CN210089522U - 一种基于磁电测量的千分表 - Google Patents

一种基于磁电测量的千分表 Download PDF

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Abstract

本实用新型涉及测量仪器领域,具体涉及一种基于磁电测量的千分表,测量杆,用于与被测物体相接触,且能够轴向移动;粗测组件,包括磁体和至少一个磁敏元件,磁体与测量杆相连接,磁敏元件通过接收磁体的磁性量来测量粗读数;精测组件,用于根据测量杆的轴向位移来测量精读数,精测组件与测量杆相配合。本申请的一种基于磁电测量的千分表,分别利用粗测组件来测量粗读数,以及精测组件测量精读数,以降底装配难度及装配成本,同时,粗读数的测量不受突然断电或者遇到电磁干扰的影响,测以避免重新测量粗读数,从而,减少了重新测量被测读数的工作量,减少了因重测而造成的测量成本。

Description

一种基于磁电测量的千分表
技术领域
本实用新型涉及测量仪器领域,具体涉及一种基于磁电测量的千分表。
背景技术
数显千分表通常为通过容珊、光栅、电感等元件直接测量直线位移并输出至显示模块显示读数的长度测量仪器。
由千分表测量的被测数据分为两部分,即粗读数和精读数,其中,粗读数为基础读数,精读数能够显示其数据的精度,精读数的精度及范围与两个粗读数之间的数值差相对应。
例如:两个粗读数之间的数值差为0.2,最终被测数据为3.453,则其中,粗读数“3.4”,精读数为“0.053”;
例如:两个粗读数之间的数值差为0.2,最终被测数据为3.553,则其中,粗读数“3.4”,精读数为“0.153”,也可视为,粗读数“3.6”,精读数为“-0.047”;
例如:两个粗读数之间的数值差为1,最终被测数据为3.453,则其中,粗读数“3”,精读数为“0.453”,也可视为,粗读数“4”,精读数为“-0.547”。
目前,现有的数显千分表普遍利用容栅,光栅等电子元件将精读数和粗读数一体测量,即直接将直线位移转换电信号输出,得到被测数据,能够有效地减少操作机械千分表时容易引起的人为误差,所以越来越受用户的喜爱,但是由于其基于容栅,光栅的自身特性进行计量,故对其上不同零部件的相互配合精度要求高,造成装配难度大,装配成本高的缺点。
同时,现有的数显千分表中大多数为相对式,而相对式数显千分表普遍通过累加脉冲数来计数测量,故在使用数显千分表的过程中,当遇到突然断电或者遇到电磁干扰时,其测量计数会出现中断,累加脉冲会自动清零,无法记录中断前的累加脉冲数量,故无法恢复中断前的读数,导致必须重新测量读数,费时费力,增加了测量成本。
综上所述,目前需要一种数显千分表,能够利用不同的部件分别测量粗读数和精读数,以降底装配难度及装配成本,同时,用于测量粗读数的零部件在测量中断之后,能够恢复中断前的粗读数,以避免重新测量粗读数,从而,减少重新测量被测读数的工作量,减少因重测而造成的测量成本。
实用新型内容
针对现有技术存在的机械千分表容易因人为原因造成读数不准确;数显千分表装配难度大,装配成本高,同时,其中的相对式数显千分表在测量计数会出现中断后,无法恢复中断前的读数,导致必须重新测量读数,费时费力,增加了测量成本的问题,本实用新型提供了一种基于磁电测量的千分表,能够利用不同的部件分别测量粗读数和精读数,以降底装配难度及装配成本,同时,用于测量粗读数的零部件不受突然断电或者遇到电磁干扰的影响,以避免重新测量粗读数,从而,减少重新测量被测读数的工作量,减少因重测而造成的测量成本。
为了实现上述目的,本实用新型采用的技术方案为:
一种基于磁电测量的千分表,包括:
测量杆,用于与被测物体相接触,且能够沿自身轴向移动;
