CN210090523U - 一种电子元件综合试验台 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种电子元件综合试验台，涉及火车检修领域。该电子元件综合试验台，包括工作台，通孔的内部活动连接有连板，连板位于内腔内部的一端固定连接有固定杆，第一转轴的底部转动连接有连接杆，第一铰接柱的顶部铰接有铰接杆，铰接杆后面的中心处转动连接有连接轴，第二铰接柱的右端固定连接有连接块，连接块的顶部固定连接有夹紧块，该电子元件综合试验台，通过手动将电路板放入凹槽内，然后手动推动连板，从而使固定杆运动，从而使连接杆运动，从而使第一铰接柱转动，通过设置连接轴，从而使铰接杆转动，从而使连接块运动，从而使夹紧块对电路板夹紧，解决了夹持时容易对电路板两侧造成伤害的问题。

Description

一种电子元件综合试验台

技术领域

本实用新型涉及火车检测技术领域，具体为一种电子元件综合试验台。

背景技术

火车检测是指火车运用过程中，车辆零部件会逐渐磨耗、腐蚀和损伤，为保证车辆经常处于良好的技术状态，稳定可靠地工作，必须进行有计划的检测。电子元件试验台是指对火车上所使用的电子电路进行检测、检修用的一种工作台。

电子元件试验台要对电子元件进行测试时，尤其是对电路板进行测试，需使用双手测量，故要对电路板进行固定，现在市场上的电子元件试验台对电路板夹持大部分使用的是弹性夹持，这样夹持时容易对电路板两侧造成伤害。

实用新型内容

（一）解决的技术问题

针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种电子元件综合试验台，解决了上述背景技术中所提出的问题。

（二）技术方案

为实现以上目的，本实用新型通过以下技术方案予以实现：一种电子元件综合试验台，包括工作台，工作台的顶部分别固定连接测验装置和夹持台、夹持台位于测验装置的前侧，夹持台的顶部开设有凹槽，凹槽的内底壁开设有连接槽，夹持台的正面开设有通孔，通孔的内部活动连接有连板，夹持台的正面固定连接有连接柱，连接柱位于通孔的上方，连接柱远离夹持台的一端转动连接有转杆。

夹持台的内部开设有内腔，内腔与通孔、凹槽相连通，连板通过贯穿通孔延伸至内腔的内部，连板位于内腔内部的一端固定连接有固定杆，固定杆的顶部以自身中心线左右对称开设有第一连接孔，第一连接孔的内部活动连接有第一转轴，第一转轴的顶部固定连接有第一定位块，第一转轴的底部转动连接有连接杆，连接杆位于顶部的中心处开设有第二连接孔，第二连接孔的内部活动连接有第二转轴，第二转轴的顶部固定连接有第二定位块，第二转轴靠近连接杆底部的外表面固定连接有第三定位块，第二转轴的底部与内腔固定连接，连接杆远离第一转轴的一端的顶部转动连接有第一铰接柱，第一铰接柱的顶部铰接有铰接杆，铰接杆后面的中心处转动连接有连接轴，连接轴的后端转动连接有固定板，固定板与内腔固定连接，铰接杆远离第一铰接柱的一端铰接有第二铰接柱，第二铰接柱的右端固定连接有连接块，连接块与连接槽滑动连接，连接块的顶部固定连接有夹紧块，夹紧块的右端穿过夹持台延伸至凹槽的内部。

优选的，所述夹紧块位于凹槽内部的一端为弧形，且夹紧块的弧形端上设置有防滑垫。

优选的，所述第二连接孔的长度大于第一连接孔的长度，且第二连接孔的长度大于连接块的长度。

优选的，所述第二定位块与第三定位块的间距大于连接杆的厚度，且第三定位块与连接杆接触连接。

优选的，所述连板的顶部开设有齿槽，且齿槽与转杆底部设置的锥形齿相适配。

优选的，所述铰接杆的长度大于连接槽的长度。

（三）有益效果

本实用新型提供了一种电子元件综合试验台。具备以下有益效果：

1、该电子元件综合试验台，通过手动将电路板放入凹槽内，然后手动推动连板，从而使固定杆运动，从而使第一转轴运动，从而使连接杆运动，从而使第一铰接柱转动，通过设置连接轴，从而使铰接杆转动，从而使第二铰接柱运动，从而使连接块运动，从而使夹紧块对电路板夹紧，解决了夹持时容易对电路板两侧造成伤害的问题。

