CN211453855U - 一种量子芯片检测装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种量子芯片检测装置，包括机身和测试槽，所述机身的上端右后侧授设置有电源插口，所述电源插口与外部电源电性相连，所述电源插口的左侧镶嵌有开关，所述机身的前端右上侧镶嵌有显示屏，所述机身的上端左前侧镶嵌有测试槽，所述测试槽的左侧镶嵌有引脚调整装置，本实用新型引脚调整装置由调整盒、调整槽和推块组成，将芯片引脚放进调整盒上的调整槽中，两个拇指向内挤压推块，推块另一端将调整槽内的引脚挤压整齐，松开推块将芯片拿出，调整槽底部的弹簧将推块弹回原处，有益效果是通过引脚调整装置快速将引脚整理整齐，防止了在单独调整其中一个引脚使其断裂，大大提高了工作效率。
Description
技术领域
本实用新型属于电子芯片相关技术领域，具体涉及一种量子芯片检测装置。
背景技术
所谓量子芯片就是将量子线路集成在基片上，进而承载量子信息处理的功能。借鉴于传统计算机的发展历程，量子计算机的研究在克服瓶颈技术之后，要想实现商品化和产业升级，需要走集成化的道路。目前，超导系统、半导体量子点系统、微纳光子学系统、甚至是原子和离子系统，都想走芯片化的道路。从目前的发展看，超导量子芯片系统从技术上走在了其它物理系统的前面；传统的半导体量子点系统也是目前人们努力探索的目标，因为毕竟传统的半导体工业发展已经很成熟，如半导体量子芯片在退相干时间和操控精度上一旦突破容错量子计算的阈值，有望集成传统半导体工业的现有成果，大大节省开发成本。
现有的技术存在以下问题：在对芯片进行检测时需要将芯片引脚进行调整对齐将其卡进测试槽，但在进行引脚调整对齐是通过人力一个一个将其对齐的比较耗时，而且单独调整其中一个引脚容易使其断裂，非常影响芯片测试。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种量子芯片检测装置，以解决上述背景技术中提出的在对芯片进行检测时需要将芯片引脚进行调整对齐将其卡进测试槽，但在进行引脚调整对齐是通过人力一个一个将其对齐的比较耗时，而且单独调整其中一个引脚容易使其断裂，非常影响芯片测试问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：
一种量子芯片检测装置，包括机身和测试槽，所述机身的上端右后侧授设置有电源插口，所述电源插口与外部电源电性相连，所述电源插口的左侧镶嵌有开关，所述机身的前端右上侧镶嵌有显示屏，所述机身的上端左前侧镶嵌有测试槽，所述测试槽的左侧镶嵌有引脚调整装置，所述引脚调整装置的右侧镶嵌有指示灯，所述指示灯的右侧镶嵌有功能按键。
优选的，所述引脚调整装置包括调整盒、调整槽和推块，所述调整盒的左右两端套接有调整槽，所述调整盒的上端左右两侧设置有调整槽。
优选的，所述机身的底端四边设置有垫脚。
优选的，所述测试槽包括固定杆槽、固定杆、测试盒和引脚槽，所述测试盒上端左右两侧设置有引脚槽，所述引脚槽后端位于测试盒上端左后侧设置有固定杆，所述固定杆后侧设置有固定杆槽。
优选的，所述功能按键共设置有十六个，且十六功能按键分别镶嵌在机身的上端位于指示灯的右侧等距相等。
优选的，所述调整槽共设置有两个，且两个调整槽另一端位于两个调整槽底部设置有弹簧。
优选的，所述垫脚共设置有四个，且四个垫脚分别安装在机身底部四边处等距相等。
优选的，所述引脚槽共设置有两个，且两个引脚槽分别安装在测试盒上端左右两侧。
与现有技术相比，本实用新型提供了一种量子芯片检测装置，具备以下有益效果：
1.本实用新型引脚调整装置由调整盒、调整槽和推块组成，将芯片引脚放进调整盒上的调整槽中，两个拇指向内挤压推块，推块另一端将调整槽内的引脚挤压整齐，松开推块将芯片拿出，调整槽底部的弹簧将推块弹回原处。
2.本实用新型引脚调整装置有益效果是通过引脚调整装置快速将引脚整理整齐，防止了在单独调整其中一个引脚使其断裂，大大提高了工作效率。
附图说明
附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制，在附图中：
图1为本实用新型提出的一种量子芯片检测装置结构示意图；
图2为本实用新型提出的一种量子芯片检测装置引脚调整装置结构示意图；
图3为本实用新型提出的一种量子芯片检测装置仰视结构示意图；
图4为本实用新型提出的测试槽结构示意图；
图中：1、机身；2、开关；3、电源插口；4、显示屏；5、功能按键；6、指示灯；7、引脚调整装置；8、测试槽；9、垫脚；71、调整盒；72、调整槽；73、推块；81、固定杆槽；82、固定杆；83、测试盒；84、引脚槽。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-4，本实用新型提供一种量子芯片检测装置技术方案：
一种量子芯片检测装置，包括机身1和测试槽8，机身1的上端右后侧授设置有电源插口3，电源插口3与外部电源电性相连，电源插口3的左侧镶嵌有开关2，机身1的前端右上侧镶嵌有显示屏4，机身1的上端左前侧镶嵌有测试槽8，测试槽8包括固定杆槽81、固定杆82、测试盒83和引脚槽84，测试盒83上端左右两侧设置有引脚槽84，引脚槽84共设置有两个，且两个引脚槽84分别安装在测试盒83上端左右两侧，其中两个引脚槽84将芯片两排引脚相对应放入固定，引脚槽84后端位于测试盒83上端左后侧设置有固定杆82，固定杆82后侧设置有固定杆槽81，其中芯片通过测试槽8将引脚放入测试盒83上的引脚槽84中，推动固定杆82在固定杆槽81内向下将芯片固定。
