CN210689433U - 形位公差检测装置 - Google Patents
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Abstract
本申请实施例公开了形位公差检测装置。该形位公差检测装置的一具体实施方式包括:主框架、千分表、千分表的支架和底端固定装置;千分表用于检测待测平面的形位公差,其中,待测平面设置于包含基准平面和基准孔的待测零件上;支架包括第一支架和第二支架;第一支架和第二支架相对于主框架对向设置,第一支架和第二支架上均设置有千分表;底端固定装置设置于主框架的底端,用于固定待测零件。该实施方式提供的形位公差检测装置操作简单,可以对包含基准平面和基准孔的待测零件上的两组待测平面的形位公差进行检测。
Description
技术领域
本申请实施例涉及检测工具,具体涉及形位公差检测装置。
背景技术
加工后的零件会有尺寸公差,因而构成零件几何特征的点、线、面的实际形状或相互位置与理想几何体规定的形状和相互位置存在差异,这种形状上的差异就是形状公差,而相互位置的差异就是位置公差,这些差异统称为形位公差。现有的对形位公差检测的方法可运用三坐标测量仪,测试时需要设定基准点和基准面,然后逐个测量待测平面,从而得到待测平面的形位公差。
实用新型内容
本申请实施例提出了形位公差检测装置。
第一方面,本申请实施例提供了一种形位公差检测装置,包括:主框架、千分表、千分表的支架和底端固定装置;千分表用于检测待测平面的形位公差,其中,待测平面设置于包含基准平面和基准孔的待测零件上;支架包括第一支架和第二支架;第一支架和第二支架相对于主框架对向设置,第一支架和第二支架上均设置有千分表;底端固定装置设置于主框架的底端,用于固定待测零件。
在一些实施例中,第一支架的两端分别设置有千分表,第二支架的两端分别设置有千分表。
在一些实施例中,形位公差检测装置包括中轴和轴承,主框架通过轴承围绕中轴转动。
在一些实施例中,形位公差检测装置包括第一直线导轨和第二直线导轨;第一支架通过第一直线导轨设置于主框架上,第一直线导轨用于引导第一支架沿着导轨方向移动;第二支架通过第二直线导轨设置于主框架上,第二直线导轨用于引导第二支架沿着导轨方向移动。
在一些实施例中,形位公差检测装置包括角度定位架;角度定位架设置于主框架上,角度定位架用于保证千分表的测量头的移动方向与待测平面垂直。
在一些实施例中,形位公差检测装置包括第三直线导轨;第三直线导轨嵌入于主框架中,角度定位架设置于第三直线导轨上,第三直线导轨用于引导角度定位架沿着导轨方向移动。
在一些实施例中,主框架的下端面设置有不共线的至少三个定位钢珠,至少三个定位钢珠用于保证中轴与基准平面垂直。
在一些实施例中,形位公差检测装置包括第一扳手,第一扳手固定于中轴的顶端,第一扳手用于保证中轴与基准平面垂直。
在一些实施例中,形位公差检测装置包括第二扳手,第二扳手的一端嵌套在中轴上,第二扳手用于保证中轴与基准孔同心。
在一些实施例中,形位公差检测装置包括限位机构,限位机构用于限制第二扳手的摆动角度。
本申请实施例提出的形位公差检测装置,可以包括主框架、千分表、千分表的支架和底端固定装置。该形位公差检测装置通过底端固定装置对包含基准平面和基准孔的待测零件进行固定,之后,通过设置于千分表的支架上的千分表对待测零件上的两组待测平面的形位公差进行检测。本方案提供的形位公差检测装置操作简单,可以对包含基准平面和基准孔的待测零件上的两组待测平面的形位公差进行检测。
附图说明
通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述,本申请的其它特征、目的和优点将会变得更明显:
图1是本申请提供的形位公差检测装置的一个实施例的结构示意图;
图2是图1所示的形位公差检测装置所检测的待测零件的结构示意图;
图3是图2所示的待测零件的结构俯视图;
图4是图1所示的形位公差检测装置的结构前视图;
图5是图1所示的形位公差检测装置与图2所示的待测零件装配完成的结构示意图;
图6是图1所示的形位公差检测装置的结构俯视图;
图7是图1所示的形位公差检测装置的结构左视图;
