CN210136265U - 一种半导体vref基准值测试设备 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种半导体VREF基准值测试设备，涉及半导体检测技术领域，为解决现有技术中的半导体参考电压的检测程序较为繁琐，需要多种仪器配合检测计算，测试效率较低的问题。所述固定底座的上方设置有控制台，所述控制台的外表面设置有数值显示屏，所述数值显示屏的一侧设置有控制按键，所述数值显示屏的另一侧设置有第一调节旋钮，所述第一调节旋钮的一侧设置有第二调节旋钮，所述第二调节旋钮的上方设置有电源开关，所述控制台的上方设置有第一检测台，所述第一检测台的一侧设置有第二检测台，所述第一检测台和第二检测台的一侧均设置有外接放电孔，所述第一检测台和第二检测台的另一侧均设置有移动轨杆，且移动轨杆有两个。
Description
技术领域
本实用新型涉及半导体检测技术领域，具体为一种半导体VREF基准值测试设备。
背景技术
半导体，指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。半导体在收音机、电视机以及测温上有着广泛的应用。如二极管就是采用半导体制作的器件。半导体是指一种导电性可受控制，范围可从绝缘体至导体之间的材料。无论从科技或是经济发展的角度来看，半导体的重要性都是非常巨大的；而参考电压是指电路中一个与负载、功率供给、温度漂移、时间等无关，能保持始终恒定的一个电压。参考电压可以被用于电源供应系统的稳压器，模拟数字转换器和数字模拟转换器，以及许多其他测量、控制系统。参考电压的大小在不同的应用中有所不同，例如在一般的计算机电源供应系统里，参考电压误差不大于其标称值附近百分之一至百分之几间，而实验室的参考电压标准则拥有更高的、以百万分率度量的稳定性和精确度。
但是，现有的半导体参考电压的检测程序较为繁琐，需要多种仪器配合检测计算，测试效率较低；因此，不满足现有的需求，对此我们提出了一种半导体VREF基准值测试设备。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种半导体VREF基准值测试设备，以解决上述背景技术中提出的半导体参考电压的检测程序较为繁琐，需要多种仪器配合检测计算，测试效率较低的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种半导体VREF基准值测试设备，包括固定底座，所述固定底座的上方设置有控制台，所述控制台的外表面设置有数值显示屏，所述数值显示屏的一侧设置有控制按键，所述数值显示屏的另一侧设置有第一调节旋钮，所述第一调节旋钮的一侧设置有第二调节旋钮，所述第二调节旋钮的上方设置有电源开关，所述控制台的上方设置有第一检测台，所述第一检测台的一侧设置有第二检测台，所述第一检测台和第二检测台的一侧均设置有外接放电孔，所述第一检测台和第二检测台的另一侧均设置有移动轨杆，且移动轨杆有两个，所述移动轨杆的上方设置有控制滑块，且控制滑块有两个，所述控制滑块的一侧设置有支撑轴，所述支撑轴的下方设置有调节轨道，所述调节轨道的下方设置有第一检测探针，所述第一检测探针的一侧设置有第二检测探针，所述移动轨杆的下方设置有元件检测槽，所述元件检测槽的内部设置有夹具横杆，所述夹具横杆的上方设置有元件固定块，所述元件固定块的外侧设置有元件夹板，且元件夹板有四个。
优选的，所述控制台与固定底座通过螺栓连接，所述控制台与第一检测台和第二检测台固定连接。
优选的，所述第一检测台和第二检测台与移动轨杆通过卡槽连接，所述移动轨杆与控制滑块通过滑槽滑动连接。
优选的，所述控制滑块与支撑轴焊接连接，所述支撑轴与调节轨道通过螺栓连接。
优选的，所述夹具横杆与第一检测台和第二检测台焊接连接，所述夹具横杆与元件固定块通过支架连接。
优选的，所述元件固定块与元件夹板通过滑槽滑动连接，所述第一检测台和第二检测台与外接放电孔固定连接。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
本实用新型通过将半导体固定放置在检测台上对其进行检测，从而得出该半导体的各项电压电流的数值，最后进行计算得出该半导体的参考电压基准值，不同于以往的检测方式，无需使用万用表等仪器配合对半导体进行检测，本装置只需在半导体放置后，便会通过两端的通电探针对半导体进行电路的测试，在测试时可以调整探针的检测位置，从而得出不同基点的电压电流，并进行记录，在测试结束后，会根据所设置的参考公式进行计算，得出参考电压的数值。
附图说明
图1为本实用新型的整体主视图；
图2为本实用新型的整体俯视图；
图3为本实用新型的支撑轴结构示意图。
图中：1、固定底座；2、控制台；3、第一检测台；4、外接放电孔；5、第二检测台；6、第一调节旋钮；7、第二调节旋钮；8、控制按键；9、电源开关；10、数值显示屏；11、移动轨杆；12、控制滑块；13、元件检测槽；14、支撑轴；15、夹具横杆；16、元件夹板；17、元件固定块；18、第一检测探针；19、第二检测探针；20、调节轨道。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。
