CN210136293U - 一种半导体开短路测试设备 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种半导体开短路测试设备，包括测试设备本体，所述测试设备本体的顶部转动连接有支撑柱，所述支撑柱的一侧固定连接有卡块，所述卡块上滑动插设有卡杆，所述测试设备本体的顶部环绕设有与卡杆对应的多个卡槽，所述卡杆靠近测试设备本体的一端固定套接有卡套，所述卡杆远离卡套的一端固定连接有拉杆，所述支撑柱远离卡块的一侧设有滑槽，所述滑槽内转动连接有螺杆，所述螺杆上螺纹套接有支撑板，所述螺杆的一端贯穿滑槽的内顶部并向上延伸，所述螺杆延伸的一端固定连接有旋钮。本实用新型通过多处调节机构的设置，使装置可以很好的对半导体进行固定调节，从而提升了测试设备的检测效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及技术领域，具体涉及一种半导体开短路测试设备。
背景技术
在测试验证阶段，对集成电路的测试验证是一项复杂繁琐又极需耐心和细心的工作，需要测试人员利用性能优良的仪器设备对集成电路进行细致严谨的测试验证，只有严格的测试验证才能保证集成电路的质量和生命力。集成电路的测试，特别是包含高速数字控制、高压、大电流、多通道输出和曲线变化快的等离子扫描半导体芯片，半导体芯片测试是一项复杂的工作。
但是现有的半导体开短路测试设备的外部构造较为简单，测试设备上缺少对半导体进行夹持和固定的机构，从而影响半导体的测试效率。
实用新型内容
(一)要解决的技术问题
为了克服现有技术不足，现提出一种半导体开短路测试设备，使测试设备上可以很好的对半导体进行夹持和固定。
(二)技术方案
本实用新型通过如下技术方案实现：本实用新型提出了一种半导体开短路测试设备，包括测试设备本体，所述测试设备本体的顶部转动连接有支撑柱，所述支撑柱的一侧固定连接有卡块，所述卡块上滑动插设有卡杆，所述测试设备本体的顶部环绕设有与卡杆对应的多个卡槽，所述卡杆靠近测试设备本体的一端固定套接有卡套，所述卡杆远离卡套的一端固定连接有拉杆，所述支撑柱远离卡块的一侧设有滑槽，所述滑槽内转动连接有螺杆，所述螺杆上螺纹套接有支撑板，所述螺杆的一端贯穿滑槽的内顶部并向上延伸，所述螺杆延伸的一端固定连接有旋钮，所述支撑板远离螺杆的一端设有通口，所述通口内固定连接有滑杆，所述滑杆上滑动套接有相对设置的两个夹持板，两个所述夹持板的顶部通过花篮螺丝连接。
进一步的，所述卡杆上套设有弹簧，所述弹簧的两端分别与卡套和卡块固定连接。
进一步的，所述夹持板上设有与滑杆对应的滑口，所述滑口内滑动连接有多个滚珠，所述滚珠的边缘与滑杆相接触。
进一步的，两个所述夹持板相对一侧的底部均固定连接有缓冲垫。
进一步的，所述测试设备本体的顶部固定连接有与通口位置对应的置物台。
进一步的，所述旋钮上的外壁上固定套接有橡胶垫。
(三)有益效果
本实用新型相对于现有技术，具有以下有益效果：
1)先将半导体放置在两个夹持板之间，然后转动花篮螺丝带动夹持板固定住半导体，然后转动旋钮带动螺杆转动，从而带动支撑板上下移动，调节半导体的高度，然后转动支撑柱调节半导体的方向，然后利用卡杆固定住支撑柱，本实用新型通过多处调节机构的设置，使装置可以很好的对半导体进行固定调节，从而提升了测试设备的检测效率；
2)当夹持板移动时，滚珠可以进行夹持板与滑杆之间的摩擦力，同时缓冲垫可以对半导体起到一定的弹性缓冲作用，同时弹簧可以对卡杆提到一定的弹性支撑作用。
附图说明
图1是本实用新型的正视结构示意图。
图2是本实用新型支撑板处的俯视结构示意图。
图3是图1的A处结构示意图。
1-测试设备本体；2-支撑柱；3-卡块；4-卡杆；5-卡套；6-拉杆； 7-螺杆；8-支撑板；9-旋钮；10-滑杆；11-夹持板；12-花篮螺丝； 13-弹簧；14-滚珠；15-置物台。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
如图1-3所示的一种半导体开短路测试设备，包括测试设备本体1，测试设备本体1的顶部转动连接有支撑柱2，用于支撑支撑板8，支撑柱2的一侧固定连接有卡块3，用于支撑卡杆4，卡块3上滑动插设有卡杆4，用于固定支撑柱2，测试设备本体1的顶部环绕设有与卡杆4对应的多个卡槽，卡杆4靠近测试设备本体1的一端固定套接有卡套5，防止卡杆4从卡块3 上脱落，卡杆4远离卡套5的一端固定连接有拉杆6，方便拉动拉杆4，支撑柱2远离卡块3的一侧设有滑槽，滑槽内转动连接有螺杆7，用于带动支撑板8上下移动，螺杆7上螺纹套接有支撑板8，用于支撑夹持板11，螺杆7的一端贯穿滑槽的内顶部并向上延伸，螺杆7延伸的一端固定连接有旋钮9，用于带动螺杆7转动，支撑板8远离螺杆7的一端设有通口，通口内固定连接有滑杆10，用于支撑支撑板8，滑杆10上滑动套接有相对设置的两个夹持板11，两个夹持板11的顶部通过花篮螺丝12连接，用于带动夹持板11左右移动。
