CN211718339U - 一种薄膜微带滤波器的s参数测试夹具 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种薄膜微带滤波器的S参数测试夹具，薄膜微带滤波器具有接地面，包括测试基座、两连接器、两测试微带线、两金丝和导电胶，两连接器分别设置在测试基座两端，薄膜微带滤波器通过设置在其接地面的导电胶固定在测试基座中部，两测试微带线一端分别与两连接器连接、另一端分别通过金丝与薄膜微带滤波器的输入输出电极键合连接，两测试微带线长度相同且经过TRL校准，测试基座表面经金属化处理。本实用新型能够保证产品的接地效果良好，不会对产品造成破坏，可重复使用，测试可靠性及精度高，也适用于小尺寸产品。

Description

一种薄膜微带滤波器的S参数测试夹具

技术领域

本实用新型涉及一种薄膜微带滤波器的S参数测试夹具。

背景技术

薄膜微带滤波器在生产过程中需要对产品进行S参数(即滤波器的插入损耗S21和回拨损耗S11)的测试，以保证产品的质量和可靠性。传统的夹具做法是将连接器焊接在产品输入输出端，然后进行试验，这种做法的缺点是易对产品造成破坏、不能重复利用、测试精确度低等。其次，在滤波器进行S参数测试过程中，需要产品的接地端接地效果良好。传统做法是将连接器外导体与滤波器接地端焊接，但由于焊接的不确定性，可能出现虚焊情况，导致接地效果不理想，另外，平面电路与连接器同轴传输直接焊接，会出现平衡-不平衡转换，出现高频电流，引入外部误差，测试不精确，导致S参数失真。再者，传统夹具采用焊锡，由于温度高，易损伤滤波器的金层电极，影响测试的可靠性及结果；每次测试失效，需要重复进行，影响了测试效率。尤其是，无法有效测试小尺寸产品。所以，传统夹具存在极大的缺陷。

实用新型内容

本实用新型的目的是针对现有技术的不足，提出一种薄膜微带滤波器的S参数测试夹具，能够保证产品的接地效果良好，不会对产品造成破坏，可重复使用，测试可靠性及精度高，也适用于小尺寸产品。

本实用新型通过以下技术方案实现：

一种薄膜微带滤波器的S参数测试夹具，薄膜微带滤波器具有接地面，包括测试基座、两连接器、两测试微带线、两金丝和导电胶，两连接器分别设置在测试基座两端，薄膜微带滤波器通过设置在其接地面的导电胶固定在测试基座中部，两测试微带线一端分别与两连接器连接、另一端分别通过金丝与薄膜微带滤波器的输入输出电极键合连接，两测试微带线长度相同且经过TRL校准，测试基座表面经金属化处理。

进一步的，所述连接器包括外壳和设置在外壳内的芯线，外壳固定在所述测试基座上，芯线与所述测试微带线一端连接。

进一步的，所述测试基座表面设置有硬化镀金层。

进一步的，所述测试基座上表面中部设置有与所述薄膜微带滤波器匹配的凹槽以作为测试工位。

进一步的，所述测试基座上表面中部纵向间隔设置有多个所述测试工位。

进一步的，所述导电胶涂覆在薄膜微带滤波器的接地面并经固化处理。

进一步的，所述薄膜微带滤波器的输入输出电极与测试微带线的50欧姆传输线对齐并通过金丝键合连接。

本实用新型具有如下有益效果：

1、本实用新型薄膜微带滤波器的接地面通过导电胶固定在测试基座上，能够保证产品的接地效果良好；测试基座表面经金属化处理，不易氧化及磨损，且与滤波器的接地端相匹配，使测试更准确；引入经TRL较准的测试微带线，通过金丝键合方式，将薄膜微带滤波器输入输出端电极与连接器连接，避免出现平衡-不平衡转换中产生的高频电流，从而避免引入外部误差，提高测试精确度；本实用新型可重复使用，且薄膜微带滤波器通过测试微带线与连接器连接，连接器未进行与薄膜微带滤波器相关的焊接，因此不会对薄膜微带滤波器造成破坏，也不会影响测试效率，且本实用新型适用于小尺寸产品。

