CN211121673U - 热敏电阻测试装置 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了热敏电阻测试装置，属于热敏电阻领域。包括控制器组件和测试组件，控制器组件设置于测试组件上部，控制器组件包括控制器和控制开关，测试组件正面设有开口和测试门，测试组件竖向均匀分布有多层测试基板，测试基板上部设有多排测试基座，测试基座上设有测试探针，测试基板侧面设有滑块，测试组件内壁设有对应的滑槽，滑块插入滑槽中，并能够沿着滑槽滑动。本申请在使用时，将测试基板沿着滑槽向外拉出即可，在不使用时，将测试基板沿着滑槽向内推动，在关上测试门即可，有效地避免了测试探针裸露在外界容易堆积灰尘影响测试结果的问题，同时，本申请设计结构简洁，便于收纳，使用十分便捷。
Description
技术领域
本申请涉及热敏电阻领域，特别涉及热敏电阻测试装置。
背景技术
热敏电阻有灵敏度高、稳定性好、响应快、寿命长、价格低等优点，广泛应用于定点测温的温度自动控制电路，如冰箱、空调、温室等温控系统。热敏电阻与简单的放大电路结合，就可检测千分之一度的温度变化，所以和电子仪表组成测温计，能完成高精度的温度测量。普通用途热敏电阻工作温度为－55～+315℃，特殊低温热敏电阻的工作温度可测至－273℃的超低温。
但是，发明人在本申请的研究过程中发现，现有的热敏电阻测试装置结构较为单一，用于测试热敏电阻的探针通常裸露在外界中，长时间使用或放置会导致其表面吸附大量的灰尘和杂志，从而影响热敏电阻测试装置测试结果的准确性，同时工作人员需要定期去进行清理，既耗时又耗力，使用十分不便。
实用新型内容
本申请提供一种热敏电阻测试装置，以解决背景技术中提出的问题。
热敏电阻测试装置，包括控制器组件和测试组件，所述控制器组件设置于测试组件上部，所述控制器组件包括控制器和控制开关，所述测试组件正面设有开口和测试门，所述测试门与测试组件铰接，用于控制开口的开关，所述测试组件竖向均匀分布有多层测试基板，所述测试基板上部设有多排测试基座，所述测试基座上设有测试探针，所述测试探针穿过测试基座与测试基板固定连接，所述测试基板呈空心结构，所述测试基板尾部设有多个出线孔，所述测试探针底部的导线穿过出线孔与控制器组件连接，所述测试基板正面设有多个指示灯，所述测试基板侧面设有滑块，所述测试组件内壁设有对应的滑槽，所述滑块插入滑槽中，并能够沿着滑槽滑动。
优选地，相邻两层所述测试基板之间的距离为10～15cm。
优选地，所述测试基板上部设有用于分别与万用表正负极连接的接线柱。
优选地，所述测试组件侧壁上设有多个通风孔。
优选地，所述测试组件内侧壁上对应通风孔的位置贴有防尘网。
由上述技术方案可知，本申请提供的热敏电阻测试装置将用于测试的测试探针收纳于测试组件内部，在使用时，将测试基板沿着滑槽向外拉出即可，在不使用时，将测试基板沿着滑槽向内推动，在关上测试门即可，有效地避免了测试探针裸露在外界容易堆积灰尘影响测试结果的问题，同时，本申请设计结构简洁，便于收纳，使用十分便捷。
附图说明
图1为本申请实施例提供的一种热敏电阻测试装置的结构示意图；
图2为本申请实施例提供的一种热敏电阻测试装置的内部结构示意图；
图3为本申请实施例提供的一种热敏电阻测试装置中，测试基板的结构示意图。
其中：10-控制器组件，20-测试组件，201-测试门，202-测试基板，203-测试基座，204-测试探针，205-出线孔，206-滑块，207-滑槽，208-通风孔。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
参阅图1至图3，本申请实施例提供热敏电阻测试装置，包括控制器组件10和测试组件20，所述控制器组件10设置于测试组件20上部，并与测试组件20一体成型，所述控制器组件10包括控制器和控制开关。
所述测试组件20正面设有开口和测试门201，所述测试门201与测试组件20铰接，用于控制开口的开关，所述测试组件20竖向均匀分布有多层测试基板202，所述测试基板202上部设有多排测试基座203，所述测试基座203上设有测试探针204，所述测试探针204穿过测试基座203与测试基板202固定连接。
所述测试基板202呈空心结构，所述测试基板202尾部设有多个出线孔205，所述测试探针204底部的导线穿过出线孔205与控制器组件10连接，所述测试基板202正面设有多个指示灯，所述指示灯与控制器组件10连接，所述测试基板202上部设有用于分别与万用表正负极连接的接线柱，所述测试基板202侧面设有滑块206，所述测试组件20内壁设有对应的滑槽207，所述滑块206插入滑槽207中，并能够沿着滑槽207滑动。
