CN212030573U - 一种芯片供电装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种芯片供电装置，包括底座，所述底座上水平滑动安装有检测平台，位于所述检测平台的一侧设有支撑座，所述支撑座上竖向滑动安装有导电机构；所述支撑座的顶部还安装有芯片物理检测机构，所述芯片物理检测机构的检测头朝向所述检测平台。在工作中，首先检测平台带动其上放置的bar条滑动至合适的位置，之后，芯片物理检测机构导电机构对bar条上的芯片进行物理检测(如外观检测等)，之后，导电机构向检测平台上的bar条方向滑动、并对bar条上的芯片进行供电。采用该芯片供电装置，不仅实现了对bar条上芯片的物理检测，而且实现了检测后对芯片的在线供电，同时，适用于不同高度芯片的供电，结构简单，物理检测和在线供电效果好。

Description

一种芯片供电装置

技术领域

本实用新型属于bar检测技术领域，尤其涉及一种芯片供电装置。

背景技术

bar条是一种其上含多个裸的半导体激光芯片、且有序排列的长条状件，在其封装成器件之前需进行物理检测和多种技术参数的检测，技术参数的检测包括：电气特性、波长特性、发光特性等，其中发光特性包括光强和发散角(水平发散角和竖直发散角)参数的检测，进行上述检测时需要对芯片进行供电，因此需设计一在线供电的芯片供电装置。

实用新型内容

本实用新型提供了一种芯片供电装置，以达到在线供电的目的。

为解决上述技术问题，本实用新型的技术方案是：一种芯片供电装置，包括底座，所述底座上水平滑动安装有检测平台，位于所述检测平台的一侧设有支撑座，所述支撑座上竖向滑动安装有导电机构；所述支撑座的顶部还安装有芯片物理检测机构，所述芯片物理检测机构的检测头朝向所述检测平台。

作为一种改进，所述导电机构包括竖向设置于所述支撑座上的第一直线驱动元件，所述第一直线驱动元件上驱动有滑台，所述滑台上设有安装板，所述安装板上设有支撑臂，所述支撑臂上设有导电探针。

作为进一步的改进，所述支撑臂的数量为两个，对应的所述安装板上设有两个第一微动平台，所述支撑臂设置于所述第一微动平台上。

作为再进一步的改进，所述支撑臂包括安装于所述第一微动平台上的臂体，设有所述导电探针端的所述臂体上设有横向裂缝和竖向裂缝，与所述竖向裂缝对应位置的所述臂体上设有紧固安装孔；

所述臂体的高度方向上设有还设有至少一个探针安装孔，所述探针安装孔与所述竖向裂缝连通，且所述探针安装孔朝所述检测平台方向倾斜设置。

作为更进一步的改进，所述芯片物理检测机构包括设置于所述支撑座顶部的立柱，所述立柱上转动安装有旋转臂，所述旋转臂向所述检测平台方向延伸，位于所述检测平台上方的所述旋转臂上设有检测相机。

作为又进一步的改进，所述支撑座的顶部设有第二微动平台，所述立柱设置于所述第二微动平台上。

作为又进一步的改进，所述底座上设有滑座，所述滑座上设有第二直线驱动元件驱动的滑块，所述滑块上设有所述检测平台。

作为又进一步的改进，所述滑座的两端均设有位置开关，所述滑块上设有与所述位置开关相适配的识别块。

采用了上述技术方案后，本实用新型的效果是：

由于该芯片供电装置包括底座，底座上水平滑动安装有检测平台，位于检测平台的一侧设有支撑座，支撑座上竖向滑动安装有导电机构；支撑座的顶部还安装有芯片物理检测机构，芯片物理检测机构的检测头朝向检测平台，基于上述结构，该芯片供电装置在工作中，首先检测平台带动其上放置的bar条滑动至合适的位置，之后，芯片物理检测机构导电机构对bar条上的芯片进行物理检测(如外观检测等)，之后，导电机构向检测平台上的bar条方向滑动、并对bar条上的芯片进行供电。

综上所述，采用该芯片供电装置，不仅实现了对bar条上芯片的物理检测，而且实现了检测后对芯片的在线供电，同时，适用于不同高度芯片的供电，结构简单，物理检测和在线供电效果好。

由于导电机构包括竖向设置于支撑座上的第一直线驱动元件，第一直线驱动元件上驱动有滑台，滑台上设有安装板，安装板上设有两个支撑臂，支撑臂上设有导电探针，从而通过第一直线驱动元件带动滑台竖向移动，进而实现安装板、支撑臂及导电探针的竖向移动，移动至规定位置后，通过与电源相连的导电探针来对芯片进行供电，采用该导电机构，不仅保证了对芯片的正常在线供电，而且为适应不同高度的芯片提供了保障。

由于支撑臂的数量为两个，对应的安装板上设有两个第一微动平台，支撑臂设置于第一微动平台上，从而通过第一微动平台的调节，来调整支撑臂的位置，进而达到调整导电探针的目的。

由于支撑臂包括安装于第一微动平台上的臂体，设有导电探针端的臂体上设有横向裂缝和竖向裂缝，与竖向裂缝对应位置的臂体上设有紧固安装孔；臂体的高度方向上设有还设有至少一个探针安装孔，探针安装孔与竖向裂缝连通，且探针安装孔朝检测平台方向倾斜设置，从而通过竖向裂缝和探针安装孔的配合便于导电探针的安装，通过紧固安装孔来使导电探针固定安装于臂体上，结构简单，导电探针拆装方便。

