CN211374961U - 电源管理芯片测试电路及电源管理芯片测试系统 - Google Patents
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Abstract
一种电源管理芯片测试电路及电源管理芯片测试系统，通过加入测试机、直流驱动检测电路以及至少一个电压校准电路，从而实现可同时接入至少一个电源管理芯片并对其完成直流驱动测试和电压校准测试，从而解决了传统的技术方案中存在无法同时接入多个电源管理芯片从而造成检测效率低的问题。
Description
技术领域
本实用新型属于芯片检测技术领域，尤其涉及一种电源管理芯片测试电路及电源管理芯片测试系统。
背景技术
电源管理芯片在应用前都需要经过系统的测试，然而传统的模拟测试设备一般只能一对一的对电源管理芯片进行检测，并不能同时接入多个电源管理芯片以对其进行检测。
因此，传统的技术方案中存在无法同时接入多个电源管理芯片从而造成检测效率低的问题。
实用新型内容
有鉴于此，本实用新型实施例提供了一种电源管理芯片测试电路及电源管理芯片测试系统，旨在解决传统的技术方案中存在的无法同时接入多个电源管理芯片从而造成检测效率低的问题。
本实用新型实施例的第一方面提供了一种电源管理芯片测试电路，包括：
测试机，所述测试机与上位机和至少一个电源管理芯片连接，接收所述上位机输出的控制指令、根据所述控制指令输出控制信号到各个所述电源管理芯片、接收各个所述电源管理芯片在所述控制信号的控制下输出的输出信号并进行检测以及将测试数据输送到所述上位机；
直流驱动测试电路，所述直流驱动测试电路与各个电源管理芯片的直流驱动输出引脚和所述测试机连接，所述直流驱动测试电路用于在所述测试机的控制下，择一所述电源管理芯片的直流驱动输出引脚和所述测试机连接；以及
至少一个电压校准电路，各个所述电压校准电路分别与各个所述电源管理芯片的基准电压引脚和所述测试机连接，各个所述电压校准电路用于将所述电源管理芯片输出的基准电压放大并转换为数字信号后输送到所述测试机。
在一个实施例中，所述直流驱动测试电路包括：至少一个继电器，各个所述继电器的线圈的第一端分别与第一电源连接，各个所述继电器的线圈的第二端分别与测试机的连接，各个所述继电器的常开触点的第一端与所述测试机连接，各个所述继电器的常开触点的第二端分别与所述电源管理芯片的直流驱动输出引脚连接。
在一个实施例中，所述电压校准电路包括：
放大单元，所述放大单元的输入端用于与所述电源管理芯片的基准电压引脚连接，所述放大单元用于将所述电压管理芯片输出的基准电压放大；和
数模转换单元，所述数模转换单元的输入端与所述放大单元的输出端连接，所述数模转换单元的输出端与所述测试机连接，所述数模转换单元用于将所述的放大后的基准电压转换为数字信号并输出到所述测试机。
在一个实施例中，所述放大单元包括：第一电容、第二电容、第一放大器以及第一电阻，所述第一电容的第一端和所述第一放大器的第一输入端共接作为所述放大单元的输入端，所述第一电容的第二端接地，所述第一放大器的第二输出端与所述第一放大器的输出端连接，所述第一放大器的电源正输入端与电源的正极和所述第一电阻的调节端连接，所述第一放大器的电源负输入端与第二电源的负极连接，所述第一电阻的第一端和第二端与所述第一放大器的调零端连接，所述第二电容的一端与所述第一放大器的输出端连接，所述第二电容的第二端接地。
在一个实施例中，所述数模转换单元包括：数模转换芯片和第三电容，所述数模转换芯片的电压信号输入正端与所述放大单元的输出端连接，所述数模转换芯片是电压信号输入负端和所述数模转换芯片的地端接地，所述数模转换芯片的电源端和所述第三电容的第一端共接第三电源，所述数模转换芯片的数据端和时钟端与所述测试机连接，所述第三电容的第二端接地。
在一个实施例中，电源管理芯片测试电路还包括至少一个滤波电路，各个所述滤波电路用于各个所述电源管理芯片的各个引脚连接，各个所述滤波电路用于滤除杂波干扰。
