CN212084661U - 一种sd存储卡的测试治具 - Google Patents

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Abstract

本实用新型公开了一种SD存储卡的测试治具,包括称重器、尺寸测量器、性能检测器和电源,称重器、尺寸测量器和性能检测器在测试治具内部从左往右依次设置,在测试治具内部电源与称重器、尺寸测量器、性能检测器电连接,还包括显示屏,称重器、尺寸测量器、性能检测器上方分别设有一个显示屏,每个显示屏分别与电源电连接并且每个显示屏分别与下方的称重器、尺寸测量器和性能检测器连接,与现有技术相比,本实用新型的积极效果在于测试治具设有称重器、尺寸测量器和性能检测器,可以检测SD存储卡的重量和尺寸合不合格,还有性能检测器可以检测SD存储卡的容量是否达到标准,来快速地挑选不合格的产品,使得输出的产品都是高标准和高质量的。

Description

一种SD存储卡的测试治具
技术领域
本实用新型涉及测试治具领域,尤其是涉及一种SD储存卡的测试治具。
背景技术
有许多治具之所以产生是因为商业的需要,因为有许多类型的治具是客制化的,某些是为了提高生产力、重复特定动作、或使工作更加精确。测试治具属于治具下面的一个类别,专门对产品的功能、功率校准、寿命、性能等进行测试、试验的一种治具。因其主要在生产线上用于产品的各项指标的测试,所以叫测试治具。
SD储存卡的测试治具是为了测试SD储存卡的尺寸有没有错误,还有SD储存卡的储存功能和性能进行测试。
实用新型内容
本实用新型为克服上述情况不足,旨在提供一种能解决上述问题的技术方案。
一种SD存储卡的测试治具,包括称重器、尺寸测量器、性能检测器和电源,称重器、尺寸测量器和性能检测器在测试治具内部从左往右依次设置,在测试治具内部电源与称重器、尺寸测量器、性能检测器电连接,还包括显示屏,称重器、尺寸测量器、性能检测器上方分别设有一个显示屏,每个显示屏分别与电源电连接并且每个显示屏分别与下方的称重器、尺寸测量器和性能检测器连接。
进一步的,每个显示屏的上方都设有两个提示灯,每两个提示灯在测试治具内部分别与称重器、尺寸测量器和性能检测器连接。
进一步的,测试治具外部设有操作台,每个显示屏下方设有一个红色按键和一个绿色按键,全部按键安装固定在操作台上。
进一步的,测试治具的外壁上设有3个SD存储卡插孔,SD存储卡插孔位于显示屏下方。
进一步的,所述称重器为长方体状,所述称重器固定安装在测试治具底部,所述称重器包括承重板,承重板下方设有重量传感器,重量传感器固定在固定板上,并且重量传感器连接着承重板。
进一步的称重器后面设有推板,承重板两侧沿其边沿长度设有滑轨,推板与滑轨活动连接。
进一步的,所述尺寸测量器包括放置板,放置板两侧沿左右长度设置有滑轨,滑轨安装固定在放置板上,滑轨上设有滑动夹板,滑动夹板与滑轨活动连接,滑动夹板内壁上设有激光发射器。
进一步的,所述性能检测器为长方体块状,性能检测器外壁设有 SD存储卡插口,SD存储卡插口内设有金属导片,SD存储卡插口内部设有推块。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:本实用新型的测试治具设有称重器、尺寸测量器和性能检测器,这三个部件可以检测 SD存储卡的重量和尺寸合不合格,还有性能检测器可以检测SD存储卡的容量是否达到所需要的标准,并且通过外部来检测SD存储卡的性能达不达标,来快速地挑选不合格的产品,使得输出的产品都是高标准和高质量的。
本实用新型的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本实用新型的实践了解到。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图
图1是本实用新型的正面剖面结构示意图。
图2是本实用新型的侧面剖面结构示意图。
图3是本实用新型的正面结构示意图。
具体实施方式
下面将对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1~3,本实用新型实施例中,一种SD存储卡的测试治具1,包括称重器7、尺寸测量器5、性能检测器4和电源10,称重器7、尺寸测量器5和性能检测器4在测试治具1内部从左往右依次设置,在测试治具1内部电源与称重器7、尺寸测量器5、性能检测器4电连接,还包括显示屏14,称重器7、尺寸测量器5、性能检测器5上方分别设有一个显示屏14,每个显示屏14分别与电源10电连接并且每个显示屏14分别与下方的称重器7、尺寸测量器5和性能检测器4连接,SD存储卡通过称重器7、尺寸测量器5和性能检测器5进行测试SD存储卡的重量、尺寸和性能是否符合标准和规范,通过这三个步骤将不合格的SD存储卡挑选出来,然后将合格的SD存储卡包装向外出售,使得销售的SD存储卡都是高质量的存储卡,不会存在次品。
如图3所示,每个显示屏14的上方都设有两个提示灯13,每两个提示灯13在测试治具1内部分别与称重器7、尺寸测量器5和性能检测器4连接,两个提示灯13分别亮红灯和绿灯,若指示灯13为红色,则代表所检测的SD存储卡为不合格的存储卡,达不到标准范围;若亮绿灯,则表示该SD存储卡符合标准,为合格产品。
如图2和图3所示,测试治具1外部设有操作台16,每个显示屏14下方设有一个红色按键15和一个绿色按键15,全部按键15安装固定在操作台16上,操作台16上的按键15为开关按键15,绿色按键15为开始工作按键,按下后可以将SD存储卡进行检测,红色按键15为停止工作按键,按下后检测装置将停止工作。
如图3所示,测试治具1的外壁上设有3个SD存储卡插孔17, SD存储卡插孔17位于显示屏14下方,SD存储卡插孔17是用来让 SD存储卡插入进行检测的。
如图1所示,所述称重器7为长方体状,所述称重器7固定安装在测试治具1底部,所述称重器7包括承重板8,承重板8下方设有重量传感器6,重量传感器6固定在固定板上,并且重量传感器6连接着承重板8,SD存储卡插入插口后,SD存储卡位于承重板8上,然后通过重量传感器6将数据传输到显示屏14上,若符合标准则亮绿灯,不符合标准则亮红灯。
如图1所示,称重器7后面设有推板9,承重板8两侧沿其边沿长度设有滑轨,推板9与滑轨活动连接,所述推板9是用于当SD存储卡检测完成后,将SD存储卡推出到SD存储卡插孔外。
如图1所述,所述尺寸测量器5包括放置板,放置板两侧沿左右长度设置有滑轨,滑轨安装固定在放置板上,滑轨上设有滑动夹板 12,滑动夹板12与滑轨活动连接,滑动夹板12内壁上设有激光发射器11,当SD存储卡按入SD存储卡插孔内,然后活动夹具12将SD 存储卡夹住,夹稳后激光发射器11就会发射激光,来测量SD存储卡的尺寸,将数据传输到显示屏14上,进行标准的判断。
如图1所示,所述性能检测器4为长方体块状,性能检测器4外壁设有SD存储卡插口17,SD存储卡插口内设有金属导片2,SD存储卡插口内部设有推块3,将SD存储卡插入后,通电连通SD存储卡然后检测SD存储卡的容量,判断是否符合标准,然后亮灯,推块3将 SD存储卡推出。
对于本领域技术人员而言,显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节,而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下,能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此,无论从哪一点来看,均应将实施例看作是示范性的,而且是非限制性的,本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定,因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。

