CN210376581U - 检测片 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及二极管封装检测领域，公开了一种检测片，包括片体，所述片体包括连接部和检测部，所述连接部和检测部都为长方形，所述检测部设有指向连接部的连接脚，所述连接脚与连接部固定相连，所述连接脚的宽度小于连接部的宽度。二极管下落时与检测部抵触，连接脚发生弯曲，对二极管进行缓冲，减少检测部对二极管的冲击力，从而对二极管进行保护，减少检测过程中对二极管造成的破坏。

Description

检测片

技术领域

本实用新型涉及二极管封装检测领域，特别涉及一种检测片。

背景技术

所谓封装测试其实就是封装后测试,把已制造完成的半导体元件进行结构及电气功能的确认，以保证半导体元件符合系统的需求的过程称为封装后测试。

如图1，二极管是常见的半导体元件。对二极管进行封装检测，一般是通过封装检测机进行检测。封装检测机上配设有两个检测片，二极管的两个引脚分别与两个检测片抵触，封装检测机放电通过检测片对二极管的参数进行测试。二极管检测时，封装检测机控制二极管上下运动，二极管向下运动与检测片接触进行检测，检测技术后，二极管向上运动并输出排出，进行下一个检测。

如图2，现有的检测片一般为片状的长方形。二极管向下运动与检测片抵触时，由于检测片为长方形的片状，检测片相对二极管的刚性较高，二极管与检测片发生撞击，二极管的引脚容易损坏。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种检测片，具有保护二极管防止二极管损坏的优点。

本实用新型的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：

一种检测片，包括片体，所述片体包括连接部和检测部，所述连接部和检测部都为长方形，所述检测部设有指向连接部的连接脚，所述连接脚与连接部固定相连，所述连接脚的宽度小于连接部的宽度。

通过采用上述技术方案，片体分为连接部和检测部两部分，连接部与封装检测机相连，检测部用于与二极管连接对二极管进行检测。连接部的宽度较宽，连接部的强度较好不易断裂。连接脚将检测部与连接部进行连接，二极管下落与检测部抵触时，对检测部施加向下的压力，由于连接脚的宽度较小，连接脚相对连接部具有一定的韧性，连接脚具有一定的形变能力。二极管下落时与检测部抵触，连接脚发生弯曲，对二极管进行缓冲，减少检测部对二极管的冲击力，从而对二极管进行保护，减少检测过程中对二极管造成的破坏。

进一步的，所述连接脚与连接部的端面的中间固定相连。

进一步的，所述连接脚与连接部的端面的边缘固定相连

进一步的，所述连接脚设有多根，相邻两连接脚之间形成变形缝。

通过采用上述技术方案，连接脚设有多根连接脚与连接部的连接点较多，其中一根折断或发生损坏时，片体能够继续使用，片体的使用寿命较长。

进一步的，所述连接脚与连接部的连接处设有圆弧形的倒角。

通过采用上述技术方案，倒角增强连接部与连接脚的连接强度，防止连接脚与连接部的连接处发生断裂。

进一步的，所述检测部远离连接部的端部固定有L形的检测脚。

通过采用上述技术方案，二极管与引脚抵触，引脚对二极管进行检测，引脚增强检测部的端部的结构强度。

进一步的，所述检测脚包括水平的连接条和竖直的检测条，所述检测条的上端倾斜设置。

通过采用上述技术方案，二极管与检测条的上端抵触，检测条的上端倾斜设置，减小检测条上端的表面积，检测条与二极管的引脚接触较为精确，防止检测条的上端部的表面积过大发生短路。

进一步的，所述片体由铜制成。

通过采用上述技术方案，铜的导电性较好，便于通电检测，铜片的韧性较好，不易断裂，使用寿命较长。

综上所述，本实用新型具有以下有益效果：

1.通过连接脚的设置，二极管下落时与检测部抵触，连接脚发生弯曲，对二极管进行缓冲，减少检测部对二极管的冲击力，从而对二极管进行保护，减少检测过程中对二极管造成的破坏。