图8是图5所示的形位公差检测装置与待测零件装配完成的结构前视图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本申请的原理和特征作进一步的详细说明。可以理解的是,此处所描述的具体实施例仅仅用于解释相关实用新型,而非对该实用新型的限定。另外还需要说明的是,为了便于描述,附图中仅示出了与实用新型相关的部分。
需要说明的是,在不冲突的情况下,本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。
请参见图1所示,其示出了本申请提供的形位公差检测装置的一个实施例的结构示意图。其中,这里的形位公差检测装置用于检测待测零件上的待测平面的形位公差。
本实施例中的形位公差检测装置可以包括主框架11、千分表、千分表的支架和底端固定装置14。千分表是通过齿轮或杠杆将一般的直线位移(直线运动)转换成指针的旋转运动,然后在刻度盘上进行读数的长度测量仪器。千分表属于比较量具,只能测量出相对的数值,不能测出绝对数值,主要用来检查工件的形状和位置误差。从千分表的分度值来分,有0.01mm、0.005mm、0.002mm及0.001mm几种。分度值为0.01mm的千分表可以称为百分表,其它分度值的可以称为千分表。
如图1所示,支架可以包括第一支架131和第二支架132。其中,第一支架131和第二支架132可以相对于主框架而对向设置。即第一支架131和第二支架132可以以主框架为中心对称设置。第一支架131和第二支架132上可以均设置有千分表。
在本实施例中,千分表可以用于检测待测平面的形位公差。这里的待测平面可以为待测零件上的两组平行立面,两组平行立面是两组相互平行且与水平面垂直的平面,每个平面上将安装有两根直线导轨。需要说明的是,这里的待测零件通常包含基准平面和基准孔。基准平面可以指的是基准零位的平面,这里的基准平面可以是待测零件的底面。基准孔可以是待测平面上选作基准的孔。如图2所示,图2是图1所示的形位公差检测装置所检测的待测零件的结构示意图。在图2中,待测零件可以包括立面211、立面212和立面213。在这里,待测平面可以包括固定于立面211上的待测平面221和待测平面222,以及固定于立面213上的待测平面223和待测平面224。如图3所示,图3是图2所示的待测零件的结构俯视图。在图3中,待测零件可以包括基准面23,基准面23的中心可以设置有基准圆孔24。
在这里,底端固定装置14也可以称为底端固定扳手,底端固定装置可以设置于主框架11的底端,底端固定装置14可以用于固定待测零件。底端固定装置14将待测零件固定,以便于千分表对待测零件上的待测平面的形位公差进行检测。为了便于将底端固定装置14插入图2所示的待测零件的基准孔中,可以将底端固定装置14设计成如图4和图7所示的结构。其中,图4示出了图1所示的形位公差检测装置的结构前视图。图7示出了图1所示的形位公差检测装置的结构左视图。
这样,本申请实施例提出的形位公差检测装置可以通过底端固定装置对包含基准平面和基准孔的待测零件进行固定,之后,通过设置于千分表的支架上的千分表对待测零件上的两组待测平面的形位公差进行检测。本方案提供的形位公差检测装置操作简单,可以对包含基准平面和基准孔的待测零件上的两组待测平面的形位公差进行检测。
可选地,第一支架131的两端可以分别设置有千分表121和千分表122,第二支架132的两端可以分别设置有千分表123和千分表124。
可选地,形位公差检测装置可以包括中轴15和轴承,主框架11可以通过轴承围绕中轴15转动。中轴15可以为整个回转机构的基础轴,这里的回转机构至少包括主框架11、设置在主框架上的千分表的第一支架131和第二支架132以及安装在千分表支架上的千分表。在这里,轴承可以为深沟球轴承,深沟球轴承也可以称为单列向心球轴承。基本型的深沟球轴承由一个外圈,一个内圈、一组钢球和一组保持架构成。轴承可以使得形位公差检测装置围绕中轴15转动,从而调整形位公差检测装置的角度偏差。
可选地,为了使千分表可以在待测平面上上下移动,形位公差检测装置可以包括第一直线导轨161和第二直线导轨162。直线导轨可以用来支撑和引导运动部件,按给定的方向做往复直线运动。在这里,第一直线导轨161和第二直线导轨162可以分别安装于主框架11的左侧平面上和右侧平面上。第一直线导轨161和第二直线导轨162的导轨方向可以平行于中轴15。
