CN212180964U

CN212180964U - 测试治具和测试系统

Info

Publication number: CN212180964U
Application number: CN202020255635.7U
Authority: CN
Inventors: 李炳虎; 黄小勇; 唐群辉; 刘国强; 梅兵; 张洋
Original assignee: Shenzhen Skyworth RGB Electronics Co Ltd
Current assignee: Shenzhen Skyworth RGB Electronics Co Ltd
Priority date: 2020-03-04
Filing date: 2020-03-04
Publication date: 2020-12-18
Anticipated expiration: 2030-03-04

Abstract

本实用新型公开一种测试治具和测试系统，该测试治具用于电路板测试，所述测试治具包括：测试框架，设有安装面；测试针板，可拆卸地设于所述安装面，所述测试针板用于放置待测电路板，所述测试针板背向所述安装面的一侧设有探针，所述探针用于与所述待测电路板的引脚接触；测试压棒，与所述测试框架转动连接，所述测试压棒包括多个可折叠地压棒；所述测试压棒相对于所述测试框架转动，使所述压棒压紧待测电路板，以使所述探针与所述待测电路板的引脚接触。本实用新型旨在提高测试治具的通用性，降低测试治具的成本，提升测试效率。

Description

测试治具和测试系统

技术领域

本实用新型涉及电路板测试设备技术领域，特别涉及一种测试治具和应用该测试治具的测试系统。

背景技术

现有电路板使用专用治具进行测试，专用治具均为一对一测试，也即一个治具对应一种电路板。当电路板产品种类过多时，测试治具需要很高的设计成本、存放空间及测试治具维护成本。因此，现有专用治具不能通用，导致无法对不同种类的电路板进行测试，测试效率低下。

上述仅用于辅助理解本申请的技术方案，并不代表承认为现有技术。

实用新型内容

本实用新型的主要目的是提供一种测试治具和测试系统，旨在提高测试治具的通用性，降低测试治具的成本，提升测试效率。

为实现上述目的，本实用新型提出的测试治具，用于电路板测试，所述测试治具包括：

测试框架，设有安装面；

测试针板，可拆卸地设于所述安装面，所述测试针板用于放置待测电路板，所述测试针板背向所述安装面的一侧设有探针，所述探针用于与所述待测电路板的引脚接触；及

测试压棒，与所述测试框架转动连接，所述测试压棒包括多个可折叠地压棒；

所述测试压棒相对于所述测试框架转动，使所述压棒压紧待测电路板，以使所述探针与所述待测电路板的引脚接触。

在一实施例中，所述测试框架邻近所述安装面的一侧还凸设有连接板，所述测试压棒还包括与所述连接板转动连接的盖板，每一所述压棒可转动地设于所述盖板面向所述安装面的一侧，以使每一所述压棒具有垂直于所述盖板的测试状态和平行于所述盖板的折叠状态；

在所述测试状态，所述压棒压紧所述待测电路板；

在所述折叠状态，所述压棒不与所述待测电路板接触。

在一实施例中，所述盖板对应每一所述压棒设有一容置槽，在所述折叠状态，每一所述压棒容纳于一所述容置槽内。

在一实施例中，所述连接板远离所述安装面的一端连接有合页，所述盖板的一端与所述合页连接，所述盖板通过所述合页与所述连接板转动连接。

在一实施例中，所述安装面设有限位轴承，所述测试针板背向所述探针的一侧还设有限位导柱，所述测试针板通过所述限位导柱和所述限位轴承的配合与所述安装面可拆卸连接。

在一实施例中，所述安装面凹设有安装槽，所述限位轴承设于所述安装槽内。

在一实施例中，所述安装面还设有压扣，所述测试针板背向所述探针的一侧还设有卡扣，所述测试针板通过所述卡扣和所述压扣的卡扣配合与所述安装面可拆卸连接。

在一实施例中，所述安装面还凸设有两个相对设置的限位台，两个所述限位台间隔且并行设置，以配合形成放置区，所述测试针板可拆卸地容纳于所述放置区内。

在一实施例中，所述测试框架的相对两侧还设有握手槽，两个所述握手槽与所述安装面呈间隔设置。

本实用新型还提出一种测试系统，包括电路板和上述所述的测试治具，所述电路板设有引脚，所述电路板放置于所述测试治具的测试针板上，以使所述引脚与所述测试治具的探针对应。

