CN210323095U - 连接器测试结构 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种连接器测试结构，其特征在于：包括转接板、金丝导电布以及连接器，转接板的输入端和连接器的输出端分别压紧于金丝导电布两面。本实用新型连接器测试结构由于采用金丝导电布代替传统探针实现转接板的输入端和连接器的输出端之间的导通，不仅夹具制作成本低，夹具制作周期短，维护简单易操作。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种连接器测试结构。
背景技术
连接器，即CONNECTOR。国内亦称作接插件、插头和插座。一般是指电器连接器。即连接两个有源器件的器件，传输电流或信号。连接器是我们电子工程技术人员经常接触的一种部件。它的作用非常单纯：在电路内被阻断处或孤立不通的电路之间，架起沟通的桥梁，从而使电流流通，使电路实现预定的功能。连接器是电子设备中不可缺少的部件。连接器广泛应用于电力系统、通信网络、金融制造、电梯、工业自动化、医疗设备、办公设备、家电、军工制造等行业。连接器连接至FPC柔性线路板后，为了保证出厂产品的合格率，需要进行功能性测试，确保连接器和FPC柔性线路板接触良好，传统的专用测试设备通过滑动的探针实现和连接器触点的接触，探针内的压簧，以保障探针和连接器触点的接触良好，但是往往在经历7万次左右的伸缩动作后，弹簧的容易疲劳失效，从而使得无法保障探针和连接器触点的接触良好，从而对测试的准确性造成影响。
申请人于2017-12-04申请的申请号为：201721665621.7的实用新型公开了一种连接器测试治具，其特征在于：包括治具上支架、治具下支架以及探针，治具上支架上安装有载板，载板的上端开设有用于插入连接器的定位槽，载板和治具上支架分别开设有探针上容纳孔和探针下容纳孔，所述探针竖直穿过探针上容纳孔和探针下容纳孔，所述探针上端伸出探针上容纳孔进入定位槽内，治具下支架的上固定有探针对接头，探针对接头连接至引线，所述探针下端抵在探针对接头上，探针上套设有用于向下顶住探针的限位压簧。连接器测试治具结构设计合理，通过探针弯曲变形产生的弹力作用来取代现有探针的弹簧弹力作用，提高了使用寿命。然而这类连接器测试治具依然需要通过探针实现和连接器的导通，模具整体加工制造较为复杂，并且探针的维护更换也较为复杂。
实用新型内容
本实用新型的目的在于克服现有技术中存在的上述不足，而提供一种连接器测试结构。
本实用新型解决上述问题所采用的技术方案是：
一种连接器测试结构，其特征在于：包括转接板、金丝导电布以及连接器，转接板的输入端和连接器的输出端分别压紧于金丝导电布两面。
作为优选，所述转接板和金丝导电布固定于治具上，所述治具上具有一用于将连接器的输出端压紧于金丝导电布表面的浮头。
作为优选，所述治具包括底座、压板和浮头，所述浮头滑动安装于压板上，压板和浮头之间设置有压簧，所述压板的一端铰接于底座的一端上，转接板固定在底座上。
作为优选，所述底座上固定有槽块，槽块开设有用于卡入连接器的输出端的卡槽，卡槽的一侧具有用于引出连接器的线路板的侧开孔，转接板的输入端以及金丝导电布位于卡槽的下方，所述浮头位于卡槽的上方。
作为优选，所述底座的另一端铰接有卡扣，卡扣上开设有扣槽，所述压板的另一端固定有用于卡入扣槽的销子。
作为优选，所述压板的中部开设有通槽，通槽内自上而下嵌入浮头，浮头的上端固定有限位块，通槽的底部固定有用于挡住限位块的挡块，所述通槽的顶部覆盖有盖板，所述盖板和压板固定，盖板的下端面和浮头的上端面之间设置有压簧。
作为优选，所述转接板通过螺栓固定在底座的底部。
作为优选，至少设置有两根同时插入槽块和转接板的定位销，以实现卡槽和转接板的输入端的位置对应。
本实用新型与现有技术相比，具有以下优点和效果：本实用新型连接器测试结构由于采用金丝导电布代替传统探针实现转接板的输入端和连接器的输出端之间的导通，不仅夹具制作成本低，夹具制作周期短，维护简单易操作，并且测试效率高.
