方面相一致的装置的例子。

在本实用新型使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本实用新型。除非另作定义，本实用新型使用的技术术语或者科学术语应当为本实用新型所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本实用新型说明书以及权利要求书中使用的“第一”“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。同样，“一个”或者“一”等类似词语也不表示数量限制，而是表示存在至少一个。“多个”或者“若干”表示两个及两个以上。除非另行指出，“前部”、“后部”、“下部”和/或“上部”等类似词语只是为了便于说明，而并非限于一个位置或者一种空间定向。“包括”或者“包含”等类似词语意指出现在“包括”或者“包含”前面的元件或者物件涵盖出现在“包括”或者“包含”后面列举的元件或者物件及其等同，并不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而且可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。在本实用新型说明书和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。还应当理解，本文中使用的术语“和/或”是指并包含一个或多个相关联的列出项目的任何或所有可能组合。

需要说明的是，为了更好地体现本实用新型的创新之处，在本实用新型的附图及其说明书中仅仅示出及说明与本实用新型的创作点密切相关的结构特征，而对于其他不太相关的结构特征或其他现有的结构特征则进行了省略或略述。然而，这并不意味着本实用新型的料理机电路及料理机一定不包括这些其他结构特征，本实用新型的料理机电路及料理机中仍可能包括那些对于实现料理机的基本功能所必要的其他结构特征。

图2揭示了本实用新型一个实施例的料理机10的立体示意图，图3揭示了本实用新型一个实施例的料理机电路200的示意性框图。结合参照图2和图3所示，本实用新型一个实施例的料理机10包括主机11和杯体组件12。料理机10可以是搅拌机、破壁机或榨汁机等。

在一个实施例中，主机11为机座形式。主机11可以提供电能，控制和驱动料理机10工作。主机11包括主机外壳14、设置于主机外壳14内的主控板15和电机16(如图3所示)、以及安装于主机外壳14上的按键/显示面板17。电机16和按键/显示面板17分别与主控板15电性连接，主控板15 分别用于对电机16和按键/显示面板17进行控制。

杯体组件12设置于主机11上。在一个实施例中，杯体组件12可拆卸地安装于主机11上。杯体组件12内可组装有旋转刀组件(未图示)，旋转刀组件转动设置于杯体组件12的容置腔内，并且，旋转刀组件与电机16的转轴连接，旋转刀组件通过电机16驱动进而转动，可以搅拌或破碎食材。旋转刀组件可以设置为搅拌刀组件、破壁刀组件或榨汁轮组件等。

在一个实施例中，杯体组件12包括组装于杯体组件12底部的加热组件 18，例如设置有发热管的发热盘或电磁发热盘等，可以用来加热食材。加热组件18与主控板15连接，主控板15用于控制加热组件18的加热功率。

料理机10还包括杯盖组件13，杯盖组件13可拆卸地盖合于杯体组件12 上。在料理机10工作时，可以将杯盖组件13盖合于杯体组件12上，用于对杯体组件12的杯口进行密封。在料理机10工作结束后，可以将杯盖组件13 从杯体组件12上取下。在一些实施例中，在料理机10的料理过程中，可以打开杯盖组件13来添加食材。

在一个实施例中，料理机10还可以包括组装于杯盖组件13上的排气盖 19，杯体组件12内的蒸汽可以从杯盖组件13和排气盖19之间的间隙排出。

料理机10包括料理机电路200，料理机电路200的至少一部分可以设置于主机11内的主控板15上。料理机电路200包括控制芯片201、杯盖开关电路202及过零及杯盖开关检测电路203。

控制芯片201例如可以为单片机(MCU，Micro-Controller Unit)等。图 4揭示了本实用新型一个实施例的控制芯片201的示意图。如图4所示，控制芯片201具有过零检测端口ZERO和电压检测端口V-AD。在一个实施例中，控制芯片201的过零检测端口ZERO可以作为控制芯片201的信号复用端口。控制芯片201的内部自带硬件比较器2011，比较器2011耦合到过零检测端口ZERO。