本实用新型技术方案的测试治具通过将测试针板与测试框架设置为可拆卸连接结构，如此可根据不同种类的待测电路板设置不同的测试针板，从而大大降低了测试治具成本的同时，使得测试框架能够适用于不同种类的电路板进行测试；进一步地，通过将测试压棒与测试框架设置为转动连接结构，配合测试压棒上可折叠的压棒，从而使得压棒根据不同种类的电路板进行折叠调节，以方便不同种类的电路板完成测试。本实用新型提出的测试治具不仅通用性强，且成本低，有效提高了测试治具的测试效率。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本实用新型测试治具一实施例的结构示意图。

附图标号说明：

标号	名称	标号	名称
				100	测试治具	19	握手槽
1	测试框架	2	测试针板
				11	安装面	21	探针
12	连接板	22	限位导柱
				13	合页	23	卡扣
14	限位轴承	3	测试压棒
				15	安装槽	31	压棒
16	压扣	32	盖板
				17	限位台	33	容置槽
18	放置区

本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

需要说明，本实用新型实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

同时，全文中出现的“和/或”或“且/或”的含义为，包括三个方案，以“A和/或B”为例，包括A方案，或B方案，或A和B同时满足的方案。

另外，在本实用新型中如涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本实用新型要求的保护范围之内。

本实用新型提出一种测试治具100，用于测试电路板。可以理解的，测试治具100用于检测电路板功能通道是否良好。

请结合参照图1所示，在本实用新型实施例中，该测试治具100包括测试框架1、测试针板2及测试压棒3，其中，测试框架1设有安装面11；测试针板2可拆卸地设于所述安装面11，所述测试针板2用于放置待测电路板，所述测试针板2背向所述安装面11的一侧设有探针21，所述探针21用于与所述待测电路板的引脚接触；测试压棒3与所述测试框架1转动连接，所述测试压棒3包括多个可折叠地压棒31。

在本实施例中，所述测试压棒3相对于所述测试框架1转动，使所述压棒31压紧待测电路板，以使所述探针21与所述待测电路板的引脚接触。

可以理解的，测试治具100的测试框架1用于安装、固定及支撑测试针板2和测试压棒3，测试框架1的结构可以是安装壳、安装架、安装台、机架或安装平台等，在此不做限定。

在本实施例中，测试治具100的基本原理是将电路板的测试点引脚通过测试框架1上测试针板2的探针21引出，通过探针21向电路板指定测试点引脚提供测试信号，并通过指定的测试点引脚来读取输出信号，从而判断电路板是否工作正常。

本实用新型技术方案的测试治具100通过将测试针板2与测试框架1设置为可拆卸连接结构，如此可根据不同种类的待测电路板设置不同的测试针板2，从而大大降低了测试治具100成本的同时，使得测试框架1能够适用于不同种类的电路板进行测试；进一步地，通过将测试压棒3与测试框架1设置为转动连接结构，配合测试压棒3上可折叠的压棒31，从而使得压棒31根据不同种类的电路板进行折叠调节，以方便不同种类的电路板完成测试。本实用新型提出的测试治具100不仅通用性强，且成本低，有效提高了测试治具的测试效率。

在本实施例中，待测电路板可以是印刷电路板、柔性电路板或硬质电路板和柔性电路板的组合，在此不做限定。本实用新型的测试治具100能够适用于不同种类电路板的测试，只需要根据不同种类的电路板的电路原理图来选取需要测试的功能引脚，进而绘制成图纸，并加工固定在测试针板2上即可。

本实用新型的测试治具100解决了频繁更换测试治具及切换端口的问题，同时增大了存放空间，提高了测试效率。在本实施例中，测试治具100的测试框架1可满足不同种类的电路板，测试治具100的结构简单，且操作方便。可以理解的，通过人工手动将测试压棒3压下(也即使得测试压棒3相对于测试框架1转动)，使得压棒31压紧电路板，从而使得电路板的引脚与测试针板2上的探针21实现良好接触，从而完成测试。

