CN210270018U - 一种直插式霍尔器件全性能测试装置 - Google Patents

Abstract

一种直插式霍尔器件全性能测试装置，用于对直插式霍尔器件进行测试，包括可调磁场组件、温控高低温箱、测试电路组件、电流源及测试级万用表，所述电流源分别与所述可调磁场组件及测试电路组件连接，用于产生测试时所需磁场及待测霍尔器件测试所需的驱动，所述测试级万用表完成电器特性测量，所述待测霍尔器件安装在所述测试电路组件上，所述测试电路组件安装在所述温控高低温箱内。通过温控高低温箱对测试电路组件进行容纳，使得整体装置所占用的空间减少，有利于节省成本。

Description

一种直插式霍尔器件全性能测试装置

技术领域

本实用新型涉及霍尔器件性能测试领域，具体地说涉及器件级霍尔器件全性能测试领域。

背景技术

霍尔效应是电磁效应的一种，根据霍尔效应做成器件称为霍尔器件。霍尔器件通过检测磁场变化，转变为电信号输出，将物体的运动参量转变为电参量输出，使之具备传感和开关的功能，可用于监视和测量各运动部件运行参数的变化，应用十分广泛。通过调研，霍尔器件下游用户重点关注两大块性能：有无磁场条件下器件性能(零点漂移、线性度)和不同环境温度下器件性能(温度漂移)。

封装完成的霍尔器件全性能测试属于生产的最后一道工序，根据所测霍尔器件的全性能参数来验证产品是否符合出货要求。对不符合要求的批次，将截留此批次产品，待进行相关实验分析后，从研发或工艺端进行改善，提升产品的性能参数。那么对于霍尔器件生产厂家来说，对出货前的霍尔器件进行质量管控，从源头上防止不良品流出，显得尤为重要。

通过调研发现，目前广泛采用的技术是将单颗霍尔器件逐一置于独立磁场中，如需实现高低温循环下的批量测试，一般采用将多套系统摆放在箱体内，然而由于每颗器件配备一套磁场，占用空间较大，不易集成且制造成本较高。目前市面上并无成熟的、经济高效的直插式霍尔器件全性能测试装置可以为质量管控提供保障。

实用新型内容

因此，本实用新型要解决的技术问题在于克服现有技术中占用空间大的缺陷，从而提供一种直插式霍尔器件全性能测试装置。

本实用新型的上述目的是通过以下技术方案得以实现的：

一种直插式霍尔器件全性能测试装置，用于对直插式霍尔器件进行测试，包括可调磁场组件、温控高低温箱、测试电路组件、电流源及测试级万用表，所述电流源分别与所述可调磁场组件及测试电路组件连接，用于产生测试时所需磁场及待测霍尔器件测试所需的驱动，所述测试级万用表完成电器特性测量，所述待测霍尔器件安装在所述测试电路组件上，所述测试电路组件安装在所述温控高低温箱内。

优选的，还包括支撑组件，所述支撑组件设置在所述温控高低温箱内，用于放置和固定所述测试电路组件。

优选的，所述支撑组件包括前面板及后面板，所述前面板及所述后面板上均设有看开口槽位，所述测试电路组件放置并固定设置在所述前面板及后面板中。

优选的，所述支撑组件还包括内轴、隔圈及锁圈，所述内轴固定设置在所述温控高低温箱上，所述前面板、所述隔圈及所述后面板均安装在所述内轴上，所述锁圈旋紧固定在所述内轴上用于对所述内轴上各部件之间位置进行紧固。

优选的，所述可调磁场组件包括面板、绕组线圈、连接轴及定位板，所述定位板固定设置在所述温控高低温箱内，所述面板至少设置有两个，两个所述面板固定设置在所述定位板上，所述连接轴设置在两个所述面板之间，所述绕组线圈绕设在所述连接轴外圈并与所述电流源相互连通设置，用于产生测试所需磁场。

优选的，所述可调磁场组件还包括若干定位锁紧螺钉，所述定位锁紧螺钉螺纹连接在所述面板及所述定位板上。

优选的，所述测试电路组件包括测试线及测试电路板，所述测试线一端连接测试电路板，另外一端穿过所述温控高低温箱与所述电流源及所述测试级万用表相互连通设置。

优选的，所述测试电路组件还包括连接排母及定位螺钉，所述连接排母与待测霍尔器件连接设置，所述连接排母焊接固定在所述测试电路板上，所述定位螺钉连接所述测试电路组件及温控高低温箱。

