CN211291346U - 试件尺寸激光测量装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及测量技术领域，公开一种试件尺寸激光测量装置，包括具有相互垂直的底板和侧板的L型框架，侧板内表面上垂直伸出有与底板平行的水平杆和刻度杆，水平杆和刻度杆之间具有间距且等高设置，水平杆上装有可沿水平杆滑移的激光光源，底板在水平杆与刻度杆之间的尺寸投影范围内设置有试件支撑架，底板上设有路径供试件支撑架作与水平杆方向平行的移动；刻度杆包括带孔主刻度杆和无孔副刻度杆，无孔副刻度杆紧贴在带孔主刻度杆上，带孔主刻度杆上的孔供激光通过，刻度杆背面布置有供激光光源照射的光幕，光幕与刻度杆之间具有间距且光幕分别与底板、侧板垂直。通过读取光幕上的激光光源点或副刻度杆上的刻度值即可精确得到试件尺寸。
Description
技术领域
本实用新型涉及尺寸测量技术领域，具体地，涉及一种试件尺寸激光测量装置。
背景技术
对科研实验而言，试件是整个实验中最重要的部分之一，在诸多影响实验结果的因素中，试件的尺寸数据将直接影响到实验的最终结果。精确的试件尺寸是确定实验计算和分析结果的准确性、实现工程决策和设计科学化的必要前提条件。
为了实验可以顺利地进行下去，应该首先对影响实验的各种因素进行充分的思考和分析，只有这样才能做出合理的、实验效果好的实验方案。对于矿业工程来说，只有从一开始就掌握了试件的精确尺寸，获得准确的实验数据，实验才能顺利的进行下去，提高实验效率。因此，在实验过程中，要根据不同的试件构造，测出相应尺寸的精确数据，这对进行实验具有重要的意义。
目前我们在对中小型试件尺寸进行测量的过程中大多会使用游标卡尺或者电子游标卡尺等测量工具来测量，但是在使用测量工具时，由于试件或者测量工具本身材料在受力的情况下会发生形变，这样一来就无法得到准确的试件尺寸数据，此后再通过其他手段进行调整减少数据误差，无疑加大了工作难度，浪费了不必要的时间和精力。
发明内容
本实用新型解决的技术问题在于克服现有技术的缺陷，提供一种结构简单、可精准测量线性尺寸的试件尺寸激光测量装置。
本实用新型的目的通过以下技术方案实现：
一种试件尺寸激光测量装置，包括具有相互垂直的底板和侧板的L型框架，侧板内表面上垂直伸出有与底板平行的水平杆和刻度杆，水平杆和刻度杆之间具有间距且在侧板上等高设置，水平杆上安装有可沿水平杆滑移的激光光源，底板在水平杆与刻度杆之间的尺寸投影范围内设置有试件支撑架，底板上设有路径供试件支撑架作与水平杆伸出方向平行的移动。
其中，刻度杆包括带孔主刻度杆和无孔副刻度杆，无孔副刻度杆紧贴在带孔主刻度杆的上方或下方，带孔主刻度杆上的孔供激光通过，刻度杆背面布置有供激光照射的光幕，光幕与刻度杆之间具有间距且光幕分别与底板、侧板垂直。
进一步地，试件支撑架包括与底板接触的支架及设于支架顶端的支撑平台。
更进一步地，支架由至少两个子支架套设连接而成。
再进一步地，支架由与底板接触的主支架及与支撑平台接触的副支架组成，副支架底部套设在主支架顶部。
还进一步地，副支架在套设至主支架顶端的套设部外周开设有贯通的螺纹孔，螺纹孔内拧设有与主支架抵接的紧定螺钉以使支架整体套设稳固。
更进一步地，支撑平台的支撑表面为粗糙表面。
进一步地，底板上的路径为平行于水平杆开设的贯通型凹槽，试件支撑架底部设置有与凹槽结构适配且沿凹槽滑移的滑移部。
更进一步地，凹槽为可防止滑移部在非水平方向脱出的限位型凹槽。
再进一步地，凹槽呈倒T结构。
与现有技术相比，本实用新型具有以下有益效果：
1）侧板与试件支撑架两相支撑使试件稳定安放，刻度杆采用主刻度和副刻度相结合，通过读取光幕上的激光点在带孔主刻度上的刻度值或副刻度杆上的刻度值即可精确得到试件尺寸；
2）支架采用分段式设计，且各段可拆卸，便于针对不同直径或厚度的试件进行支撑高度调整，提升尺寸测量精度；
3）底板上设置凹槽，试件支撑架底部与凹槽结构适配，试件支撑架在底板上可灵活平稳滑移，以便根据试件长度尺寸及时调节试件支撑架的位置，使试件稳定放置进行测量，装置适用性强，整体结构简单。
附图说明
