CN210376447U - 一种气体密封结构的测试座 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种气体密封结构的测试座，包括与测试台连接的固定座，所述固定座上方设置有测试座，所述固定座上开设有定位槽，所述定位槽内放置有芯片，所述测试座内设置有PCB板与导电信号针，所述导电信号针两端分别与PCB板、芯片连接，所述固定座内设置有进气口和出气口，所述进气口、出气口分别通过进气通道、出气通道与定位槽底部连通，当所述进气口和出气口分别与外部气体接通后，所述进气通道、出气通道、定位槽和PCB板之间能形成密闭空间，装置结构简单，能够为芯片测试提供密闭、高低温、特定气体填充、真空等环境。
Description
技术领域
本实用新型涉及芯片测试设备技术领域，尤其涉及一种气体密封结构的测试座。
背景技术
随着科技的发展，电子芯片已经越来越多的被运用到我们的生活及生产中，芯片以其高度的集成功能及稳定的性能被广泛应用。为了保证芯片的品质，往往需要对芯片进行一些功能测试，而随着半导体集成电路的发展，芯片性能以及可靠性要求不断提高，芯片需要在气体密闭和高低温的环境中工作，因此本实用新型发明人，针对需要特定环境测试的芯片，旨在发明一种气体密封结构的测试座。
实用新型内容
为克服上述缺点，本实用新型的目的在于提供结构简单，能够为芯片测试提供密闭、高低温、特定气体填充、真空等环境的一种气体密封结构的测试座。
为了达到以上目的，本实用新型采用的技术方案是：一种气体密封结构的测试座，包括与测试台连接的固定座，所述固定座上方设置有测试座，所述固定座上开设有定位槽，所述定位槽内放置有芯片，所述测试座内设置有PCB板与导电信号针，所述导电信号针两端分别与PCB板、芯片连接，所述固定座上设置有进气口和出气口，所述进气口、出气口分别通过进气通道、出气通道与定位槽底部连通，当所述进气口和出气口分别与外部气体接通后，所述进气通道、出气通道、定位槽和PCB板之间能形成密闭空间。
本实用新型提供的一种气体密封结构的测试座，其有益效果是：通过在与测试台连接的固定座上设置测试座，将芯片放置在固定座的定位槽上，同时在测试座内设置PCB板，再通过导电信号针使芯片与PCB板电性连接，分别向固定座上设置的进气口、出气口通入或抽出特定气体，当通入特定气体时，特定气体将从进气口/出气口进入固定座内的进气通道/出气通道，再通向进气通道/出气通道位于定位槽底部的另一端，由于PCB板与定位槽之间除进气通道及出气通道以外为密闭，能够实现芯片在密闭、高低温、特定气体环境、真空下的测试。
进一步地，所述测试座包括信号针插座，所述PCB板设置于信号针插座上方，所述导电信号针底部贯穿信号针插座与芯片连接，所述PCB板与信号针插座均通过螺纹结构与固定座连接，提高测试时的稳定性。
进一步地，所述信号针插座横截面呈对称阶梯型，呈阶梯型的所述信号针插座上放置有测试座密封圈，所述测试座密封圈顶部与PCB板底部相抵，保证测试过程中的气密性良好。
进一步地，所述固定座上设置有固定凹槽，所述固定凹槽内放置有固定座密封圈，所述固定座密封圈顶部与信号针插座相抵，避免因气体泄露问题导致测试数据不准确。
进一步地，所述定位槽呈“十”字型，呈“十”字型的所述定位槽包括交叉设置的放置槽芯片槽，所述芯片槽的尺寸大于芯片，放置槽用于便捷的将芯片放入或取出芯片槽中。
进一步地，所述测试座顶部开设有观察通孔，所述观察通孔位于芯片上方，用于能够观察测试全程。
进一步地，所述测试座上设置有透明盖板，所述透明盖板位于观察通孔上方，增强防护性及密闭性。
进一步地，所述透明盖板底部设置有盖板凹槽，所述盖板凹槽内放置有盖板密封圈，所述盖板密封圈底部与PCB板相抵，实现测试环境整体密闭。
附图说明
图1为本实用新型的剖面结构示意图；
图2为本实用新型的爆炸图；
图3为固定座与测试座未连接时的结构示意图；
图4为固定座与测试座已连接时的结构示意图。
图中：
1-固定座；2-测试座；3-定位槽；31-放置槽；32-芯片槽；4-PCB板；5-导电信号针；6-芯片；7-进气口；71-进气通道；8-出气口；81-出气通道；9-信号针插座；10-测试座密封圈；11-观察通孔；12-透明盖板；13-固定座密封圈；14-盖板密封圈。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型的较佳实施例进行详细阐述，以使本实用新型的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本实用新型的保护范围做出更为清楚明确的界定。
参见附图1-4所示，一种气体密封结构的测试座，包括与测试台连接的固定座1，固定座1上方设置有测试座2，固定座1上开设有定位槽3，定位槽3内放置有芯片6，定位槽3呈“十”字型，呈“十”字型的定位槽3包括交叉设置的放置槽31与芯片槽32，芯片槽32的尺寸大于芯片6，测试座2顶部开设有观察通孔11，观察通孔11位于芯片6上方，测试座2上设置有透明盖板12，透明盖板12位于观察通孔11上方，透明盖板12底部设置有盖板凹槽，盖板凹槽内放置有盖板密封圈14，盖板密封圈14底部与PCB板4相抵；
