CN210465579U - 微波器件测试用辅助保护装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及微波器件测试工具技术领域，具体涉及微波器件测试用辅助保护装置。包括固定底板、下夹持座和上夹持机构，所述下夹持座一体式设置于固定底板顶部，在下夹持座的顶部设有第一器件凹槽和紧固盲孔，第一器件凹槽的两侧设有端子槽，在上夹持机构的底部设有第二器件凹槽，第二器件凹槽的两侧设有压块，在上夹持机构内设有竖直贯穿上夹持机构的紧固通孔，在上夹持机构的底面除去第二器件凹槽、压块和紧固通孔以外的部位设有第一缓冲垫层，在第二器件凹槽的槽底设有第二缓冲垫层，上夹持机构盖合在下夹持座上。本实用新型可以使微波器件在测试过程中与微带线始终保持压紧状态，保证微波器件测试的稳定性、准确性和无损性。

Description

微波器件测试用辅助保护装置

技术领域

本实用新型涉及微波器件测试工具技术领域，具体涉及微波器件测试用辅助保护装置。

背景技术

利用半导体材料可制作微波器件，为了验证微波器件的直流及微波特性，需要对其进行测试。测试过程需要使用测试夹具，器件输入、输出端子与测试夹具微带线连接，实现直流及微波测试。器件测试的几项很重要的测试指标为稳定性、准确性、无损性，无损性指测试过程不能造成器件损伤。如果输入、输出端子与微带线连接不紧密，容易造成器件工作不稳定，测试参数不准确，甚至会造成器件自激而烧毁。

现有技术中常常采用两种方法实现微波器件输入、输出端子与微带线的连接。一种方法为使用焊锡焊接，这种方法测试完成后，需要使用烙铁熔融焊锡才能取下器件，操作十分不方便，如果器件需要多次测试，频繁的使用烙铁会造成测试夹具微带线可靠性下降，且对器件端子造成机械及热损伤。另一种方法为端子向微带线方向弯曲实现硬接触，此种方法容易造成器件端子机械损伤，而且随着弯曲应力的不断释放，导致端子与微带线之间的接触会越来越不紧密。

实用新型内容

本实用新型提供了微波器件测试用辅助保护装置，其应用时，可以使微波器件在测试过程中与微带线始终保持压紧状态，保证微波器件测试的稳定性、准确性和无损性。

本实用新型所采用的技术方案为：

微波器件测试用辅助保护装置，包括固定底板、下夹持座和上夹持机构，所述下夹持座一体式设置于固定底板顶部，在固定底板上设有安装通孔，安装通孔内设置用于安装固定底板的安装螺栓，在下夹持座的顶部设有第一器件凹槽和紧固盲孔，第一器件凹槽的两侧设有端子槽，在上夹持机构的底部设有第二器件凹槽，第二器件凹槽的两侧设有压块，在上夹持机构内设有竖直贯穿上夹持机构的紧固通孔，在上夹持机构的底面除去第二器件凹槽、压块和紧固通孔以外的部位设有第一缓冲垫层，在第二器件凹槽的槽底设有第二缓冲垫层，上夹持机构盖合在下夹持座上，使紧固盲孔与紧固通孔相互正对，第一器件凹槽与第二器件凹槽相互正对，压块与端子槽相互正对，在紧固盲孔和紧固通孔内拧有紧固螺栓。

作为上述技术方案的优选，所述上夹持机构包括上夹持座和紧固件，紧固件设于上夹持座顶部，在紧固件的底部设有扩展槽，扩展槽内设置第二缓冲垫层，第二缓冲垫层与扩展槽的槽壁之间留有缓冲间隙，在上夹持座内设有通槽，紧固通孔贯穿紧固件与上夹持座，紧固件与上夹持座上下盖合，通过扩展槽和通槽共同组成第二器件凹槽。

