CN217305401U - 一种半导体测试用支架 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种半导体测试用支架,包括底座、第一滑动装置、第二滑动装置、伸缩杆和测试座,所述底座上设置有第一滑动装置,且第一滑动装置上设置有第二滑动装置,第二滑动装置上设置有伸缩杆,所述伸缩杆上设置有测试座,所述第一滑动装置通过支撑架与第二滑动装置相连接。该半导体测试用支架设置有第一滑动装置和第二滑动装置,伸缩杆通过第一滑动装置和第二滑动装置和进行双向的位移,保证测试座可以根据使用人员的要求进行调整,而且该支架采用直接支撑式,不是悬空支撑,大大提高了支撑的强度和稳定性,压测产品测试时支架不会发生形变,不会导致测试接触异常,针痕深浅一直,保证产品正常。
Description
技术领域
本实用新型属于半导体测试设备领域,具体为一种半导体测试用支架。
背景技术
半导体(semiconductor),指常温下导电性能介于导体(conductor)与绝缘体(insulator)之间的材料。半导体在收音机、电视机以及测温上有着广泛的应用。如二极管就是采用半导体制作的器件。半导体是指一种导电性可受控制,范围可从绝缘体至导体之间的材料,半导体在生产过程中要进行测试,测试的时候测试座通过支架固定进行测试,但是现有的测试支架安装好测试座后,测试座中心点为悬空状态,压测产品测试时支架会发生形变,导致测试接触异常,针痕深浅不一造成良率异常。
发明内容
针对现有技术存在的上述问题,本实用新型所要解决的技术问题在于提供一种半导体测试用支架,以解决目前的测试支架,压测产品测试时支架会发生形变,导致测试接触异常,针痕深浅不一,造成良率异常的问题。
为了解决上述技术问题,本实用新型采用的技术方案为:
一种半导体测试用支架,包括底座、第一滑动装置、第二滑动装置、伸缩杆和测试座,所述底座上设置有第一滑动装置,且第一滑动装置上设置有第二滑动装置,第二滑动装置上设置有伸缩杆,所述伸缩杆上设置有测试座,所述第一滑动装置通过支撑架与第二滑动装置相连接。
进一步的,所述第一滑动装置包括第一滑动条、第一滑动槽、第一锁紧螺栓,所述第一滑动条与底座固定连接,第一滑动条上镶嵌有第一滑动槽,且第一滑动条和第一滑动槽之间设置有第一锁紧螺栓。
进一步的,所述第二滑动装置包括第二滑动条、第二滑动槽、第二锁紧螺栓,所述第二滑动条与第一滑动槽固定连接,第二滑动条上镶嵌有第二滑动槽,且第二滑动条和第二滑动槽之间设置有第二锁紧螺栓。
进一步的,所述第二滑动条与第一滑动槽交错设置,且第二滑动条与第一滑动槽之间构成90°夹角。
进一步的,所述第一滑动槽设置有侧边,且侧边通过支撑架与第二滑动条固定连接。
进一步的,所述伸缩杆为电动伸缩杆。
有益效果:与现有技术相比,本申请具有以下优势:
该半导体测试用支架设置有第一滑动装置和第二滑动装置,伸缩杆通过第一滑动装置和第二滑动装置和进行双向的位移,保证测试座可以根据使用人员的要求进行调整,而且该支架采用直接支撑式,不是悬空支撑,大大提高了支撑的强度和稳定性,压测产品测试时支架不会发生形变,不会导致测试接触异常,针痕深浅一直,保证产品正常。
附图说明
图1是半导体测试用支架结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型做进一步的说明。
如图1所示,本申请的半导体测试用支架,包括底座1、第一滑动装置2、第二滑动装置3、伸缩杆4和测试座5,底座1上设置有第一滑动装置2,且第一滑动装置2上设置有第二滑动装置3,第二滑动装置3上设置有伸缩杆4,伸缩杆4上设置有测试座5,第一滑动装置2通过支撑架6与第二滑动装置3相连接,伸缩杆4通过第一滑动装置2和第二滑动装置3和进行双向的位移,保证测试座5可以根据使用人员的要求进行调整,而且该支架采用直接支撑式,直接与底座连接,不是悬空支撑,大大提高了支撑的强度和稳定性,压测产品测试时支架不会发生形变,不会导致测试接触异常,针痕深浅一直,保证产品正常。
第一滑动装置2包括第一滑动条201、第一滑动槽202、第一锁紧螺栓203,第一滑动条201与底座1固定连接,第一滑动条201上镶嵌有第一滑动槽202,且第一滑动条201和第一滑动槽202之间设置有第一锁紧螺栓203,拧松第一锁紧螺栓203,第一滑动槽202就可以在第一滑动条201上滑动,从而控制测试座5的移动,使用者可以根据实际情况进行调整,调整完毕后拧紧第一锁紧螺栓203即可固定。