图1为实施例1所述的试件尺寸激光测量装置的结构示意图。
具体实施方式
下面结合具体实施方式对本实用新型作进一步的说明，其中，附图仅用于示例性说明，表示的仅是示意图，而非实物图，不能理解为对本专利的限制；为了更好地说明本实用新型的实施例，附图某些部件会有省略、放大或缩小，并不代表实际产品的尺寸；对本领域技术人员来说，附图中某些公知结构及其说明可能省略是可以理解的。
实施例1
如图1所示，提供一种试件尺寸激光测量装置，包括具有相互垂直的底板11和侧板12的L型框架，侧板12内表面上垂直伸出有与底板11平行的水平杆2和刻度杆3（侧板内表面即为朝向底板上表面的面），水平杆2和刻度杆3之间具有间距且在侧板12上等高设置，水平杆2上则安装有可沿水平杆长度方向滑移的激光光源4，底板11在水平杆与刻度杆之间的尺寸投影范围内设置有试件支撑架5，底板11上设有路径供试件支撑架5作与水平杆2伸出方向平行的移动。
具体地，刻度杆3包括带孔主刻度杆31和无孔副刻度杆32，无孔副刻度杆32紧贴在带孔主刻度杆31的上方或下方，一般地，无孔副刻度杆在带孔主刻度杆下方，以迎合常规读数习惯，带孔主刻度杆上的孔311供激光通过，刻度杆3背面布置有供通过带孔主刻度杆上孔的激光照射的光幕6，光幕6与刻度杆3之间具有间距且光幕6分别与底板11、侧板12垂直。
带孔主刻度杆31是一个精确的带孔刻度尺，孔开设在每一个精确刻度处，无孔副刻度杆32是一个无孔刻度尺，用来对带孔主刻度杆上精度作更加细微的补充。
在进行尺寸测量时，试件一端抵紧侧板12，中段部份位于试件支撑架5顶部，试件呈水平状态，当然试件放置高度需满足其中心高度与激光光源高度相同或大体相同，激光光源4在水平杆2上左右滑动，采用细窄的激光作为对准线对试件进行照射，使其激光从被试件遮挡住的状态变到刚刚不被遮挡的时候，对此时激光照射范围长度进行读数从而测得试件尺寸。本申请通过侧板与试件支撑架两相支撑使试件稳定安放，刻度杆采用主刻度和副刻度相结合，读取光幕上的激光点在带孔主刻度上的刻度值或副刻度杆上的刻度值即可精确得到试件尺寸。
需要指出的是：L型框架的底板和侧板不一定是固定连接的，也可以是活动连接，同时水平杆和刻度杆在侧板内表面也可以是可拆卸连接，即在水平杆和刻度杆拆下后，侧板可以相对于底板翻转至与底板贴合进行收纳。
为利于试件的稳定放置，试件支撑架5包括与底板接触的支架及设于支架顶端的支撑平台52，支撑平台呈倒锥台形结构，即支撑平台底部面积小、顶部面积大，使支撑平台与试件的接触面积尽量大些，支撑平台52的支撑平面设为粗糙表面，以便增大与试件之间的摩擦力。支撑平台可以与支架焊接为一体，也可以是可拆卸连接。
为提升装置的整体适用性，使其能根据所测试件的尺寸来作出相应调整使试件中心与激光光源高度匹配，支架一般由至少两个子支架套设连接而成，具体到本实施例中，支架由与底板11接触的主支架511及与支撑平台52接触的副支架512组成，副支架512底部套设在主支架511顶部，这种套设可以是尺寸适配的嵌套，也可以是略微有余量的较宽松套设，总之需要使得副支架可沿主支架作短距离的上下移动。
优选地，副支架512在套设至主支架511顶端的套设部外周开设有贯通的螺纹孔，螺纹孔内拧设有与主支架511抵接的紧定螺钉53以使支架整体套设稳固，紧定螺钉赋予了支架灵活调整其整体高度的效果，以使试件中心与激光处于同一高度。
底板11上的路径为平行于水平杆开设的贯通型凹槽111，试件支撑架底部设置有与凹槽111结构适配且沿凹槽滑移的滑移部（未示出），凹槽为可防止滑移部在非水平方向脱出的限位型凹槽，本实施例中凹槽111呈倒T结构。凹槽尺寸略大于试件支撑架的滑移部，使试件支撑架可在凹槽中灵活滑动，且在使用完毕时也会比较方便将其取出。
L型框架使用质量相对较为轻便的金属材料，这样可以减轻整体重量，凹槽内需相对光滑，支架和支撑平台使用硬度较高的金属，用来承受有一定重量的试件。光幕使用暗色调布料，方便观察照射过来的激光在光幕上所出现的位置。其余部分如水平杆、刻度杆等使用相对光滑且硬度较高的塑料材料制作即可，保证其质量轻便，同时又不失硬度。激光光源需要发射稳定的、细窄的直线激光，用来精确确定试件边界。