附图说明
图1是本实用新型实施例测试治具的使用状态示意图。
图2是本实用新型实施例图1的剖视结构示意图。
图3是本实用新型实施例槽块的安装结构示意图。
图4是本实用新型实施例图2的局部放大结构示意图。
图5是本实用新型实施例金丝导电布的结构示意图。
图中编号：转接板1，输入端11，连接器2，输出端21，线路板22，金丝导电布3，底座41，压板42，浮头43，通槽44，限位块45，挡块46，盖板47，压簧48，槽块49，卡槽410，侧开孔411，螺栓412，定位销413，卡扣414，扣槽415，销子416
具体实施方式
下面结合附图并通过实施例对本实用新型作进一步的详细说明，以下实施例是对本实用新型的解释而本实用新型并不局限于以下实施例。
参见图1-图5，本实施例连接器测试结构要求转接板1的输入端11和连接器2的输出端21分别压紧于金丝导电布3两面。从而通过金丝导电布3代替传统探针实现转接板1的输入端11和连接器2的输出端21之间的导通。
因此本实施例设计用于实现上述装夹目的测试治具，测试治具包括底座41、压板42和浮头43，所述压板42的中部开设有通槽44，通槽44内自上而下嵌入浮头43，浮头43的上端固定有限位块45，通槽44的底部固定有用于挡住限位块45的挡块46，所述通槽44 的顶部覆盖有盖板47，所述盖板47和压板42固定，盖板47的下端面和浮头43的上端面之间设置有压簧48。
所述底座41上固定有槽块49，槽块49开设有用于卡入连接器2的输出端21的卡槽410，卡槽410的一侧具有用于引出连接器2的线路板22的侧开孔411，转接板1的输入端 11以及金丝导电布3位于卡槽410的下方，所述浮头43位于卡槽410的上方。所述转接板 1通过螺栓412固定在底座41的底部。至少设置有两根同时插入槽块49和转接板1的定位销413，以实现卡槽410和转接板1的输入端11的位置对应。所述压板42的一端铰接于底座41的一端上，所述底座41的另一端铰接有卡扣414，卡扣414上开设有扣槽415，所述压板42的另一端固定有用于卡入扣槽415的销子416。
采用本实施例的连接器2测试结构较传统探针式制作成本低至少50％，较传统探针式一次测试产品数量无法达到导电金丝布的一次测试数量，部分产品效率提升300％以上，较传统探针式制作工艺繁琐，制作周期较长，使用导电金丝布制作交期提前3/2。较传统探针式维护技术要求高，使用导电金丝布制作只需直接更换导电布即可，维护只需做简单培训即可
本说明书中所描述的以上内容仅仅是对本实用新型所作的举例说明。本实用新型所属技术领域的技术人员可以对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代，只要不偏离本实用新型说明书的内容或者超越本权利要求书所定义的范围，均应属于本实用新型的保护范围。
Claims (8)
1.一种连接器测试结构，其特征在于：包括转接板、金丝导电布以及连接器，转接板的输入端和连接器的输出端分别压紧于金丝导电布两面。
2.根据权利要求1所述的连接器测试结构，其特征在于：所述转接板和金丝导电布固定于治具上，所述治具上具有一用于将连接器的输出端压紧于金丝导电布表面的浮头。
3.根据权利要求2所述的连接器测试结构，其特征在于：所述治具包括底座、压板和浮头，所述浮头滑动安装于压板上，压板和浮头之间设置有压簧，所述压板的一端铰接于底座的一端上，转接板固定在底座上。
4.根据权利要求3所述的连接器测试结构，其特征在于：所述底座上固定有槽块，槽块开设有用于卡入连接器的输出端的卡槽，卡槽的一侧具有用于引出连接器的线路板的侧开孔，转接板的输入端以及金丝导电布位于卡槽的下方，所述浮头位于卡槽的上方。
5.根据权利要求3所述的连接器测试结构，其特征在于：所述底座的另一端铰接有卡扣，卡扣上开设有扣槽，所述压板的另一端固定有用于卡入扣槽的销子。
6.根据权利要求3所述的连接器测试结构，其特征在于：所述压板的中部开设有通槽，通槽内自上而下嵌入浮头，浮头的上端固定有限位块，通槽的底部固定有用于挡住限位块的挡块，所述通槽的顶部覆盖有盖板，所述盖板和压板固定，盖板的下端面和浮头的上端面之间设置有压簧。
7.根据权利要求3所述的连接器测试结构，其特征在于：所述转接板通过螺栓固定在底座的底部。
8.根据权利要求3所述的连接器测试结构，其特征在于：至少设置有两根同时插入槽块和转接板的定位销，以实现卡槽和转接板的输入端的位置对应。
Priority Applications (1)
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