CN210604707U - 一种芯片测试治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种芯片测试治具，包括治具台和支撑脚，所述治具台的下方左右两侧前后两端均固接有支撑脚，所述横板的内部下方和治具台的内部中心安装有调节组件，所述电路板的左侧通过导线与外界显示屏相连通，所述电路板的上方安装有测试组件。该芯片测试治具，通过横板、螺杆、滑块、套筒、第二销轴、指针、刻度盘和芯片之间的配合，解决了在改变倾斜角度进行测试时无法记录下准确的角度问题，通过横板、第一销轴、芯片、竖杆、螺杆、螺钉、橡胶垫、指针和刻度盘之间的配合，使指针处于刻度盘刻度缝隙之间时可拧松螺钉调整竖杆以此将指针调整至刻度盘对应刻度角度，解决了角度调整观察不准确时无法进行微调的问题。

Description

一种芯片测试治具

技术领域

本实用新型涉及测试治具技术领域，具体为一种芯片测试治具。

背景技术

测试治具属于治具下面的一个类别，专门对产品的功能、功率校准、寿命、性能等进行测试、试验的一种治具，因其主要在生产线上用于产品的各项指标的测试，所以叫测试治具，虽然现有技术能够实现测试治具对芯片触摸效果的检测使用，但是现有技术存在在改变倾斜角度进行测试时无法记录下准确的角度问题，同时仍存在角度调整观察不准确时无法进行微调的问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种芯片测试治具，以解决上述背景技术中提出的改变倾斜角度进行测试时无法记录下准确的角度问题，同时仍存在角度调整观察不准确时无法进行微调的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种芯片测试治具，包括治具台和支撑脚，所述治具台的下方左右两侧前后两端均固接有支撑脚，所述治具台的上方右侧通过连接组件与横板转动相连，所述横板的内部下方和治具台的内部中心安装有调节组件，所述横板的内部上端固接有电路板，所述电路板的左侧通过导线与外界显示屏相连通，所述电路板的上方安装有测试组件。

优选的，所述连接组件包括支撑座、第二销轴、刻度盘、指针和垫块，两个所述支撑座分别固接在治具台的上方右端前后两侧，所述支撑座的内侧通过第二销轴与横板转动相连，所述第二销轴的外壁前端设有刻度盘，所述刻度盘与第二销轴间隙配合，所述刻度盘的下端通过垫块与治具台固定相连，所述第二销轴的外壁前端左侧固接有指针。

优选的，所述指针与刻度盘之间存在0.5-1cm的缝隙。

优选的，所述调节组件包括滑槽、底板、套筒、螺钉、螺杆、滑块、轴承、橡胶垫、竖杆和第一销轴，所述滑槽加工在治具台的内部中心，所述滑槽的内部设有滑块，所述滑块的内部通过轴承与套筒转动相连，所述套筒的内部设有螺杆，且套筒与螺杆螺纹相连，所述螺杆的下端固接有底板，所述螺杆的上端内部设有竖杆，所述竖杆与螺杆间隙配合，所述竖杆的上方通过第一销轴与横板转动相连，所述螺杆的右侧上端内部设有螺钉，所述螺钉与螺杆螺纹相连，所述螺杆的左端固接有橡胶垫，所述橡胶垫与竖杆紧密贴合。

优选的，所述滑块和滑槽之间构成滑动结构。

优选的，所述测试组件包括芯片、框架、钢化玻璃和卡块，所述框架固接在电路板的上端中心，所述框架的内部设有多个芯片，所述芯片均与电路板电性相连，所述芯片的上方设有钢化玻璃，所述钢化玻璃的下方左右两侧前后两端均固接有卡块，所述卡块与框架均间隙配合，且钢化玻璃与芯片相贴合。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：该芯片测试治具，通过横板、螺杆、滑块、套筒、第二销轴、指针、刻度盘和芯片之间的配合，使转动套筒带动横板和芯片绕第二销轴转动时可通过指针与刻度盘读出倾斜角度，解决了在改变倾斜角度进行测试时无法记录下准确的角度问题，通过横板、第一销轴、芯片、竖杆、螺杆、螺钉、橡胶垫、指针和刻度盘之间的配合，使指针处于刻度盘刻度缝隙之间时可拧松螺钉调整竖杆以此将指针调整至刻度盘对应刻度角度，解决了角度调整观察不准确时无法进行微调的问题。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图；