粗测组件,包括磁体和至少一个磁敏元件,所述磁体与所述测量杆相连接,所述磁敏元件通过接收所述磁体的磁性量来测量粗读数;
精测组件,用于根据所述测量杆的轴向位移来测量精读数,所述精测组件与所述测量杆相配合。
所述磁性量包括磁场强度、磁场方向。
本申请所述的一种基于磁电测量的千分表,利用粗测组件来测量粗读数,利用精测组件测量精读数,在测量时,被测物体抵推测量杆,测量杆沿自身轴向移动,同时带动磁体和精测组件运动,其中,磁体沿测量杆的轴向移动,此时,磁敏元件接收磁体的磁性量,则此磁敏元件对应的值即为被测数据的粗读数部分。
其中,磁敏元件利用载流子在磁场运动会受到洛伦兹力作用的原理制成的。
例如:磁敏元件可以为磁敏二极管或者磁敏无接触电位器,磁敏二极管的构成机理如下:将一块接近于本征的高纯度半导体硅或锗,两端用合金或扩散法分别制成P+和N+,中间隔以较长的近本征区(本征区的长度大干空穴和电子的扩散长度)形成P+-I-N+结构,再在本征区的侧面上用研磨或扩散等工艺形成高复合区r,这样就制成了磁敏二极管。磁敏二极管正常工作时,同一般二极管一样,要求在P+端接电源正极.N+端接电源负极,且具有单向导电性。
当磁敏二极管接上工作电压且处在磁体的磁场中时,随着磁场强度、磁场方向的变化,磁敏二极管的阻值也随着变化,导致流过磁敏二极管的电流也随着磁场的变化而变化,根据这一特点,磁敏二极管可以探测磁体的磁性量,并根据磁性量的变化来确定距离磁体最近的磁敏二极管,磁敏二极管输出指示信号,粗读数即为该磁敏二极管对应的值。
在上述方案中,分别利用粗测组件来测量粗读数,以及精测组件测量精读数,以降底装配难度及装配成本,同时,所述磁敏元件通过接收所述磁体的磁性量来测量粗读数,而当遇到突然断电或者遇到电磁干扰时,其测量计数会出现中断,在中断过程中,磁体发生移动,恢复计数之后,通过判读磁敏元件接收的磁性量大小,可以重新获得已移动后磁体的位置,并测得该为位置对应的粗读数即保证粗读数的测量不受突然断电或者遇到电磁干扰的影响,以避免重新测量粗读数,从而,减少了重新测量被测读数的工作量,减少了因重测而造成的测量成本。
而且,相比较现有技术中存在的部分机械千分表采用与被测物体接触的部件带动测量精读数的部件运动,再由测量精读数的部件带动测量粗读数的部件运动,此过程中,依次多级传动,安装精度要求高,累计误差大,使千分表能够达到的最高精度降低,同时,由于依次多级传动,测量精读数的部件和测量粗读数的部件之间接触配合,当其中一个部件出问题时或需要校准时,会影响另一个部件,其之间的相对稳定性较为缺乏的问题。
本方案所述的一种基于磁电测量的千分表,在测量过程中,测量杆同时带动粗测组件和精测组件运动,粗测组件和精测组件之间不存在直接传动配合,减少了多级传动的级数,从而减少了因依次多级传动造成的累计误差,减少了因累计误差造成的精度降低程度,使得本申请所述的千分表,能够达到很高的精度,同时降低了安装要求,使得安装更为简单;
同时,粗测组件和精测组件的运转互不影响,使其具备很好的稳定性,避免因粗测组件和精测组件其中的一个组件出问题而影响另一个组件的正常运行。
综上所述,本方案所述的一种基于磁电测量的千分表,通过测量杆同时带动粗测组件和精测组件分别粗读数和精读数,最后合成被测数据,稳定性好,装配简单,装配成本低,同时,能够避免在计数中断后重新测量粗读数,减少了重新测量被测读数的工作量,减少了因重测而造成的测量成本。
优选地,所述磁敏元件为若干个,所有所述磁敏元件在所述测量杆轴线的正投影均间隔设置。
相比较现有技术存在因电感千分表因其测量精度与长度有关,故电感千分表很难实现长行程精度测量的问题,本方案所述的千分表,根据行程长短的不同要求,可以适当地增减磁敏元件的数量,可以满足不同的行程要求,而且,利用磁敏元件通过接收所述磁体的磁性量来测量粗读数,不受磁体本身限制,只与磁敏元件的数量以及布置的位置有关,可实现长行程的高精度测量。