图5揭示了本实用新型一个实施例的杯盖开关电路202的电路图。如图 5所示，本实用新型一个实施例的杯盖开关电路202包括杯盖开关S1及杯盖触发件132。杯盖开关S1设置于料理机10的杯体组件12上，杯盖开关S1 连接在电源的火线L1与料理机10的负载的一端之间，其中，加热组件18 的公共端COM_H和电机的公共端COM_M共同连接到线L2。杯盖触发件 132设置于杯盖组件13上。在杯盖组件13盖合于杯体组件12上时，杯盖触发件132可以触发杯盖开关S1闭合，电源的火线L1与线L2电性连通，电源可以提供至加热组件18和电机16。

图6揭示了本实用新型一个实施例的过零及杯盖开关检测电路203的电路示意图。如图6所示，本实用新型一个实施例的过零及杯盖开关检测电路203 连接到电源，例如市电电源的火线，过零及杯盖开关检测电路203具有用于输出过零检测信号的过零检测输出端OUT，过零及杯盖开关检测电路203的过零检测输出端OUT连接到控制芯片201的信号复用端口，例如连接到控制芯片201的过零检测端口ZERO。

在杯盖组件13未盖合时，过零及杯盖开关检测电路203输出第一过零检测波形信号；在杯盖组件13盖合于杯体组件12上时，过零及杯盖开关检测电路203输出第二过零检测波形信号，控制芯片201通过信号复用端口来接收第一过零检测波形信号和第二过零检测波形信号并根据接收到的第一过零检测波形信号和第二过零检测波形信号来检测杯盖开关S1的开合状态及电源的过零点。

在一些实施例中，过零及杯盖开关检测电路203包括串联连接在火线L1 与地GND之间的第一电阻R1、整流二极管D、第二电阻R2及第三电阻R3，第一电阻R1并联于杯盖开关S1，第二电阻R2和第三电阻R3的连接点作为过零检测输出端OUT连接到控制芯片201的信号复用端口。整流二极管D 可以用于将电源的电压波形整流为半波。第一电阻R1、第二电阻R2和第三电阻R3可以分别起到分压的作用。

在一个实施例中，整流二极管D连接于第一电阻R1与第二电阻R2之间，第三电阻R3接地。

考虑到第二电阻R2的耐压能力，第二电阻R2可以包括串联的一个或多个电阻。例如，第二电阻R2可以包括串联的电阻R21和电阻R22。

本实用新型的料理机电路200通过巧妙地设置过零及杯盖开关检测电路 203，从而可以将杯盖开关检测电路与过零检测电路合并，通过一个检测电路即可由控制芯片201的信号复用端口实现过零检测和杯盖开关检测两个功能；而且，杯盖开关检测和过零检测共用控制芯片201的一个信号复用端口，通过控制芯片201的一个信号复用端口即可取代原来的杯盖开关检测和过零检测两个端口，因此，节省了控制芯片201的端口数量，而且，大大简化电路结构。

在将控制芯片201的过零检测端口ZERO作为信号复用端口，即过零检测和杯盖开关检测共用控制芯片201的过零检测端口ZERO来传输信号时，控制芯片201可以根据比较器2011翻转的时间来检测杯盖开关S1的开合状态。

在一个实施例中，在杯盖组件13未盖合时，比较器2011具有第一翻转时间；在杯盖组件13盖合时，比较器2011具有第二翻转时间，其中，第二翻转时间大于第二翻转时间。

图7揭示了图4所示的控制芯片201的过零检测端口ZERO检测到的第一过零检测波形信号和第二过零检测波形信号。以下将结合图7详细介绍如何通过控制芯片201的过零检测端口ZERO来检测杯盖开关S1的开合状态。

由于控制芯片201的内部配置比较器2011，因此，当控制芯片201的过零检测端口ZERO检测到的输入电压超过一定的阈值电压Vth时会进行翻转。如图7并配合参照图6所示，当杯盖组件13未盖合时，杯盖开关S1断开，电源的火线L1和线L2断开，电源的电压经过过零及杯盖开关检测电路203 中的第一电阻R1、整流二极管D、第二电阻R2和第三电阻R3后传输到控制芯片201的过零检测端口ZERO处的电压波形为W1，即第一过零检测波形信号。

