CN211349103U - 电磁干扰装置及具有它的伺服驱动装置测试装置 - Google Patents
电磁干扰装置及具有它的伺服驱动装置测试装置 Download PDFInfo
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Abstract
本实用新型公开了一种电磁干扰装置及具有它的伺服驱动装置测试装置,其中,该电磁干扰装置,适于对被测伺服驱动装置施加电磁干扰,其包括交流接触器及延时继电器,所述延时继电器的电源端连接至交流电源,所述延时继电器的延时常开触点连接至所述交流接触器的线圈,以使所述交流接触器的线圈在所述延时常开触点闭合时通电以及在所述延时常开触点断开时断电,进而产生干扰所述被测伺服驱动装置的电磁波。根据本实用新型实施例提供的电磁干扰装置,延时继电器可以控制交流接触器的线圈不断的通电和断电,进而产生电磁波信号,利用该电磁波信号可以对被测伺服驱动装置在测试过程进行干扰,使得测试环境更加接近实际真实环境,进而得到更加准确可靠的测试结果。
Description
技术领域
本实用新型涉及伺服驱动技术领域,尤其涉及一种电磁干扰装置及具有它的伺服驱动装置测试装置。
背景技术
伺服驱动装置一般包括伺服电机、伺服控制器及编码器,利用伺服控制器实现对伺服电机的精确控制。伺服驱动装置被广泛应用于工业机器人及数控加工中心等自动化设备中。
对于伺服驱动装置,一般需要在出厂之前需要在高温、低温等环境下对其进行性能测试。相关技术中,针对伺服驱动装置的测试,没有能够有效且可靠地模拟测试环境的测试装置,以至于伺服驱动装置的测试效果不佳。
实用新型内容
本实用新型旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此,本实用新型的一个目的在于提出一种电磁干扰装置。
本实用新型的另一个目的在于提出一种伺服驱动装置测试装置。
为实现上述目的,一方面,根据本实用新型实施例的电磁干扰装置,适于对被测伺服驱动装置施加电磁干扰,其包括:
交流接触器;
延时继电器,所述延时继电器的电源端连接至交流电源,所述延时继电器的延时常开触点连接至所述交流接触器的线圈,以使所述交流接触器的线圈在所述延时常开触点闭合时通电以及在所述延时常开触点断开时断电,进而产生干扰所述被测伺服驱动装置的电磁波。
根据本实用新型实施例提供的电磁干扰装置,延时继电器可以控制交流接触器的线圈不断的通电和断电,进而产生电磁波信号,利用该电磁波信号可以对被测伺服驱动装置在测试过程进行干扰,使得测试环境更加接近实际真实环境,进而得到更加准确可靠的测试结果。
根据本实用新型的一个实施例,所述交流接触器的线圈适于绕制在所述被测伺服驱动装置的信号线上。
根据本实用新型的一个实施例,所述交流接触器的线圈并联一指示灯。
根据本实用新型的一个实施例,所述交流接触器的线圈的圈数为20至30圈。
另一方面,根据本实用新型实施例的伺服驱动装置测试装置,包括:
封闭测试室,所述封闭测试室适于容置被测伺服驱动装置;
如上所述电磁干扰装置,所述电磁干扰装置设在所述封闭测试室内,用以产生电磁波,以对所述被测伺服驱动装置施加电磁干扰。
根据本实用新型实施例提供的伺服驱动装置测试装置,具有如上所述的电磁干扰装置,延时继电器可以控制交流接触器的线圈不断的通电和断电,进而产生电磁波信号,利用该电磁波信号可以对被测伺服驱动装置在测试过程进行干扰,使得测试环境更加接近实际真实环境,进而得到更加准确可靠的测试结果。
本实用新型的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本实用新型的实践了解到。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
图1是本实用新型实施例电磁干扰装置的方框示意图;
图2是本实用新型实施例电磁干扰装置的应用时的状态图;
图3是本实用新型实施例电磁干扰装置的电气接线图;
图4是本实用新型实施例伺服驱动装置测试装置的方框示意图。
本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。
具体实施方式
下面详细描述本实用新型的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,旨在用于解释本实用新型,而不能理解为对本实用新型的限制,基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
在本实用新型的描述中,需要理解的是,术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”“轴向”、“周向”、“径向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。
此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中,“多个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。
在本实用新型中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
在本实用新型中,除非另有明确的规定和限定,第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触,也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且,第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方,或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方,或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
下面参照附图详细描述本实用新型实施例的电磁干扰装置及伺服驱动装置测试装置。
参照图1至图3所示,根据本实用新型实施例提供的电磁干扰装置100,适于对被测伺服驱动装置300施加电磁干扰,被测伺服驱动装置300一般包括伺服控制器30、伺服电机31及编码器32,伺服电机31通过电机动力线311与伺服控制器30连接,编码器32通过编码信号线321与伺服控制器30连接。