优选地,所有相邻两个所述磁敏元件在所述测量杆轴线的正投影的间距相等。
所有相邻两个所述磁敏元件在所述测量杆轴线的正投影的间距相等,使得粗读数更方便的被记载,被测数据被更好地合成。
优选地,所述精测组件包括,
旋转磁体,能够绕其安装轴旋转,所述测量杆带动所述旋转磁体旋转;
磁场角度编码器,能够检测所述旋转磁体的磁场方位角及其变化数据,得到对应的精读数。
旋转磁体有一个固定的磁场方向,当旋转磁体转动时,磁场方向随之转动,磁场角度编码器即可测量磁场相对于磁场角度编码器的旋转角度,以达到测量精读数的目的,同时,磁场相对磁场角度编码器角度不同,磁场角度编码器内部霍尔元件的霍尔电压也不同,而当遇到突然断电或者遇到电磁干扰时,其测量计数会出现中断,恢复之后,通过霍尔电压的大小可得到磁场角度编码器的角度,以此,即可直接测得中断前的精读数,以避免重新测量精读数,从而,减少重新测量被测读数的工作量,减少因重测而造成的测量成本。
其中,磁场角度编码器测量旋转磁体磁场方向的方法已经在发明专利《一种基于旋转磁场位移测量的方法》(公开号CN109029232A)中公开。
优选地,磁场角度编码器中有四个霍尔元件,通过差分消除磁场强度对方位角测量的影响在上述方案中,
本申请所述的千分表,所述磁敏元件通过接收所述磁体的磁性量来测量粗读数,磁场角度编码器通过检测所述旋转磁体的磁场方位角及其变化数据,得到对应的精读数,均不受测量计数中断影响,使得本申请的一种基于磁电测量的千分表在测量过程中,被测数据不受测量计数中断影响,以避免因中断而重新测量被测数据,而造成费时费力,增加测量成本的情况发生。
同时,精测组件利用磁场测量出的精读数本身即可达到较高的精度。
相比较现有技术中存在的电感和电容元件受环境影响较大,长期使用时,其测量准确度会降低的问题,本方案所述的一种基于磁电测量的千分表,利用磁场方位角及其变化求得被测数据中的精度数据,此误差小,精度高,且磁场在长期使用中,不受磁场衰退程度影响,故受环境影响很小,以保证本申请所述的千分表长期使用时的测量准确度的稳定性。
综上所述,本方案所述的一种基于磁电测量的千分表,通过测量杆同时带动粗测组件和精测组件分别粗读数和精读数,最后合成被测数据,稳定性好,精度较高、装配简单。
具体地,所述旋转磁体为磁钢。
优选地,所述旋转磁体的轴向自由度被限制,仅能够旋转。
具体地,所述磁场角度编码器为带有角度编码器的集成电路。
优选地,所述精测组件包括还旋转传动部件,所述旋转传动部件分别与所述旋转磁体和所述测量杆相配合,所述测量杆控制所述旋转传动部件旋转从而带动所述旋转磁体旋转;
具体地,所述旋转传动部件与所述旋转磁体齿条齿轮配合。
优选地,所述旋转传动部件包括两个间隔排列的旋转传动装置,两个所述旋转传动装置的排列方向与所述测量杆轴线相平行,每个所述旋转传动装置均与所述旋转磁体相配合,每个所述旋转传动装置均与所述测量杆相配合。
两个所述旋转传动装置的排列方向与所述测量杆轴线相平行,且同时与测量杆相配合,保证了测量杆与旋转磁体之间传输的精度,以保证被测数据中精读数的准确度。
优选地,所述磁敏元件为若干个时,所述磁场角度编码器的检测范围与相邻两个所述磁敏元件在所述测量杆轴线的正投影的间距相对应。
当测量杆在移动过程中,磁体从对应一个磁敏元件到对应下一个磁敏元件的整个过程中,所述精测组件也完成一个相应的范围的测量,使得精读数与粗读数能够更好地对应。
具体为,相邻两个所述磁敏元件在所述测量杆轴线的正投影的间距为A,其对应的两个粗读数之间的数值差为A,则其对应的精读数的数值范围也为A。
例如:相邻两个所述磁敏元件的粗读数分别为“1.4.mm”和“1.6.mm”,则相邻两个所述磁敏元件在所述测量杆轴线的正投影的间距为0.2mm,而该范围对应的精读数的数值范围也为0.2mm,如1.524mm,该数据中的精读数部分为0.124.mm。