其中，卡杆4上套设有弹簧13，弹簧13的两端分别与卡套5和卡块3 固定连接，用于对卡杆4起到一定的弹性支撑，夹持板11上设有与滑杆10 对应的滑口，滑口内滑动连接有多个滚珠14，滚珠14的边缘与滑杆10相接触，减小滑杆10和滑口内壁之间的摩擦力，两个夹持板11相对一侧的底部均固定连接有缓冲垫，用于对半导体起到一定的减震缓冲作用，测试设备本体1的顶部固定连接有与通口位置对应的置物台15，方便对半导体进行检测，旋钮9上的外壁上固定套接有橡胶垫，方便转动旋钮9。
本实用新型提到的一种半导体开短路测试设备，先将半导体放置在两个夹持板11之间，然后转动花篮螺丝12带动夹持板11固定住半导体，然后转动旋钮9带动螺杆7转动，从而带动支撑板8上下移动，调节半导体的高度，然后转动支撑柱2调节半导体的方向，然后利用卡杆4固定住支撑柱2，当夹持板11移动时，滚珠14可以减小夹持板11与滑杆10之间的摩擦力，同时缓冲垫可以对半导体起到一定的弹性缓冲作用，同时弹簧13 可以对卡杆4提到一定的弹性支撑作用。
上面所述的实施例仅仅是对本实用新型的优选实施方式进行描述，并非对本实用新型的构思和范围进行限定。在不脱离本实用新型设计构思的前提下，本领域普通人员对本实用新型的技术方案做出的各种变型和改进，均应落入到本实用新型的保护范围，本实用新型请求保护的技术内容，已经全部记载在权利要求书中。
Claims (6)
1.一种半导体开短路测试设备，包括测试设备本体(1)，其特征在于，所述测试设备本体(1)的顶部转动连接有支撑柱(2)，所述支撑柱(2)的一侧固定连接有卡块(3)，所述卡块(3)上滑动插设有卡杆(4)，所述测试设备本体(1)的顶部环绕设有与卡杆(4)对应的多个卡槽，所述卡杆(4)靠近测试设备本体(1)的一端固定套接有卡套(5)，所述卡杆(4)远离卡套(5)的一端固定连接有拉杆(6)，所述支撑柱(2)远离卡块(3)的一侧设有滑槽，所述滑槽内转动连接有螺杆(7)，所述螺杆(7)上螺纹套接有支撑板(8)，所述螺杆(7)的一端贯穿滑槽的内顶部并向上延伸，所述螺杆(7)延伸的一端固定连接有旋钮(9)，所述支撑板(8)远离螺杆(7)的一端设有通口，所述通口内固定连接有滑杆(10)，所述滑杆(10)上滑动套接有相对设置的两个夹持板(11)，两个所述夹持板(11)的顶部通过花篮螺丝(12)连接。
2.根据权利要求1所述的一种半导体开短路测试设备，其特征在于：所述卡杆(4)上套设有弹簧(13)，所述弹簧(13)的两端分别与卡套(5)和卡块(3)固定连接。
3.根据权利要求1所述的一种半导体开短路测试设备，其特征在于：所述夹持板(11)上设有与滑杆(10)对应的滑口，所述滑口内滑动连接有多个滚珠(14)，所述滚珠(14)的边缘与滑杆(10)相接触。
4.根据权利要求1所述的一种半导体开短路测试设备，其特征在于：两个所述夹持板(11)相对一侧的底部均固定连接有缓冲垫。
5.根据权利要求1所述的一种半导体开短路测试设备，其特征在于：所述测试设备本体(1)的顶部固定连接有与通口位置对应的置物台(15)。
6.根据权利要求1所述的一种半导体开短路测试设备，其特征在于：所述旋钮(9)上的外壁上固定套接有橡胶垫。
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| CN201920841309.1U CN210136293U (zh) | 2019-06-05 | 2019-06-05 | 一种半导体开短路测试设备 |
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| CN (1) | CN210136293U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113894758A (zh) * | 2021-09-26 | 2022-01-07 | 国网江苏省电力有限公司营销服务中心 | 一种水气热终端展示测试用快速拆装夹具及其使用方法 |
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2019
- 2019-06-05 CN CN201920841309.1U patent/CN210136293U/zh active Active
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| CN113894758A (zh) * | 2021-09-26 | 2022-01-07 | 国网江苏省电力有限公司营销服务中心 | 一种水气热终端展示测试用快速拆装夹具及其使用方法 |
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