CN211653638U - 数字pcie接口测试装置 - Google Patents

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CN211653638U CN202020347213.2U CN202020347213U CN211653638U CN 211653638 U CN211653638 U CN 211653638U CN 202020347213 U CN202020347213 U CN 202020347213U CN 211653638 U CN211653638 U CN 211653638U
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福德·伽俐俐
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Abstract

数字PCIE接口测试装置,属于接口测试领域,PCIE数据传输内循环单元与PCIE接口转换单元相连接,PCIE数据传输内循环单元与MCU控制单元连接,时钟发生电路与PCIE数据传输内循环单元连接,外扩I2C控制电路分别与PCIE数据传输内循环单元和MCU控制单元连接,效果是兼容通用网络接口,能够实时提供测试数据的传输,能够提供PCIE3x8和PCIE3x16接口电路,可以同时对两种PCIE外接设备进行数据采集和控制。

Description

数字PCIE接口测试装置
技术领域
本实用新型属于接口测试领域,更具体地说,涉及一种新型数字PCIE接口测试装置。
背景技术
随着计算机技术不断发展和升级换代,计算节对于数据处理速度的要求越来越高,特别的内存和主板以及CPU之间的传输速率要求很高,通常连接主板和内存之间会使用到PCIE连接器进行连接。随着科技的发展,PCIE的更新换代也越来越快,速度越来越高,几乎取代了以往所有的内部总线。PCIE能够支持热插拔和热交换的特性,分别能够支持3.3V,3.3Vaux以及12V的输入电压。为了支持现在视频,游戏项目的发展,现在显卡功耗显著增加,PCIE而后在规范中改善了直接从插槽中取电的功率限制,现阶段,16x的最大功率可以达到75W。PCIE保证了兼容性,支持PCI的操作系统无需进行任何更改即可支持PCIE总线。这也给用户的升级带来方便。由此可见,PCIE最大的意义在于它的通用性,不仅可以让它用于南桥和其他设备的连接,也可以延伸到芯片组间的连接,甚至也可以用于连接图形处理器,这样,整个I/O系统重新统一起来,将更进一步简化计算机系统,增加计算机的可移植性和模块化。PCIE技术从2002年发布第一代标准之后,经过十多年的发展,现阶段已经公布了第五代的标准,但是,市场上主要使用的是第二代的标准技术,第三代标准技术只是在新研发的机型上开始使用。使用第三代标准技术可以使传输速率达到8GB/s,现行市场上用来测试PCIE接口的装置大都不能提供高功率,全速度的测试,并且测试装置都比较复杂,不利于连接,在线测试。
发明内容
为了解决测试PCIE接口的装置功率低的问题,本实用新型提出如下技术方案:一种数字PCIE接口测试装置,包括MCU控制单元、时钟发生电路、PCIE接口转换单元、PCIE数据传输内循环单元和外扩I2C控制电路;PCIE数据传输内循环单元与PCIE接口转换单元相连接,PCIE数据传输内循环单元与MCU控制单元连接,时钟发生电路与PCIE数据传输内循环单元连接,外扩I2C控制电路分别与PCIE数据传输内循环单元和MCU控制单元连接。
进一步的,所述的PCIE接口转换单元包括信号ESD保护电路、PCIE3x8接口连接器、PCIE3x16接口连接器、信号缓存电路、信号隔离电路、信号通道选择电路,信号ESD保护电路分别与PCIE3x8接口连接器、PCIE3x16接口连接器连接,PCIE3x8接口连接器、PCIE3x16接口连接器均与信号缓存电路连接,信号缓存电路与信号隔离电路连接,信号隔离电路与信号通道选择电路连接。
进一步的,所述的PCIE数据传输内循环单元包括均与数据传输转换电路连接的PCI信号扩展接口电路、配置寄存器设置电路、EEPROM,PCI信号扩展接口电路与配置寄存器设置电路连接,所述时钟发生电路与数据传输转换电路连接,PCI信号扩展接口电路与所述的信号通道选择电路连接。
进一步的,所述的数字PCIE接口测试装置还包括网络接口单元,网络接口单元与MCU控制单元连接。
进一步的,所述的数字PCIE接口测试装置还包括外部电源输入单元、外部负载连接单元,外部电源输入单元与外部负载连接单元连接,MCU控制单元连接在外部电源输入单元与外部负载连接单元的接线上。
进一步的,所述的数字PCIE接口测试装置还包括电源输入模块,电源输入模块分别与MCU控制单元、PCIE数据传输内循环单元连接。
有益效果是:本实用新型兼容通用网络接口,能够实时提供测试数据的传输,能够提供PCIE3x8和PCIE3x16接口电路,可以同时对两种PCIE外接设备进行数据采集和控制。能够提供PCIE接口大功率的负载测试,可对接口进行电源和负载的测试。支持PCIE第三代技术协议的数据测试,并且有体积小,便于携带,功能多样等优点。
附图说明
图1是本实用新型原理框图。
图2是本实用新型中的PCIE接口转换单元原理框图。
图3是本实用新型中的PCIE数据传输内循环单元原理框图。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型作进一步说明。