该电磁干扰装置100包括交流接触器10和延时继电器20,其中,延时继电器20的电源端L、N连接至交流电源,所述延时继电器20的延时常开触点K1、K2连接至所述交流接触器10的线圈101,以使所述交流接触器10的线圈101在所述延时常开触点K1、K2闭合时通电以及在所述延时常开触点K1、K2断开时断电,进而产生干扰所述被测伺服驱动装置300的电磁波。
也就是说,交流接触器10的线圈101是通过延时继电器20上的延时常开触点K1、K2连接至交流电源的,例如在图3示例中,交流接触器10的线圈101两端分别连接至延时继电器20上的两个延时常开触点K1、K2,延时继电器20上的两个电源端L、N分别连接至交流电源的火线和零线。延时继电器20可以设定定时时间,延时继电器20的延时常开触点K1、K2闭合可以闭合和断开,当延时常开触点K1、K2闭合时,则交流接触器10的线圈101与交流电源接通,交流接触器10的线圈101通电,当延时常开触点K1、K2断开时,则交流接触器10的线圈101与交流电源断开,交流接触器10的线圈101断电,如此,通过延时继电器20的延时常开触点K1、K2不断地闭合和断开,使得交流接触器10的线圈101不断地通电和断电,则可以使得交流接触器10的线圈101周围产生电磁波。
根据本实用新型实施例提供的电磁干扰装置100,延时继电器20可以控制交流接触器10的线圈101不断的通电和断电,进而产生电磁波信号,利用该电磁波信号可以对被测伺服驱动装置300在测试过程进行干扰,使得测试环境更加接近实际真实环境,进而得到更加准确可靠的测试结果。
参照图2所示,在本实用新型的一个实施例中,交流接触器10的线圈101适于绕制在所述被测伺服驱动装置300的信号线上。也就是说,在测试时,可以将交流接触器10的线圈101绕制在被测伺服驱动装置300的信号线上,较佳的,交流接触器10的线圈101可以绕制在编码器32与伺服控制器30之间的编码信号线321上,如此,根据实验发现,可以增加电磁波信号强度。
有利地,交流接触器10的线圈101的圈数为20至30圈,根据实验发现,将交流接触器10的线圈101设置为20至30圈时,可以产生较强的电磁波,进而达到更为真实有效的干扰效果。
可选地,交流接触器10的线圈101并联一指示灯H1,如此,通过该指示灯H1可以获知交流接触器10的线圈101是否通电,便于测试中的观察。
示例性地,交流接触器10的线圈101串联一按键开关SW,通过该按键开关SW可以手动控制交流接触器10的线圈101与延时继电器20的延时常开触点K1、K2之间的连接或断开,以便于测试的需要。
参照图4所示,根据本实用新型实施例的伺服驱动装置测试装置,包括封闭测试室200及如上所述的电磁干扰装置100,其中,封闭测试室200适于容置被测伺服驱动装置300。电磁干扰装置100设在所述封闭测试室200内,用以产生电磁波,以对所述被测伺服驱动装置300施加电磁干扰。
示例性地,该封闭测试室200可以构造成多层结构,其中,一部分层可以放置被测伺服驱动装置300(伺服电机31、伺服控制器30、编码器32),每一层可以放置一个或多个被测伺服驱动装置300,另一部分层可以放置电磁干扰装置100,每一层可以一个或多个电磁干扰装置100,如此,可以完成批量测试。
根据本实用新型实施例提供的伺服驱动装置测试装置,具有如上所述的电磁干扰装置100,延时继电器20可以控制交流接触器10的线圈101不断的通电和断电,进而产生电磁波信号,利用该电磁波信号可以对被测伺服驱动装置300在测试过程进行干扰,使得测试环境更加接近实际真实环境,进而得到更加准确可靠的测试结果。
在本说明书的描述中,参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外,在不相互矛盾的情况下,本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。
以上所述仅为本实用新型的优选实施例,并非因此限制本实用新型的专利范围,凡是在本实用新型的实用新型构思下,利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换,或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本实用新型的专利保护范围内。
Claims (5)
1.一种电磁干扰装置,适于对被测伺服驱动装置施加电磁干扰,其特征在于,包括:
交流接触器;
延时继电器,所述延时继电器的电源端连接至交流电源,所述延时继电器的延时常开触点连接至所述交流接触器的线圈,以使所述交流接触器的线圈在所述延时常开触点闭合时通电以及在所述延时常开触点断开时断电,进而产生干扰所述被测伺服驱动装置的电磁波。
2.根据权利要求1所述的电磁干扰装置,其特征在于,所述交流接触器的线圈适于绕制在所述被测伺服驱动装置的信号线上。
3.根据权利要求1所述的电磁干扰装置,其特征在于,所述交流接触器的线圈并联一指示灯。
4.根据权利要求1所述的电磁干扰装置,其特征在于,所述交流接触器的线圈的圈数为20至30圈。
5.一种伺服驱动装置测试装置,其特征在于,包括:
封闭测试室,所述封闭测试室适于容置被测伺服驱动装置;
如权利要求1至4中任意一项所述电磁干扰装置,所述电磁干扰装置设在所述封闭测试室内,用以产生电磁波,以对所述被测伺服驱动装置施加电磁干扰。
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CN202020296953.8U CN211349103U (zh) | 2020-03-11 | 2020-03-11 | 电磁干扰装置及具有它的伺服驱动装置测试装置 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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WO2022042358A1 (zh) * | 2020-08-27 | 2022-03-03 | 国家机床质量监督检验中心 | 一种数控系统抗扰度的量化测试系统及方法 |
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