CN210321804U - 一种传感器测试装置 - Google Patents

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刘晓敏
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Abstract

本实用新型公开了一种传感器测试装置,包括电阻、用于与测试电源一端连接的第一连接线、用于与待测传感器接地线连接的第一连接端以及用于与万用表一端连接的第二连接线;所述第一连接线的一端和第二连接线的一端均与第一连接端连接;所述电阻的一端设有用于与测试电源另一端连接的第三连接线及用于与待测传感器电源线连接的第二连接端,所述电阻的另一端设有用于与待测传感器连接线连接的第三连接端及用于与万用表另一端连接的第四连接线。本实用新型可实现一种传感器的多种参数或不同传感器多条件下的不同参数的测试,无需更换不同的测试设备,降低测试的复杂度,提高测试效率。

Description

一种传感器测试装置
技术领域
本实用新型涉及传感器测试领域,特别涉及一种传感器测试装置。
背景技术
传感器是一种能够检测到被测量的信息,并将检测到的信息按一定规律变换成为电信号或其他所需形式的信息输出的设备,其能够满足人们对于信息的收集、传输、处理、存储、显示和控制等要求。但是传感器具有敏感度大和易损坏的缺陷,在出厂试需要进行检测,避免影响使用。
然而,现有的测试方法中,工作人员如要测试一种传感器的多种参数或不同传感器的多种条件下的不同参数,需使用多个测试设备对传感器进行测试,即在一个测试设备测试一个参数后,再放到另一个测试设备测试另一个参数,这样不仅提高测试的复杂度,还降低测试效率。
实用新型内容
本实用新型的在于提供一种传感器测试装置,能够完成对一种传感器的多种参数或不同传感器多条件下的不同参数的测试,无需更换不同的测试设备,降低测试的复杂度,提高测试效率。
根据本实用新型的实施例,提供了一种传感器测试装置,包括电阻、用于与测试电源一端连接的第一连接线、用于与待测传感器接地线连接的第一连接端以及用于与万用表一端连接的第二连接线;
所述第一连接线的一端和第二连接线的一端均与第一连接端连接;
所述电阻的一端设有用于与测试电源另一端连接的第三连接线及用于与待测传感器电源线连接的第二连接端,所述电阻的另一端设有用于与待测传感器连接线连接的第三连接端及用于与万用表另一端连接的第四连接线。
具体地,所述电阻和电源封装在壳体内,且所述第一连接线、第二连接线、第三连接线和第四连接线伸出至壳体外部,所述第一连接端、第二连接端和第三连接端设置在壳体的上表面。
具体地,位于所述壳体上表面且在第一连接端、第二连接端和第三连接端一侧的部分设有标签。
具体地,所述电源为数控电源。
具体地,所述电阻为滑动电阻。
由以上技术方案可知,本申请提供了一种传感器测试装置,如需测试传感器的输出电压和消费电流,则将第一连接端与待测传感器的接地线连接,第二连接端与待测传感器电源线连接,第三连接端与待测传感器的输出线连接,第一连接线和第三连接线分别与测试电源连接,第二连接线和第四连接线分别与万用表连接;然后调整测试电源的电压,得到不同测试电源下的待测传感器的输出电压和消费电流,同时也可更换不同的待测传感器进行上述测试。如需测试位于传感器内稳压二极管的电压,则将第一连接端与待测传感器的接地线连接,第三连接端与待测传感器的输出线连接,第一连接线和第三连接线分别与测试电源连接,第二连接线和第三连接线分别与万用表连接;然后调整测试电源的电压,得到不同测试电源下的待测传感器内稳压二极管的电压,同时也可更换不同的待测传感器进行上述测试。因此,本实用新型可实现一种传感器的多种参数或不同传感器多条件下的不同参数的测试,无需更换不同的测试设备,降低测试的复杂度,提高测试效率。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为根据一实施提供的一种传感器测试装置的结构示意图;
图2为根据一实施例提供的测试待测传感器的电路原理图;
图3为根据另一实施例提供的测试带传感器的电路原理图;
图4为根据一实施例提供的一种传感器测试装置的结构图;
图5为根据另一实施例提供的一种传感器测试装置的结构图。
其中,1-第一连接线,2-第二连接线,3-第一连接端,4-第三连接线,5-第二连接端,6-第四连接线,7-第三连接端,8-电阻,9-万用表,10-标签,11-壳体。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