综上所述,相邻两个所述磁敏元件在所述测量杆轴线的正投影的间距与对应的精读数的数值范围相对应,使得粗读数和精读数可以更简单地合成被测数据。
优选地,所述粗测组件与所述精测组件之间设置有屏蔽壳,所述屏蔽壳用于消除所述粗测组件与所述精测组件之间的电磁影响。
优选地,本申请所述的千分表还包括处理模块,所述处理模块分别与所述磁敏元件和所述精测组件电性连接,所述磁敏元件能够输出关于粗读数的指示信号,所述精测组件能够输出关于精读数的检测信号,所述处理模块接收所述指示信号和所述检测信号,并合并为完整的被测数据信号。
具体地,当精读数远离零位时,所述处理模块通过所述精测组件的检测信号和所述磁敏元件的指示信号简单相加合成即可得出完整的被测数据信号。
具体地,当精读数靠近零位时,所述处理模块通过检测所述精测组件的检测信号来判定小数部分是否需要向整数部分进位,并依据相应的判定结果来将所述精测组件的检测信号和所述磁敏元件的指示信号相加合成即可得出完整的被测数据信号。
优选地,本申请所述的千分表还包括显示模块,所述处理模块能够输出所述被测数据信号,所述显示模块用于接收所述被测数据信号并显示其对应的被测数据。
优选地,所述磁场角度编码器和所述旋转磁体周围设置有屏蔽外壳,所述屏蔽外壳由导磁材料构成。
优选地,所述磁场角度编码器和所述旋转磁体周围设置有隔热外壳,所述隔热外壳材料的导热系数小于金属的导热系数。
优选地,本申请所述的千分表还包括表架,所述测量杆、所述精测组件和所述粗测组件均设置与所述表架上。
优选地,所述显示模块与所述磁敏元件电性连接。
优选地,所述显示模块与所述磁场角度编码器电性连接。
综上所述,由于采用了上述技术方案,本实用新型的有益效果是:
1、本申请所述的一种基于磁电测量的千分表,分别利用粗测组件来测量粗读数,以及精测组件测量精读数,以降底装配难度及装配成本,同时,粗读数的测量不受突然断电或者遇到电磁干扰的影响,测以避免重新测量粗读数,从而,减少了重新测量被测读数的工作量,减少了因重测而造成的测量成本。
2、本申请所述的一种基于磁电测量的千分表,在测量过程中,测量杆同时带动粗测组件和精测组件运动,粗测组件和精测组件之间不存在直接传动配合,减少了多级传动的级数,从而减少了因依次多级传动造成的累计误差,减少了因累计误差造成的精度降低程度,而精测组件所述精测组件中具有的磁场来测量被测数据中的精读数,能够达到较高的精度,使得本申请所述的千分表,能够达到很高的精度,同时降低了安装要求,使得安装更为简单。
3、本申请所述的一种基于磁电测量的千分表,粗测组件和精测组件的运转互不影响,使其具备很好的稳定性,避免因粗测组件和精测组件其中的一个组件出问题而影响另一个组件的正常运行。
4、本申请所述的一种基于磁电测量的千分表,根据行程长短的不同要求,可以适当地增减粗测组件的数量,可以满足不同的行程要求,而且,所述磁敏元件通过接收所述磁体的磁性量来测量粗读数,不受磁体本身限制,只与粗测组件的数量以及布置的位置有关,可实现长行程的高精度测量。
5、本申请所述的一种基于磁电测量的千分表,磁场角度编码器通过检测所述旋转磁体的磁场方位角及其变化数据,得到对应的精读数,测量计数中断,恢复之后,通过霍尔电压的大小可得到磁场角度编码器的角度,以此,即可直接测得中断前的精读数,以避免重新测量精读数,从而,减少重新测量被测读数的工作量,减少因重测而造成的测量成本。
6、本申请所述的一种基于磁电测量的千分表,磁敏元件通过接收所述磁体的磁性量来测量粗读数,磁场角度编码器通过检测所述旋转磁体的磁场方位角及其变化数据,得到对应的精读数,均不受测量计数中断影响,使得本申请的一种基于磁电测量的千分表在测量过程中,被测数据不受测量计数中断影响,以避免因中断而重新测量被测数据,而造成费时费力,增加测量成本的情况发生。