请参阅图1-3，本实用新型提供的一种实施例：一种半导体VREF基准值测试设备，包括固定底座1，固定底座1的上方设置有控制台2，控制台2的外表面设置有数值显示屏10，显示反馈数据，数值显示屏10的一侧设置有控制按键8，数值显示屏10的另一侧设置有第一调节旋钮6，第一调节旋钮6的一侧设置有第二调节旋钮7，调节电压以及电流的大小，第二调节旋钮7的上方设置有电源开关9，控制台2的上方设置有第一检测台3，第一检测台3的一侧设置有第二检测台5，第一检测台3和第二检测台5的一侧均设置有外接放电孔4，第一检测台3和第二检测台5的另一侧均设置有移动轨杆11，且移动轨杆11有两个，移动轨杆11的上方设置有控制滑块12，且控制滑块12有两个，控制滑块12的一侧设置有支撑轴14，支撑轴14的下方设置有调节轨道20，调节轨道20的下方设置有第一检测探针18，第一检测探针18的一侧设置有第二检测探针19，进行检测，移动轨杆11的下方设置有元件检测槽13，元件检测槽13的内部设置有夹具横杆15，夹具横杆15的上方设置有元件固定块17，元件固定块17的外侧设置有元件夹板16，且元件夹板16有四个，对半导体元件进行固定。
进一步，控制台2与固定底座1通过螺栓连接，控制台2与第一检测台3和第二检测台5固定连接，增强稳定性。
进一步，第一检测台3和第二检测台5与移动轨杆11通过卡槽连接，移动轨杆11与控制滑块12通过滑槽滑动连接，便于位置的移动。
进一步，控制滑块12与支撑轴14焊接连接，支撑轴14与调节轨道20通过螺栓连接，便于进行安装固定。
进一步，夹具横杆15与第一检测台3和第二检测台5焊接连接，夹具横杆15与元件固定块17通过支架连接，便于进行使用。
进一步，元件固定块17与元件夹板16通过滑槽滑动连接，第一检测台3和第二检测台5与外接放电孔4固定连接，便于进行外接电源。
工作原理：使用时，先将半导体元件放置在元件固定块17上，并通过其两侧的元件夹板16来调节对半导体元件进行固定，之后将电源插头分别与两个检测台外侧的外接放电孔4进行连接，开启电源，通过调节旋钮可以对释放的电压电流进行调节控制，然后控制移动轨杆11上的控制滑块12进行移动，使其一侧的支撑轴14移动停留在半导体元件的上方，并通过支撑轴14下方的探测针对半导体进行电路的检测，在测试的过程中使用者还可以调节轨道20通调整探针的检测位置，从而得出不同基点的电压电流，该数据会显示在数值显示屏10上，以便使用者进行观察和记录，在测试结束后，会将所有的数据根据所设置的参考公式进行计算，得出半导体的参考电压数值。
对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
Claims (6)
1.一种半导体VREF基准值测试设备，包括固定底座(1)，其特征在于：所述固定底座(1)的上方设置有控制台(2)，所述控制台(2)的外表面设置有数值显示屏(10)，所述数值显示屏(10)的一侧设置有控制按键(8)，所述数值显示屏(10)的另一侧设置有第一调节旋钮(6)，所述第一调节旋钮(6)的一侧设置有第二调节旋钮(7)，所述第二调节旋钮(7)的上方设置有电源开关(9)，所述控制台(2)的上方设置有第一检测台(3)，所述第一检测台(3)的一侧设置有第二检测台(5)，所述第一检测台(3)和第二检测台(5)的一侧均设置有外接放电孔(4)，所述第一检测台(3)和第二检测台(5)的另一侧均设置有移动轨杆(11)，且移动轨杆(11)有两个，所述移动轨杆(11)的上方设置有控制滑块(12)，且控制滑块(12)有两个，所述控制滑块(12)的一侧设置有支撑轴(14)，所述支撑轴(14)的下方设置有调节轨道(20)，所述调节轨道(20)的下方设置有第一检测探针(18)，所述第一检测探针(18)的一侧设置有第二检测探针(19)，所述移动轨杆(11)的下方设置有元件检测槽(13)，所述元件检测槽(13)的内部设置有夹具横杆(15)，所述夹具横杆(15)的上方设置有元件固定块(17)，所述元件固定块(17)的外侧设置有元件夹板(16)，且元件夹板(16)有四个。
2.根据权利要求1所述的一种半导体VREF基准值测试设备，其特征在于：所述控制台(2)与固定底座(1)通过螺栓连接，所述控制台(2)与第一检测台(3)和第二检测台(5)固定连接。
3.根据权利要求1所述的一种半导体VREF基准值测试设备，其特征在于：所述第一检测台(3)和第二检测台(5)与移动轨杆(11)通过卡槽连接，所述移动轨杆(11)与控制滑块(12)通过滑槽滑动连接。
4.根据权利要求1所述的一种半导体VREF基准值测试设备，其特征在于：所述控制滑块(12)与支撑轴(14)焊接连接，所述支撑轴(14)与调节轨道(20)通过螺栓连接。
5.根据权利要求1所述的一种半导体VREF基准值测试设备，其特征在于：所述夹具横杆(15)与第一检测台(3)和第二检测台(5)焊接连接，所述夹具横杆(15)与元件固定块(17)通过支架连接。
6.根据权利要求1所述的一种半导体VREF基准值测试设备，其特征在于：所述元件固定块(17)与元件夹板(16)通过滑槽滑动连接，所述第一检测台(3)和第二检测台(5)与外接放电孔(4)固定连接。
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