由于芯片物理检测机构包括设置于支撑座顶部的立柱，立柱上转动安装有旋转臂，旋转臂向检测平台方向延伸，位于检测平台上方的旋转臂上设有检测相机，从而在进行物理检测时，通过旋转臂在立柱上的旋转，来使检测相机与bar条上的芯片上下对应，之后通过检测相机来对芯片进行物理检测，结构简单，检测相机调整方便，且检测效果好。

由于支撑座的顶部设有第二微动平台，立柱设置于第二微动平台上，从而通过第二微动平台的调节，来调整立柱的位置，进而达到调整检测相机的目的。

由于滑座的两端均设有位置开关，滑块上设有与位置开关相适配的识别块，从而通过位置开关和识别块的配合来约束滑块的滑动位移区间。

附图说明

下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。

图1是本实用新型的结构示意图；

图2为图1去除支撑座后的结构示意图；

图3为图2中支撑臂的结构示意图；

其中，1-底座；2-检测平台；3-支撑座；4-第一直线驱动元件；5-滑台；6-安装板；7-支撑臂；701-臂体；702-横向裂缝；703-竖向裂缝；704-探针安装孔；705-紧固连接孔；8-导电探针；9-第一微动平台；10-立柱；11-旋转臂；12-检测相机；13-第二微动平台；14-滑座；15-第二直线驱动元件；16-滑块；17-位置开关；18-识别块。

具体实施方式

下面通过具体实施例对本实用新型作进一步的详细描述。

如图1和图2共同所示，一种芯片供电装置，包括底座1，该底座1上水平滑动安装有检测平台2，位于检测平台2的一侧设有支撑座3，该支撑座3上竖向滑动安装有导电机构；该支撑座3的顶部还安装有芯片物理检测机构，该芯片物理检测机构的检测头朝向检测平台2。

该导电机构包括竖向设置于支撑座3上的第一直线驱动元件4，该第一直线驱动元件4为直线电机，该第一直线驱动元件4上驱动有滑台5，该滑台5上设有安装板6，该安装板6上设有两个支撑臂7，该支撑臂7上设有导电探针8。作为优选，该安装板6设有两个第一微动平台9，该支撑臂7设置于第一微动平台9上。其中，芯片的供电可以采用一根导电探针8进行供电，也可以采用两根探针8，这个根据芯片的类型进行选择。

在本方案中，该支撑臂7包括安装于第一微动平台9上的臂体701，设有导电探针8端的臂体701上设有横向裂缝702和竖向裂缝703，与竖向裂缝703对应位置的臂体701上设有紧固连接孔705；该臂体701的高度方向上设有还设有至少一个探针安装孔704，该探针安装孔704与竖向裂缝703连通，且探针安装孔704朝检测平台2方向倾斜设置(参见图3)。

该芯片物理检测机构包括设置于支撑座3顶部的立柱10，该立柱10上转动安装有旋转臂11，该旋转臂11向检测平台2方向延伸，位于检测平台2上方的旋转臂11上设有检测相机12，作为优选，该支撑座3的顶部设有第二微动平台13，该立柱10设置于第二微动平台13上。

在本方案中，该底座1上设有滑座14，该滑座14上设有第二直线驱动元件15(如：电动机驱动的丝杠和丝杠螺母的配合结构)驱动的滑块16，该滑块16上设有检测平台2；该滑座14的两端均设有位置开关17，该滑块16上设有与位置开关17相适配的识别块18。

以上所述实施例仅是对本实用新型的优选实施方式的描述，不作为对本实用新型范围的限定，在不脱离本实用新型设计精神的基础上，对本实用新型技术方案作出的各种变形和改造，均应落入本实用新型的权利要求书确定的保护范围内。

Claims (8)

1.一种芯片供电装置，包括底座，其特征在于：所述底座上水平滑动安装有检测平台，位于所述检测平台的一侧设有支撑座，所述支撑座上竖向滑动安装有导电机构；所述支撑座的顶部还安装有芯片物理检测机构，所述芯片物理检测机构的检测头朝向所述检测平台。

2.如权利要求1所述的芯片供电装置，其特征在于：所述导电机构包括竖向设置于所述支撑座上的第一直线驱动元件，所述第一直线驱动元件上驱动有滑台，所述滑台上设有安装板，所述安装板上设有支撑臂，所述支撑臂上设有导电探针。

3.如权利要求2所述的芯片供电装置，其特征在于：所述支撑臂的数量为两个，对应的所述安装板上设有两个第一微动平台，所述支撑臂设置于所述第一微动平台上。

4.如权利要求3所述的芯片供电装置，其特征在于：所述支撑臂包括安装于所述第一微动平台上的臂体，设有所述导电探针端的所述臂体上设有横向裂缝和竖向裂缝，与所述竖向裂缝对应位置的所述臂体上设有紧固安装孔；

所述臂体的高度方向上设有还设有至少一个探针安装孔，所述探针安装孔与所述竖向裂缝连通，且所述探针安装孔朝所述检测平台方向倾斜设置。

5.如权利要求4所述的芯片供电装置，其特征在于：所述芯片物理检测机构包括设置于所述支撑座顶部的立柱，所述立柱上转动安装有旋转臂，所述旋转臂向所述检测平台方向延伸，位于所述检测平台上方的所述旋转臂上设有检测相机。

6.如权利要求5所述的芯片供电装置，其特征在于：所述支撑座的顶部设有第二微动平台，所述立柱设置于所述第二微动平台上。

7.如权利要求1至6任一项所述的芯片供电装置，其特征在于：所述底座上设有滑座，所述滑座上设有第二直线驱动元件驱动的滑块，所述滑块上设有所述检测平台。

8.如权利要求7所述的芯片供电装置，其特征在于：所述滑座的两端均设有位置开关，所述滑块上设有与所述位置开关相适配的识别块。

Images