当杯盖组件13盖合于杯体组件12上时，过零及杯盖开关检测电路203 中的第一电阻R1被旁路，因此，电源的电压经过过零及杯盖开关检测电路 203中的整流二极管D、第二电阻R2和第三电阻R3后传输到控制芯片201 的过零检测端口ZERO处的电压波形为W2，即第二过零检测波形信号。电压波形W2高于电压波形W1。

电压波形W1传入到控制芯片201的过零检测端口ZERO后经过比较器 2011翻转的时间为t1，即第一翻转时间，而电压波形W2传入到控制芯片201 的过零检测端口ZERO后经过比较器2011翻转的时间为t2，即第二翻转时间。从图7中可以很明显地看出，第二翻转时间t2大于第一翻转时间t1，由此，可以判断第二翻转时间t2为合盖。因此，根据比较器2011翻转的时间可以判断杯盖开关S1的开合状态，进而判断杯盖组件13是否盖合。

图8揭示了本实用新型另一个实施例的控制芯片301的示意图。如图8 所示，与图4所示的控制芯片201的不同指出在于，图8所示的控制芯片301 的电压检测端口V-AD可以作用控制芯片301的信号复用端口，因此，图8 所示的控制芯片301可以省去图4所示的控制芯片201的过零检测端口ZERO。控制芯片301可以根据电压检测端口V-AD采集到的第一过零检测波形信号和第二过零检测波形信号的峰值电压来检测杯盖开关S1的开合状态。

在一个实施例中，在杯盖组件13未盖合时，电压检测端口V-AD采集到第一过零检测波形信号具有第一峰值电压；在杯盖组件盖合时，电压检测端口V-AD采集到第二过零检测波形信号具有第二峰值电压，其中，第二峰值电压大于第一峰值电压。

图9揭示了图8所示的控制芯片301的电压检测端口V-AD检测到的第一过零检测波形信号和第二过零检测波形信号。以下将结合图9详细介绍如何通过控制芯片301的电压检测端口V-AD来检测杯盖开关S1的开合状态。

如图9并配合参照图6所示，当电源的正半波到来时，即电压波形W1 或电压波形W2的正半波到来时，控制芯片301的电压检测端口V-AD检测电压波形W1的峰值电压为V1，控制芯片301的电压检测端口V-AD检测电压波形W2的峰值电压为V2。由于杯盖组件13盖合后，过零及杯盖开关检测电路203中的第一电阻R1R400被旁路，故电压波形W2高于电压波形W1，由此，可以判断峰值电压V2为合盖。因此，根据峰值电压的大小可以判断杯盖开关S1的开合状态，进而判断杯盖组件13是否盖合。

在另一些实施例中，由于将控制芯片301的电压检测端口V-AD作为信号复用端口，因此，过零及杯盖开关检测电路203还可以用作为电压检测电路，控制芯片301还可以基于电压检测端口V-AD采集到的第一过零检测波形信号和第二过零检测波形信号的电压大小来确定电源的频率及电源电压。

继续参照图9所示，当电源的正半波到来时，即电压波形W1或电压波形W2的正半波到来时，控制芯片301的电压检测端口V-AD检测正半波的时间为t3。当电源的负半波到来时，即电压波形W1或电压波形W2的电压为零时，控制芯片301的电压检测端口V-AD检测时间为t4。因此，可以根据t3和t4的时间计算出电源的频率。

当控制芯片301的电压检测端口V-AD检测到有电压时，此时即为电源的过零点时间。

在另一些实施例中，控制芯片301的电压检测端口V-AD通过对峰值电压的采集，根据欧姆定律可以计算出电源的电压大小，从而可以进行电源电压的检测。

相对于图4所示的将控制芯片201的过零检测端口ZERO作为信号复用端口的实施例来说，图8所示的将控制芯片301的电压检测端口V-AD作为信号复用端口的实施例不仅将杯盖开关检测端口和过零检测端口合并到电压检测端口V-AD，还可以将电压检测电路合并到过零及杯盖开关检测电路中，因此，进一步减少了控制芯片301的端口数量，优化芯片资源；而且，减少芯片的外围电路，方便PCB布局，节省成本，检修方便，维护成本低。