在一个实施例中，所述滤波电路包括滤波电容，所述滤波电容的第一端用于与所述引脚连接，所述滤波电容的第二端接地。
在一个实施例中，电源管理芯片测试电路还包括至少一个上拉电路，各个所述上拉电路的控制端与所述测试机连接，各个所述上拉电路的输入端分别与第四电源连接，各个所述上拉电路的输出端分别用于与各个所述电源管理芯片的各个引脚连接，各个所述上拉电路分别用于在所述测试机的控制下，接通或者断开所述第四电源与各个所述引脚之间的上电通路。
在一个实施例中，所述上拉电路包括可控开关，所述可控开关的控制端与所述测试机连接，所述可控开关的输入端与所述电源连接，所述可控开关的输出端与所述引脚连接。
本实用新型实施例的第二方面提供了一种电源管理芯片测试系统，包括：上位机和本实用新型实施例的第一方面所述的电源管理芯片测试电路。
上述的电源管理芯片测试电路及电源管理芯片测试系统，通过加入测试机、直流驱动检测电路以及至少一个电压校准电路，从而实现可同时接入至少一个电源管理芯片并对其完成直流驱动测试和电压校准测试，从而解决了传统的技术方案中存在无法同时接入多个电源管理芯片从而造成检测效率低的问题。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型一实施例提供的电源管理芯片测试电路的电路示意图；
图2为图1所示的电源管理芯片测试电路中直流驱动测试电路的示例电路原理图；
图3为图1所示的电源管理芯片测试电路中第一电压校准电路的示例电路原理图；
图4为图3所示的第一电压校准电路的放大单元和数模转换单元的示例电路原理图。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
请参阅图1，本实用新型第一实施例提供的电源管理芯片测试电路的结构示意图，为了便于说明，仅示出了与本实施例相关的部分，详述如下：
本实施例中的电源管理芯片测试电路，包括：测试机300、直流驱动测试电路400、第一电压校准电路510、第二电压校准电路520，测试机300与上位机100和第一电源管理芯片210和第二电压管理芯片220连接，直流驱动测试电路400与第一电源管理芯片210的直流驱动输出引脚DCDCS、第二电压管理芯片220的直流驱动输出引脚DCDCS以及测试机300连接，第一电压校准电路510的输入端与第一电源管理芯片210的基准电压引脚Vref连接，第一电压校准电路510的输出端和测试机300连接，第二电压校准电路520的输入端与第二电压管理芯片220的基准电压引脚Vref连接，第二电压校准电路520的输出端和测试机300连接；测试机300接收上位机100输出的控制指令、根据控制指令输出控制信号到各个电源管理芯片、接收各个电源管理芯片在控制信号的控制下输出的输出信号并进行检测以及将测试数据输送到上位机100；直流驱动测试电路400用于在测试机300的控制下，择一电源管理芯片的直流驱动输出引脚DCDCS和测试机300连接；各个电压校准电路用于将电源管理芯片输出的基准电压放大并转换为数字信号后输送到测试机300。
应理解，在其他实施例中，电源管理芯片测试电路可以包括一个或三个及以上的电压校准电路，电源管理芯片测试电路可以与一个或者三个及以上的电源管理芯片连接。
应理解，测试机300可以为用于检测芯片的集成电路或者设备，例如型号为STS8200的测试机300；直流驱动测试电路400可以由具备被控制功能的开关器件构成，例如由继电器、多路复用器、开关管等；电压校准电路可以由具备放大功能的器件和具备数模转换功能的器件构成，例如运算放大器和数模转换芯片U2等。
应理解，本实施例中的控制指令包括电压校准测试指令、直流驱动测试指令等一个或者多个用于控制测试机300对目标的电源管理芯片进行测试的指令，控制指令可以为数字信号；控制信号为由电平信号或电流信号；本实施例中的测试机300可以对电源管理芯片进行多项功能测试，可选的，在一个实施例中，可以设置为上位机100控制测试机300对电源管理芯片完成所有的测试后，上位机100再根据各项测试结果组合分析；可选的，在一个实施例中，还可以设置为当上位机100接收到了一项功能测试不合格的时候，即刻停止发送控制指令或者发送一个停止测试的控制控制指令给测试机300，从而停止对该电源管理芯片的后续测试。