在本实施例中，根据不同种类的电路板更换测试针板2，并调节测试压棒3的压棒31，使得测试针板2和压棒31与待测电路板相适应，如此可满足不同大小尺寸的电路板，大大提升了测试治具100的通用性，节省测试时间及提升测试效率，降低了所需耗费的测试治具100成本。

在一实施例中，如图1所示，所述测试框架1邻近所述安装面11的一侧还凸设有连接板12，所述测试压棒3还包括与所述连接板12转动连接的盖板32，每一所述压棒31可转动地设于所述盖板32面向所述安装面11的一侧，以使每一所述压棒31具有垂直于所述盖板32的测试状态和平行于所述盖板32的折叠状态。

在本实施例中，在所述测试状态，所述压棒31压紧所述待测电路板；在所述折叠状态，所述压棒31不与所述待测电路板接触。

可以理解的，通过连接板12实现与测试压棒3转动连接，从而避免了测试压棒3相对于测试框架1转动时，对测试针板2产生干涉，从而影响测试效率。在本实施例中，通过根据不同种类的待测电路板，调整压棒31的测试状态和折叠状态，使得测试压棒3的压棒31适用于不同种类电路板的测试。

在本实施例中，测试压棒3的盖板32与连接板12的转动连接可以是孔轴配合结构，可以是通过铰接连接实现，或者通过合页连接等，只要是能够实现盖板32与连接板12转动连接的结构均可，在此不做限定。

在一实施例中，如图1所示，所述连接板12远离所述安装面11的一端连接有合页13，所述盖板32的一端与所述合页13连接，所述盖板32通过所述合页13与所述连接板12转动连接。可以理解的，合页13的两个页片分别于连接板12和盖板32连接。

可以理解的，测试压棒3上压棒31的可折叠，可以是压棒31自身实现可折叠，也可以是压棒31相对于盖板32转动而实现可折叠，在此不做限定。在本实施例中，压棒31的一端与盖板32转动连接，例如采用磁铁吸附或采用球头和转动槽的结构实现转动连接，在此不做限定。

通过将压棒31设置为与盖板32转动连接，从而使得测试治具100根据不同种类的电路板，调节压棒31在测试状态和折叠状态之间切换，即可快速完成调整，从而提高测试效率。

在一实施例中，如图1所示，所述盖板32对应每一所述压棒31设有一容置槽33，在所述折叠状态，每一所述压棒31容纳于一所述容置槽33内。

可以理解的，通过在盖板32上凹设容置槽33，从而方便压棒31在折叠状态时，限位在容置槽33内，一方面确保压棒31不影响电路的测试，另一方面对压棒31和电路板实现保护。

在一实施例中，如图1所示，所述安装面11设有限位轴承14，所述测试针板2背向所述探针21的一侧还设有限位导柱22，所述测试针板2通过所述限位导柱22和所述限位轴承14的配合与所述安装面11可拆卸连接。

可以理解的，通过在安装面11上设置限位轴承14，配合测试针板2的限位导柱22，从而实现对测试针板2的限位安装，利用限位轴承14限制测试针板2的上下左右滑动。在本实施例中，限位轴承14和限位导柱22起到限位固定作用，能够有效将测试针板2固定安装在测试框架1的安装面11上，确保测试针板2和待测电路板不发生晃动等，以影响测试效果。

在本实施例中，测试针板2与安装面11还可采用卡扣连接、插接配合、螺钉连接或销钉连接等可拆卸连接方式，在此不做限定。

在一实施例中，如图1所示，所述安装面11凹设有安装槽15，所述限位轴承14设于所述安装槽15内。可以理解的，通过在安装面11凹设安装槽15，从而方便限位轴承14容纳于安装槽15内，避免限位轴承14突出安装面11，从而提高测试针板2的安装稳定性。

在一实施例中，如图1所示，所述安装面11还设有压扣16，所述测试针板2背向所述探针21的一侧还设有卡扣23，所述测试针板2通过所述卡扣23和所述压扣16的卡扣23配合与所述安装面11可拆卸连接。

可以理解的，通过设置压扣16和卡扣23结构，可进一步提高测试针板2的安装稳定性，以保证测试针板2上探针21与待测电路板上引脚的良好接触，从而提高电路板的测试效果。