Claims (8)

1.一种SD存储卡的测试治具,其特征在于:包括称重器、尺寸测量器、性能检测器和电源,称重器、尺寸测量器和性能检测器在测试治具内部从左往右依次设置,在测试治具内部电源与称重器、尺寸测量器、性能检测器电连接,还包括显示屏,称重器、尺寸测量器、性能检测器上方分别设有一个显示屏,每个显示屏分别与电源电连接并且每个显示屏分别与下方的称重器、尺寸测量器和性能检测器连接。
2.根据权利要求1所述的一种SD存储卡的测试治具,其特征在于:每个显示屏的上方都设有两个提示灯,每两个提示灯在测试治具内部分别与称重器、尺寸测量器和性能检测器连接。
3.根据权利要求1所述的一种SD存储卡的测试治具,其特征在于:测试治具外部设有操作台,每个显示屏下方设有一个红色按键和一个绿色按键,全部按键安装固定在操作台上。
4.根据权利要求1所述的一种SD存储卡的测试治具,其特征在于:测试治具的外壁上设有3个SD存储卡插孔,SD存储卡插孔位于显示屏下方。
5.根据权利要求1所述的一种SD存储卡的测试治具,其特征在于:所述称重器为长方体状,所述称重器固定安装在测试治具底部,所述称重器包括承重板,承重板下方设有重量传感器,重量传感器固定在固定板上,并且重量传感器连接着承重板。
6.根据权利要求5所述的一种SD存储卡的测试治具,其特征在于:称重器后面设有推板,承重板两侧沿其边沿长度设有滑轨,推板与滑轨活动连接。
7.根据权利要求1所述的一种SD存储卡的测试治具,其特征在于:所述尺寸测量器包括放置板,放置板两侧沿左右长度设置有滑轨,滑轨安装固定在放置板上,滑轨上设有滑动夹板,滑动夹板与滑轨活动连接,滑动夹板内壁上设有激光发射器。
8.根据权利要求1所述的一种SD存储卡的测试治具,其特征在于:所述性能检测器为长方体块状,性能检测器外壁设有SD存储卡插口,SD存储卡插口内设有金属导片,SD存储卡插口内部设有推块。
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