如图1所示,根据本实用新型的实施例,提供了一种传感器测试装置,包括电阻8、用于与测试电源Vcc一端连接的第一连接线1、用于与待测传感器接地线连接的第一连接端3以及用于与万用表9一端连接的第二连接线2;所述第一连接线1的一端和第二连接线2的一端均与第一连接端3连接;所述电阻8的一端设有用于与测试电源Vcc另一端连接的第三连接线4及用于与待测传感器电源线连接的第二连接端5,所述电阻8的另一端设有用于与待测传感器连接线连接的第三连接端7及用于与万用表9另一端连接的第四连接线6。其中,具体地,所述电源为数控电源,电阻8值可根据实际测试需求设置,或者电阻8为滑动电阻。
本申请提供了一种传感器测试装置,参见图2,如需测试传感器的输出电压和消费电流,则将第一连接端3与待测传感器的接地线连接,第二连接端5与待测传感器电源线连接,第三连接端7与待测传感器的输出线连接,第一连接线1和第三连接线4分别与测试电源Vcc连接,第二连接线2和第四连接线6分别与万用表9连接;然后利用数控电源可读取到待测传感器的消费电流ICCH和ICCL,利用万用表9可读取待测传感器的输出电压VOH和VOL;再调整测试电源Vcc的电压,得到不同测试电源Vcc下的待测传感器的输出电压和消费电流,同时也可更换不同的待测传感器进行上述测试。参见图3,如需测试位于传感器内稳压二极管的电压,则将第一连接端3与待测传感器的接地线连接,第三连接端7与待测传感器的输出线连接,第一连接线1和第三连接线4分别与测试电源Vcc连接,第二连接线2和第三连接线4分别与万用表9连接,利用万用表9可读取稳压二极管的电压Vzdi;然后调整测试电源Vcc的电压,得到不同测试电源Vcc下的待测传感器内稳压二极管的电压,同时也可更换不同的待测传感器进行上述测试。因此,本实用新型可实现一种传感器的多种参数或不同传感器多条件下的不同参数的测试,无需更换不同的测试设备,降低测试的复杂度,提高测试效率。
具体地,如图4所示,所述电阻8和电源封装在壳体11内,且所述第一连接线1、第二连接线2、第三连接线4和第四连接线6伸出至壳体11外部,所述第一连接端3、第二连接端5和第三连接端7设置在壳体11的上表面。利用壳体11可对内部电路进行保护,提高测试装置的使用寿命。
具体地,如图4所示,位于所述壳体11上表面且在第一连接端3、第二连接端5和第三连接端7一侧的部分设有标签10。标签10用于记载每个连接端对应的待测传感器连接线的颜色,利用标签10所记载的颜色,工作人员可直接将待测传感器的相应颜色的连接线与该标签10对应的连接端连接,提高测试效率。
在本实用新型的另一实施例中,参见图5,为了进一步提高测试效率,可针对不同测试参数类型单独设置测试装置,并将测试装置的壳体11连接在一起,实现同时多个传感器的多个参数的测试;即在一个测试装置与上述实施例相同,仅用来需测试传感器的输出电压和消费电流,另一个去掉上述实施例中与待测传感器电源线连接的第二连接端5,单独用来需测试位于传感器内稳压二极管的电压。
本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的实用新型后,将容易想到本实用新型的其它实施方案。本申请旨在涵盖本实用新型的任何变型、用途或者适应性变化,这些变型、用途或者适应性变化遵循本实用新型的一般性原理并包括本实用新型未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的,本实用新型的真正范围和精神由下面的权利要求指出。
应当理解的是,本实用新型并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构,并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本实用新型的范围仅由所附的权利要求来限制。

Claims (5)

1.一种传感器测试装置,其特征在于,包括电阻、用于与测试电源一端连接的第一连接线、用于与待测传感器接地线连接的第一连接端以及用于与万用表一端连接的第二连接线;
所述第一连接线的一端和第二连接线的一端均与第一连接端连接;
所述电阻的一端设有用于与测试电源另一端连接的第三连接线及用于与待测传感器电源线连接的第二连接端,所述电阻的另一端设有用于与待测传感器连接线连接的第三连接端及用于与万用表另一端连接的第四连接线。
2.根据权利要求1所述的传感器测试装置,其特征在于,所述电阻和电源封装在壳体内,且所述第一连接线、第二连接线、第三连接线和第四连接线伸出至壳体外部,所述第一连接端、第二连接端和第三连接端设置在壳体的上表面。
3.根据权利要求1所述的传感器测试装置,其特征在于,位于所述壳体上表面且在第一连接端、第二连接端和第三连接端一侧的部分设有标签。
4.根据权利要求1所述的传感器测试装置,其特征在于,所述电源为数控电源。
5.根据权利要求1所述的传感器测试装置,其特征在于,所述电阻为滑动电阻。
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