应理解，本实施例的各项测试可以包括操作能力、参考电压校准、频率校准、电流驱动能力、直流驱动能力、稳压能力、逻辑功能等测试。
本实施例中的电源管理芯片测试电路，通过加入测试机300、直流驱动检测电路以及至少一个电压校准电路，从而实现可同时接入至少一个电源管理芯片并对其完成直流驱动测试和电压校准测试，从而解决了传统的技术方案中存在无法同时接入多个电源管理芯片从而造成检测效率低的问题。
请参阅图2，在一个实施例中，直流驱动测试电路400包括：继电器J1和继电器J2，继电器J1和继电器J2的线圈的第一端分别与第一电源V1连接，继电器J1和继电器J2的线圈的第二端分别与测试机300的连接，继电器J1的常开触点的第一端与测试机300连接，继电器J1的常开触点的第二端与第一电源管理芯片210的直流驱动输出引脚DCDCS连接，继电器J2的常开触点的第一端与测试机300连接，继电器J2的常开触点的第二端与第二电源管理芯片 220的直流驱动输出引脚DCDCS连接。
应理解，在其他实施例中，直流驱动测试电路400可以包括一个或3个及以上的继电器，继电器的数量应不小于需同时被测试的电源管理芯片的数量。
应理解，本实施例中的直流驱动电路，通过加入至少一个继电器组合而成，从而实现了可以由测试机300依次控制接入电源管理芯片的直流驱动输出引脚 DCDCS，从而完成对电源管理芯片的直流驱动测试，从而避免了因测试机300 中用于测试直流驱动的模块的数量不足从而导致电源管理芯片需要一对一的连接到该模块，从而影响了其他可同时对多个电源管理芯片进行测试的模块的进程的情况。
请参阅图3，在一个实施例中，第一电压校准电路510包括：放大单元511 和数模转换单元512，放大单元511的输入端用于与电源管理芯片的基准电压引脚Vref连接，数模转换单元512的输入端与放大单元511的输出端连接，数模转换单元512的输出端与测试机300连接；放大单元511用于将电压管理芯片输出的基准电压放大；数模转换单元512用于将的放大后的基准电压转换为数字信号并输出到测试机300。应理解，放大单元511可以由运算放大器构成，数模转换单元512可以由数模转换芯片U2构成。可选的，其他的电压校准电路的构成可以与第一电压校准电路510的构成一致。
应理解，在本实施例中，通过加入由放大单元511和数模转换单元512组成的电压校准电路，从而实现对电源管理芯片的电压校准功能的测试，其具体的过程如下：测试机300在接收了上位机100输出的电压校准功能测试的控制指令后，输出一个控制信号到被测的电源管理芯片中，被测的电源管理芯片根据该控制信号输出在其Vref引脚输出基准电压，基准电压通过放大单元511放大后输出到数模转换单元512，数模转换单元512将放大后的基准电压转换为数字信号后输出到测试机300，测试机300接收数模转换单元512返回的数字信号，通过校准公式计算校准值，将校准数据写入被测的电源管理芯片对应的校准寄存器里，被测的电源管理芯片掉电后再次量测校准的电压，判断是否校准至目标值范围内。
请参阅图4，在一个实施例中，放大单元511包括：电容C1、电容C2、第一放大器U1以及电阻R1，电容C1的第一端和第一放大器U1的第一输入端共接作为放大单元511的输入端，电容C1的第二端接地，第一放大器U1的第二输出端与第一放大器U1的输出端连接，第一放大器U1的电源正输入端与电源的正极和电阻R1的调节端连接，第一放大器U1的电源负输入端与第二电源 V2的负极连接，电阻R1的第一端和第二端与第一放大器U1的调零端连接，电容C2的一端与第一放大器U1的输出端连接，电容C2的第二端接地。