在进行测量时，滑移部与凹槽之间可适当涂抹一些润滑油，以进一步减小试件支撑架在放入、取出凹槽或沿凹槽滑移时所受的摩擦力。
采用本申请所述装置进行试件尺寸测量步骤如下：
1）将主、副支架以及支撑平台组装好，拧好紧定螺钉使试件支撑架成为一个稳定整体，将试件支撑支架滑移部放入底板凹槽里，轻轻推入到合适的位置；
2）将试件放置于支撑平台上，适当松开紧定螺钉，通过副支架移动带着试件上升或下降调整试件高度，使试件的中心与激光光源所发射出的激光在同一高度上，拧紧紧定螺钉来固定该高度；
3）将试件随着试件支撑架在凹槽内向左滑动，使试件一端抵在L型框架的侧板内表面；
4）向右滑动激光光源至试件的另一端，使发射出来的激光从被试件挡住的状态变成刚刚不被挡住而射出的时候，射到无孔副刻度杆上或从带孔主刻度杆上的孔中穿过照射至光幕上；
5）观察激光照射在刻度杆上的情况，若激光从带孔主刻度杆的某个孔中穿射过照射在光幕上，则直接读取穿过的那个孔处的读数；若激光未穿射过孔抵达光幕，则观察激光照射的地方位于带孔主刻度杆上何处，再从此处下方的无孔副刻度杆上读取数据；
6）所有数据读取结束后，取下试件，把装置各部件拆卸并进行收纳。
显然，上述实施例仅仅是为清楚地说明本实用新型的技术方案所作的举例，而并非是对本实用新型的实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型权利要求的保护范围之内。
Claims (9)
1.一种试件尺寸激光测量装置，其特征在于，包括具有相互垂直的底板和侧板的L型框架，侧板内表面上垂直伸出有与底板平行的水平杆和刻度杆，水平杆和刻度杆之间具有间距且在侧板上等高设置，水平杆上安装有可沿水平杆滑移的激光光源，底板在水平杆与刻度杆之间的尺寸投影范围内设置有试件支撑架，底板上设有路径供试件支撑架作与水平杆伸出方向平行的移动；
刻度杆包括带孔主刻度杆和无孔副刻度杆，无孔副刻度杆紧贴在带孔主刻度杆的上方或下方，带孔主刻度杆上的孔供激光通过，刻度杆背面布置有供激光照射的光幕，光幕与刻度杆之间具有间距且光幕分别与底板、侧板垂直。
2.根据权利要求1所述的试件尺寸激光测量装置，其特征在于，试件支撑架包括与底板接触的支架及设于支架顶端的支撑平台。
3.根据权利要求2所述的试件尺寸激光测量装置，其特征在于，支架由至少两个子支架套设连接而成。
4.根据权利要求3所述的试件尺寸激光测量装置，其特征在于，支架由与底板接触的主支架及与支撑平台接触的副支架组成，副支架底部套设在主支架顶部。
5.根据权利要求4所述的试件尺寸激光测量装置，其特征在于，副支架在套设至主支架顶端的套设部外周开设有贯通的螺纹孔，螺纹孔内拧设有与主支架抵接的紧定螺钉以使支架整体套设稳固。
6.根据权利要求2所述的试件尺寸激光测量装置，其特征在于，支撑平台的支撑表面为粗糙表面。
7.根据权利要求1所述的试件尺寸激光测量装置，其特征在于，底板上的路径为平行于水平杆开设的贯通型凹槽，试件支撑架底部设置有与凹槽结构适配且沿凹槽滑移的滑移部。
8.根据权利要求7所述的试件尺寸激光测量装置，其特征在于，凹槽为可防止滑移部在非水平方向脱出的限位型凹槽。
9.根据权利要求8所述的试件尺寸激光测量装置，其特征在于，凹槽呈倒T结构。
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| CN (1) | CN211291346U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN115014164A (zh) * | 2022-08-09 | 2022-09-06 | 山东牧马人测绘技术有限公司 | 一种不规则物体长度测量装置及其测量方法 |
-
2020
- 2020-02-17 CN CN202020173404.1U patent/CN211291346U/zh not_active Expired - Fee Related
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