具体地，相邻两层所述测试基板202之间的距离为10～15cm。在相邻两层的测试基板202之间保持充足的空间，更加便于工作人员进行操作，具有较高的实用性。
参阅图1，所述测试组件20侧壁上设有多个通风孔208，所述测试组件20内侧壁上对应通风孔208的位置贴有防尘网。通过通风孔208可以保持测试组件20内部的通风，通过防尘网能够防止灰尘从通风孔208进入测试组件20内部。
本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的申请后，将容易想到本申请的其它实施方案。本申请旨在涵盖本申请的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本申请的一般性原理并包括本申请未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本申请的真正范围和精神由下面的权利要求指出。
应当理解的是，本申请并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本申请的范围仅由所附的权利要求来限制。
Claims (5)
1.热敏电阻测试装置，其特征在于，包括控制器组件(10)和测试组件(20)，所述控制器组件(10)设置于测试组件(20)上部，所述控制器组件(10)包括控制器和控制开关，所述测试组件(20)正面设有开口和测试门(201)，所述测试门(201)与测试组件(20)铰接，用于控制开口的开关，所述测试组件(20)竖向均匀分布有多层测试基板(202)，所述测试基板(202)上部设有多排测试基座(203)，所述测试基座(203)上设有测试探针(204)，所述测试探针(204)穿过测试基座(203)与测试基板(202)固定连接，所述测试基板(202)呈空心结构，所述测试基板(202)尾部设有多个出线孔(205)，所述测试探针(204)底部的导线穿过出线孔(205)与控制器组件(10)连接，所述测试基板(202)正面设有多个指示灯，所述测试基板(202)侧面设有滑块(206)，所述测试组件(20)内壁设有对应的滑槽(207)，所述滑块(206)插入滑槽(207)中，并能够沿着滑槽(207)滑动。
2.根据权利要求1所述的热敏电阻测试装置，其特征在于，相邻两层所述测试基板(202)之间的距离为10～15cm。
3.根据权利要求1所述的热敏电阻测试装置，其特征在于，所述测试基板(202)上部设有用于分别与万用表正负极连接的接线柱。
4.根据权利要求1所述的热敏电阻测试装置，其特征在于，所述测试组件(20)侧壁上设有多个通风孔(208)。
5.根据权利要求4所述的热敏电阻测试装置，其特征在于，所述测试组件(20)内侧壁上对应通风孔(208)的位置贴有防尘网。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201922144203.9U CN211121673U (zh) | 2019-12-04 | 2019-12-04 | 热敏电阻测试装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201922144203.9U CN211121673U (zh) | 2019-12-04 | 2019-12-04 | 热敏电阻测试装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN211121673U true CN211121673U (zh) | 2020-07-28 |
Family
ID=71690837
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201922144203.9U Active CN211121673U (zh) | 2019-12-04 | 2019-12-04 | 热敏电阻测试装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN211121673U (zh) |
-
2019
- 2019-12-04 CN CN201922144203.9U patent/CN211121673U/zh active Active
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