应理解，本实施例中的第一放大器U1为运算放大器，本实施例中的电阻 R1为可变电阻，例如电位器。本实施例中的第一放大器U1选用型号为0P07 的放大器，在其他实施例中，也可以采用其他型号的运算放大器。
请参阅图4，在一个实施例中，数模转换单元512包括：数模转换芯片U2 和电容C3，数模转换芯片U2的电压信号输入正端与放大单元511的输出端连接，数模转换芯片U2是电压信号输入负端和数模转换芯片U2的地端接地，数模转换芯片U2的电源端和电容C3的第一端共接第三电源V3，数模转换芯片 U2的数据端和时钟端与测试机300连接，电容C3的第二端接地。
应理解，本实施例中的数模转换芯片U2的型号为SOT23-6，在其他实施例中，也可以采用其他型号的数模转换芯片U2。
在一个实施例中，还包括至少一个滤波电路，各个滤波电路用于各个电源管理芯片的各个引脚连接，各个滤波电路用于滤除杂波干扰。可选的，在一个实施例中，滤波电路包括滤波电容，滤波电容的第一端用于与引脚连接，滤波电容的第二端接地。
在一个实施例中，还包括至少一个上拉电路，各个上拉电路的控制端与测试机300连接，各个上拉电路的输入端分别与第四电源连接，各个上拉电路的输出端分别用于与各个电源管理芯片的各个引脚连接，各个上拉电路分别用于在测试机300的控制下，接通或者断开第四电源与各个引脚之间的上电通路。
应理解，本实施例中通过在电源管理芯片的各个引脚端增加上拉电路，通过测试机300控制上拉电路从而实现对电源管理芯片各个引脚的高低电平的供给控制。
在一个实施例中，上拉电路包括可控开关，可控开关的控制端与测试机300 连接，可控开关的输入端与电源连接，可控开关的输出端与引脚连接。应理解，可控开关可以为继电器、开关管等器件。
应理解，本实施例中的第一电源V1、第二电源V2、第三电源V3、第四电源以及第五电源的输出电压可以为一致，也可以不一致；第一电源V1、第二电源V2、第三电源V3、第四电源以及第五电源可以由电池和电压转换芯片构成。
本实用新型实施例的第二方面提供了一种电源管理芯片测试系统，包括：上位机100和本实用新型实施例的第一方面的电源管理芯片测试电路。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种电源管理芯片测试电路，其特征在于，包括：
测试机，所述测试机与上位机和至少一个电源管理芯片连接，接收所述上位机输出的控制指令、根据所述控制指令输出控制信号到各个所述电源管理芯片、接收各个所述电源管理芯片在所述控制信号的控制下输出的输出信号并进行检测以及将测试数据输送到所述上位机；
直流驱动测试电路，所述直流驱动测试电路与各个电源管理芯片的直流驱动输出引脚和所述测试机连接，所述直流驱动测试电路用于在所述测试机的控制下，择一所述电源管理芯片的直流驱动输出引脚和所述测试机连接；以及
至少一个电压校准电路，各个所述电压校准电路分别与各个所述电源管理芯片的基准电压引脚和所述测试机连接，各个所述电压校准电路用于将所述电源管理芯片输出的基准电压放大并转换为数字信号后输送到所述测试机。
2.如权利要求1所述的电源管理芯片测试电路，其特征在于，所述直流驱动测试电路包括：至少一个继电器，各个所述继电器的线圈的第一端分别与第一电源连接，各个所述继电器的线圈的第二端分别与测试机的连接，各个所述继电器的常开触点的第一端与所述测试机连接，各个所述继电器的常开触点的第二端分别与所述电源管理芯片的直流驱动输出引脚连接。
3.如权利要求1所述的电源管理芯片测试电路，其特征在于，所述电压校准电路包括：
放大单元，所述放大单元的输入端用于与所述电源管理芯片的基准电压引脚连接，所述放大单元用于将所述电压管理芯片输出的基准电压放大；和
数模转换单元，所述数模转换单元的输入端与所述放大单元的输出端连接，所述数模转换单元的输出端与所述测试机连接，所述数模转换单元用于将所述的放大后的基准电压转换为数字信号并输出到所述测试机。