如图1所示,一种数字PCIE接口测试装置,包括电源输入模块、MCU控制单元(意法半导体生产的STM32F4系列)、时钟发生电路、PCIE接口转换单元(芯片电平转换电路SN74AVC1T)、外部电源输入单元、外部负载连接单元、网络接口连接单元、PCIE数据传输内循环单元(博通公司的PEX8X系列)、外扩I2C控制电路。所述电源输入模块分别与MCU控制单元,PCIE数据传输内循环单元相连,所述MCU控制单元分别与外部电源输入模块,外部负载连接单元,网络接口单元以及PCIE数据传输内循环单元相连接,所述PCIE数据传输内循环单元与时钟发生电路和PCIE接口转换单元相连接,同时连接MCU控制单元,所述I2C控制电路分别与MCU控制单元和PCIE传输内循环单元相连接。
如图2所示,所述PCIE接口转换单元,包括PCIE3x8和PCIE3x16接口连接器,信号ESD保护电路,信号缓存电路,信号隔离电路,信号通道选择电路。
所述PCIE3x8和PCIE3x16接口连接器与信号ESD保护电路相连,同时,与信号缓存电路相连接,所述信号缓存电路与信号隔离电路相连接,所述信号隔离电路与信号通道选择电路相连接。信号从PCIE连接器输入,经过ESD保护电路的处理之后会送到信号缓存电路中,信号缓存电路同时会起到电平转换的作用,便于后级的PCIE数据传输内循环单元对数据进行处理。信号缓存电路输出的信号会送到信号隔离电路中进行信号隔离,将测试产品端的地和测试装置的地进行隔离,对测试产品进行保护,信号通道选择电路与MCU控制单元的I/O接口相连接,由MCU控制单元对数据的通道进行选择,控制信号的通断。
如图3所示,所述PCIE数据传输内循环单元与时钟发生电路相连接,包括PCI信号扩展接口电路,配置寄存器设置电路,EEPROM,数据传输转换电路。
所述PCIE数据传输内循环单元与时钟发生电路相连接,所述PCI信号扩展接口电路与前端信号通道选择电路相连接,同时与配置寄存器设置电路相连接,所述数据传输转换电路与PCI信号扩展电路和EERPOM相连接。信号通过信号通道选择电路进入PCI信号扩展接口电路中,同时,PCI信号扩展电路提供I2C电路与MCU控制单元相连接,MCU控制单元可通过I2C电路对配置寄存器的数据进行设置,包括初始化过程,电平设置等过程。数据传输转换电路根据配置寄存器设置电路的要求进行配置,接收到PCI信号扩展电路的数据和EEPROM进行交互传输,处理之后传回给PCI信号扩展电路中。实现数据的快速传输和确认,得到数据测试结果。
本实用新型兼容通用接口,可提供PCIE3测试接口两个,分别为PCIE3x8和PCIE3x16,能够为这两个接口提供全速度测试,同时可支持最大100W的功率测试。为了满足工厂系统化的使用,该装置可提供网络接口连接,数据可以实时通过网络进行传输,用户可根据测试结果进行分析和处理。并且有体积小,便于携带,功能多样等特点。该装置进行工厂内使用,能够提供多装置串联机能,实现数据的实时传输。
以上所述,仅为本发明创造较佳的具体实施方式,但本发明创造的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明创造披露的技术范围内,根据本发明创造的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本发明创造的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种数字PCIE接口测试装置,其特征在于,包括MCU控制单元、时钟发生电路、PCIE接口转换单元、PCIE数据传输内循环单元和外扩I2C控制电路;PCIE数据传输内循环单元与PCIE接口转换单元相连接,PCIE数据传输内循环单元与MCU控制单元连接,时钟发生电路与PCIE数据传输内循环单元连接,外扩I2C控制电路分别与PCIE数据传输内循环单元和MCU控制单元连接。
2.根据权利要求1所述的数字PCIE接口测试装置,其特征在于:所述的PCIE接口转换单元包括信号ESD保护电路、PCIE3x8接口连接器、PCIE3x16接口连接器、信号缓存电路、信号隔离电路、信号通道选择电路,信号ESD保护电路分别与PCIE3x8接口连接器、PCIE3x16接口连接器连接,PCIE3x8接口连接器、PCIE3x16接口连接器均与信号缓存电路连接,信号缓存电路与信号隔离电路连接,信号隔离电路与信号通道选择电路连接。
3.根据权利要求2所述的数字PCIE接口测试装置,其特征在于:所述的PCIE数据传输内循环单元包括均与数据传输转换电路连接的PCI信号扩展接口电路、配置寄存器设置电路、EEPROM,PCI信号扩展接口电路与配置寄存器设置电路连接,所述时钟发生电路与数据传输转换电路连接,PCI信号扩展接口电路与所述的信号通道选择电路连接。
4.根据权利要求1所述的数字PCIE接口测试装置,其特征在于:还包括网络接口单元,网络接口单元与MCU控制单元连接。
5.根据权利要求1所述的数字PCIE接口测试装置,其特征在于:还包括外部电源输入单元、外部负载连接单元,外部电源输入单元与外部负载连接单元连接,MCU控制单元连接在外部电源输入单元与外部负载连接单元的接线上。
6.根据权利要求1所述的数字PCIE接口测试装置,其特征在于:还包括电源输入模块,电源输入模块分别与MCU控制单元、PCIE数据传输内循环单元连接。
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