7、本申请所述的一种基于磁电测量的千分表,利用磁场方位角及其变化求得被测数据中的精度数据,此误差小,精度高,且磁场在长期使用中,不受磁场衰退程度影响,故受环境影响很小,以保证本申请所述的千分表长期使用时的测量准确度的稳定性。
附图说明
图1为本申请所述的一种基于磁电测量的千分表结构示意图;
图2为本申请所述的一种基于磁电测量的千分表结构剖面图(左视);
图3为本申请所述的一种基于磁电测量的千分表结构剖面图(主视);
图4为本申请所述的磁敏元件与磁体的相对位置示意图;
图中标记:1-测量杆,2-粗测组件,21-磁体,22-磁敏元件,3-精测组件,31-旋转磁体,32-旋转传动部件,321-旋转传动装置,33-磁场角度编码器,4-处理模块,5-显示模块。
具体实施方式
下面结合附图,对本实用新型作详细的说明。
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。
实施例1
如图1-3所示,
一种基于磁电测量的千分表,包括:
测量杆1,用于与被测物体相接触,且能够轴向移动;
粗测组件2,包括磁体21和至少一个磁敏元件22,所述磁体21与所述测量杆1相连接,所述磁敏元件22通过接收所述磁体21的磁性量来测量粗读数;
精测组件3,用于根据所述测量杆1的轴向位移来测量精读数,所述精测组件3与所述测量杆1相配合。
所述磁性量包括磁场强度、磁场方向。
本申请所述的一种基于磁电测量的千分表,利用粗测组件2来测量粗读数,利用精测组件3测量精读数,在测量时,被测物体抵推测量杆1,测量杆1沿自身轴向移动,同时带动磁体21和精测组件3运动,其中,磁体21沿测量杆1的轴向移动,此时,磁敏元件22接收磁体21的磁性量,则此磁敏元件22对应的值即为被测数据的粗读数部分。
其中,磁敏元件利用载流子在磁场运动会受到洛伦兹力作用的原理制成的。
例如:磁敏元件可以为磁敏二极管或者磁敏无接触电位器,磁敏二极管的构成机理如下:将一块接近于本征的高纯度半导体硅或锗,两端用合金或扩散法分别制成P+和N+,中间隔以较长的近本征区(本征区的长度大干空穴和电子的扩散长度)形成P+-I-N+结构,再在本征区的侧面上用研磨或扩散等工艺形成高复合区r,这样就制成了磁敏二极管。磁敏二极管正常工作时,同一般二极管一样,要求在P+端接电源正极.N+端接电源负极,且具有单向导电性。
当磁敏二极管接上工作电压且处在磁体21的磁场中时,随着磁场强度、磁场方向的变化,磁敏二极管的阻值也随着变化,导致流过磁敏二极管的电流也随着磁场的变化而变化,根据这一特点,磁敏二极管可以探测磁体21的磁性量,并根据磁性量的变化来确定距离磁体21最近的磁敏二极管,磁敏二极管输出指示信号,粗读数即为该磁敏二极管对应的值。
在上述方案中,分别利用粗测组件2来测量粗读数,以及精测组件3测量精读数,以降底装配难度及装配成本,同时,所述磁敏元件22通过接收所述磁体21的磁性量来测量粗读数,而当遇到突然断电或者遇到电磁干扰时,其测量计数会出现中断,在中断过程中,磁体21发生移动,恢复计数之后,通过判读磁敏元件22接收的磁性量大小,可以重新获得已移动后磁体21的位置,并测得该为位置对应的粗读数即保证粗读数的测量不受突然断电或者遇到电磁干扰的影响,以避免重新测量粗读数,从而,减少了重新测量被测读数的工作量,减少了因重测而造成的测量成本。
而且,相比较现有技术中存在的千分表普遍采用与被测物体接触的部件带动测量精读数的部件运动,再由测量精读数的部件带动测量粗读数的部件运动,此过程中,依次多级传动,安装精度要求高,累计误差大,使千分表能够达到的最高精度降低,同时,由于依次多级传动,测量精读数的部件和测量粗读数的部件之间接触配合,当其中一个部件出问题时或需要校准时,会影响另一个部件,其之间的相对稳定性较为缺乏的问题。