2、该电子元件综合试验台，通过在连板顶部设置的齿槽，能够与转杆底部设置的锥型齿配合，从而使夹紧板位置能够方便固定，从而能够使该试验台对大小不一的电路板进行夹持。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图；

图2为本实用新型局部结构示意图；

图3为本实用新型夹持台局部结构示意图；

图4为本实用新型夹持台局部结构示意图；

图5为本实用新型图1中A处结构示意图。

其中，1工作台、2测验装置、3夹持台、301通孔、302凹槽、303连接槽、4连板、5内腔、6固定杆、7第一连接孔、8第一转轴、9第一定位块、10连接杆、11第二连接孔、12第二转轴、13第二定位块、131第三定位块、14第一铰接柱、15铰接杆、16第二铰接柱、17连接块、18夹紧块、19连接轴、20固定板、21连接柱、22转杆。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

本实用新型实施例提供一种电子元件综合试验台，如图1-5所示，包括工作台1，工作台1的顶部分别固定连接测验装置2和夹持台3、夹持台3位于测验装置2的前侧，夹持台3的顶部开设有凹槽302，凹槽302的内底壁开设有连接槽303，夹持台3的正面开设有通孔301，通孔301的内部活动连接有连板4，夹持台3的正面固定连接有连接柱21，连接柱21位于通孔301的上方，连接柱21远离夹持台3的一端转动连接有转杆22，连板4的顶部开设有齿槽，且齿槽与转杆22底部设置的锥形齿相适配，设置连板4与转杆22适配，可以使夹紧板18对大小不一的电路板进行固定。

夹持台3的内部开设有内腔5，内腔5与通孔301、凹槽302相连通，连板4通过贯穿通孔301延伸至内腔5的内部，连板4位于内腔5内部的一端固定连接有固定杆6，固定杆6的顶部以自身中心线左右对称开设有第一连接孔7，第一连接孔7的内部活动连接有第一转轴8，第一转轴8的顶部固定连接有第一定位块9，第一转轴8的底部转动连接有连接杆10，连接杆10位于顶部的中心处开设有第二连接孔11，第二连接孔11的长度大于第一连接孔7的长度，且第二连接孔11的长度大于连接块17的长度，设置第二连接孔11的长度，能够使连接杆10方便运动，从而使夹紧块18对电路板夹紧更加方便，第二连接孔11的内部活动连接有第二转轴12，第二转轴12的顶部固定连接有第二定位块13，第二转轴12靠近连接杆10底部的外表面固定连接有第三定位块131，第二定位块13与第三定位块131的间距大于连接杆10的厚度，且第三定位块131与连接杆10接触连接，设置第三定位块131与第二固定块13配合，能够使连接杆10转动更加方便，从而使铰接杆15转动更加方便，从而使电路板夹紧时更加方便，第二转轴12的底部与内腔5固定连接，连接杆10远离第一转轴8 的一端的顶部转动连接有第一铰接柱14，第一铰接柱14的顶部铰接有铰接杆15，铰接杆15的长度大于连接槽303的长度，设置铰接杆15的长度，能够使连接块17在连接槽303充分运动，从而使夹紧块18对电路板夹紧更加方便，铰接杆15后面的中心处转动连接有连接轴19，连接轴19的后端转动连接有固定板20，固定板20与内腔5固定连接，铰接杆15远离第一铰接柱14的一端铰接有第二铰接柱16，第二铰接柱16的右端固定连接有连接块17，连接块17与连接槽303滑动连接，连接块17的顶部固定连接有夹紧块18，夹紧块18的右端穿过夹持台3延伸至凹槽302的内部，夹紧块18位于凹槽302内部的一端为弧形，且夹紧块18的弧形端上设置有防滑胶垫，设置夹紧块18，能够方便对电路板进行夹紧，设置防滑胶垫，能够使电路板夹持时不易受到损伤。