附图说明

图1是背景技术中二极管的结构示意图；

图2是背景技术中现有检测片的结构示意图；

图3是实施例1的结构示意图；

图4是实施例2的结构示意图；

图5是实施例3的结构示意图。

图中，1、片体；11、连接部；12、检测部；13、连接脚；14、变形缝；15、倒角；16、检测脚；161、连接条；162、检测条；17、定位孔。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型作进一步详细说明。

其中相同的零部件用相同的附图标记表示。需要说明的是，下面描述中使用的词语“前”、“后”、“左”、“右”、“上”和“下”指的是附图中的方向，词语“底面”和“顶面”、“内”和“外”分别指的是朝向或远离特定部件几何中心的方向。

实施例1：

一种检测片，如图3，包括铜制的片体1，导电性较好。片体1包括连接部11、检测部12、连接脚13和检测脚16。连接部11、连接脚13和检测部12都为长方形的片状。连接脚13连接于连接部11与检测部12之间，检测脚16设为L形固定于检测部12远离连接部11的端部。

如图3，连接部11上开设有若干定位孔17，便于与封装检测机相连。二极管与检测部12上的检测条162抵触，片体1通电对二极管进行检测。

如图3，连接脚13与连接部11的端面的中间位置相连，连接脚13与连接部11的连接处设有圆弧形的倒角15，倒角15增强连接脚13与连接部11的连接强度，防止断裂。

如图3，连接脚13的宽度小于连接部11的宽度。连接部11的宽度较大，连接部11与封装检测机相连，连接部11的强度较高，不易断裂，使用寿命较长。连接脚13的宽度较小，具有一定的韧性和弹性。二极管下落时与检测部12抵触，连接脚13发生弯曲，对二极管进行缓冲，减少检测部12对二极管的冲击力，从而对二极管进行保护，减少检测过程中对二极管造成的破坏。

如图3，连接脚13包括水平的连接条161和竖直的检测条162。连接条161焊接于检测部12的端部。检测条162竖直朝上，检测条162得到上端倾斜设置。二极管与检测条162的上端抵触，检测条162的上端倾斜设置，减小检测条162上端的表面积，检测条162与二极管的引脚接触较为精确，防止检测条162的上端部的表面积过大发生短路。

具体实施过程：将连接部11固定于封装检测机上，封装检测机带动二极管向下运动与检测条162抵触，连接脚13受二极管的压力发生弯曲，对二极管进行缓冲保护，减小检测条162对二极管的撞击力，防止二极管损坏。

实施例2：

实施例2和实施例1的区别在于连接脚13与连接部11的连接结构不同：如图4，连接脚13与连接部11的边缘固定相连。

实施例3：

实施例3和实施例1的区别在于连接脚13与连接部11的连接结构不同：如图5，连接脚13设有多根，相邻两连接脚13之间形成变形缝14。

本具体实施例仅仅是对本实用新型的解释，其并不是对本实用新型的限制，本领域技术人员在阅读完本说明书后可以根据需要对本实施例做出没有创造性贡献的修改，但只要在本实用新型的权利要求范围内都受到专利法的保护。

Claims (8)

1.一种检测片，包括片体（1），其特征在于：所述片体（1）包括连接部（11）和检测部（12），所述连接部（11）和检测部（12）都为长方形，所述检测部（12）设有指向连接部（11）的连接脚（13），所述连接脚（13）与连接部（11）固定相连，所述连接脚（13）的宽度小于连接部（11）的宽度。

2.根据权利要求1所述的检测片，其特征在于：所述连接脚（13）与连接部（11）的端面的中间固定相连。

3.根据权利要求1所述的检测片，其特征在于：所述连接脚（13）与连接部（11）的端面的边缘固定相连。

4.根据权利要求1所述的检测片，其特征在于：所述连接脚（13）设有多根，相邻两连接脚（13）之间形成变形缝（14）。

5.根据权利要求1所述的检测片，其特征在于：所述连接脚（13）与连接部（11）的连接处设有圆弧形的倒角（15）。

6.根据权利要求1所述的检测片，其特征在于：所述检测部（12）远离连接部的端部固定有L形的检测脚（16）。

7.根据权利要求6所述的检测片，其特征在于：所述检测脚（16）包括水平的连接条（161）和竖直的检测条（162），所述检测条（162）的上端倾斜设置。

8.根据权利要求1所述的检测片，其特征在于：所述片体（1）由铜制成。

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