4.如权利要求3所述的电源管理芯片测试电路，其特征在于，所述放大单元包括：第一电容、第二电容、第一放大器以及第一电阻，所述第一电容的第一端和所述第一放大器的第一输入端共接作为所述放大单元的输入端，所述第一电容的第二端接地，所述第一放大器的第二输出端与所述第一放大器的输出端连接，所述第一放大器的电源正输入端与电源的正极和所述第一电阻的调节端连接，所述第一放大器的电源负输入端与第二电源的负极连接，所述第一电阻的第一端和第二端与所述第一放大器的调零端连接，所述第二电容的一端与所述第一放大器的输出端连接，所述第二电容的第二端接地。
5.如权利要求3所述的电源管理芯片测试电路，其特征在于，所述数模转换单元包括：数模转换芯片和第三电容，所述数模转换芯片的电压信号输入正端与所述放大单元的输出端连接，所述数模转换芯片是电压信号输入负端和所述数模转换芯片的地端接地，所述数模转换芯片的电源端和所述第三电容的第一端共接第三电源，所述数模转换芯片的数据端和时钟端与所述测试机连接，所述第三电容的第二端接地。
6.如权利要求1-5任意一项所述的电源管理芯片测试电路，其特征在于，还包括至少一个滤波电路，各个所述滤波电路用于各个所述电源管理芯片的各个引脚连接，各个所述滤波电路用于滤除杂波干扰。
7.如权利要求6所述的电源管理芯片测试电路，其特征在于，所述滤波电路包括滤波电容，所述滤波电容的第一端用于与所述引脚连接，所述滤波电容的第二端接地。
8.如权利要求1-5任意一项所述的电源管理芯片测试电路，其特征在于，还包括至少一个上拉电路，各个所述上拉电路的控制端与所述测试机连接，各个所述上拉电路的输入端分别与第四电源连接，各个所述上拉电路的输出端分别用于与各个所述电源管理芯片的各个引脚连接，各个所述上拉电路分别用于在所述测试机的控制下，接通或者断开所述第四电源与各个所述引脚之间的上电通路。
9.如权利要求8所述的电源管理芯片测试电路，其特征在于，所述上拉电路包括可控开关，所述可控开关的控制端与所述测试机连接，所述可控开关的输入端与所述电源连接，所述可控开关的输出端与所述引脚连接。
10.一种电源管理芯片测试系统，其特征在于，包括：上位机和如权利要求1-9任意一项所述的电源管理芯片测试电路。
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| CN201921843761.8U CN211374961U (zh) | 2019-10-28 | 2019-10-28 | 电源管理芯片测试电路及电源管理芯片测试系统 |
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Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112506724A (zh) * | 2020-12-02 | 2021-03-16 | 深圳米飞泰克科技有限公司 | 芯片测试方法、装置及计算机可读存储介质 |
| CN112816897A (zh) * | 2020-12-30 | 2021-05-18 | 浪潮电子信息产业股份有限公司 | 一种检测系统 |
| WO2023221101A1 (zh) * | 2022-05-20 | 2023-11-23 | 京东方科技集团股份有限公司 | 供电电路及其驱动方法、印刷电路板、显示模组及装置 |
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| CN112816897B (zh) * | 2020-12-30 | 2022-07-08 | 浪潮电子信息产业股份有限公司 | 一种检测系统 |
| WO2023221101A1 (zh) * | 2022-05-20 | 2023-11-23 | 京东方科技集团股份有限公司 | 供电电路及其驱动方法、印刷电路板、显示模组及装置 |
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