在一实施例中，如图1所示，所述安装面11还凸设有两个相对设置的限位台17，两个所述限位台17间隔且并行设置，以配合形成放置区18，所述测试针板2可拆卸地容纳于所述放置区18内。

可以理解的，通过在安装面上凸设限位台17，利用两个限位台17配合形成的放置区18实现对测试针板2的定位安装，以提高安装效率和稳定性。

在一实施例中，如图1所示，所述测试框架1的相对两侧还设有握手槽19，两个所述握手槽19与所述安装面11呈间隔设置。

可以理解的，测试治具100的测试框架1呈方形结构，通过在测试框架1的相对两侧设置握手槽19，从而方便测试人员通过握手槽19搬动测试治具100，提高测试治具100的便利性。

本实用新型测试治具100的具体操作流程：在测试前，将可拆卸式的测试针板2放置在框架主体1的安装面11上，通过安装面11上的限位轴承14与测试针板2上的限位导柱22对应连接后，将需要测试的电路板产品放置在测试针板2上，通过手动下压测试压棒3的盖板32，并对应电路板产品调节压棒31，使待测试的电路板测试引脚与探针21接触良好，从而进行测试。在测试框架1后下方装有电路板连接端口，通过探针21引出信号线与框架1后方端口连接，从而进行测试输出。

本实用新型还提出一种测试系统，包括电路板和上述所述的测试治具100，该测试治具100的具体结构参照前述实施例。由于本测试系统采用了前述所有实施例的全部技术方案，因此至少具有前述实施例的技术方案所带来的所有有益效果，在此不再一一赘述。

在本实施例中，所述电路板设有引脚，所述电路板放置于所述测试治具100的测试针板2上，以使所述引脚与所述测试治具100的探针21对应。本实用新型的测试治具100能够重复利用性，且能够及时对电路板实现测试，有效降低了制作成本和制作时间。

以上所述仅为本实用新型的可选实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是在本实用新型的构思下，利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims

1.一种测试治具，用于电路板测试，其特征在于，所述测试治具包括：

测试框架，设有安装面；

2.如权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述测试框架邻近所述安装面的一侧还凸设有连接板，所述测试压棒还包括与所述连接板转动连接的盖板，每一所述压棒可转动地设于所述盖板面向所述安装面的一侧，以使每一所述压棒具有垂直于所述盖板的测试状态和平行于所述盖板的折叠状态；

在所述测试状态，所述压棒压紧所述待测电路板；

在所述折叠状态，所述压棒不与所述待测电路板接触。

3.如权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述盖板对应每一所述压棒设有一容置槽，在所述折叠状态，每一所述压棒容纳于一所述容置槽内。

4.如权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述连接板远离所述安装面的一端连接有合页，所述盖板的一端与所述合页连接，所述盖板通过所述合页与所述连接板转动连接。

5.如权利要求1至4中任一项所述的测试治具，其特征在于，所述安装面设有限位轴承，所述测试针板背向所述探针的一侧还设有限位导柱，所述测试针板通过所述限位导柱和所述限位轴承的配合与所述安装面可拆卸连接。

6.如权利要求5所述的测试治具，其特征在于，所述安装面凹设有安装槽，所述限位轴承设于所述安装槽内。

7.如权利要求1至4中任一项所述的测试治具，其特征在于，所述安装面还设有压扣，所述测试针板背向所述探针的一侧还设有卡扣，所述测试针板通过所述卡扣和所述压扣的卡扣配合与所述安装面可拆卸连接。

8.如权利要求1至4中任一项所述的测试治具，其特征在于，所述安装面还凸设有两个相对设置的限位台，两个所述限位台间隔且并行设置，以配合形成放置区，所述测试针板可拆卸地容纳于所述放置区内。

9.如权利要求1至4中任一项所述的测试治具，其特征在于，所述测试框架的相对两侧还设有握手槽，两个所述握手槽与所述安装面呈间隔设置。

10.一种测试系统，其特征在于，包括电路板和如权利要求1中9中任一项所述的测试治具，所述电路板设有引脚，所述电路板放置于所述测试治具的测试针板上，以使所述引脚与所述测试治具的探针对应。