图2为图1中治具台、滑块和滑槽处的结构示意图；

图3为图1中电路板、横板和竖杆处的结构示意图；

图4为图1中治具台、横板和垫块处的结构示意图。

图中：1、治具台，2、调节组件，201、滑槽，202、底板，203、套筒，204、螺钉，205、螺杆，206、滑块，207、轴承，208、橡胶垫，209、竖杆，210、第一销轴，3、连接组件，301、支撑座，302、第二销轴，303、刻度盘，304、指针，305、垫块，4、测试组件，401、芯片，402、框架，403、钢化玻璃，404、卡块，5、支撑脚，6、电路板，7、导线，8、横板。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-4，本实用新型提供一种技术方案：一种芯片测试治具，包括治具台1和支撑脚5，治具台1的下方左右两侧前后两端均固接有支撑脚5，支撑脚5可对治具台1进行支撑，治具台1的上方右侧通过连接组件3与横板8转动相连，横板8的内部下方和治具台1的内部中心安装有调节组件2，横板8的内部上端固接有电路板6，横板8可带动电路板6进行转动，电路板6的左侧通过导线7与外界显示屏相连通，电路板6可通过导线7将信号输送至外界显示屏处，电路板6的上方安装有测试组件4。

连接组件3包括支撑座301、第二销轴302、刻度盘303、指针304和垫块305，两个支撑座301分别固接在治具台1的上方右端前后两侧，治具台1可对支撑座301进行支撑，支撑座301的内侧通过第二销轴302与横板8转动相连，横板8可绕第二销轴302转动使电路板6的角度改变，第二销轴302的外壁前端设有刻度盘303，限制第二销轴302和刻度盘303的相对位置，刻度盘303与第二销轴302间隙配合，第二销轴302可在刻度盘303的内部进行转动，刻度盘303的下端通过垫块305与治具台1固定相连，治具台1可通过垫块305对刻度盘303进行支撑，第二销轴302的外壁前端左侧固接有指针304，横板8可通过第二销轴302带动指针304进行转动，指针304与刻度盘303之间存在0.5-1cm的缝隙，便于观察指针304与刻度盘303的相对位置，且刻度盘303不影响指针304的转动。

调节组件2包括滑槽201、底板202、套筒203、螺钉204、螺杆205、滑块206、轴承207、橡胶垫208、竖杆209和第一销轴210，滑槽201加工在治具台1的内部中心，滑槽201的内部设有滑块206，限制滑槽201、滑块206和治具台1的相对位置，滑块206的内部通过轴承207与套筒203转动相连，滑块206绕轴承207对套筒203进行转动支撑，套筒203的内部设有螺杆205，且套筒203与螺杆205螺纹相连，转动套筒203即可实现螺杆205在套筒203的内部进行竖直移动，螺杆205的下端固接有底板202，底板202可限制螺杆205的上方极限位置，螺杆205的上端内部设有竖杆209，竖杆209与螺杆205间隙配合，竖杆209可在螺杆205的内部进行移动，竖杆209的上方通过第一销轴210与横板8转动相连，竖杆209可通过第一销轴210推动横板8进行转动，螺杆205的右侧上端内部设有螺钉204，螺钉204与螺杆205螺纹相连，转动螺钉204即可带动橡胶垫208进行移动，螺杆205的左端固接有橡胶垫208，橡胶垫208与竖杆209紧密贴合，通过橡胶垫208与竖杆209之间紧密贴合即可实现螺杆205和竖杆209的相对位置，滑块206和滑槽201之间构成滑动结构，滑槽201可滑块206的移动极限位置进行限制。

测试组件4包括芯片401、框架402、钢化玻璃403和卡块404，框架402固接在电路板6的上端中心，电路板6可对框架402进行支撑，框架402的内部设有多个芯片401，芯片401可放置在框架402的空隙中，芯片401为触摸芯片，芯片401均与电路板6电性相连，芯片401的上方设有钢化玻璃403，通过钢化玻璃403压在芯片401上方后即可实现芯片401与电路板6之间的电性流通，钢化玻璃403的下方左右两侧前后两端均固接有卡块404，卡块404与框架402均间隙配合，且钢化玻璃403与芯片401相贴合，钢化玻璃403可通过卡块404插进框架402的内部完成安装。