本方案所述的一种基于磁电测量的千分表,在测量过程中,测量杆同时带动粗测组件2和精测组件3运动,粗测组件2和精测组件3之间不存在直接传动配合,减少了多级传动的级数,从而减少了因依次多级传动造成的累计误差,减少了因累计误差造成的精度降低程度,使得本申请所述的千分表,能够达到很高的精度,同时降低了安装要求,使得安装更为简单;
而且,粗测组件2和精测组件3的运转互不影响,使其具备很好的稳定性,避免因粗测组件2和精测组件3其中的一个组件出问题而影响另一个组件的正常运行。
综上所述,本方案所述的一种基于磁电测量的千分表,通过测量杆同时带动粗测组件2和精测组件3分别粗读数和精读数,最后合成被测数据,稳定性好,装配简单,同时,能够避免在计数中断后重新测量粗读数,减少了重新测量被测读数的工作量,减少了因重测而造成的测量成本。
实施例2
如图2-4所示,如实施例1所述的一种基于磁电测量的千分表,所述磁敏元件22为若干个,所有所述磁敏元件22在所述测量杆1轴线的正投影均间隔设置。
相比较现有技术存在因电感千分表因其测量精度与长度有关,故电感千分表很难实现长行程精度测量的问题,本方案所述的千分表,根据行程长短的不同要求,可以适当地增减磁敏元件22的数量,可以满足不同的行程要求,而且,利用磁敏元件22通过接收所述磁体21的磁性量来测量粗读数,不受磁体21本身限制,只与磁敏元件22的数量以及布置的位置有关,可实现长行程的高精度测量。
在上述基础上,进一步优选的方式,所有相邻两个所述磁敏元件22在所述测量杆1轴线的正投影的间距相等。
所有相邻两个所述磁敏元件22在所述测量杆1轴线的正投影的间距相等,使得粗读数更方便的被记载,被测数据被更好地合成。
实施例3
如图2-4所示,如实施例1或2所述的一种基于磁电测量的千分表,所述精测组件3包括,
旋转磁体31,能够绕其安装轴旋转,所述测量杆1带动所述旋转磁体31旋转;
磁场角度编码器33,能够检测所述旋转磁体31的磁场方位角及其变化数据,得到对应的精读数。
旋转磁体31有一个固定的磁场方向,当旋转磁体31转动时,磁场方向随之转动,磁场角度编码器33即可测量磁场相对于磁场角度编码器33的旋转角度,以达到测量精读数的目的,同时,磁场相对磁场角度编码器33角度不同,磁场角度编码器33内部霍尔元件的霍尔电压也不同,而当遇到突然断电或者遇到电磁干扰时,其测量计数会出现中断,恢复之后,通过霍尔电压的大小可得到磁场角度编码器的角度,以此,即可直接测得中断前的精读数,以避免重新测量精读数,从而,减少重新测量被测读数的工作量,减少因重测而造成的测量成本。
其中,磁场角度编码器33中设置有四个霍尔元件,通过差分消除磁场强度对方位角测量的影响。
在上述方案中,本申请所述的千分表,所述磁敏元件22通过接收所述磁体21的磁性量来测量粗读数,磁场角度编码器33通过检测所述旋转磁体31的磁场方位角及其变化数据,得到对应的精读数,均不受测量计数中断影响,使得本申请的一种基于磁电测量的千分表在测量过程中,被测数据不受测量计数中断影响,以避免因中断而重新测量被测数据,而造成费时费力,增加测量成本的情况发生。
同时,精测组件利用磁场测量出的精读数本身即可达到较高的精度。
相比较现有技术中存在的电感和电容元件受环境影响较大,长期使用时,其测量准确度会降低的问题,本方案所述的一种基于磁电测量的千分表,利用磁场方位角及其变化求得被测数据中的精度数据,此误差小,精度高,且磁场在长期使用中,不受磁场衰退程度影响,故受环境影响很小,以保证本申请所述的千分表长期使用时的测量准确度的稳定性。
综上所述,本方案所述的一种基于磁电测量的千分表,通过测量杆同时带动粗测组件和精测组件3分别粗读数和精读数,最后合成被测数据,稳定性好,精度较高、装配简单。