作为上述技术方案的优选，所述第一缓冲垫层和第二缓冲垫层的材质相同，厚度相同。

作为上述技术方案的优选，所述第一缓冲垫层和第二缓冲垫层采用橡胶材料制成。

作为上述技术方案的优选，所述第一缓冲垫层和第二缓冲垫层的可压缩厚度在2mm-5mm的范围内。

作为上述技术方案的优选，所述压块的底面为平整面。

作为上述技术方案的优选，所述压块采用聚四氟乙烯材料制成。

作为上述技术方案的优选，所述下夹持座和上夹持机构均由散热金属材料制成。

本实用新型的有益效果为：

本实用新型通过安装螺栓将固定底板安装于测试平台上，将微波器件放入下夹持座的第一器件凹槽内，微波器件的输入、输出端子置于端子槽内，将测试夹具微带线与波器件的输入、输出端子连接，将上夹持机构盖合在下夹持座上通过第一器件凹槽和第二器件凹槽固定微波器件，其中第一器件凹槽、第二器件凹槽和端子槽可根据微波器件及其端子的形状进行匹配设计，当上夹持机构和下夹持座上下盖合后，通过拧动紧固螺栓使上夹持机构和下夹持座上下夹紧，第一缓冲垫层和第二缓冲垫层开始挤压形变，使得压块向下移动将微波器件的输入、输出端子与测试夹具微带线连接处夹紧，以保证微波器件测试的稳定性、准确性和无损性；通过第一缓冲垫层和第二缓冲垫层的承压形变，可以防止压块向下夹紧端子和测试夹具微带线时，微波器件的机械损伤和受力点集中于压块上而导致的上夹持机构变形。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型的外部结构示意图；

图2为下夹持座和固定底板的俯视图；

图3为上夹持座的仰视图；

图4为上夹持机构的剖视图；

图5为紧固件的仰视图。

图中：1、固定底板；2、下夹持座；3、安装通孔；4、安装螺栓；5、第一器件凹槽；6、端子槽；7、紧固盲孔；8、上夹持座；9、第二器件凹槽；10、压块；11、紧固通孔；12、第一缓冲垫层；13、紧固件；14、扩展槽；15、第二缓冲垫层；16、紧固螺栓。

具体实施方式

下面结合附图及具体实施例对本实用新型作进一步阐述。在此需要说明的是，对于这些实施例方式的说明用于帮助理解本实用新型，但并不构成对本实用新型的限定。本文公开的特定结构和功能细节仅用于描述本实用新型的示例实施例。然而，可用很多备选的形式来体现本实用新型，并且不应当理解为本实用新型限制在本文阐述的实施例中。

应当理解，术语第一、第二等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。尽管本文可以使用术语第一、第二等等来描述各种单元，这些单元不应当受到这些术语的限制。这些术语仅用于区分一个单元和另一个单元。例如可以将第一单元称作第二单元,并且类似地可以将第二单元称作第一单元，同时不脱离本实用新型的示例实施例的范围。

应当理解，本文中术语“和/或”，仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，单独存在B，同时存在A和B三种情况，本文中术语“/和”是描述另一种关联对象关系，表示可以存在两种关系，例如，A/和B，可以表示：单独存在A，单独存在A和B两种情况，另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”关系。

应当理解，在本实用新型的描述中，术语“上”、“竖直”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系，是该实用新型产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，或者是本领域技术人员惯常理解的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

应当理解，当将单元称作与另一个单元“连接”、“相连”或“耦合”时，它可以与另一个单元直相连接或耦合，或中间单元可以存在。相対地，当将单元称作与另一个单元“直接相连”或“直接耦合”时，不存在中间单元。应当以类似方式来解释用于描述单元之间的关系的其他单词(例如，“在……之间”对“直接在……之间”,“相邻”对“直接相邻”等等)。