测试座2内设置有PCB板4与导电信号针5，导电信号针5两端分别与PCB板4、芯片6连接，测试座2包括信号针插座9，PCB板4设置于信号针插座9上方，导电信号针5底部贯穿信号针插座9与芯片6连接，PCB板4与信号针插座9均通过螺纹结构与固定座1连接，信号针插座9横截面呈对称阶梯型，呈阶梯型的信号针插座9上放置有测试座密封圈10，测试座密封圈10顶部与PCB板4底部相抵，固定座1上设置有固定凹槽，固定凹槽内放置有固定座密封圈10，固定座密封圈10顶部与信号针插座9相抵；
固定座1上设置有进气口7和出气口8，进气口7、出气口8分别通过进气通道71、出气通道81与定位槽3底部连通，当进气口7和出气口8分别与外部气体接通后，进气通道71、出气通道81、定位槽3和PCB板4之间能形成密闭空间。
具体工作过程：将导电信号针5装入信号针插座9，装上测试座2和测试座密封圈10，通过螺丝将信号针插座9与PCB板4固定，此时导电信号针5与PCB板4上点位连通，再从上方装上透明板密封圈14，盖上透明板12，此时整个测试座内部密封；固定座1连接外部气体接口，把待测试芯片6放入定位槽3，固定座密封圈13放入槽内，将测试座2与固定座1通过螺纹连接固定，此时导电信号针5连通PCB板4和芯片6，可抽出(充入)气体，将整个空间密封，并且从上方观察通孔11可以观测芯片6测试过程。
通过在与测试台连接的固定座1上设置测试座2，将芯片6放置在固定座1的定位槽3上，同时在测试座2内设置PCB板4，再通过导电信号针5使芯片6与PCB板4电性连接，分别向固定座1上设置的进气口7、出气口8通入或抽出特定气体，当通入特定气体时，特定气体将从进气口7/出气口8进入固定座1内的进气通道71/出气通道81，再通向进气通道71/出气通道81位于定位槽3底部的另一端，由于PCB板4与定位槽3之间除进气通道7及出气通道8以外为密闭，能够实现芯片在密闭、高低温、特定气体环境、真空下的测试。
以上实施方式只为说明本实用新型的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人了解本实用新型的内容并加以实施，并不能以此限制本实用新型的保护范围，凡根据本实用新型精神实质所做的等效变化或修饰，都应涵盖在本实用新型的保护范围内。
Claims (8)
1.一种气体密封结构的测试座，包括与测试台连接的固定座(1)，其特征在于：所述固定座(1)上方设置有测试座(2)，所述固定座(1)上开设有定位槽(3)，所述定位槽(3)内放置有芯片(6)，所述测试座(2)内设置有PCB板(4)与导电信号针(5)，所述导电信号针(5)两端分别与PCB板(4)、芯片(6)连接，所述固定座(1)上设置有进气口(7)和出气口(8)，所述进气口(7)、出气口(8)分别通过进气通道(71)、出气通道(81)与定位槽(3)底部连通，当所述进气口(7)和出气口(8)分别与外部气体接通后，所述进气通道(71)、出气通道(81)、定位槽(3)和PCB板(4)之间能形成密闭空间。
2.根据权利要求1所述的一种气体密封结构的测试座，其特征在于：所述测试座(2)包括信号针插座(9)，所述PCB板(4)设置于信号针插座(9)上方，所述导电信号针(5)底部贯穿信号针插座(9)与芯片(6)连接，所述PCB板(4)与信号针插座(9)均通过螺纹结构与固定座(1)连接。
3.根据权利要求2所述的一种气体密封结构的测试座，其特征在于：所述信号针插座(9)横截面呈对称阶梯型，呈阶梯型的所述信号针插座(9)上放置有测试座密封圈(10)，所述测试座密封圈(10)顶部与PCB板(4)底部相抵。
4.根据权利要求2所述的一种气体密封结构的测试座，其特征在于：所述固定座(1)上设置有固定凹槽，所述固定凹槽内放置有固定座密封圈(13)，所述固定座密封圈(13)顶部与信号针插座(9)相抵。
5.根据权利要求1所述的一种气体密封结构的测试座，其特征在于：所述定位槽(3)呈“十”字型，呈“十”字型的所述定位槽(3)包括交叉设置的放置槽(31)与芯片槽(32)，所述芯片槽(32)的尺寸大于芯片(6)。
6.根据权利要求1所述的一种气体密封结构的测试座，其特征在于：所述测试座(2)顶部开设有观察通孔(11)，所述观察通孔(11)位于芯片(6)上方。
7.根据权利要求6所述的一种气体密封结构的测试座，其特征在于：所述测试座(2)上设置有透明盖板(12)，所述透明盖板(12)位于观察通孔(11)上方。
8.根据权利要求7所述的一种气体密封结构的测试座，其特征在于：所述透明盖板(12)底部设置有盖板凹槽，所述盖板凹槽内放置有盖板密封圈(14)，所述盖板密封圈(14)底部与PCB板(4)相抵。
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