一种量子芯片检测装置，包括测试槽8的左侧镶嵌有引脚调整装置7，引脚调整装置7包括调整盒71、调整槽72和推块73，调整盒71的左右两端套接有调整槽72，调整盒71的上端左右两侧设置有调整槽72，调整槽72共设置有两个，且两个调整槽72另一端位于两个调整槽72底部设置有弹簧，其中两个调整槽72将芯片两排引脚相对应放入进挤压，其中将芯片引脚放进调整盒71上的调整槽72，两个拇指向内挤压推块73，推块73另一端将调整槽72内的引脚挤压整齐，松开推块73将芯片拿出，调整槽72底部的弹簧将推块73弹回原处。
一种量子芯片检测装置，包括引脚调整装置7的右侧镶嵌有指示灯6，指示灯6的右侧镶嵌有功能按键5，功能按键5共设置有十六个，且十六功能按键5分别镶嵌在机身1的上端位于指示灯6的右侧等距相等，其中通过十六功能按键5来检测芯片的状态，机身1的底端四边设置有垫脚9，垫脚9共设置有四个，且四个垫脚9分别安装在机身1底部四边处等距相等，其中四个垫脚9使机器摆放平稳，其中机身1通过垫脚9与桌面接触摆放。
本实用新型的工作原理及使用流程：本实用新型安装好过后，首先将电线与机身1上的电源插口3连接，按动开关2开始通电，两个指示灯6亮起，芯片通过引脚调整装置7进行调整，将芯片引脚放进调整盒71上的调整槽72，两个拇指向内挤压推块73，推块73另一端将调整槽72内的引脚挤压整齐，松开推块73将芯片拿出，调整槽72底部的弹簧将推块73弹回原处，芯片通过测试槽8将引脚放入测试盒83上的引脚槽84中，推动固定杆82在固定杆槽81内向下将芯片固定，通过按击功能按键5机身1内部开始模拟运行芯片功能从而通过型号为LED数码管显示屏4上显示芯片型号，再按击功能按键5开始模拟芯片的工作过程中的状态再通过显示屏4显示芯片是否正常。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (8)
1.一种量子芯片检测装置，包括机身(1)和测试槽(8)，其特征在于：所述机身(1)的上端右后侧授设置有电源插口(3)，所述电源插口(3)与外部电源电性相连，所述电源插口(3)的左侧镶嵌有开关(2)，所述机身(1)的前端右上侧镶嵌有显示屏(4)，所述机身(1)的上端左前侧镶嵌有测试槽(8)，所述测试槽(8)的左侧镶嵌有引脚调整装置(7)，所述引脚调整装置(7)的右侧镶嵌有指示灯(6)，所述指示灯(6)的右侧镶嵌有功能按键(5)。
2.根据权利要求1所述的一种量子芯片检测装置，其特征在于：所述引脚调整装置(7)包括调整盒(71)、调整槽(72)和推块(73)，所述调整盒(71)的左右两端套接有调整槽(72)，所述调整盒(71)的上端左右两侧设置有调整槽(72)。
3.根据权利要求1所述的一种量子芯片检测装置，其特征在于：所述机身(1)的底端四边设置有垫脚(9)。
4.根据权利要求1所述的一种量子芯片检测装置，其特征在于：所述测试槽(8)包括固定杆槽(81)、固定杆(82)、测试盒(83)和引脚槽(84)，所述测试盒(83)上端左右两侧设置有引脚槽(84)，所述引脚槽(84)后端位于测试盒(83)上端左后侧设置有固定杆(82)，所述固定杆(82)后侧设置有固定杆槽(81)。
5.根据权利要求1所述的一种量子芯片检测装置，其特征在于：所述功能按键(5)共设置有十六个，且十六功能按键(5)分别镶嵌在机身(1)的上端位于指示灯(6)的右侧等距相等。
6.根据权利要求2所述的一种量子芯片检测装置，其特征在于：所述调整槽(72)共设置有两个，且两个调整槽(72)另一端位于两个调整槽(72)底部设置有弹簧。
7.根据权利要求3所述的一种量子芯片检测装置，其特征在于：所述垫脚(9)共设置有四个，且四个垫脚(9)分别安装在机身(1)底部四边处等距相等。
8.根据权利要求4所述的一种量子芯片检测装置，其特征在于：所述引脚槽(84)共设置有两个，且两个引脚槽(84)分别安装在测试盒(83)上端左右两侧。
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| CN201921008236.4U CN211453855U (zh) | 2019-07-01 | 2019-07-01 | 一种量子芯片检测装置 |
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113701909A (zh) * | 2021-08-24 | 2021-11-26 | 深圳市智佳能自动化有限公司 | 一种半导体测封设备用热电偶测温系统 |
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2019
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| CN113701909B (zh) * | 2021-08-24 | 2022-09-30 | 深圳市智佳能自动化有限公司 | 一种半导体测封设备用热电偶测温系统 |
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