CN210720611U - 一种基于恒温平台的半导体制冷片老化测试治具 - Google Patents
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 69
- 238000005057 refrigeration Methods 0.000 title claims abstract description 50
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 37
- 230000032683 aging Effects 0.000 title claims abstract description 25
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims abstract description 19
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 7
- 238000003491 array Methods 0.000 claims description 2
- 238000001816 cooling Methods 0.000 abstract description 3
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
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Abstract
本实用新型公开了一种基于恒温平台的半导体制冷片老化测试治具，其包括：恒温平台、电源、温度监控记录仪和电控装置，所述半导体制冷片设置在恒温平台上，所述电控装置线性连接在电源与半导体制冷片之间，进行半导体制冷片的间歇性供电，所述温度监控记录仪的探头与半导体制冷片的表面相连接进行温度监测。本实用新型所述的基于恒温平台的半导体制冷片老化测试治具，满足各种环境温度的设定，使得测试更加真实，通电一定时间，然后再断电一段时间使其冷却，并设定目标循环测试次数，实现半导体制冷片的自动老化测试，降低人工成本，提升产品出厂的品质。
Description
技术领域
本实用新型涉及半导体制冷片生产技术领域，尤其涉及一种基于恒温平台的半导体制冷片老化测试治具。
背景技术
半导体制冷片是一种由半导体所组成的冷却装置，利用半导体材料的特性，当直流电通过两种不同半导体材料串联成的电偶时，在电偶的两端分别吸收热量和放出热量，实现制冷的目的。半导体制冷片的体积小巧，可靠性比较高，通常应用在空间受到限制的场所。
由于缺乏对应的检测设备，部分半导体制冷片通常没有经过老化测试就出厂，品质没有保障，或者人工进行环境的营造而进行半导体制冷片的连续老化测试，工作效率低，而且增加了人工成本。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种基于恒温平台的半导体制冷片老化测试治具，实现半导体制冷片的自动老化测试，提升测试的灵活性和便利性，减低测试成本。
为达此目的，本实用新型采用以下技术方案：
一种基于恒温平台的半导体制冷片老化测试治具，包括：恒温平台、电源、温度监控记录仪和电控装置，所述半导体制冷片设置在恒温平台上，所述电控装置线性连接在电源与半导体制冷片之间，进行半导体制冷片的间歇性供电，所述温度监控记录仪的探头与半导体制冷片的表面相连接进行温度监测。
其中，所述电源为可调电源。
其中，所述半导体制冷片为单级或者多级半导体制冷片。
其中，所述恒温平台为温度可调的恒温平台。
其中，数块半导体制冷片阵列设置在恒温平台上。
其中，所述电控装置为微电脑时控开关。
其中，所述温度监控记录仪的两组探头分别与半导体制冷片的上表面和下表面相连接，同时进行温度监测。
本实用新型的有益效果：一种基于恒温平台的半导体制冷片老化测试治具，一次可以测试多个半导体制冷片，工作效率高，特别设计了恒温平台来营造使用环境温度，温度调整灵活，满足各种环境温度的设定，使得测试更加真实，通过电控装置可以设置半导体制冷片的通断电时间，通电一定时间，然后再断电一段时间使其冷却（通断电时间可调），并设定目标循环测试次数，实现半导体制冷片的自动老化测试，降低人工成本，并通过温度监控记录仪进行半导体制冷片温度的记录，测试的稳定性高，结果更加真实，提升产品出厂的品质。
附图说明
图1是本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
下面结合图1并通过具体实施例来进一步说明本实用新型的技术方案。
一种基于恒温平台的半导体制冷片老化测试治具，包括：恒温平台5、电源1、温度监控记录仪2和电控装置3，所述半导体制冷片4设置在恒温平台5上，可以采用4块及以上的半导体制冷片4同时阵列设置在恒温平台5上，并联后同时进行测试，互不影响，提升测试工作效率。
所述恒温平台5为温度可调的恒温平台，恒温平台5的温度调整灵活，可以满足半导体制冷片4在各种环境温度的设定，使得半导体制冷片4的老化测试结果更加真实。
所述电控装置3线性连接在电源1与半导体制冷片4之间，进行半导体制冷片4的间歇性供电，通电一定时间，然后再断电一段时间使其冷却（通断电时间可调），并设定目标循环测试次数，实现半导体制冷片的自动老化测试，降低人工成本。