具体地,所述旋转磁体31为磁钢。
在上述基础上,进一步优选的方式,所述旋转磁体31的轴向自由度被限制,仅能够旋转。
具体地,所述磁场角度编码器33为带有角度编码器的集成电路。
实施例4
如图2-4所示,如实施例3所述的一种基于磁电测量的千分表,所述精测组件3包括还旋转传动部件32,所述旋转传动部件32分别与所述旋转磁体31和所述测量杆1相配合,所述测量杆1控制所述旋转传动部件32旋转从而带动所述旋转磁体31旋转;
具体地,所述旋转传动部件32与所述旋转磁体31齿条齿轮配合。
在上述基础上,进一步优选的方式,所述旋转传动部件32包括两个间隔排列的旋转传动装置321,两个所述旋转传动装置321的排列方向与所述测量杆1轴线相平行,每个所述旋转传动装置321均分别与所述旋转磁体31和所述测量杆1相配合。
两个所述旋转传动装置321的排列方向与所述测量杆1轴线相平行,且同时与测量杆相配合,保证了测量杆1与旋转磁体31之间传输的精度,以保证被测数据中精读数的准确度。
在上述基础上,进一步优选的方式,所述磁敏元件22为若干个时,所述磁场角度编码器33的检测范围与相邻两个所述磁敏元件22在所述测量杆1轴线的正投影的间距相对应。
当测量杆1在移动过程中,磁体21从对应一个磁敏元件22到对应下一个磁敏元件22的整个过程中,所述精测组件3也完成一个相应的范围的测量,使得精读数与粗读数能够更好地对应。
具体为,相邻两个所述磁敏元件22在所述测量杆1轴线的正投影的间距为A,其对应的两个粗读数之间的数值差为A,则其对应的精读数的数值范围也为A。
例如:相邻两个所述磁敏元件22的粗读数分别为“3.6mm”和“3.4mm”,则相邻两个所述磁敏元件22在所述测量杆1轴线的正投影的间距为0.2mm,而该范围对应的精读数的数值范围也为0.2mm,如3.553mm,该数据中的精读数部分为0.153mm。
综上所述,相邻两个所述磁敏元件22在所述测量杆1轴线的正投影的间距与对应的精读数的数值范围相对应,使得粗读数和精读数可以更简单地合成被测数据。
在上述基础上,进一步优选的方式,所述粗测组件2与所述精测组件3之间设置有屏蔽壳,所述屏蔽壳用于消除所述粗测组件2与所述精测组件3之间的电磁影响。
在上述基础上,进一步优选的方式,所述磁场角度编码器33和所述旋转磁体31周围设置有屏蔽外壳,所述屏蔽外壳由导磁材料构成。
在上述基础上,进一步优选的方式,所述磁场角度编码器33和所述旋转磁体31周围设置有隔热外壳,所述隔热外壳材料的导热系数小于金属的导热系数。
实施例5
如图1-3所示,如实施例1或2或3或4所述的一种基于磁电测量的千分表,还包括处理模块4,所述处理模块4分别与所述磁敏元件22和所述精测组件3电性连接,所述磁敏元件22能够输出关于粗读数的指示信号,所述精测组件3能够输出关于精读数的检测信号,所述处理模块(4)接收所述指示信号和所述检测信号,并合并为完整的被测数据信号。
具体地,当精读数远离零位时,所述处理模块4通过所述精测组件3的检测信号和所述粗测组件2的指示信号简单相加合成即可得出完整的被测数据信号。
例如,粗读数在“3”与“4”之间,精读数为0.456,则完整的被测数据为“3.456”
具体地,当精读数靠近零位时,所述处理模块4通过检测所述精测组件3的检测信号来判定小数部分是否需要向整数部分进位,并依据相应的判定结果来将述精测组件3的检测信号和所述粗测组件2的指示信号相加合成即可得出完整的被测数据信号。
例如,粗读数为“4”,精读数为“0.986”,此时,精读数还未越过零位,则完整的被测数据为“3.986”。
例如,粗读数为“4”,精读数为“0.026”,此时,精读数越过越过零位,则完整的被测数据为“4.026”。