在本实用新型的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

本文使用的术语仅用于描述特定实施例，并且不意在限制本实用新型的示例实施例。如本文所使用的，单数形式“一”、“一个”以及“该”意在包括复数形式，除非上下文明确指示相反意思。还应当理解术语“包括”、“包括了”、“包含”、和/或“包含了”当在本文中使用时,指定所声明的特征、整数、步骤、操作、单元和/或组件的存在性,并且不排除一个或多个其他特征、数量、步骤、操作、单元、组件和/或他们的组合存在性或增加。

还应当注意到在一些备选实施例中，所出现的功能/动作可能与附图出现的顺序不同。例如,取决于于所涉及的功能/动作,实际上可以实质上并发地执行,或者有时可以以相反的顺序来执行连续示出的两个图。

在下面的描述中提供了特定的细节,以便于对示例实施例的完全理解。然而,本领域普通技术人员应当理解可以在没有这些特定细节的情况下实现示例实施例。例如可以在框图中示出系统，以避免用不必要的细节来使得示例不清楚。在其他实施例中，可以不以非必要的细节来示出众所周知的过程、结构和技术，以避免使得示例实施例不清楚。

实施例1：

本实施例提供了微波器件测试用辅助保护装置，如图1至图4所示：

包括固定底板1、下夹持座2和上夹持机构，所述下夹持座2一体式设置于固定底板1顶部，在固定底板1上设有安装通孔3，安装通孔3内设置用于安装固定底板1的安装螺栓4，在下夹持座2的顶部设有第一器件凹槽5和紧固盲孔7，第一器件凹槽5的两侧设有端子槽6，在上夹持机构的底部设有第二器件凹槽9，第二器件凹槽9的两侧设有压块10，在上夹持机构内设有竖直贯穿上夹持机构的紧固通孔11，在上夹持机构的底面除去第二器件凹槽9、压块10和紧固通孔11以外的部位设有第一缓冲垫层12，在第二器件凹槽9的槽底设有第二缓冲垫层15，上夹持机构盖合在下夹持座2上，使紧固盲孔7与紧固通孔11相互正对，第一器件凹槽5与第二器件凹槽9相互正对，压块10与端子槽6相互正对，在紧固盲孔7和紧固通孔11内拧有紧固螺栓16。

具体实施时，将固定底板1通过安装螺栓4安装于测试平台上，将微波器件放入下夹持座2的第一器件凹槽5内，微波器件的输入、输出端子置于端子槽6内，将测试夹具微带线与波器件的输入、输出端子连接，将上夹持机构盖合在下夹持座2上通过第一器件凹槽5和第二器件凹槽9固定微波器件，其中第一器件凹槽5、第二器件凹槽9和端子槽6可根据微波器件及其端子的形状进行匹配设计，当上夹持机构和下夹持座2上下盖合后，通过拧动紧固螺栓16使上夹持机构和下夹持座2上下夹紧，第一缓冲垫层12和第二缓冲垫层15开始挤压形变，使得压块10向下移动将微波器件的输入、输出端子与测试夹具微带线连接处夹紧，以保证微波器件测试的稳定性、准确性和无损性；通过第一缓冲垫层12和第二缓冲垫层15的承压形变，可以防止压块10向下夹紧端子和测试夹具微带线时，微波器件的机械损伤和受力点集中于压块10上而导致的上夹持机构变形。

实施例2：

作为对上述实施例的优化，如图5所示，所述上夹持机构包括上夹持座8和紧固件13，紧固件13设于上夹持座8顶部，在紧固件13的底部设有扩展槽14，扩展槽14内设置第二缓冲垫层15，第二缓冲垫层15与扩展槽14的槽壁之间留有缓冲间隙，在上夹持座8内设有通槽，紧固通孔11贯穿紧固件13与上夹持座8，紧固件13与上夹持座8上下盖合，通过扩展槽14和通槽共同组成第二器件凹槽9。其应用时，上夹持座8和紧固件13可拆卸开来，便于对第二缓冲垫层15进行更换，同时第二缓冲垫层15与扩展槽14的槽壁之间的缓冲间隙可以有效容纳第二缓冲垫层15挤压变形时向外扩张的部分，保证第二缓冲垫层15有足够的压缩形变量。

