CN211653638U - 数字pcie接口测试装置 - Google Patents

Abstract

数字PCIE接口测试装置，属于接口测试领域，PCIE数据传输内循环单元与PCIE接口转换单元相连接，PCIE数据传输内循环单元与MCU控制单元连接，时钟发生电路与PCIE数据传输内循环单元连接，外扩I2C控制电路分别与PCIE数据传输内循环单元和MCU控制单元连接，效果是兼容通用网络接口，能够实时提供测试数据的传输，能够提供PCIE3x8和PCIE3x16接口电路，可以同时对两种PCIE外接设备进行数据采集和控制。

Description

数字PCIE接口测试装置

技术领域

本实用新型属于接口测试领域，更具体地说，涉及一种新型数字PCIE接口测试装置。

背景技术

随着计算机技术不断发展和升级换代，计算节对于数据处理速度的要求越来越高，特别的内存和主板以及CPU之间的传输速率要求很高，通常连接主板和内存之间会使用到PCIE连接器进行连接。随着科技的发展，PCIE的更新换代也越来越快，速度越来越高，几乎取代了以往所有的内部总线。PCIE能够支持热插拔和热交换的特性，分别能够支持3.3V，3.3Vaux以及12V的输入电压。为了支持现在视频，游戏项目的发展，现在显卡功耗显著增加，PCIE而后在规范中改善了直接从插槽中取电的功率限制,现阶段，16x的最大功率可以达到75W。PCIE保证了兼容性，支持PCI的操作系统无需进行任何更改即可支持PCIE总线。这也给用户的升级带来方便。由此可见，PCIE最大的意义在于它的通用性，不仅可以让它用于南桥和其他设备的连接，也可以延伸到芯片组间的连接，甚至也可以用于连接图形处理器，这样，整个I/O系统重新统一起来，将更进一步简化计算机系统，增加计算机的可移植性和模块化。PCIE技术从2002年发布第一代标准之后，经过十多年的发展，现阶段已经公布了第五代的标准，但是，市场上主要使用的是第二代的标准技术，第三代标准技术只是在新研发的机型上开始使用。使用第三代标准技术可以使传输速率达到8GB/s，现行市场上用来测试PCIE接口的装置大都不能提供高功率，全速度的测试，并且测试装置都比较复杂，不利于连接，在线测试。

发明内容

为了解决测试PCIE接口的装置功率低的问题，本实用新型提出如下技术方案：一种数字PCIE接口测试装置，包括MCU控制单元、时钟发生电路、PCIE接口转换单元、PCIE数据传输内循环单元和外扩I2C控制电路；PCIE数据传输内循环单元与PCIE接口转换单元相连接，PCIE数据传输内循环单元与MCU控制单元连接，时钟发生电路与PCIE数据传输内循环单元连接，外扩I2C控制电路分别与PCIE数据传输内循环单元和MCU控制单元连接。

进一步的，所述的PCIE接口转换单元包括信号ESD保护电路、PCIE3x8接口连接器、PCIE3x16接口连接器、信号缓存电路、信号隔离电路、信号通道选择电路，信号ESD保护电路分别与PCIE3x8接口连接器、PCIE3x16接口连接器连接，PCIE3x8接口连接器、PCIE3x16接口连接器均与信号缓存电路连接，信号缓存电路与信号隔离电路连接，信号隔离电路与信号通道选择电路连接。

进一步的，所述的PCIE数据传输内循环单元包括均与数据传输转换电路连接的PCI信号扩展接口电路、配置寄存器设置电路、EEPROM，PCI信号扩展接口电路与配置寄存器设置电路连接，所述时钟发生电路与数据传输转换电路连接，PCI信号扩展接口电路与所述的信号通道选择电路连接。

进一步的，所述的数字PCIE接口测试装置还包括网络接口单元，网络接口单元与MCU控制单元连接。

进一步的，所述的数字PCIE接口测试装置还包括外部电源输入单元、外部负载连接单元，外部电源输入单元与外部负载连接单元连接，MCU控制单元连接在外部电源输入单元与外部负载连接单元的接线上。

进一步的，所述的数字PCIE接口测试装置还包括电源输入模块，电源输入模块分别与MCU控制单元、PCIE数据传输内循环单元连接。

有益效果是：本实用新型兼容通用网络接口，能够实时提供测试数据的传输，能够提供PCIE3x8和PCIE3x16接口电路，可以同时对两种PCIE外接设备进行数据采集和控制。能够提供PCIE接口大功率的负载测试，可对接口进行电源和负载的测试。支持PCIE第三代技术协议的数据测试，并且有体积小，便于携带，功能多样等优点。

附图说明

图1是本实用新型原理框图。

图2是本实用新型中的PCIE接口转换单元原理框图。

图3是本实用新型中的PCIE数据传输内循环单元原理框图。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型作进一步说明。