工作原理：

当该电子元件综合试验台使用时，通过手动将电路板放入凹槽302内，然后手动推动连板4，从而使固定杆6运动，通过设置第一转轴8，从而使连接杆10运动，从而使第一铰接柱14转动，通过设置连接轴19，从而使铰接杆15转动，从而使第二铰接柱16运动，从而使连接块17运动，从而使夹紧块18对电路板进行夹紧，通过设置转杆22，能够与连板4的齿槽配合，从而夹紧块18能够对大小不一的电路板进行夹紧，从而使夹紧更加方便。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (6)

1.一种电子元件综合试验台，包括工作台（1），其特征在于：所述工作台（1）的顶部分别固定连接测验装置（2）和夹持台（3）、夹持台（3）位于测验装置（2）的前侧，夹持台（3）的顶部开设有凹槽（302），凹槽（302）的内底壁开设有连接槽（303），夹持台（3）的正面开设有通孔（301），通孔（301）的内部活动连接有连板（4），夹持台（3）的正面固定连接有连接柱（21），连接柱（21）位于通孔（301）的上方，连接柱（21）远离夹持台（3）的一端转动连接有转杆（22）；所述夹持台（3）的内部开设有内腔（5），内腔（5）与通孔（301）、凹槽（302）相连通，连板（4）通过贯穿通孔（301）延伸至内腔（5）的内部，连板（4）位于内腔（5）内部的一端固定连接有固定杆（6），固定杆（6）的顶部以自身中心线左右对称开设有第一连接孔（7），第一连接孔（7）的内部活动连接有第一转轴（8），第一转轴（8）的顶部固定连接有第一定位块（9），第一转轴（8）的底部转动连接有连接杆（10），连接杆（10）位于顶部的中心处开设有第二连接孔（11），第二连接孔（11）的内部活动连接有第二转轴（12），第二转轴（12）的顶部固定连接有第二定位块（13），第二转轴（12）靠近连接杆（10）底部的外表面固定连接有第三定位块（131），第二转轴（12）的底部与内腔（5）固定连接，连接杆（10）远离第一转轴（8）的一端的顶部转动连接有第一铰接柱（14），第一铰接柱（14）的顶部铰接有铰接杆（15），铰接杆（15）后面的中心处转动连接有连接轴（19），连接轴（19）的后端转动连接有固定板（20），固定板（20）与内腔（5）固定连接，铰接杆（15）远离第一铰接柱（14）的一端铰接有第二铰接柱（16），第二铰接柱（16）的右端固定连接有连接块（17），连接块（17）与连接槽（303）滑动连接，连接块（17）的顶部固定连接有夹紧块（18），夹紧块（18）的右端穿过夹持台（3）延伸至凹槽（302）的内部。

2.根据权利要求1所述的一种电子元件综合试验台，其特征在于：所述夹紧块（18）位于凹槽（302）内部的一端为弧形，且夹紧块（18）的弧形端上设置有防滑垫。

3.根据权利要求1所述的一种电子元件综合试验台，其特征在于：所述第二连接孔（11）的长度大于第一连接孔（7）的长度，且第二连接孔（11）的长度大于连接块（17）的长度。

4.根据权利要求1所述的一种电子元件综合试验台，其特征在于：所述第二定位块（13）与第三定位块（131）的间距大于连接杆（10）的厚度，且第三定位块（131）与连接杆（10）接触连接。

5.根据权利要求1所述的一种电子元件综合试验台，其特征在于：所述连板（4）的顶部开设有齿槽，且齿槽与转杆（22）底部设置的锥形齿相适配。

6.根据权利要求1所述的一种电子元件综合试验台，其特征在于：所述铰接杆（15）的长度大于连接槽（303）的长度。

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