本实用新型的料理机电路200可以包括图4所示的控制芯片201或者图 8所示的控制芯片301。

本实用新型的料理机电路200及具有该料理机电路200的料理机10通过将杯盖开关检测和过零检测功能合并，从而可以减少控制芯片201、301的端口数量，优化芯片资源；减少控制芯片201、301的外围电路，方便PCB布局，节省成本，检修方便，维护成本低。

以上仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型保护的范围之内。

Claims (10)

1.一种料理机电路，其特征在于：包括：

杯盖开关，设置于料理机(10)的杯体组件(12)上，所述杯盖开关连接在电源的火线与所述料理机(10)的负载的一端之间；

杯盖触发件(132)，设置于所述料理机(10)的杯盖组件(13)上，其中，在所述杯盖组件(13)盖合于所述杯体组件(12)上时，所述杯盖触发件(132)触发所述杯盖开关闭合；

控制芯片(201)，具有信号复用端口；以及

过零及杯盖开关检测电路(203)，连接到所述火线并具有用于输出过零检测信号的过零检测输出端，所述过零检测输出端连接到所述控制芯片(201)的所述信号复用端口，

其中，在所述杯盖组件(13)未盖合时，所述过零及杯盖开关检测电路(203)输出第一过零检测波形信号；在所述杯盖组件(13)盖合于所述杯体组件(12)上时，所述过零及杯盖开关检测电路(203)输出第二过零检测波形信号，所述控制芯片(201)通过所述信号复用端口来接收所述第一过零检测波形信号和所述第二过零检测波形信号并根据接收到的所述第一过零检测波形信号和所述第二过零检测波形信号来检测所述杯盖开关的开合状态及所述电源的过零点。

2.如权利要求1所述的料理机电路，其特征在于：所述过零及杯盖开关检测电路(203)包括串联连接在所述火线与地之间的第一电阻、整流二极管、第二电阻及第三电阻，所述第一电阻并联于所述杯盖开关，所述第二电阻和第三电阻的连接点作为所述过零检测输出端连接到所述控制芯片(201)的所述信号复用端口。

3.如权利要求2所述的料理机电路，其特征在于：所述整流二极管连接于所述第一电阻与所述第二电阻之间，所述第三电阻接地。

4.如权利要求2所述的料理机电路，其特征在于：所述第二电阻包括串联的一个或多个电阻。

5.如权利要求2所述的料理机电路，其特征在于：所述信号复用端口包括所述控制芯片(201)的过零检测端口，所述控制芯片(201)包括比较器(2011)，所述比较器(2011)耦合到所述过零检测端口，所述控制芯片(201)根据所述比较器(2011)翻转的时间来检测所述杯盖开关的开合状态。

6.如权利要求5所述的料理机电路，其特征在于：在所述杯盖组件(13)未盖合时，所述比较器(2011)具有第一翻转时间；在所述杯盖组件(13)盖合时，所述比较器(2011)具有第二翻转时间，其中，所述第二翻转时间大于所述第一翻转时间。

7.如权利要求2所述的料理机电路，其特征在于：所述信号复用端口包括所述控制芯片(201)的电压检测端口，所述控制芯片(201)根据所述电压检测端口采集到的所述第一过零检测波形信号和所述第二过零检测波形信号的峰值电压来检测所述杯盖开关的开合状态。

8.如权利要求7所述的料理机电路，其特征在于：在所述杯盖组件(13)未盖合时，所述电压检测端口采集到所述第一过零检测波形信号具有第一峰值电压；在所述杯盖组件(13)盖合时，所述电压检测端口采集到第二过零检测波形信号具有第二峰值电压，其中，所述第二峰值电压大于所述第一峰值电压。

9.如权利要求7所述的料理机电路，其特征在于：所述过零及杯盖开关检测电路(203)还用作为电压检测电路，所述控制芯片(201)还基于所述电压检测端口采集到的所述第一过零检测波形信号和所述第二过零检测波形信号的电压大小来确定所述电源的频率及电源电压。

10.一种料理机，其特征在于：其包括：

主机(11)，其包括如权利要求1-9中任一项所述的料理机电路(200)；

杯体组件(12)，其组装于所述主机(11)上；以及

杯盖组件(13)，其可盖合于所述杯体组件(12)上。

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