本实用新型技术方案，具有如下优点：

1.本实用新型提供的直插式霍尔器件全性能测试装置，通过温控高低温箱对测试电路组件进行容纳，使得整体装置所占用的空间减少，有利于节省成本。

2.本实用新型提供的直插式霍尔器件全性能测试装置，测试电路板的布线实现了批量直插式霍尔器件性能测试，提高了测试效率。且支撑组件和测试电路组件可根据不同霍尔器件尺寸定制，在测试不同封装的直插式霍尔元件时仅需更换部分组件即可，成本低廉更换简单。

3.本实用新型提供的直插式霍尔器件全性能测试装置，通过锁紧螺钉和定位板，一方面避免了温控高低温箱工作时带来的晃动引发可调磁场组件和测试电路组件的位移，大大减小了因器件位置变动而造成的测试误差，另一方面也保证了测量的可重复性

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型中一实施方式中直插式霍尔器件全性能测试装置的整体示意图；

图2为本实用新型中一实施方式中直插式霍尔器件全性能测试装置上可调磁场组件的结构示意图；

图3为本实用新型中一实施方式中直插式霍尔器件全性能测试装置上支撑组件的结构示意图；

图4为本实用新型中一实施方式中直插式霍尔器件全性能测试装置上测试电路组件的结构示意图。

附图标记说明：

1、可调磁场组件；101、面板；102、绕组线圈；103、连接轴；104、定位锁紧螺钉；105、定位板；2、支撑组件；201、内轴；202、前面板；203、隔圈；204、后面板；205、锁圈；3、温控高低温箱；4、测试电路组件；401、测试线；402、测试电路板；403、连接排母；404、定位螺钉；5、电流源；6、测试级万用表；7、霍尔器件

具体实施方式

下面将结合附图对本实用新型的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

此外，下面所描述的本实用新型不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。

请参阅图1，一种直插式霍尔器件全性能测试装置，用于对直插式霍尔器件7进行性能的测试，其包括可调磁场组件1、支撑组件2、温控高低温箱3、测试电路组件4、电流源5及测试级万用表6。其中，可调磁场组件1及测试电路组件4均设置在温控高低温箱3内，且本实施方式中，支撑组件2用于对测试电路组件4进行支撑使其能够固定在温控高低温箱3中。本实施方式中，直流电流源5分别与可调磁场组件1及测试电路组件4连通设置，用于产生测试时所需的磁场及待测霍尔器件7测试过程中所需要的驱动。本实施方式中，温控高低温箱3可以设置为不同的环境温度，再通过测试级万用表6来完成待测霍尔器件7电气特性的测量。本实施方式中，所使用的电流源5为直流电流源5。

请参阅图2，本实施方式中，可调磁场组件1用于产生测试时所需的磁场。这里，可调磁场组件1包括面板101、绕组线圈102、连接轴103、定位锁紧螺钉104及定位板105。其中，面板101设置为两个，两个面板101之间通过连接轴103连接，绕组线圈102绕设在连接轴103的外圈，本实施方式中，绕组线圈102采用密绕的方式绕设在连接轴103的外圈，且绕组线圈10匝数的高度不超过面板101高度。本实施方式中，定位板105固定在温控高低温箱3中，以使可调磁场组件1能够稳定地固定在温控高低温箱3内。本实施方式中，可调磁场组件1内各部件均无磁性材料，大大减小了由剩磁导致的测量误差。

请参阅图3，本实施方式中，支撑组件2用于对测试电路组件4进行支撑及固定，这里，支撑组件2包括内轴201、前面板201、隔圈203、后面板204及锁圈205。内轴201用于将支撑组件2与可调磁场组件1之间进行连接，其中，前面板201及后面板204上均设有开口槽位(图中未示出)，用于放置和固定测试电路组件4，锁圈205用于对前面板201及后面板204与内轴201之间的位置进行固定。安装过程中，将前面板201、隔圈203及后面板204依次装设在内轴201上，再通过旋入锁圈205压紧实现支撑组件2的组装，本实施方式中，前面板201及后面板204可根据不同的霍尔器件7进行尺寸的定制，使得更换简单易行，且成本低廉。