在这里,第一支架131可以通过第一直线导轨161设置于主框架11上,第一直线导轨161可以用于支撑和引导第一支架131沿着第一直线导轨的导轨方向移动。第二支架132可以通过第二直线导轨162设置于主框架11上,第二直线导轨162可以用于支撑和引导第二支架132沿着第二直线导轨的导轨方向移动。
如图5所示,图5是图1所示的形位公差检测装置与图2所示的待测零件装配完成的结构示意图。在图5中,当第一支架131沿着第一直线导轨161的导轨方向移动时,千分表121的测量头可以在待测平面222上上下移动从而检测待测平面222的形位公差,千分表122的测量头可以在待测平面224上上下移动从而可以检测待测平面224的形位公差。当第二支架132沿着第二直线导轨162的导轨方向移动时,千分表123的测量头可以在待测平面221上上下移动从而检测待测平面221的形位公差,千分表124的测量头可以在待测平面223上上下移动从而检测待测平面223的形位公差。
可选地,如图6所示,图6是图1所示的形位公差检测装置的结构俯视图。在图6中,形位公差检测装置可以包括角度定位架17。角度定位架17可以设置于主框架11上。在这里,角度定位架17可以设置于主框架11的前侧或后侧、垂直于形位公差检测装置的中轴15。角度定位架17可以用于保证千分表的测量头的移动方向与待测平面垂直。这样,可以防止由于形位公差检测装置的定位不准所带来的形位公差检测结果的误差。
需要说明的是,角度定位架17在主框架11上的安装位置可以根据实际情况设置,只要满足垂直于形位公差检测装置的中轴15即可。
可选地,在图6中,形位公差检测装置可以包括第三直线导轨163。第三直线导轨163可以嵌入于主框架11中。在这里,第三直线导轨163的导轨方向可以垂直于中轴15。角度定位架17可以设置于第三直线导轨163上。第三直线导轨163可以用于支撑和引导角度定位架17沿着第三直线导轨163的导轨方向移动。这样,角度定位架17可以适配更多尺寸的待测零件,保证形位公差检测装置对各种尺寸的待测零件的形位公差进行检测时均能找正定位。
可选地,在图7中,主框架11的下端面可以设置有不共线的至少三个定位钢珠18。在这里,由于三点确定一个平面,可以将三个定位钢珠18均匀地设置于在主框架11的下端面上。需要说明的是,由于视图角度原因,图7中仅呈现出一个定位钢珠。至少三个定位钢珠18可以用于保证中轴15与待测零件的基准平面垂直,即保证主框架11的下端面与待测零件的基准平面的上端面相平行。
可选地,形位公差检测装置可以包括第一扳手191,第一扳手191可以固定于中轴15的顶端。在这里,可以利用销钉将第一扳手191固定于中轴15的顶端,如图1所示。在应用的过程中,以销钉为旋转轴,通过扳动第一扳手191,使得整个装置压紧待测零件的基准平面,从而可以保证中轴15与待测零件的基准平面垂直。
可选地,形位公差检测装置可以包括第二扳手192。如图1所示,第二扳手192的一端可以嵌套在中轴15上。在这里,第二扳手192嵌套在中轴15上的那一端可以为花环状。为了方便装配在凹陷空间的螺栓、螺母,第二扳手192的旋转螺栓部分和手柄部分是错开的。在应用的过程中,以中轴为旋转轴,通过扳动(左右扳动)第二扳手192,保证中轴15与待测零件的基准孔同心,即保证中轴15的轴心与待测零件的基准孔的中心相重合。
可选地,形位公差检测装置可以包括限位机构。在这里,如图1所示,限位机构可以由底座101和限位块102组成。底座101和限位块102之间可以采用焊缝、螺栓或铆钉等连接方式进行连接。第二扳手192可以在限位块102的限位豁口中进行摆动,以使限位机构对第二扳手192的摆动角度进行限制。
请参见图8所示,图8示出了图5所示的形位公差检测装置与待测零件装配完成的结构前视图。如图5和图8所示,在利用本申请提供的形位公差检测装置对待测零件上的待测平面进行检测的过程中,首先,可以将底端固定装置14插入到待测零件的基准孔中,将主框架下端面的至少三个定位钢珠18(由于视图角度,图8中仅显示出两个定位钢珠)贴紧待测零件的基准平面的上端面,然后可以转动底端固定装置14将底端固定装置14的上端面与待测零件的下端面贴紧。而后,可以扳动第一扳手191使得中轴与基准平面23垂直,以及扳动第二扳手192使得中轴与基准孔同心,从而完成装置与基准孔的定位。通过定位钢珠和第一扳手保证中轴与基准平面垂直,通过第二扳手保证中轴与基准孔同心,可以在对形位公差检测之前在水平方向和垂直方向上对该形位公差检测装置进行定位,从而提高了形位公差检测的准确性。