实施例3：

作为对上述实施例的优化，所述第一缓冲垫层12和第二缓冲垫层15的材质相同，厚度相同，使第一缓冲垫层12和第二缓冲垫层15受挤压时尽量保持相同的压缩厚度，保证第一器件凹槽5和第二器件凹槽9组成空间始终足够容纳微波器件。第一缓冲垫层12和第二缓冲垫层15采用橡胶材料制成。第一缓冲垫层12和第二缓冲垫层15的可压缩厚度在2mm-5mm的范围内。

实施例4：

作为对上述实施例的优化，压块10的底面为平整面，以保证压块10向下压住端子与测试夹具微带线时的稳定性，压块10采用聚四氟乙烯材料制成，既具备足够的硬度，同时可以起到有效的绝缘作用，防止其与端子和微带线接触导电而导致测试参数不准确。

实施例5：

作为对上述实施例的优化，所述下夹持座2和上夹持机构均由散热金属材料制成，其应用时，可以起到一定的导热作用，以导出微波器件测试时产生的部分热量。

本实用新型不局限于上述可选的实施方式，任何人在本实用新型的启示下都可得出其他各种形式的产品。上述具体实施方式不应理解成对本实用新型的保护范围的限制，本实用新型的保护范围应当以权利要求书中界定的为准，并且说明书可以用于解释权利要求书。

Claims (8)

1.微波器件测试用辅助保护装置，其特征在于：包括固定底板、下夹持座和上夹持机构，所述下夹持座一体式设置于固定底板顶部，在固定底板上设有安装通孔，安装通孔内设置用于安装固定底板的安装螺栓，在下夹持座的顶部设有第一器件凹槽和紧固盲孔，第一器件凹槽的两侧设有端子槽，在上夹持机构的底部设有第二器件凹槽，第二器件凹槽的两侧设有压块，在上夹持机构内设有竖直贯穿上夹持机构的紧固通孔，在上夹持机构的底面除去第二器件凹槽、压块和紧固通孔以外的部位设有第一缓冲垫层，在第二器件凹槽的槽底设有第二缓冲垫层，上夹持机构盖合在下夹持座上，使紧固盲孔与紧固通孔相互正对，第一器件凹槽与第二器件凹槽相互正对，压块与端子槽相互正对，在紧固盲孔和紧固通孔内拧有紧固螺栓。

2.根据权利要求1所述的微波器件测试用辅助保护装置，其特征在于：所述上夹持机构包括上夹持座和紧固件，紧固件设于上夹持座顶部，在紧固件的底部设有扩展槽，扩展槽内设置第二缓冲垫层，第二缓冲垫层与扩展槽的槽壁之间留有缓冲间隙，在上夹持座内设有通槽，紧固通孔贯穿紧固件与上夹持座，紧固件与上夹持座上下盖合，通过扩展槽和通槽共同组成第二器件凹槽。

3.根据权利要求1所述的微波器件测试用辅助保护装置，其特征在于：所述第一缓冲垫层和第二缓冲垫层的材质相同，厚度相同。

4.根据权利要求1所述的微波器件测试用辅助保护装置，其特征在于：所述第一缓冲垫层和第二缓冲垫层采用橡胶材料制成。

5.根据权利要求1所述的微波器件测试用辅助保护装置，其特征在于：所述第一缓冲垫层和第二缓冲垫层的可压缩厚度在2mm-5mm的范围内。

6.根据权利要求1所述的微波器件测试用辅助保护装置，其特征在于：所述压块的底面为平整面。

7.根据权利要求1所述的微波器件测试用辅助保护装置，其特征在于：所述压块采用聚四氟乙烯材料制成。

8.根据权利要求1所述的微波器件测试用辅助保护装置，其特征在于：所述下夹持座和上夹持机构均由散热金属材料制成。

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