CN211293157U - 一种数字集成电路故障检测系统 - Google Patents

一种数字集成电路故障检测系统 Download PDF

Info

Publication number
CN211293157U
CN211293157U CN201922103872.1U CN201922103872U CN211293157U CN 211293157 U CN211293157 U CN 211293157U CN 201922103872 U CN201922103872 U CN 201922103872U CN 211293157 U CN211293157 U CN 211293157U
Authority
CN
China
Prior art keywords
integrated circuit
power supply
singlechip
oscilloscope
information
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CN201922103872.1U
Other languages
English (en)
Inventor
范舒颜
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Individual
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Individual filed Critical Individual
Priority to CN201922103872.1U priority Critical patent/CN211293157U/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN211293157U publication Critical patent/CN211293157U/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

本实用新型提供一种数字集成电路故障检测系统,包括单片机,电源控制器,检测装置;电源控制器与单片机上的电源输入端口连接;检测装置与单片机上的电源输出端口连接;单片机为一种集成电路芯片;集成电路芯片采用超大规模集成电路技术把具有数据处理能力的中央处理器CPU、存储单元、多种I/O接口和中断系统、定时器/计时器等功能集成到一块硅片上构成的小而完善的微型计算机系统;只读存储器ROM中储存有各类集成电路芯片的信息。本实用新型通过使用数字集成电路进行检测故障原因,在检测装置内检测芯片有无故障,通过单片机的读写功能在输出设备上展现检测结果,输出有无故障的信息,得到及时的反馈,便于检修。

Description

一种数字集成电路故障检测系统
技术领域
本实用新型属于数字集成电路技术领域。具体涉及一种数字集成电路故障检测系统。
背景技术
数字集成电路又称数字逻辑电路,数字集成电路是将元器件和连线集成于同一半导体芯片上而制成的数字逻辑电路或系统。根据数字集成电路中包含的门电路或元、器件数量,可将数字集成电路分为小规模集成(SSI)电路、中规模集成MSI电路、大规模集成(LSI)电路、超大规模集成VLSI电路和特大规模集成(ULSI)电路,主要是对用0和1表示的数字信号进行逻辑运算与处理,不需要复杂的数学知识,数字电路能够可靠地区分0和1两种状态就可以正常工作,对于电路的精度要求不高,且分析与设计简单、方便。
数字电路检测时具有一定的困难,其主要原因在于数字电路中元器件与门众多,电路的输入与输出信号相对过多,在区分数字电路的类型后需要逐步分析是哪个器件发生了故障,而且数字电路的元器件工作常常会受到外界因素的影响。
发明内容
针对现有技术中的不足之处,本实用新型提供一种数字集成电路故障检测系统。本实用新型通过采用数字集成电路制作,具有可编程性,稳定性高,成本低,高速度、低功耗,设计简单的特点。
为了达到上述目的,本实用新型技术方案如下:
一种数字集成电路故障检测系统,包括单片机,电源控制器,检测装置;所述电源控制器与单片机上的电源输入端口连接;所述检测装置与单片机上的电源输出端口连接;
所述单片机为一种集成电路芯片;所述集成电路芯片采用超大规模集成电路技术把具有数据处理能力的中央处理器CPU、存储单元、多种I/O接口和中断系统、定时器/计时器等功能集成到一块硅片上构成的小而完善的微型计算机系统;所述只读存储器ROM中储存有各类集成电路芯片的信息。
进一步的,所述集成电路芯片设有输入端口和输出端口,其输入端口连接有键盘,或鼠标,或扫描仪输入设备进行信息的输入;其输出端口连接有显示器,或示波器输出设备来反馈检测信息。
进一步的,所述存储单元通过将检测装置录入的信息进行转存在存储单元中,随后存储单元采用读写数据功能将录入信息通过编码的方式写入,并呈现在输出设备上;其中,存储单元以8位二进制作为一个存储单元,即一个字节。
进一步的,所述示波器能够输出高低电平的波形状态,若处于电源正极端口,则示波器相应波形变化在高电平处,若处于电源负极端口,则示波器相应波形变化在低电平处,示波器显示波形的变化与理论不同,则该段电路具有故障,需进行进一步的检修。
有益效果:本实用新型一种数字集成电路故障检测系统,通过使用数字集成电路进行检测故障原因,在检测装置内检测芯片有无故障,通过单片机的读写功能在输出设备上展现检测结果,输出有无故障的信息,得到及时的反馈,便于检修。
附图说明
图1为本实用新型的流程框示意图。
具体实施方式
以下参照具体的实施例来说明本实用新型。本领域技术人员能够理解,这些实施例仅用于说明本实用新型,其不以任何方式限制本实用新型的范围。
一种数字集成电路故障检测系统,如图1所示,包括单片机,电源控制器,检测装置;电源控制器与单片机上的电源输入端口连接;所述检测装置与单片机上的电源输出端口连接;单片机为一种集成电路芯片;集成电路芯片采用超大规模集成电路技术把具有数据处理能力的中央处理器CPU、存储单元、多种I/O接口和中断系统、定时器/计时器等功能集成到一块硅片上构成的小而完善的微型计算机系统;只读存储器ROM中储存有各类集成电路芯片的信息;集成电路芯片设有输入端口和输出端口,其输入端口连接有键盘,或鼠标,或扫描仪输入设备进行信息的输入;其输出端口连接有显示器,或示波器输出设备来反馈检测信息。存储单元通过将检测装置录入的信息进行转存在存储单元中,随后存储单元采用读写数据功能将录入信息通过编码的方式写入,并呈现在输出设备上;其中,存储单元以8位二进制作为一个存储单元,即一个字节。示波器能够输出高低电平的波形状态,若处于电源正极端口,则示波器相应波形变化在高电平处,若处于电源负极端口,则示波器相应波形变化在低电平处,示波器显示波形的变化与理论不同,则该段电路具有故障,需进行进一步的检修。