第二滑动装置3包括第二滑动条301、第二滑动槽302、第二锁紧螺栓303,第二滑动条301与第一滑动槽202固定连接,第二滑动条301上镶嵌有第二滑动槽302,且第二滑动条301和第二滑动槽302之间设置有第二锁紧螺栓303,拧松第二锁紧螺栓303,第二滑动槽302可以在第二滑动条301调整位置,第一滑动装置2和第二滑动装置3可以对测试座5的位置进行两个方向的移动,保证测试座5可以根据使用人员的要求进行调整。
第二滑动条301与第一滑动槽202交错设置,且第二滑动条301与第一滑动槽202之间构成90°夹角,保证测试座5两个方向都可以调整。
第一滑动槽202设置有侧边204,且侧边204通过支撑架6与第二滑动条301固定连接,提高对第二滑动条301的支撑力,保证第二滑动条301受力过程中具有足够的稳定性。
伸缩杆4为电动伸缩杆,电动控制更加准确,提高测试时候的精度。
本实用新型提供了一种半导体测试用支架的思路及实施方法,具体应用途径很多,以上仅是本实用新型的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型原理的前提下,还可以做出若干改进,这些改进也应视为本实用新型的保护范围。
Claims (6)
1.一种半导体测试用支架,其特征在于:包括底座(1)、第一滑动装置(2)、第二滑动装置(3)、伸缩杆(4)和测试座(5),所述底座(1)上设置有第一滑动装置(2),且第一滑动装置(2)上设置有第二滑动装置(3),第二滑动装置(3)上设置有伸缩杆(4),所述伸缩杆(4)上设置有测试座(5),所述第一滑动装置(2)通过支撑架(6)与第二滑动装置(3)相连接。
2.根据权利要求1所述的半导体测试用支架,其特征在于:所述第一滑动装置(2)包括第一滑动条(201)、第一滑动槽(202)、第一锁紧螺栓(203),所述第一滑动条(201)与底座(1)固定连接,第一滑动条(201)上镶嵌有第一滑动槽(202),且第一滑动条(201)和第一滑动槽(202)之间设置有第一锁紧螺栓(203)。
3.根据权利要求1所述的半导体测试用支架,其特征在于:所述第二滑动装置(3)包括第二滑动条(301)、第二滑动槽(302)、第二锁紧螺栓(303),所述第二滑动条(301)与第一滑动槽(202)固定连接,第二滑动条(301)上镶嵌有第二滑动槽(302),且第二滑动条(301)和第二滑动槽(302)之间设置有第二锁紧螺栓(303)。
4.根据权利要求3所述的半导体测试用支架,其特征在于:所述第二滑动条(301)与第一滑动槽(202)交错设置,且第二滑动条(301)与第一滑动槽(202)之间构成90°夹角。
5.根据权利要求2所述的半导体测试用支架,其特征在于:所述第一滑动槽(202)设置有侧边(204),且侧边(204)通过支撑架(6)与第二滑动条(301)固定连接。
6.根据权利要求1所述的半导体测试用支架,其特征在于:所述伸缩杆(4)为电动伸缩杆。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202123391772.7U CN217305401U (zh) | 2021-12-29 | 2021-12-29 | 一种半导体测试用支架 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202123391772.7U CN217305401U (zh) | 2021-12-29 | 2021-12-29 | 一种半导体测试用支架 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN217305401U true CN217305401U (zh) | 2022-08-26 |
Family
ID=82923677
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202123391772.7U Active CN217305401U (zh) | 2021-12-29 | 2021-12-29 | 一种半导体测试用支架 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN217305401U (zh) |
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2021
- 2021-12-29 CN CN202123391772.7U patent/CN217305401U/zh active Active
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