2、本实用新型的测试基座上表面中部纵向间隔设置有多个测试工位，可同时进行多个薄膜微带滤波器的测试，进一步提高测试效率。

附图说明

下面结合附图对本实用新型做进一步详细说明。

图1为本实用新型的俯视结构示意图。

图2为本实用新型的剖视结构示意图。

其中，1、测试基座；2、连接器；3、测试微带线；31、50欧姆传输线；4、金丝；5、导电胶；6、薄膜微带滤波器。

具体实施方式

如图1和图2所示，薄膜微带滤波器6具有接地面，其S参数测试夹具，包括测试基座1、两连接器2、两测试微带线3、两金丝4和导电胶5，两连接器2分别设置在测试基座1两端，薄膜微带滤波器6通过设置在其接地面的导电胶5固定在测试基座1中部，两测试微带线3一端分别与两连接器2连接、另一端分别通过金丝4与薄膜微带滤波器6的输入输出电极键合连接，两测试微带线3长度相同且经过TRL校准，测试基座1表面经金属化处理，具体为设置有硬化镀金层。

连接器2包括导电外壳和设置在外壳内的芯线，外壳紧密固定在测试基座1上，芯线与测试微带线3一端连接。

为使薄膜微带滤波器6与测试基座1更易通过导电胶5连接，在测试基座1上表面中部设置有与薄膜微带滤波器6接地面匹配的凹槽以作为测试工位。在其他实施例中，测试基座1上表面中部可纵向间隔设置多个测试工位，一个测试工位对应两连接器2、两测试微带线3和两金丝4，如此即可同时进行多个薄膜微带滤波器6的测试，从而进一步提高测试效率。

使用中，导电胶5涂覆在薄膜微带滤波器6的接地面后要经固化处理，以使薄膜微带滤波器6与测试基座1快速可靠连接。

为了便于金丝4键合，薄膜微带滤波器6的输入输出电极与测试微带线3的50欧姆传输线31应对齐。

本实用新型也适用于其他输入输出端口共线的两端口小型单层片式元件。

以上所述，仅为本实用新型的较佳实施例而已，故不能以此限定本实用新型实施的范围，即依本实用新型申请专利范围及说明书内容所作的等效变化与修饰，皆应仍属本实用新型专利涵盖的范围内。

Claims (7)

1.一种薄膜微带滤波器的S参数测试夹具，薄膜微带滤波器具有接地面，其特征在于：包括测试基座、两连接器、两测试微带线、两金丝和导电胶，两连接器分别设置在测试基座两端，薄膜微带滤波器通过设置在其接地面的导电胶固定在测试基座中部，两测试微带线一端分别与两连接器连接、另一端分别通过金丝与薄膜微带滤波器的输入输出电极键合连接，两测试微带线长度相同且经过TRL校准，测试基座表面经金属化处理。

2.根据权利要求1所述的一种薄膜微带滤波器的S参数测试夹具，其特征在于：所述连接器包括外壳和设置在外壳内的芯线，外壳固定在所述测试基座上，芯线与所述测试微带线一端连接。

3.根据权利要求1所述的一种薄膜微带滤波器的S参数测试夹具，其特征在于：所述测试基座表面设置有硬化镀金层。

4.根据权利要求1或2或3所述的一种薄膜微带滤波器的S参数测试夹具，其特征在于：所述测试基座上表面中部设置有与所述薄膜微带滤波器匹配的凹槽以作为测试工位。

5.根据权利要求4所述的一种薄膜微带滤波器的S参数测试夹具，其特征在于：所述测试基座上表面中部纵向间隔设置有多个所述测试工位。

6.根据权利要求1或2或3所述的一种薄膜微带滤波器的S参数测试夹具，其特征在于：所述导电胶涂覆在薄膜微带滤波器的接地面并经固化处理。

7.根据权利要求1或2或3所述的一种薄膜微带滤波器的S参数测试夹具，其特征在于：所述薄膜微带滤波器的输入输出电极与测试微带线的50欧姆传输线对齐并通过金丝键合连接。

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