之后,可以通过移动设置于第三直线导轨163上的角度定位架17,使得角度定位架17贴紧待测零件的立边参考基面211,从而完成形位公差检测装置在圆周方向的定位。通过角度定位架,可以在对形位公差检测之前在圆周方向上对该形位公差检测装置进行定位,从而进一步提高了形位公差检测的准确性。通过第三直线导轨,可以使得设置于第三直线导轨上的角度定位架可以适配更多尺寸的待测零件,保证形位公差检测装置对各种尺寸的待测零件的形位公差进行检测时均能找正定位。
最后,可以通过移动第一直线导轨161和第二直线导轨162的结构臂,令千分表121和千分表122的测量头分别在待测平面222和待测平面224上上下移动,令千分表123和千分表124的测量头分别在待测平面221和待测平面223上上下移动,通过各个千分表的数值从而检测待测平面的形位公差,在这里,形位公差可以包括但不限于待测平面的直线度和待测平面的平面度。本方案提供的形位公差检测装置操作简单,可以对包含基准平面和基准孔的待测零件上的两组待测平面的形位公差进行检测。
以上描述仅为本申请的较佳实施例以及对所运用技术原理的说明。本领域技术人员应当理解,本申请中所涉及的实用新型范围,并不限于上述技术特征的特定组合而成的技术方案,同时也应涵盖在不脱离所述实用新型构思的情况下,由上述技术特征或其等同特征进行任意组合而形成的其它技术方案。例如上述特征与本申请中公开的(但不限于)具有类似功能的技术特征进行互相替换而形成的技术方案。
Claims (10)
1.一种形位公差检测装置,包括:主框架、千分表、所述千分表的支架和底端固定装置;
所述千分表用于检测待测平面的形位公差,其中,所述待测平面设置于包含基准平面和基准孔的待测零件上;
所述支架包括第一支架和第二支架;
所述第一支架和所述第二支架相对于所述主框架对向设置,所述第一支架和所述第二支架上均设置有所述千分表;
所述底端固定装置设置于所述主框架的底端,用于固定所述待测零件。
2.根据权利要求1所述的形位公差检测装置,其中,所述第一支架的两端分别设置有所述千分表,所述第二支架的两端分别设置有所述千分表。
3.根据权利要求1所述的形位公差检测装置,其中,所述形位公差检测装置包括中轴和轴承,所述主框架通过所述轴承围绕所述中轴转动。
4.根据权利要求1所述的形位公差检测装置,其中,所述形位公差检测装置包括第一直线导轨和第二直线导轨;
所述第一支架通过所述第一直线导轨设置于所述主框架上,所述第一直线导轨用于引导所述第一支架沿着导轨方向移动;
所述第二支架通过所述第二直线导轨设置于所述主框架上,所述第二直线导轨用于引导所述第二支架沿着导轨方向移动。
5.根据权利要求1所述的形位公差检测装置,其中,所述形位公差检测装置包括角度定位架;
所述角度定位架设置于所述主框架上,所述角度定位架用于保证所述千分表的测量头的移动方向与所述待测平面垂直。
6.根据权利要求5所述的形位公差检测装置,其中,所述形位公差检测装置包括第三直线导轨;
所述第三直线导轨嵌入于所述主框架中,所述角度定位架设置于所述第三直线导轨上,所述第三直线导轨用于引导所述角度定位架沿着导轨方向移动。
7.根据权利要求3所述的形位公差检测装置,其中,所述主框架的下端面设置有不共线的至少三个定位钢珠,所述至少三个定位钢珠用于保证所述中轴与所述基准平面垂直。
8.根据权利要求3所述的形位公差检测装置,其中,所述形位公差检测装置包括第一扳手,所述第一扳手固定于所述中轴的顶端,所述第一扳手用于保证所述中轴与所述基准平面垂直。
9.根据权利要求3所述的形位公差检测装置,其中,所述形位公差检测装置包括第二扳手,所述第二扳手的一端嵌套在所述中轴上,所述第二扳手用于保证所述中轴与所述基准孔同心。
10.根据权利要求9所述的形位公差检测装置,其中,所述形位公差检测装置包括限位机构,所述限位机构用于限制所述第二扳手的摆动角度。
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