如图1所示，一种数字PCIE接口测试装置，包括电源输入模块、MCU控制单元（意法半导体生产的STM32F4系列）、时钟发生电路、PCIE接口转换单元（芯片电平转换电路SN74AVC1T)、外部电源输入单元、外部负载连接单元、网络接口连接单元、PCIE数据传输内循环单元（博通公司的PEX8X系列）、外扩I2C控制电路。所述电源输入模块分别与MCU控制单元，PCIE数据传输内循环单元相连，所述MCU控制单元分别与外部电源输入模块，外部负载连接单元，网络接口单元以及PCIE数据传输内循环单元相连接，所述PCIE数据传输内循环单元与时钟发生电路和PCIE接口转换单元相连接，同时连接MCU控制单元，所述I2C控制电路分别与MCU控制单元和PCIE传输内循环单元相连接。

如图2所示，所述PCIE接口转换单元，包括PCIE3x8和PCIE3x16接口连接器，信号ESD保护电路，信号缓存电路，信号隔离电路，信号通道选择电路。

所述PCIE3x8和PCIE3x16接口连接器与信号ESD保护电路相连，同时，与信号缓存电路相连接，所述信号缓存电路与信号隔离电路相连接，所述信号隔离电路与信号通道选择电路相连接。信号从PCIE连接器输入，经过ESD保护电路的处理之后会送到信号缓存电路中，信号缓存电路同时会起到电平转换的作用，便于后级的PCIE数据传输内循环单元对数据进行处理。信号缓存电路输出的信号会送到信号隔离电路中进行信号隔离，将测试产品端的地和测试装置的地进行隔离，对测试产品进行保护，信号通道选择电路与MCU控制单元的I/O接口相连接，由MCU控制单元对数据的通道进行选择，控制信号的通断。

如图3所示，所述PCIE数据传输内循环单元与时钟发生电路相连接，包括PCI信号扩展接口电路，配置寄存器设置电路，EEPROM，数据传输转换电路。

所述PCIE数据传输内循环单元与时钟发生电路相连接，所述PCI信号扩展接口电路与前端信号通道选择电路相连接，同时与配置寄存器设置电路相连接，所述数据传输转换电路与PCI信号扩展电路和EERPOM相连接。信号通过信号通道选择电路进入PCI信号扩展接口电路中，同时，PCI信号扩展电路提供I2C电路与MCU控制单元相连接，MCU控制单元可通过I2C电路对配置寄存器的数据进行设置，包括初始化过程，电平设置等过程。数据传输转换电路根据配置寄存器设置电路的要求进行配置，接收到PCI信号扩展电路的数据和EEPROM进行交互传输，处理之后传回给PCI信号扩展电路中。实现数据的快速传输和确认，得到数据测试结果。

本实用新型兼容通用接口，可提供PCIE3测试接口两个，分别为PCIE3x8和PCIE3x16，能够为这两个接口提供全速度测试，同时可支持最大100W的功率测试。为了满足工厂系统化的使用，该装置可提供网络接口连接，数据可以实时通过网络进行传输，用户可根据测试结果进行分析和处理。并且有体积小，便于携带，功能多样等特点。该装置进行工厂内使用，能够提供多装置串联机能，实现数据的实时传输。

以上所述，仅为本发明创造较佳的具体实施方式，但本发明创造的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明创造披露的技术范围内，根据本发明创造的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明创造的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种数字PCIE接口测试装置，其特征在于，包括MCU控制单元、时钟发生电路、PCIE接口转换单元、PCIE数据传输内循环单元和外扩I2C控制电路；PCIE数据传输内循环单元与PCIE接口转换单元相连接，PCIE数据传输内循环单元与MCU控制单元连接，时钟发生电路与PCIE数据传输内循环单元连接，外扩I2C控制电路分别与PCIE数据传输内循环单元和MCU控制单元连接。

2.根据权利要求1所述的数字PCIE接口测试装置，其特征在于：所述的PCIE接口转换单元包括信号ESD保护电路、PCIE3x8接口连接器、PCIE3x16接口连接器、信号缓存电路、信号隔离电路、信号通道选择电路，信号ESD保护电路分别与PCIE3x8接口连接器、PCIE3x16接口连接器连接，PCIE3x8接口连接器、PCIE3x16接口连接器均与信号缓存电路连接，信号缓存电路与信号隔离电路连接，信号隔离电路与信号通道选择电路连接。

3.根据权利要求2所述的数字PCIE接口测试装置，其特征在于：所述的PCIE数据传输内循环单元包括均与数据传输转换电路连接的PCI信号扩展接口电路、配置寄存器设置电路、EEPROM，PCI信号扩展接口电路与配置寄存器设置电路连接，所述时钟发生电路与数据传输转换电路连接，PCI信号扩展接口电路与所述的信号通道选择电路连接。

4.根据权利要求1所述的数字PCIE接口测试装置，其特征在于：还包括网络接口单元，网络接口单元与MCU控制单元连接。

5.根据权利要求1所述的数字PCIE接口测试装置，其特征在于：还包括外部电源输入单元、外部负载连接单元，外部电源输入单元与外部负载连接单元连接，MCU控制单元连接在外部电源输入单元与外部负载连接单元的接线上。

6.根据权利要求1所述的数字PCIE接口测试装置，其特征在于：还包括电源输入模块，电源输入模块分别与MCU控制单元、PCIE数据传输内循环单元连接。

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