Claims (4)

1.一种数字集成电路故障检测系统,其特征在于:包括单片机,电源控制器,检测装置;所述电源控制器与单片机上的电源输入端口连接;所述检测装置与单片机上的电源输出端口连接;
所述单片机为一种集成电路芯片;所述集成电路芯片采用超大规模集成电路技术把具有数据处理能力的中央处理器CPU、存储单元、多种I/O接口和中断系统、定时器/计时器等功能集成到一块硅片上构成的小而完善的微型计算机系统;只读存储器ROM中储存有各类集成电路芯片的信息。
2.如权利要求1所述的数字集成电路故障检测系统,其特征在于,所述集成电路芯片设有输入端口和输出端口,其输入端口连接有键盘,或鼠标,或扫描仪输入设备进行信息的输入;其输出端口连接有显示器,或示波器输出设备反馈检测信息。
3.如权利要求1所述的数字集成电路故障检测系统,其特征在于,所述存储单元通过将检测装置录入的信息进行转存在存储单元中,随后存储单元采用读写数据功能将录入信息通过编码的方式写入,并呈现在输出设备上;其中,存储单元以8位二进制作为一个存储单元,即一个字节。
4.如权利要求2所述的数字集成电路故障检测系统,其特征在于,所述示波器能够输出高低电平的波形状态,若处于电源正极端口,则示波器相应波形变化在高电平处,若处于电源负极端口,则示波器相应波形变化在低电平处,示波器显示波形的变化与理论不同,则该段电路具有故障,需进行进一步的检修。
CN201922103872.1U 2019-11-29 2019-11-29 一种数字集成电路故障检测系统 Expired - Fee Related CN211293157U (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201922103872.1U CN211293157U (zh) 2019-11-29 2019-11-29 一种数字集成电路故障检测系统

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201922103872.1U CN211293157U (zh) 2019-11-29 2019-11-29 一种数字集成电路故障检测系统

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN211293157U true CN211293157U (zh) 2020-08-18

Family

ID=72037881

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201922103872.1U Expired - Fee Related CN211293157U (zh) 2019-11-29 2019-11-29 一种数字集成电路故障检测系统

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN211293157U (zh)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10678315B2 (en) Thermal monitoring of memory resources
US20110099317A1 (en) Input-output module for operation in memory module socket and method for extending a memory interface for input-output operations
TWI537576B (zh) 用於功率瞬變偵測之積體電路及方法
US11734113B2 (en) Solid state disk access method and apparatus, device, and medium
CN109087681A (zh) 存储器设备、存储器系统和存储器设备的操作方法
CN107870844A (zh) 硬盘状态侦测装置及方法
CN101635173A (zh) 非挥发存储器的自校准方法和电路及非挥发存储器电路
CN105487959A (zh) 一种intel NVMe硬盘的管理方法
GB2264375A (en) Auto-switching device for cpu logic circuits.
EP3757720A1 (en) Ddr5 client pmic power up sequence and state transitions
CN102237139A (zh) 计算补偿电压与调整阀值电压方法及存储器装置与控制器
CN211293157U (zh) 一种数字集成电路故障检测系统
US7580273B2 (en) Digital memory with controllable input/output terminals
CN103246584A (zh) 片上系统芯片结构及保存调试信息的方法
CN111506182B (zh) 寄存器地址可配置的温度传感器
US11824538B2 (en) Multi-bit flip flop
US7821294B2 (en) Integrated circuit containing multi-state restore circuitry for restoring state to a power-managed functional block
CN2906750Y (zh) 具有usb接口的ic卡读写器
CN107636676B (zh) 一种读卡器
KR100771263B1 (ko) 메모리 어레이 테스트 방법과 이를 구현하기 위해 배열된메모리 기반 디바이스
CN100394357C (zh) 省电模式调整方法及其应用的逻辑芯片与计算机系统
CN101159077A (zh) 一种嵌入式多媒体自助终端设备
TWI707352B (zh) 具有電源品質檢測模組的電子設備及其相關方法
CN201532776U (zh) 一种fifo存储器控制电路
CN111026448B (zh) 一种紧凑型外设互联总线控制系统

Legal Events

Date Code Title Description
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20200818

Termination date: 20211129