CN2107664U - 晶体器件测试仪 - Google Patents

Abstract

用一只由场效应管做调整管的串连稳压器，使其 输出电压取决于一只电容的充电电压：用灵敏可靠的 电流检测开关去控制这只电容的充电，用可调恒流源 做假负载兼限流器，便可以模拟多种晶体管参数测试 条件。他们的科学结合组成的晶体管测试仪，具有效 率高、精度好、通用性强、测试范围宽等特点，为电子 工作者提供了一件得心应手的实用工具。

Description

本发明属于晶体管参数测试装置。

现有的晶体管参数测试仪器虽然很多，但存在功能单一、通用性差和使用不便、工作效率低等问题。一些新器件的出现，也对测试提出了新的要求，例如负阻器件的测试挑选，如用示波仪、电压表、电流表等工具，效率不佳，有时精度也受到影响。

本发明的目的，是以经济简便的方法，制作出一种高效率、通用性好、测量范围宽的晶体管测试挑选装置。

本发明的目的是这样实现的：用灵敏的电流检测器拾取被测晶体管通过的电流，并用以控制稳压电源电压，然后通过显示器直接读出或间接计算出所测参数。

实施例：附图为晶体管参数测试仪的基本电路图（显示部分未画出）。如图所示，测试仪主要由串联可调稳压器、随机自动调节控制开并、可调恒流源等三部分组成。BG₁、BG₂、BG₃、BG₄、FED等组成了串联可调稳压电源，调整管BG₄为场效应管，因此，可调稳压电源输出电压取决于C₂上的充电压。BG₅、BG₇、BG₈、D₂、R₈、R₉、R₁₂、R₁₄、W₂组成第一路随机调控开关，通过拾取被测器件通过的电流，由测量三极管集电极控制C₂上的充电电压。选通开关K₂接通时进入工作状态。D₂、R₈、BG₇、W₂为一灵敏电流检测器，其检测电位器W₃或另设电阻是被串连在可调恒流源中使用，而使电流检测器在电路中起开关作用，即当W₂上有一定电流流过时产生的压降达到一定值－－检测开关阀值时开关动作，BG₇由导通变截止，使C₇充电停止，稳压器处于稳压输出状态。BG₁₁、D₂、D₄、R₁₄、W₄等组成第一路检测模拟负载兼限流器，R₁₅为测量PNP型三极管的基极偏流电阻。

第二路随机自动控制开关由BG₆、BG₉、BG₁₀、D₁、R₇、R₁₀、R₁₁、R₁₂、W₂组成。BG₁₂、D₅、D₆、R₁₂、W₅等组成第二路检测模拟负载兼限流器。R 为测量NPN型管的基极偏流电阻。工作原理同第一路。

测试晶体管的工作过程是：假如第一路调控开关阀值为0.05V，被测器件为负阻管，导通电流为5mA。首先要通过调整W₄将恒流源调至5mA，若D₄＝0.6V，则W₄＝0.6V／5mA＝120Ω。然后调定检流电位器：W＝0.05／5mA＝10。测试时将负阻管正极接A点，负极接B点，同时K₁联动，接通电路电源，此时发生的变化是：在接通电源的瞬间，A、B两点相当于开路，稳压电路处自动升压状态。当C₂上电压不断升高，使稳压电路输出电压达到Vs时（负阻管转折导通电压），负阻管导通，W₃上产生0.05V的压降，于是BG₇被迫截止，BG₅、BG₈也截止，C₂充电停止。此时稳压器输出电压即为负阻管的转折电压：Vs＝V₀－V_W4－V_W3。负阻管的导通端电压从A、B两点测出。在A、B、C三点接入PNP三极管的e、c、b时，则可测出三极管的直流放大倍数。先按三极管的具体测试条件设定恒流源电流，如Ic＝10mA，则W₃＝0.05V／10mA＝5Ω，则三极管直流放大倍数β＝10mA／〔（V₀－0.6V）／R₁₅〕。插入三极管，稳压器输出5V，R＝20K，则β＝45.5。同理，也可以测试稳压管稳压值、晶体管的正反向漏电流、耐压值、击穿电压、正向压降、场效应管栅极电流、跨导、可控硅的触发电压、维持电流等主要参数。只要调整检流电阻、恒流电流、基极电阻的数值和电路元件的耐压等，使可在很宽的范围内取得准确的测量，同时，接在电源输出正负（地）端的电阻（分档调节）不仅可为被测三端器件提供测试偏压偏流，还可为其他扩展测试提供条件。有时可根据需要将被测器件一端直接接于输出电源的正负（地）端上。被测量的元件取下后，K₁接通C₂放电回路，放掉C₂上的充电电压，伸仍留0.3V的残压，为下次使用做好准备。电路反应速度根据需要由W₁调定。

电路原理和计算参见本人的晶体管输出电流检测器专利申请说明书D₂、BG₇与D₁、DG₁₀要配合挑选同类型开关管，使二者工作电压差较小以提高精度，并用R₇、R₈分别精调。如要在很宽的电压范围内使用，电路中元件参数可做改动，并选用耐压足够的晶体管，必要时将某些电阻用分档开关调整。R₁₅、R₁₈、W2－5可根据测量精度、范围要求多设固定电阻，由分档开关和微调电位器配合调节。

这种晶体管测试仪具有制作容易、使用方便、测试效率高、误差小、测试范围宽、通用性好等特点，不仅可为专业和业余电子工作者提供一种新的实用工具，也为晶体管元件的测试、挑选的自动化准备了条件。

Claims (5)

1、一种晶体器件测试装置，其特征在于所说的测试装置是由高效率可调稳压电源、可调恒流源、电流检测器及电压显示器4种电子单元电路组成。

2、按照权利要求1中所述的测试装置，其特征在于所说的装置中的高效可调稳压电源的调整管是高放大倍数的场效应管或达林顿管，其电压调节控制端并接有可充放电的电容。

3、按照权利要求1和2所述的测试装置，其特征在于所说的装置中的电流检测器是由比较和放大晶体管及其共同偏流、串接在放大管发射极的可调电阻（多个固定电阻）组成。其输出端是通过开关、放大极接在可调稳压电源调节控制端的电容上，检测放大管的发射极即做为被测晶体器件的正（负）接柱。

4、按照权利要求1－3所述的测试装置，其特征在于所说的装置中的可调恒流源的灌电流、拉电流输出端是分别做为被测晶体管器件的正、负接柱。

5、按照权利要求1－4所述的测试装置，其特征在于所说的装置中的显示器是接在可调稳压器的输出正、负端和晶体器件测试器正、负接柱上。