请参阅图4，本实施方式中，测试电路组件4包括若干测试线401、测试电路板402、连接排母403及定位螺钉404，其中，测试线401为耐高低温线，其一端连接测试电路板402，另外一端穿出温控高低温箱3与电流源5及测试级万用表6相互连通设置。这里，连接排母403固定设置在测试电路板402上，用于连接霍尔器件7，连接排母403上设置有多排插座孔位，本实施方式中，单个连接排母403至少可以放置20颗待检测的霍尔器件7；本实施方式中，连接排母403焊接固定在测试电路板402上，在其他实施方式中，连接排母403还可以通过其他固定方式进行固定，如螺栓固定或胶粘。本实施方式中，定位螺钉404用于在将电路组件安置在支撑组件2内后对于两者之间进行位置的固定。

工作原理：

测试过程中，将待测的霍尔器件7安装在连接排母403上，再通过定位螺钉404将测试电路组件4固定在支撑组件2上，将支撑组件2安装到可调磁场组件1内，使待测的霍尔器件7处于磁场中心的区域。调节温控高低温箱3内的温度，并对待测的霍尔器件7输入引脚上电，从而测试出无磁场强度下的电气性能；再通过对可调磁场组件1进行上电，测试在有磁场状态下霍尔器件7的电气性能。从而实现了对直插式霍尔器件7在不同温度及有无磁场下的全性能参数进行测量。

Claims (8)

1.一种直插式霍尔器件全性能测试装置，用于对直插式霍尔器件进行测试，其特征在于：包括可调磁场组件、温控高低温箱、测试电路组件、电流源及测试级万用表，所述电流源分别与所述可调磁场组件及测试电路组件连接，用于产生测试时所需磁场及待测霍尔器件测试所需的驱动，所述测试级万用表完成电器特性测量，所述待测霍尔器件安装在所述测试电路组件上，所述测试电路组件安装在所述温控高低温箱内。

2.根据权利要求1所述的直插式霍尔器件全性能测试装置，其特征在于：还包括支撑组件，所述支撑组件设置在所述温控高低温箱内，用于放置和固定所述测试电路组件。

3.根据权利要求2所述的直插式霍尔器件全性能测试装置，其特征在于：所述支撑组件包括前面板及后面板，所述前面板及所述后面板上均设有看开口槽位，所述测试电路组件放置并固定设置在所述前面板及后面板中。

4.根据权利要求3所述的直插式霍尔器件全性能测试装置，其特征在于：所述支撑组件还包括内轴、隔圈及锁圈，所述内轴固定设置在所述温控高低温箱上，所述前面板、所述隔圈及所述后面板均安装在所述内轴上，所述锁圈旋紧固定在所述内轴上用于对所述内轴上各部件之间位置进行紧固。

5.根据权利要求1所述的直插式霍尔器件全性能测试装置，其特征在于：所述可调磁场组件包括面板、绕组线圈、连接轴及定位板，所述定位板固定设置在所述温控高低温箱内，所述面板至少设置有两个，两个所述面板固定设置在所述定位板上，所述连接轴设置在两个所述面板之间，所述绕组线圈绕设在所述连接轴外圈并与所述电流源相互连通设置，用于产生测试所需磁场。

6.根据权利要求5所述的直插式霍尔器件全性能测试装置，其特征在于：所述可调磁场组件还包括若干定位锁紧螺钉，所述定位锁紧螺钉螺纹连接在所述面板及所述定位板上。

7.根据权利要求1所述的直插式霍尔器件全性能测试装置，其特征在于：所述测试电路组件包括测试线及测试电路板，所述测试线一端连接测试电路板，另外一端穿过所述温控高低温箱与所述电流源及所述测试级万用表相互连通设置。

8.根据权利要求7所述的直插式霍尔器件全性能测试装置，其特征在于：所述测试电路组件还包括连接排母及定位螺钉，所述连接排母与待测霍尔器件连接设置，所述连接排母焊接固定在所述测试电路板上，所述定位螺钉连接所述测试电路组件及温控高低温箱。

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