在上述基础上,进一步优选的方式,还包括显示模块5,所述显示模块5用于接收所述被测数据信号并显示其对应的被测数据。
在上述基础上,进一步优选的方式,还包括表架,所述测量杆1、所述精测组件3和所述粗测组件2均设置与所述表架上。
在上述基础上,进一步优选的方式,所述显示模块5与所述光源接收部件22电性连接。
在上述基础上,进一步优选的方式,所述显示模块5与所述磁场角度编码器33电性连接。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已,并不用以限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种基于磁电测量的千分表,其特征在于,包括:
测量杆(1),用于与被测物体相接触,且能够沿自身轴向移动;
粗测组件(2),包括磁体(21)和至少一个磁敏元件(22),所述磁体(21)与所述测量杆(1)相连接,所述磁敏元件(22)通过接收所述磁体(21)的磁性量来测量粗读数;
精测组件(3),用于根据所述测量杆(1)的轴向位移来测量精读数,所述精测组件(3)与所述测量杆(1)相配合。
2.根据权利要求1所述的一种基于磁电测量的千分表,其特征在于,所述磁敏元件(22)为若干个,所有所述磁敏元件(22)在所述测量杆(1)轴线的正投影均间隔设置。
3.根据权利要求2所述的一种基于磁电测量的千分表,其特征在于,所有相邻两个所述磁敏元件(22)在所述测量杆(1)轴线的正投影的间距相等。
4.根据权利要求1-3任意一项所述的一种基于磁电测量的千分表,其特征在于,所述精测组件(3)包括,
旋转磁体(31),能够绕其安装轴旋转,所述测量杆(1)带动所述旋转磁体(31)旋转;
磁场角度编码器(33),能够检测所述旋转磁体(31)的磁场方位角及其变化数据,得到对应的精读数。
5.根据权利要求4所述的一种基于磁电测量的千分表,其特征在于,所述精测组件(3)还包括旋转传动部件(32),所述旋转传动部件(32)分别与所述旋转磁体(31)和所述测量杆(1)相配合,所述测量杆(1)控制所述旋转传动部件(32)旋转从而带动所述旋转磁体(31)旋转。
6.根据权利要求5所述的一种基于磁电测量的千分表,其特征在于,所述旋转传动部件(32)包括两个间隔排列的旋转传动装置(321),两个所述旋转传动装置(321)的排列方向与所述测量杆(1)轴线相平行,每个所述旋转传动装置(321)均与所述旋转磁体(31)相配合,每个所述旋转传动装置(321)均与所述测量杆(1)相配合。
7.根据权利要求4所述的一种基于磁电测量的千分表,其特征在于,所述磁敏元件(22)为若干个时,所述磁场角度编码器(33)的检测范围与相邻两个所述磁敏元件(22)在所述测量杆(1)轴线的正投影的间距相对应。
8.根据权利要求1-3任意一项所述的一种基于磁电测量的千分表,其特征在于,所述粗测组件(2)与所述精测组件(3)之间设置有屏蔽壳,所述屏蔽壳用于消除所述粗测组件(2)与所述精测组件(3)之间的电磁影响。
9.根据权利要求1-3任意一项所述的一种基于磁电测量的千分表,其特征在于,还包括处理模块(4),所述处理模块(4)分别与所述磁敏元件(22)和所述精测组件(3)电性连接,所述磁敏元件(22)能够输出关于粗读数的指示信号,所述精测组件(3)能够输出关于精读数的检测信号,所述处理模块(4)接收所述指示信号和所述检测信号,并合并为完整的被测数据信号。
10.根据权利要求9所述的一种基于磁电测量的千分表,其特征在于,还包括显示模块(5),所述处理模块(4)能够输出所述被测数据信号,所述显示模块(5)用于接收所述被测数据信号并显示其对应的被测数据。
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