所述电源1为可调电源，电压调整灵活，对半导体制冷片4的适应性好，所述半导体制冷片4为多级半导体制冷片，通过电源1为半导体制冷片4供电后，可以进行高效制冷。
所述温度监控记录仪2的探头与半导体制冷片4的表面相连接进行温度监测，进行半导体制冷片4温度的监测。所述温度监控记录仪2的两组探头分别与半导体制冷片4的上表面和下表面相连接，同时进行半导体制冷片4上表面和下表面的温度监测，使得数据更加完善。
所述电控装置3为微电脑时控开关，可以灵活设定半导体制冷片4通电的时间、断电的时间以及目标循环测试次数，控制精准，可以替代人工进行半导体制冷片4的通断电控制，使得老化测试更加稳定和高效。
以上内容仅为本实用新型的较佳实施例，对于本领域的普通技术人员，依据本实用新型的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，本说明书内容不应理解为对本实用新型的限制。
Claims (7)
1.一种基于恒温平台的半导体制冷片老化测试治具，进行半导体制冷片的老化测试，其特征在于，包括：恒温平台、电源、温度监控记录仪和电控装置，所述半导体制冷片设置在恒温平台上，所述电控装置线性连接在电源与半导体制冷片之间，进行半导体制冷片的间歇性供电，所述温度监控记录仪的探头与半导体制冷片的表面相连接进行温度监测。
2.根据权利要求1所述的基于恒温平台的半导体制冷片老化测试治具，其特征在于，所述电源为可调电源。
3.根据权利要求1所述的基于恒温平台的半导体制冷片老化测试治具，其特征在于，所述半导体制冷片为单级或者多级半导体制冷片。
4.根据权利要求1所述的基于恒温平台的半导体制冷片老化测试治具，其特征在于，所述恒温平台为温度可调的恒温平台。
5.根据权利要求1所述的基于恒温平台的半导体制冷片老化测试治具，其特征在于，数块半导体制冷片阵列设置在恒温平台上。
6.根据权利要求1所述的基于恒温平台的半导体制冷片老化测试治具，其特征在于，所述电控装置为微电脑时控开关。
7.根据权利要求1所述的基于恒温平台的半导体制冷片老化测试治具，其特征在于，所述温度监控记录仪的两组探头分别与半导体制冷片的上表面和下表面相连接，同时进行温度监测。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201921597720.5U CN210720611U (zh) | 2019-09-24 | 2019-09-24 | 一种基于恒温平台的半导体制冷片老化测试治具 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201921597720.5U CN210720611U (zh) | 2019-09-24 | 2019-09-24 | 一种基于恒温平台的半导体制冷片老化测试治具 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN210720611U true CN210720611U (zh) | 2020-06-09 |
Family
ID=70935691
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201921597720.5U Expired - Fee Related CN210720611U (zh) | 2019-09-24 | 2019-09-24 | 一种基于恒温平台的半导体制冷片老化测试治具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN210720611U (zh) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112345906A (zh) * | 2020-09-28 | 2021-02-09 | 杭州大和热磁电子有限公司 | 一种多路并行老化测试装置 |
| CN113533890A (zh) * | 2021-07-29 | 2021-10-22 | 深圳市禹龙通电子股份有限公司 | 水冷老化设备控制系统 |
| CN118671569A (zh) * | 2024-08-23 | 2024-09-20 | 成都讯速信远科技有限公司 | 一种半导体芯片老化测试安全预警系统及方法 |
-
2019
- 2019-09-24 CN CN201921597720.5U patent/CN210720611U/zh not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112345906A (zh) * | 2020-09-28 | 2021-02-09 | 杭州大和热磁电子有限公司 | 一种多路并行老化测试装置 |
| CN113533890A (zh) * | 2021-07-29 | 2021-10-22 | 深圳市禹龙通电子股份有限公司 | 水冷老化设备控制系统 |
| CN118671569A (zh) * | 2024-08-23 | 2024-09-20 | 成都讯速信远科技有限公司 | 一种半导体芯片老化测试安全预警系统及方法 |
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