当需要此芯片测试治具使用时，可将多个芯片401依次放置在框架402的空隙中，而后将带有卡块404的钢化玻璃403放置在框架402的内部，同事钢化玻璃403即可与芯片401达到贴合的状态，而后可转动套筒203，使套筒203内部的螺杆205受螺纹应力向上移动，使螺杆205向上移动通过竖杆209带动横板8绕第二销轴302进行转动，同时滑块206可在滑槽201的内部进行滑动，第二销轴302在转动时可带动外壁前段的指针304进行转动，以此通过观察指针304与刻度盘303之间配合的读数即可确定横板8和芯片401的倾斜角度，确认好芯片401的倾斜角度后使用者可通过手指在钢化玻璃403的表面点击，与导线7性连接的显示屏是否呈现出所需图样和字画，即可记录下此角度时的芯片401触摸效果，而后可转动套筒203即可实现横板8和芯片401的角度再次调整，实现对芯片401多角度的触摸效果测试，若转动套筒203时出现指针304指在刻度盘303的刻度缝隙中时，可拧松螺钉204调整竖杆209的升降，使横板8绕第二销轴302进行转动，使指针304指向刻度盘303的对应刻度，而后可拧紧204即可实现竖杆209的位置固定。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“同轴”、“底部”、“一端”、“顶部”、“中部”、“另一端”、“上”、“一侧”、“顶部”、“内”、“前部”、“中央”、“两端”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“设置”、“连接”、“固定”、“旋接”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (6)

1.一种芯片测试治具，包括治具台（1）和支撑脚（5），所述治具台（1）的下方左右两侧前后两端均固接有支撑脚（5），其特征在于：所述治具台（1）的上方右侧通过连接组件（3）与横板（8）转动相连，所述横板（8）的内部下方和治具台（1）的内部中心安装有调节组件（2），所述横板（8）的内部上端固接有电路板（6），所述电路板（6）的左侧通过导线（7）与外界显示屏相连通，所述电路板（6）的上方安装有测试组件（4）。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试治具，其特征在于：所述连接组件（3）包括支撑座（301）、第二销轴（302）、刻度盘（303）、指针（304）和垫块（305），两个所述支撑座（301）分别固接在治具台（1）的上方右端前后两侧，所述支撑座（301）的内侧通过第二销轴（302）与横板（8）转动相连，所述第二销轴（302）的外壁前端设有刻度盘（303），所述刻度盘（303）与第二销轴（302）间隙配合，所述刻度盘（303）的下端通过垫块（305）与治具台（1）固定相连，所述第二销轴（302）的外壁前端左侧固接有指针（304）。

3.根据权利要求2所述的一种芯片测试治具，其特征在于：所述指针（304）与刻度盘（303）之间存在0.5-1cm的缝隙。

4.根据权利要求1所述的一种芯片测试治具，其特征在于：所述调节组件（2）包括滑槽（201）、底板（202）、套筒（203）、螺钉（204）、螺杆（205）、滑块（206）、轴承（207）、橡胶垫（208）、竖杆（209）和第一销轴（210），所述滑槽（201）加工在治具台（1）的内部中心，所述滑槽（201）的内部设有滑块（206），所述滑块（206）的内部通过轴承（207）与套筒（203）转动相连，所述套筒（203）的内部设有螺杆（205），且套筒（203）与螺杆（205）螺纹相连，所述螺杆（205）的下端固接有底板（202），所述螺杆（205）的上端内部设有竖杆（209），所述竖杆（209）与螺杆（205）间隙配合，所述竖杆（209）的上方通过第一销轴（210）与横板（8）转动相连，所述螺杆（205）的右侧上端内部设有螺钉（204），所述螺钉（204）与螺杆（205）螺纹相连，所述螺杆（205）的左端固接有橡胶垫（208），所述橡胶垫（208）与竖杆（209）紧密贴合。

5.根据权利要求4所述的一种芯片测试治具，其特征在于：所述滑块（206）和滑槽（201）之间构成滑动结构。

6.根据权利要求1所述的一种芯片测试治具，其特征在于：所述测试组件（4）包括芯片（401）、框架（402）、钢化玻璃（403）和卡块（404），所述框架（402）固接在电路板（6）的上端中心，所述框架（402）的内部设有多个芯片（401），所述芯片（401）均与电路板（6）电性相连，所述芯片（401）的上方设有钢化玻璃（403），所述钢化玻璃（403）的下方左右两侧前后两端均固接有卡块（404），所述卡块（404）与框架（402）均间隙配合，且钢化玻璃（403）与芯片（401）相贴合。

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